JPH0756626B2 - Digital comparator - Google Patents
Digital comparatorInfo
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- JPH0756626B2 JPH0756626B2 JP60181551A JP18155185A JPH0756626B2 JP H0756626 B2 JPH0756626 B2 JP H0756626B2 JP 60181551 A JP60181551 A JP 60181551A JP 18155185 A JP18155185 A JP 18155185A JP H0756626 B2 JPH0756626 B2 JP H0756626B2
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- JP
- Japan
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- data
- array structure
- setting
- digital comparator
- structure element
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- Logic Circuits (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はディジタル比較器に係り、特にマイクロコンピ
ュータのエミュレータやロジックステートアナライザ等
に適用するに好適なディジタル比較器に関する。Description: TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a digital comparator, and more particularly to a digital comparator suitable for application to a microcomputer emulator, a logic state analyzer, or the like.
従来から、複数個のディジタルデータ間の一致、不一致
をハード的に検出する場合、ディジタル比較器が用いら
れている。このようなディジタル比較器としては各種の
ものが知られているが、第6図はその一例を示すもので
ある。2. Description of the Related Art Conventionally, a digital comparator has been used to detect a match or a mismatch between a plurality of digital data by hardware. Various types of such digital comparators are known, and FIG. 6 shows an example thereof.
第6図に示すように、第1のディジタルデータD1およ
び、第2のディジタルデータD2はそれぞれ第1および第
2の並列入力端2,4より並列入力される。各データD1,D2
の各ビットは、反転バッファ6を介してエクスクルシブ
ノア回路8に桁対応して入力させる。その結果、エクス
クルシブノア回路8からは各データD1,D2の対応ビット
が一致していれば“1"、不一致ならば“0"の信号が送出
される。各エクスクルシブノア回路8の出力信号は、反
転バッファ10を介して入力される同期信号Sと共にナン
ド回路12に入力される。このためナンド回路12からは、
各データD1,D2の全てのビットが一致している時に、同
期信号Sに同期して“0"信号が送出される。この一致検
出信号は図示しない他の装置に送出され、処理されるこ
とになる。As shown in FIG. 6, the first digital data D1 and the second digital data D2 are input in parallel from the first and second parallel input terminals 2 and 4, respectively. Each data D1, D2
Each bit of is input to the exclusive NOR circuit 8 via the inversion buffer 6 in correspondence with the digit. As a result, the exclusive NOR circuit 8 outputs a signal of "1" if the corresponding bits of the data D1 and D2 match and a signal of "0" if they do not match. The output signal of each exclusive NOR circuit 8 is input to the NAND circuit 12 together with the synchronization signal S input via the inversion buffer 10. Therefore, from the NAND circuit 12,
When all the bits of each data D1 and D2 match, the "0" signal is transmitted in synchronization with the synchronization signal S. This coincidence detection signal is sent to another device (not shown) and processed.
このような従来のディジタル比較器では、比較すべきデ
ィジタルデータの数が増えた場合、時分割処理するかあ
るいは同様の回路をデータ数に対応して増設する必要が
ある。ところが、前者は処理時間が長くなるという問題
があり、後者は回路規模の増大を招くという問題点があ
る。In such a conventional digital comparator, when the number of digital data to be compared increases, it is necessary to perform time-division processing or add a similar circuit according to the number of data. However, the former has a problem that the processing time is long, and the latter has a problem that the circuit scale is increased.
本発明は上記の従来技術の問題点を解消するためになさ
れたもので、回路規模が小さく、処理時間を増加させる
ことなく複数個のディジタル信号の一致検出を行うこと
ができるディジタル比較器を提供することを目的とす
る。The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art, and provides a digital comparator which has a small circuit scale and can perform coincidence detection of a plurality of digital signals without increasing the processing time. The purpose is to do.
上記目的を達成するため本発明は、第1の状態(例えば
“0")を初期状態として個別的に第2の状態(例えば
“1")に設定され得る、アドレス可能な複数の設定エリ
ア有する複数の配列構造素子と、第1のデータを受け、
上記複数の配列構造素子のいずれか1つを選択して、選
択した配列構造素子内の上記第1のデータによってアド
レスされる上記設定エリアを上記第2の状態に設定する
設定手段と、第2のデータを受け、上記複数の配列構造
素子各々の上記第2のデータによってアドレスされる上
記設定エリアの設定内容を複数同時に読出して、上記複
数の配列構造素子に対応する複数ビットの出力を発生す
る突合手段と、を備えるディジタル比較器を提供するも
のである。To achieve the above object, the present invention has a plurality of addressable setting areas that can be individually set to a second state (for example, "1") with a first state (for example, "0") as an initial state. Receiving a plurality of array structure elements and first data,
Setting means for selecting any one of the plurality of array structure elements to set the setting area addressed by the first data in the selected array structure element to the second state; Of the plurality of array structure elements, the plurality of setting contents of the setting area addressed by the second data of each of the plurality of array structure elements are simultaneously read to generate a plurality of bits of output corresponding to the plurality of array structure elements. And a digital comparator including an abutting unit.
