JPH0750731B2 - Liquid crystal display board inspection device - Google Patents
Liquid crystal display board inspection deviceInfo
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- JPH0750731B2 JPH0750731B2 JP62170515A JP17051587A JPH0750731B2 JP H0750731 B2 JPH0750731 B2 JP H0750731B2 JP 62170515 A JP62170515 A JP 62170515A JP 17051587 A JP17051587 A JP 17051587A JP H0750731 B2 JPH0750731 B2 JP H0750731B2
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- film electrode
- electrode
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、フィルム電極を被検査体の電極に接触させ
て、被検査体の電気的特性を検査する検査装置に関す
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application] The present invention relates to an inspection apparatus for inspecting an electrical characteristic of an inspected object by bringing a film electrode into contact with an electrode of the inspected object.
(従来の技術) 一般に、IC,LSI等の半導体素子の電気的特性を検査する
検査装置として、第6図に示すように、半導体素子1に
設けられた電極2に接触するプローブ針3を多数個備え
たものが使用されている。(Prior Art) In general, as an inspection apparatus for inspecting the electrical characteristics of semiconductor elements such as IC and LSI, as shown in FIG. 6, a large number of probe needles 3 that come into contact with electrodes 2 provided on the semiconductor element 1 are provided. The one with the individual is used.
ところが、IC,LSI等の高集積化に伴って半導体素子の電
極が増加し、かつ微細化されると、これらの電極に接触
させるプローブ針3も必然的に微細化,密集化する必要
があり、プローブ針3製作調整が難しく、信頼性が低い
等の問題があった。However, when the electrodes of the semiconductor element increase and are miniaturized with the high integration of ICs, LSIs, etc., the probe needles 3 contacting these electrodes also need to be miniaturized and densely packed. However, there are problems such as difficulty in manufacturing and adjusting the probe needle 3 and low reliability.
特に、例えば液晶テレビ画面などの基板のように微細ピ
ッチで多電極を有するものを検査する場合、従来のプロ
ーブ針を使用する検査装置では対応するのが極めて困難
である。In particular, in the case of inspecting a substrate such as a liquid crystal television screen having multiple electrodes at a fine pitch, it is extremely difficult for the conventional inspection device using the probe needle to deal with it.
上記の事情を考慮した技術として、例えば特開昭61-233
8号公報,特公昭61-14659号公報等によって開示された
技術がある。As a technique considering the above circumstances, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 61-233
There are technologies disclosed in Japanese Patent Publication No. 8 and Japanese Patent Publication No. 61-14659.
前者は、軟質プラスチック等の弾力性の絶縁フィルムの
表面にアルミニウム,銅等の導電性の金属膜を複数本並
列にパターニング配線したもので、また、後者は基板の
端部にマイクロストリップラインを突出して設けたもの
である。The former is one in which a plurality of conductive metal films such as aluminum and copper are patterned and wired in parallel on the surface of an elastic insulating film such as soft plastic, while the latter is one in which a microstrip line is projected at the end of the substrate. It was provided by.
(発明が解決しようとする問題点) 上述したように、従来のプローブ針に代えてフィルム電
極を使用すると、このフィルム電極を被検査体に適当な
圧力で押圧して検査する必要がある。(Problems to be Solved by the Invention) As described above, when a film electrode is used instead of the conventional probe needle, it is necessary to press the film electrode against the object to be inspected with an appropriate pressure for inspection.
ここで、この種のフィルム電極の接触圧力が低過ぎる
と、接触不良によって電気的特性の検査を正確に実行す
ることができず、一方、前記接触圧力が高過ぎると被検
査体が破損する等の恐れがあった。Here, if the contact pressure of this kind of film electrode is too low, it is not possible to accurately perform the inspection of the electrical characteristics due to poor contact, while if the contact pressure is too high, the object to be inspected is damaged, etc. There was a fear of.
特に、被検査体として液晶基板を例に挙げれば、この種
の基板は近年大型化しつつあり、従ってフィルム電極を
接触させる領域も広領域となる傾向にある。従って、上
記のような広領域を均一に押圧して電極同志を確実に接
触させることが著しく困難となっている。In particular, if a liquid crystal substrate is taken as an example of the object to be inspected, this type of substrate is becoming larger in size in recent years, and therefore, the area where the film electrode is in contact tends to be wide. Therefore, it is extremely difficult to uniformly press the wide area as described above to surely bring the electrodes into contact with each other.
しかも、この種の大型基板を検査する検査装置では、通
常スピンチャック等に基板を固定して検査するのである
が、基板の大型化に伴いスピンチャックの口径をも大き
くしなければ、前記フィルム電極を押圧するための押圧
力が偏心荷重となり、被検査体の損傷等種々の悪影響を
及ぼす恐れがある。従って、従来の手法によれば、被検
査体の大きさに応じて検査装置も大型化,複雑化せざる
を得ないという欠点があった。Moreover, in an inspection device for inspecting a large-sized substrate of this type, the substrate is usually fixed to a spin chuck or the like for inspection, but unless the diameter of the spin chuck is increased as the substrate becomes larger, the film electrode The pressing force for pressing is an eccentric load, which may have various adverse effects such as damage to the object to be inspected. Therefore, according to the conventional method, there is a drawback in that the inspection apparatus has to be large and complicated according to the size of the inspection object.