以下、図面を参照しながら本発明に関連する参考例及び
本発明の実施例を説明する。Hereinafter, reference examples and embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明の参考例に係るディジタル比較器のブロ
ック図であり、第2図はその要部の構成図である。複数
のデータD1…Dnは並列入力端14より時分割で与えられ、
デコーダ16、およびデコーダセレクタ22に入力される。
デコーダ16は入力データをデコードして配列構造素子18
に与える。デコーダセレクタ22は入力データをデコード
して配列構造素子18に与えると共に、配列構造素子18か
ら一致信号を選別する作用を有する。配列構造素子18は
クリア端子20からのクリア信号Cによりリセットされ、
セット端子26に入力されるセット信号Wによって、デコ
ーダ16、デコーダセレクタ22からのラインに応じたエリ
ア“1"をセットする。そして、デコーダ16、デコーダセ
レクタ22からのラインとセット位置の相関が得られた場
合に、デコーダセレクタ22を介してバッファ24に一致信
号を送出する機能を有する。バッファ24は同期端子28か
らの同期信号Sに同期して、データの一致信号を送出す
る。FIG. 1 is a block diagram of a digital comparator according to a reference example of the present invention, and FIG. 2 is a configuration diagram of a main part thereof. A plurality of data D1 ... Dn are given from the parallel input terminal 14 in a time division manner,
It is input to the decoder 16 and the decoder selector 22.
The decoder 16 decodes the input data and outputs the array structure element 18
Give to. The decoder selector 22 has a function of decoding the input data and giving it to the array structure element 18, and a function of selecting a coincidence signal from the array structure element 18. The array structure element 18 is reset by the clear signal C from the clear terminal 20,
The area “1” corresponding to the lines from the decoder 16 and the decoder selector 22 is set by the set signal W input to the set terminal 26. The decoder 16 and the decoder selector 22 have a function of transmitting a coincidence signal to the buffer 24 via the decoder selector 22 when the correlation between the line and the set position is obtained. The buffer 24 outputs a data coincidence signal in synchronization with the synchronization signal S from the synchronization terminal 28.
配列構造素子18は第2図に示すように、複数の設定エリ
ア19を所定の位置に複数配列して構成される。第2図の
例ではデータD1〜Dnは8ビットで構成され、従ってデー
タD1〜Dnは28=256通りとなっている。これに対して配
列構造素子18は、16×16=256個の設定エリア19で構成
されている。すなわち、比較すべきデータのそれぞれに
対応した位置に1個の設定エリアが存在するようになっ
ている。As shown in FIG. 2, the array structure element 18 is formed by arraying a plurality of setting areas 19 at predetermined positions. In the example of FIG. 2, the data D1 to Dn are composed of 8 bits, and therefore the data D1 to Dn are 2 8 = 256 ways. On the other hand, the array structure element 18 is composed of 16 × 16 = 256 setting areas 19. That is, there is one setting area at a position corresponding to each piece of data to be compared.
なお、配列構造素子はメモリセルの組合せにより形成す
ることができる。またデコーダセレクタはアンド回路、
オア回路等の組合せにより形成できる。The array structure element can be formed by a combination of memory cells. The decoder selector is an AND circuit,
It can be formed by a combination of OR circuits.
次にその作用を説明する。Next, the operation will be described.
データの比較に先立って、先ずクリア端子20からクリア
信号Cを入力し、配列構造素子18の全ての設定エリア19
を“0"に初期設定する。次に、並列入力端14より一致を
見たいディジタルデータ(参照データ)をビット並列で
入力する。ここで、デコーダセレクタ22にセット信号W
を与えることにより、配列構造素子18中のデータに対応
する位置の設定エリアに“1"をセットする。一致を見た
いディジタルデータが複数個ある場合は、並列入力端14
にディジタルデータを入力しながらセット信号Wを与え
ることにより、配列構造素子18中のデータ個数分の設定
エリアを“1"にする。Prior to the data comparison, the clear signal C is first input from the clear terminal 20 to set all the setting areas 19 of the array structure element 18.
Is initialized to “0”. Next, digital data (reference data) desired to be matched is input from the parallel input terminal 14 in bit parallel. Here, the set signal W is sent to the decoder selector 22.