そこで、本発明の目的とするところは、上述した従来の
問題点を解決し、たとえ大型の被検査体であっても、被
検査体の電極とフィルム電極とを確実に接触させること
ができ、しかも、構成が簡易で装置の小型化を維持でき
る検査装置を提供することにある。Therefore, the purpose of the present invention is to solve the conventional problems described above, even if a large inspection object, it is possible to reliably contact the electrode of the inspection object and the film electrode, Moreover, it is an object of the present invention to provide an inspection device having a simple structure and capable of maintaining the miniaturization of the device.
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明は、外形が四辺形の液晶表示基板を載置するチャ
ック台と、 前記液晶表示基板の一辺に沿って配置された電極に対応
した電極パターンを有するフィルム電極であって、前記
液晶基板上の前記電極が形成された複数辺と対応して配
置されたフィルム電極と、 前記各フィルム電極面に前記各辺の方向に沿って均一な
流体圧力を作用させて、前記フィルム電極の電極パター
ンを、前記チャック台に支持された前記液晶基板の対応
する各辺上の前記電極に圧接する複数の圧接手段と、 複数の前記圧接手段に接続された流体経路と、 複数の前記圧接手段への適正流体圧力に対応する情報を
入力する入力手段と、 前記流体経路途中に設けられ、前記入力手段からの情報
に応じて流体圧力を可変して、前記フィルム電極と前記
液晶表示基板の電極との圧接力不足による接触不良が無
く、かつ、前記液晶表示基板の各辺に圧接力過多による
基板破損の生じない。適正圧力に設定する流体圧力制御
手段と、 を有することを特徴とする液晶表示基板の検査装置であ
る。[Structure of the Invention] (Means for Solving Problems) The present invention relates to a chuck table on which a liquid crystal display substrate having an outer shape of a quadrangle is placed, and electrodes arranged along one side of the liquid crystal display substrate. A film electrode having an electrode pattern formed on the liquid crystal substrate, the film electrode being arranged corresponding to a plurality of sides on which the electrodes are formed on the liquid crystal substrate, and uniformly on each film electrode surface along the direction of each side. A plurality of pressure contact means for contacting the electrode pattern of the film electrode with the electrodes on the corresponding sides of the liquid crystal substrate supported by the chuck table by applying various fluid pressures to the plurality of pressure contact means. Connected fluid paths, input means for inputting information corresponding to proper fluid pressures to the plurality of pressure contact means, and fluid pressures variable according to information from the input means provided in the middle of the fluid paths. Therefore, there is no contact failure due to insufficient pressure contact force between the film electrode and the electrode of the liquid crystal display substrate, and there is no substrate damage due to excessive pressure contact force on each side of the liquid crystal display substrate. A fluid pressure control means for setting an appropriate pressure, and a liquid crystal display substrate inspecting device.
(作用) 本発明では、従来のように剛体である機械的媒介手段を
介して電極同志を接触させるのでなく、検査用電極とし
て採用したフィルム電極の面に、液晶表示基板の電極が
形成された辺の方向にて均一な流体圧力を作用させ、か
つ、この流体圧力を入力手段からの情報に基づき流体圧
力制御手段にて適正圧力に設定しているので、圧接力不
足による接触不良がなく、しかも圧接力過多による基板
破損のない適正圧力に調整することができる。(Operation) In the present invention, the electrodes of the liquid crystal display substrate are formed on the surface of the film electrode used as the inspection electrode, instead of contacting the electrodes with each other through a mechanical intermediary means that is a rigid body as in the prior art. Since a uniform fluid pressure is applied in the direction of the side and this fluid pressure is set to an appropriate pressure by the fluid pressure control means based on the information from the input means, there is no contact failure due to insufficient pressure contact force, Moreover, it is possible to adjust the pressure to an appropriate level that does not damage the substrate due to excessive pressure contact force.
(実施例) 以下、本発明を液晶画面(LCD)の目視検査装置に適用
した一実施例を、図面を参照して具体的に説明する。(Example) Hereinafter, an example in which the present invention is applied to a visual inspection device for a liquid crystal screen (LCD) will be specifically described with reference to the drawings.
〈第1実施例〉 まず、フィルム電極およびLCDの電極を真空吸着により
接触させる実施例を、第1図〜第3図を参照して説明す
る。<First Example> First, an example in which a film electrode and an electrode of an LCD are brought into contact with each other by vacuum suction will be described with reference to FIGS. 1 to 3.
被検査体であるLCD10は、真空吸着機能を有するスピン
チャック20に載置固定され、昇降自在となっている。
尚、このLCD10は、例えばアクティブLCDであり、第2図
に示すように四角形状の基板の3方に第1乃至第3の電
極10A〜10Cを形成している。The LCD 10, which is an object to be inspected, is mounted and fixed on a spin chuck 20 having a vacuum suction function, and is vertically movable.
The LCD 10 is, for example, an active LCD, and has first to third electrodes 10A to 10C formed on three sides of a rectangular substrate as shown in FIG.
このLCD10の第1乃至第3の電極10A〜10Cに接触される
フィルム電極11は、前記各電極10A〜10Cに対応して3箇
所に設けられ、前記スピンチャック20の上昇によって各
電極10A〜10Cに当接するように配置されている。The film electrodes 11 that are in contact with the first to third electrodes 10A to 10C of the LCD 10 are provided at three locations corresponding to the electrodes 10A to 10C, and the electrodes 10A to 10C are raised by raising the spin chuck 20. Is arranged so as to abut.
前記フィルム電極11の先端は、第3図に示すように、電
極パターン12が所定間隔毎に多数形成されると共に、こ
の各電極パターン12の間には、透孔13が形成されてい
る。As shown in FIG. 3, a large number of electrode patterns 12 are formed at predetermined intervals at the tip of the film electrode 11, and through holes 13 are formed between the electrode patterns 12.
そして、上記フィルム電極11と、前記各電極10A〜10Cを
接触させるための圧接手段としての圧接ブロック30が、
前記フィルム電極11の上方に支持固定されている。Then, the film electrode 11 and the pressure contact block 30 as a pressure contact means for contacting each of the electrodes 10A to 10C,
It is supported and fixed above the film electrode 11.
この圧接ブロック30は、第1図に示すように、ブロック
本体の底面に前記フィルム電極11に対向する例えば2つ
の空室32(各電極10A〜10Cの電極配列方向に沿って連通
している)を形成して成り、かつ、この空室32に連通す
るバキュームチューブ33を支持している。尚、このバキ
ュームチューブ33は、図示しないコンプレッサに接続さ
れている。As shown in FIG. 1, the press contact block 30 has, for example, two vacant chambers 32 (communicating along the electrode arrangement direction of the electrodes 10A to 10C) facing the film electrode 11 on the bottom surface of the block body. And supporting a vacuum tube 33 communicating with the vacant chamber 32. The vacuum tube 33 is connected to a compressor (not shown).
また、前記空室32内の気圧を検出する図示しないセンサ
が設けられ、前記空室32内の圧力が所定値以上になった
ところで、前記コンプレッサが駆動されて、圧接ブロッ
ク30での真空吸着が開始されるようになっている。Further, a sensor (not shown) for detecting the atmospheric pressure in the empty chamber 32 is provided, and when the pressure in the empty chamber 32 becomes equal to or higher than a predetermined value, the compressor is driven and vacuum adsorption in the pressure contact block 30 is performed. It is supposed to be started.
次に作用について説明すると、まず、スピンチャック20
を下降させた状態で、LCD10を真空吸着し、その後スピ
ンチャック20を上昇させて、LCD10の電極面を前記フィ
ルム電極11に当接させる。尚、この状態で、必要に応じ
てスピンチャック20を回転等してLCD10の各電極10A〜10
Cと前記フィルム電極11との位置きめを行なう。Next, the operation will be described. First, the spin chuck 20
In the lowered state, the LCD 10 is vacuum-sucked, and then the spin chuck 20 is raised to bring the electrode surface of the LCD 10 into contact with the film electrode 11. In this state, the spin chuck 20 is rotated as needed to rotate the respective electrodes 10A to 10A of the LCD 10.
The position of C and the film electrode 11 is determined.
ここで、スピンチャック20の上昇によって、前記圧接ブ
ロック30の空室32内の気圧が所定値に達すると、前述し
た図示しないコンプレッサが駆動されて、前記圧接ブロ
ック30での真空吸着が実行される。Here, when the atmospheric pressure in the chamber 32 of the pressure contact block 30 reaches a predetermined value due to the rise of the spin chuck 20, the compressor (not shown) described above is driven, and the vacuum adsorption in the pressure contact block 30 is executed. .
すなわち、前記空室32に対向するフィルム電極11は、前
記圧接ブロック30によって吸着されることになる。一
方、前記フィルム電極11に、透孔13が形成されているの
で、この透孔13を介して前記LCD10もが圧接ブロック30
に真空吸着されることになる。That is, the film electrode 11 facing the vacant chamber 32 is adsorbed by the pressure contact block 30. On the other hand, since the through hole 13 is formed in the film electrode 11, the LCD 10 is also pressed into contact with the through-hole 13 through the pressure contact block 30.
Will be vacuum-adsorbed.
従って、フィルム電極11およびLCD10が共に前記圧接ブ
ロック30に吸着される結果、電極同志の位置決めさえ確
実に行なってあれば、両電極を確実に接触させることが
できる。この結果、LCD10の全画素で表示可能である
か、あるいは所定のパターンが正確に表示できるか否か
等を、前記各電極に信号を与え、その表示画面を目視に
て的確に検査することができる。Therefore, as a result that both the film electrode 11 and the LCD 10 are attracted to the pressure contact block 30, both electrodes can be surely brought into contact with each other if the electrodes are surely positioned. As a result, it is possible to accurately inspect the display screen by giving a signal to each electrode as to whether it can be displayed by all the pixels of the LCD 10 or whether a predetermined pattern can be accurately displayed. it can.
しかも、本実施例装置では、フィルム電極11を押圧する
という従来手法に代えて、吸着によって電極間の接触を
確保しているので、特に機械的な媒介手段を介してフィ
ルム電極11を押圧するものに比べて、LCD10に作用する
負荷が大幅に減少し、LCD10の破損等の重大な事態を生
ずる恐れが各段に少なくなる。このように、被検査体と
してのLCD10に作用する荷重が大幅に減少するので、大
画面のLCD等のような大型基板等の検査に本実施例を適
用した場合には、この大型基板を載置固定するスピンチ
ャック等を従来と同様の口径としても、偏心荷重に起因
する従来の弊害を防止することができる。Moreover, in the apparatus of this embodiment, instead of the conventional method of pressing the film electrode 11, the contact between the electrodes is secured by adsorption, so that the film electrode 11 is pressed through a mechanical intermediary means. Compared with the above, the load acting on the LCD 10 is significantly reduced, and the risk of causing a serious situation such as breakage of the LCD 10 is further reduced. In this way, the load acting on the LCD 10 as the object to be inspected is significantly reduced, so when this embodiment is applied to the inspection of a large substrate such as a large screen LCD, this large substrate is mounted. Even if the spin chuck or the like to be placed and fixed has the same diameter as the conventional one, it is possible to prevent the conventional harmful effects resulting from the eccentric load.
尚、吸着不良の場合には、前記圧接ブロック30の空室32
内の圧力異常となるので、前述した図示しないセンサに
よってこれが検出され、例えば警報を発する等の対策を
講ずることができるので、吸着不良に伴う電極の接触不
良事態を容易に検出することができ、従って、常時的確
な電気的特性の検査を実行することができる。In the case of a suction failure, the vacant chamber 32 of the pressure-contact block 30 is
Since the internal pressure becomes abnormal, this can be detected by the sensor (not shown) described above, and it is possible to take measures such as issuing an alarm, so that it is possible to easily detect a contact failure situation of the electrode due to a suction failure, Therefore, it is possible to always inspect the electrical characteristics accurately.
また、流体圧力をフィルム電極11に直接作用させること
により、たとえ広領域で電極同志を接触させる場合にあ
っても、流体圧力が均一に作用するので、全領域で確実
な接触を容易に確保することができる。Further, by directly acting the fluid pressure on the film electrode 11, even if the electrodes are brought into contact with each other in a wide area, the fluid pressure acts uniformly, so that reliable contact can be easily ensured in all areas. be able to.
〈第2実施例〉 次に、フィルム電極15に流体例えばエアーを直接吐出し
て、このフィルム電極15を前記LCD10の各電極10A〜10C
に押圧させる実施例を、第4図を参照して説明する。<Second Embodiment> Next, a fluid such as air is directly ejected to the film electrode 15 and the film electrode 15 is applied to the electrodes 10A to 10C of the LCD 10.
An embodiment in which the button is pressed will be described with reference to FIG.
この第2実施例に適用されるフィルム電極15は、前記フ
ィルム電極11と比較して透孔13を具備していない点が相
違し、また、第4図に示す圧接ブロック30は、第1図に
示すものと同様であるが、この圧接ブロック30のバキュ
ームチューブ33は、バキュームチューブ33に導出すべき
エアー圧を電気的に制御する流体圧力制御手段の一例で
ある電空レギュレータ40に接続されている。この電空レ
ギュレータ40は、システムコントローラに制御されるよ
うになっている。例えば、CPU50からのディジタル制御
信号をD/Aコンバータ53でアナログ信号に変換し、前記
電空レギュレータ40を制御するようになっている。ま
た、前記CPU50に各種データを操作入力するためにキー
ボード51が設けられ、前記CPU50で計算される流体圧力
データ又は接触圧力データを表示する表示部52が設けら
れている。そして、前記キーボード51からの接触圧力等
の設定入力に基づくプログラムにより、前記電空レギュ
レータ40を制御するようになっている。The film electrode 15 applied to the second embodiment is different from the film electrode 11 in that it does not have a through hole 13, and the pressure contact block 30 shown in FIG. However, the vacuum tube 33 of this pressure contact block 30 is connected to an electropneumatic regulator 40 which is an example of a fluid pressure control means for electrically controlling the air pressure to be led out to the vacuum tube 33. There is. The electropneumatic regulator 40 is controlled by the system controller. For example, a digital control signal from the CPU 50 is converted into an analog signal by the D / A converter 53, and the electropneumatic regulator 40 is controlled. Further, a keyboard 51 for operating and inputting various data to the CPU 50 is provided, and a display unit 52 for displaying fluid pressure data or contact pressure data calculated by the CPU 50 is provided. Then, the electropneumatic regulator 40 is controlled by a program based on the setting input of the contact pressure or the like from the keyboard 51.
前記電空レギュレータ40は、流体圧力としてのエアー圧
力を、電気信号に応じて連続的に可変できるものであ
り、第5図のような構成を有している。The electropneumatic regulator 40 is capable of continuously varying the air pressure as a fluid pressure according to an electric signal, and has a configuration as shown in FIG.
この電空レギュレータ40の構成及び作用について説明す
ると、SUP側にエアー圧力を供給し、これをメインバル
ブ42とオリフィス43とに分岐して導く。この状態で、コ
イル41Aとマグネット41Bとで構成されるフォースモータ
41に前記D/Aコンバータ53を介して電気信号を入力する
と、前記オリフィス43を通過したエアーは、前記フォー
スモータ41に発生した力によってフラッパ44がノズル45
先端に近づき、パイロットチャンバ46内には背圧が発生
する。この背圧によりノズル45先端に噴流力が発生し、
この力と前記フォースモータ41の力が釣り合った位置で
フラッパ44が止まり、こうしてパイロット圧が決定され
る。初期的にはOUT側に大気圧が入っているので、上部
ダイアフラム47Aに下向きにかかった力が下部ダイヤフ
ラム47Bに上向きにかかった力に勝り、メインバルブ42
を押し下げ、SUP側のエアーがOUT側に流れ込み、OUT側
の圧力が上昇する。このOUT側の圧力がフィードバック
チャンバ48に導かれ、上部ダイヤフラム47Aの下向きの
力と下部ダイヤフラム47Bの上向きの力とが釣り合う
と、メインバルブ42が閉じ安定する。The structure and operation of the electropneumatic regulator 40 will be described. Air pressure is supplied to the SUP side and is branched and led to the main valve 42 and the orifice 43. In this state, a force motor composed of coil 41A and magnet 41B
When an electric signal is input to the 41 through the D / A converter 53, the air passing through the orifice 43 causes the flapper 44 to move to the nozzle 45 by the force generated in the force motor 41.
When approaching the tip, back pressure is generated in the pilot chamber 46. Due to this back pressure, a jet force is generated at the tip of the nozzle 45,
The flapper 44 stops at a position where this force and the force of the force motor 41 are balanced, and thus the pilot pressure is determined. Initially, the atmospheric pressure is on the OUT side, so the force exerted downward on the upper diaphragm 47A exceeds the force exerted upward on the lower diaphragm 47B, and the main valve 42
Press down, the air on the SUP side flows into the OUT side, and the pressure on the OUT side rises. When the pressure on the OUT side is guided to the feedback chamber 48 and the downward force of the upper diaphragm 47A and the upward force of the lower diaphragm 47B are balanced, the main valve 42 is closed and stabilized.
OUT側の機器(本実施例ではエアーシリンダ30)からエ
アーが消費され続けると、OUT側のエアー消費量を補充
する分だけメインバルブ42が開いた状態で安定する。When air is continuously consumed from the OUT side device (the air cylinder 30 in this embodiment), the main valve 42 becomes stable in the open state by the amount of supplementing the OUT side air consumption amount.
次に、電気信号で現状の設定されたOUT側圧力より下げ
る場合、またOUT側圧力が何等かの影響が高くなった場
合、上部ダイヤフラム47Aの下向きの力より下部ダイヤ
フラム47Bの上向きの力が勝り、2枚のダイヤフラム47
A,47Bが上昇し、OUT側のエアーがリリーフバルブ49Aを
通り、リリーフポート49Bから大気に開放される。そこ
で、上部ダイヤフラム47Aの下向きの力と下部ダイヤフ
ラム47Bの上向きの力が釣り合った時に、ダイヤフラム4
7A,47Bが下の位置に戻り、リリーフバルブ49Aが閉じ
る。このようにしてOUT側圧力を調整することができ
る。Next, if the electric signal lowers the current set OUT side pressure, or if the OUT side pressure has some influence, the upward force of the lower diaphragm 47B will outweigh the downward force of the upper diaphragm 47A. Two diaphragms 47
A and 47B rise, the air on the OUT side passes through the relief valve 49A and is released to the atmosphere from the relief port 49B. Therefore, when the downward force of the upper diaphragm 47A and the upward force of the lower diaphragm 47B are balanced, the diaphragm 4
7A and 47B return to the lower position, and relief valve 49A closes. In this way, the OUT side pressure can be adjusted.
この電空レギュレータ40によって駆動制御される押圧駆
動部の一例であるエアーシリンダ30は、前記電空レギュ
レータ40のOUT側からのエアーを導入し、このエアー圧
によって押圧力を連続的に可変するようになっている。An air cylinder 30, which is an example of a pressing drive unit that is drive-controlled by the electropneumatic regulator 40, introduces air from the OUT side of the electropneumatic regulator 40 and continuously changes the pressing force by the air pressure. It has become.
前記CPU50は、本実施例装置のシステムコントローラと
して機能し、第4図に示す構成の制御を実行する他、例
えば前記LCD10を載置して位置決めする前記スピンチャ
ック20の駆動制御等を司どるようになっている。そし
て、前記フィルム電極15の押圧との関係では、前記キー
ボード51を介して押圧力データ又はこの押圧力を得るた
めのエアー圧力データを入力し、これに応じたディジタ
ル信号を前記D/Aコンバータ53に出力する。一方、前記
キーボード51からの入力データ値を前記表示部52に表示
制御するようになっている。The CPU 50 functions as a system controller of the apparatus of this embodiment, and executes control of the configuration shown in FIG. 4 and also controls drive of the spin chuck 20 for mounting and positioning the LCD 10, for example. It has become. In relation to the pressing of the film electrode 15, pressing force data or air pressure data for obtaining this pressing force is input via the keyboard 51, and a digital signal corresponding thereto is input to the D / A converter 53. Output to. On the other hand, the input data value from the keyboard 51 is controlled to be displayed on the display unit 52.
次に、作用について説明する。Next, the operation will be described.
前記フィルム電極15を押圧するため、まず、前記キーボ
ード51より数値データを操作入力する。このデータは、
押圧部20での押圧力データであっても、あるいは該押圧
力を得るためのエアー圧力データであっても良い。In order to press the film electrode 15, first, numerical data is operated and input from the keyboard 51. This data is
It may be the pressing force data at the pressing portion 20 or the air pressure data for obtaining the pressing force.
このデータは前記CPU50に入力し、CPU50は前記押圧力を
得るためのディジタル信号を出力することになる。そし
て、このディジタル信号をD/Aコンバータ53でアナログ
信号に変換し、このアナログ信号であるDC電圧を前記電
空レギュレータ40のフォースモータ41に印加することに
なる。This data is input to the CPU 50, and the CPU 50 outputs a digital signal for obtaining the pressing force. Then, the digital signal is converted into an analog signal by the D / A converter 53, and the DC voltage which is the analog signal is applied to the force motor 41 of the electropneumatic regulator 40.
フォースモータ41に電気信号設定後の前記電空レギュレ
ータ40の動作については、前述したので省略するが、設
定された電気信号に応じたエアー圧力がOUT側より出力
されることになる。そして、このエアー圧力が前記フィ
ルム電極15をLCD10の各電極10A〜10Cを押圧するように
作用することになる。この際、前記圧接ブロック30での
エアー吐出に伴うフィルム電極15の押圧力は、前記キー
ボード51より入力されたデータに基づき、電空レギュレ
ータ40でエアー圧力を制御した結果としての押圧力とな
っており、前記キーボード入力を変更するとこれに追随
して連続的に押圧力を可変することができる。従って、
接触不良が無く、しかも押圧力過多によるLCD10の破損
等の生じない適正な押圧力を容易に設定することがで
き、正確な電気的特性検査の前準備を迅速に行うことが
できる。The operation of the electropneumatic regulator 40 after setting the electric signal to the force motor 41 is omitted because it has been described above, but the air pressure corresponding to the set electric signal is output from the OUT side. Then, this air pressure acts so that the film electrode 15 presses the electrodes 10A to 10C of the LCD 10. At this time, the pressing force of the film electrode 15 accompanying the air ejection in the pressure contact block 30 is the pressing force as a result of controlling the air pressure by the electropneumatic regulator 40 based on the data input from the keyboard 51. Therefore, when the keyboard input is changed, the pressing force can be continuously changed following the change. Therefore,
It is possible to easily set an appropriate pressing force that does not cause a contact failure and does not cause damage to the LCD 10 due to excessive pressing force, and it is possible to quickly perform an accurate preparation for an electrical characteristic inspection.
尚、この種の被検査体であるLCD10等はその電極面がわ
ずかな角度であるが傾斜していることもあり、この場合
本実施例のように直接エアー圧力をフィルム電極15に作
用させることで、フィルム電極15の柔軟性によって、LC
D10の電極面との密着性を確保することができる。Incidentally, the LCD 10 or the like, which is an object to be inspected of this kind, may have an electrode surface inclined at a slight angle, but in this case, air pressure should be directly applied to the film electrode 15 as in the present embodiment. The flexibility of the film electrode 15
Adhesion with the electrode surface of D10 can be secured.
尚、流体圧力を吐出して電極間の接触を確保する第2実
施例の場合であっても、被検査体に対する負荷の軽減,
全領域での均一な接触圧力の確保等については、第1実
施例と同様の効果を奏することができる。Even in the case of the second embodiment in which the fluid pressure is discharged to secure the contact between the electrodes, the load on the inspection object is reduced,
With regard to ensuring uniform contact pressure in all regions, the same effects as in the first embodiment can be obtained.
尚、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本
発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made within the scope of the present invention.
第2実施例では、流体圧力を電空レギュレータ40等の流
体圧力制御手段によって、圧接手段30より導出すべきき
流体圧力を調整可能としたが、第1実施例のように流体
を吸引する場合でも、被検査体との適合条件に応じて、
この吸引圧力を調整可能に構成することもできる。例え
ば、圧接手段30の前段に商品名CVSコンバム(株式会社
妙徳製)を接続し、供給空気圧力を制御することで、到
達真空度を可変して、接触圧力を制御することができ
る。このほか、電磁弁の開口径を前述したシステムコン
トローラ等によって制御して接触圧力を調整するように
しても良い。In the second embodiment, the fluid pressure can be adjusted by the fluid pressure control means such as the electropneumatic regulator 40 which should be derived from the pressure contact means 30, but even when the fluid is sucked in as in the first embodiment. , Depending on the compatibility with the object to be inspected,
The suction pressure can be adjusted. For example, by connecting a product name CVS Conbum (manufactured by Myotoku Co., Ltd.) in front of the pressure contact means 30 and controlling the supply air pressure, the ultimate vacuum degree can be varied and the contact pressure can be controlled. In addition, the contact pressure may be adjusted by controlling the opening diameter of the solenoid valve by the above-mentioned system controller or the like.
また、上述した実施例では、流体圧力制御手段40をCPU5
0,D/Aコンバータ53を介して制御したが、CPU等を介さず
に例えばボリューム調整等によって電圧等を可変して、
流体圧力制御手段40を直接制御するものであってもよい
し、手動によって流体圧力を可変して接触圧力を調整す
るものでもよい。Further, in the above-described embodiment, the fluid pressure control means 40 is replaced by the CPU 5
0, controlled via the D / A converter 53, but by changing the voltage etc. by adjusting the volume, etc. without going through the CPU etc.,
The fluid pressure control means 40 may be directly controlled, or the fluid pressure may be manually varied to adjust the contact pressure.
尚、前記実施例では表示部52にキーボード入力データを
表示制御するものであったが、例えば前述した空室32内
の圧力を検出するセンサの出力をCPU50を介して表示部5
2に表示し、接触圧力を操作者に認識させるように構成
することもできる。Although the keyboard input data is controlled to be displayed on the display unit 52 in the above embodiment, for example, the output of the sensor for detecting the pressure in the vacant chamber 32 described above is displayed on the display unit 5 via the CPU 50.
It is also possible to display on 2 and make the operator recognize the contact pressure.
さらに、吸着,吐出ガスとしてエアーを用いたが、被検
査体に要求される条件例えば冷却雰囲気,高温雰囲気,
クリーンな機密容器等により、N2ガス,高温ガス,低温
ガスなど、適宜選択使用可能である。特に、低温試験で
は、露結防止に効果がある。Further, although air is used as the adsorption and discharge gas, the conditions required for the object to be inspected, such as a cooling atmosphere, a high temperature atmosphere,
N2 gas, high-temperature gas, low-temperature gas, etc. can be appropriately selected and used in a clean confidential container. Especially in the low temperature test, it is effective in preventing dew condensation.
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、機械的な媒介手
段を介して電極を接触させるのではなく、検査用電極と
して採用したフィルム電極の面に、液晶表示基板の電極
が形成された辺の方向にて均一な流体圧力を作用させ、
かつ、この流体圧力を入力手段からの情報に基づき流体
圧力制御手段にて適正圧力を設定しているので、全領域
で確実な接触を容易に確保することができる。[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, the electrodes of the liquid crystal display substrate are not attached to the electrodes via the mechanical mediating means, but are placed on the surface of the film electrode used as the inspection electrode. Apply uniform fluid pressure in the direction of the side where
Moreover, since the fluid pressure control means sets an appropriate pressure for this fluid pressure based on the information from the input means, reliable contact can be easily ensured in the entire region.
また、被検査体に作用する負荷は機械的媒介手段の場合
に比べて少なくなり、被検査体の破損等の深刻な自体の
発生が大幅に軽減される。Further, the load acting on the object to be inspected is smaller than that in the case of the mechanical intermediary means, and the serious occurrence of damage such as damage to the object to be inspected is greatly reduced.
従って、被検査体として大型基板等の検査に本発明を適
用した場合には、この大型基板を載置固定するスピンチ
ャック等を従来と同様の口径としても、偏心荷重に起因
する従来の弊害を防止することができ、装置の小型化に
寄与することができる。Therefore, when the present invention is applied to the inspection of a large substrate or the like as the object to be inspected, even if the spin chuck or the like for mounting and fixing the large substrate has the same diameter as the conventional one, the conventional adverse effects due to the eccentric load are This can be prevented, which can contribute to downsizing of the device.
第1図は本発明の第1実施例装置を説明するための概略
説明図、第2図はフィルム電極と被検査体の電極との関
係を説明する概略説明図、第3図は第1実施例装置に適
用されるフィルム電極の概略説明図、第4図は第2実施
例装置を説明するためのブロック図、第5図は流体圧力
制御手段の一例である電空レギュレータの断面図、第6
図は従来のプローブ針による電気的特性検査の一例を示
す概略斜視図である。 10…被検査体、11,15…フィルム電極、20…スピンチャ
ック、30…圧接手段、40…流体圧力制御手段、50…CP
U、51…操作部、52…表示部、53…D/Aコンバータ。FIG. 1 is a schematic explanatory view for explaining the apparatus of the first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic explanatory view for explaining the relationship between a film electrode and an electrode of an object to be inspected, and FIG. 3 is a first embodiment. FIG. 4 is a schematic explanatory view of a film electrode applied to an example device, FIG. 4 is a block diagram for explaining the second example device, and FIG. 5 is a sectional view of an electropneumatic regulator which is an example of fluid pressure control means. 6
FIG. 1 is a schematic perspective view showing an example of a conventional electrical characteristic test with a probe needle. 10 ... Inspected object, 11, 15 ... Film electrode, 20 ... Spin chuck, 30 ... Pressure contact means, 40 ... Fluid pressure control means, 50 ... CP
U, 51 ... Operation part, 52 ... Display part, 53 ... D / A converter.
Claims (1)
ャック台と、 前記液晶表示基板の一辺に沿って配置された電極に対応
した電極パターンを有するフィルム電極であって、前記
液晶基板上の前記電極が形成された複数辺と対応して配
置されたフィルム電極と、 前記各フィルム電極面に前記各辺の方向に沿って均一な
流体圧力を作用させて、前記フィルム電極の電極パター
ンを、前記チャック台に支持された前記液晶基板の対応
する各辺上の前記電極に圧接する複数の圧接手段と、 複数の前記圧接手段に接続された流体経路と、 複数の前記圧接手段への適正流体圧力に対応する情報を
入力する入力手段と、 前記流体経路途中に設けられ、前記入力手段からの情報
に応じて流体圧力を可変して、前記フィルム電極と前記
液晶表示基板の電極との圧接力不足による接触不良が無
く、かつ、前記液晶表示基板の各辺に圧接力過多による
基板破損の生じない適正圧力に設定する流体圧力制御手
段と、 を有することを特徴とする液晶表示基板の検査装置。1. A chuck base on which a liquid crystal display substrate having a quadrangular outer shape is mounted, and a film electrode having an electrode pattern corresponding to electrodes arranged along one side of the liquid crystal display substrate, the liquid crystal substrate A film electrode arranged corresponding to a plurality of sides on which the electrode is formed, and a uniform fluid pressure is applied to each of the film electrode surfaces along the direction of each side to form an electrode pattern of the film electrode. A plurality of pressure contact means for pressure contact with the electrodes on each corresponding side of the liquid crystal substrate supported by the chuck base, a fluid path connected to the plurality of pressure contact means, and a plurality of pressure contact means Input means for inputting information corresponding to an appropriate fluid pressure, and a fluid pressure provided in the middle of the fluid path for varying the fluid pressure in accordance with the information from the input means so that the film electrode and the liquid crystal display substrate are electrically charged. And a fluid pressure control means for setting an appropriate pressure on each side of the liquid crystal display substrate so as not to cause substrate damage due to excessive pressure contact force. Board inspection device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62170515A JPH0750731B2 (en) | 1987-07-08 | 1987-07-08 | Liquid crystal display board inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62170515A JPH0750731B2 (en) | 1987-07-08 | 1987-07-08 | Liquid crystal display board inspection device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6414936A JPS6414936A (en) | 1989-01-19 |
| JPH0750731B2 true JPH0750731B2 (en) | 1995-05-31 |
Family
ID=15906373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62170515A Expired - Lifetime JPH0750731B2 (en) | 1987-07-08 | 1987-07-08 | Liquid crystal display board inspection device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0750731B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0677296A (en) * | 1992-05-29 | 1994-03-18 | Eejingu Tesuta Kaihatsu Kyodo Kumiai | Measuring electrode for integrated circuit device wafer |
| JP4650400B2 (en) | 2006-11-20 | 2011-03-16 | トヨタ自動車株式会社 | Disc brake device |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5376873U (en) * | 1976-11-29 | 1978-06-27 | ||
| JPS59134845A (en) * | 1983-01-21 | 1984-08-02 | Hitachi Ltd | Probe card |
| JPS60260861A (en) * | 1984-06-08 | 1985-12-24 | Hitachi Ltd | probe |
| JPS61179747U (en) * | 1985-04-27 | 1986-11-10 |
-
1987
- 1987-07-08 JP JP62170515A patent/JPH0750731B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6414936A (en) | 1989-01-19 |
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