Is set, "1" is set in the setting area of the position corresponding to the data in the array structure element 18. If there are multiple digital data for which you want to see the match, the parallel input terminal 14
By inputting the set signal W while inputting the digital data to, the setting area for the number of data in the array structure element 18 is set to "1".
次に、並列入力端14から比較したいディジタルデータ
(比較データ)を与え、デコーダセレクタ22を介してデ
コード値を配列構造素子18に与えながらデータの一致、
不一致を検出する。すなわち、比較したいディジタルデ
ータが比較を見たいディジタルデータと一致するとき
は、該当の設定エリアから“1"が取り出され、これをデ
コーダセレクタ22を通じて導出し、バッファ24に与え
る。一致しないときは設定エリアの“0"が導出される。
バッファ24は同期信号Sに同期して、比較結果を信号R
として外部に送出する。Next, the digital data (comparison data) to be compared is given from the parallel input terminal 14, and while the decoded value is given to the array structure element 18 via the decoder selector 22, the data match,
Detects discrepancies. That is, when the digital data to be compared matches the digital data to be compared, "1" is extracted from the corresponding setting area, is derived through the decoder selector 22, and is provided to the buffer 24. When they do not match, “0” in the setting area is derived.
The buffer 24 synchronizes with the synchronization signal S and outputs the comparison result to the signal R.
To the outside.
第3図は本発明の他の参考例に係るディジタル比較器の
ブロック図である。これが第1図のものと異なる点は、
データ入力用の並列入力端を参照データD1〜Dnと比較デ
ータDn+1〜Dmで独立して2個の並列入力端14a,14bと
して設けた点と、デコーダ16、デコーダセレクタ28に入
力されるデータをセレクト端子34からのセレクト信号L
によって制御されるデータセレクタ30,32で選択するよ
うに構成した点である。FIG. 3 is a block diagram of a digital comparator according to another reference example of the present invention. This is different from the one shown in FIG.
The parallel input terminals for data input are provided as two parallel input terminals 14a and 14b independently of the reference data D1 to Dn and the comparison data Dn + 1 to Dm, and the data input to the decoder 16 and the decoder selector 28 are Select signal L from select terminal 34
The data selectors 30 and 32 controlled by are selected.
この構成によれば、参照データと比較データを個別の入
力端14a,14bから入力可能となる。なお、データの突き
合せと一致検出の作用は第1図のものと同様である。With this configuration, the reference data and the comparison data can be input from the individual input terminals 14a and 14b. The operation of data matching and coincidence detection is similar to that of FIG.
第4図は本発明の一実施例に係るディジタル比較器のブ
ロック図である。これが第1図のものと異なる点は、4
個の配列構造素子18a〜18dを並列に設けられていること
と、バッファ24に4つの異なる信号R0〜R4を出力する端
子が設けられていることと、デコーダ16に2本(4ビッ
ト)の設定信号Aを入力できるようにしてあることであ
る。FIG. 4 is a block diagram of a digital comparator according to an embodiment of the present invention. This differs from the one in Fig. 1 in that
The array structure elements 18a to 18d are provided in parallel, the buffer 24 is provided with terminals for outputting four different signals R0 to R4, and the decoder 16 is provided with two (4 bits). That is, the setting signal A can be input.
すなわち、第4図の実施例のものは、複数個のデータ
(参照データ)を設定したときに、どの参照データと比
較データが一致するか否かの結果信号をR0〜R4として出
力し、またあるデータはR1に出力し別のあるデータはR2
に出力するようにしたものである。このため、出力デー
タのビット数に対応した配列構造素子を複数個用意し、
例えば、1番目の配列構造素子18dはR0へ、2番目の配
列構造素子18cはR1へ出力するようにする。データ設定
にあたっては、どのビット(R0〜R4)に出力するか、つ
まりどの配列構造素子(18a〜18d)に設定するかの設定
信号Aが必要とする出力ビット数≦2n(nは最小のも
の)で示されるn本必要である。本実施例では4≦22で
あるので、2本の設定信号が必要である。このようにす
れば、R0〜R3の4種類の異なる意味をもつ出力を得るこ
とができる。That is, in the embodiment of FIG. 4, when a plurality of data (reference data) are set, a result signal indicating which reference data and the comparison data match or not is output as R0 to R4, and One data is output to R1 and another data is R2
It is designed to be output to. Therefore, prepare a plurality of array structure elements corresponding to the number of bits of output data,
For example, the first array structure element 18d outputs to R0, and the second array structure element 18c outputs to R1. When setting the data, the number of output bits required by the setting signal A which bit (R0 to R4) is to be output, that is, which array structure element (18a to 18d) is set ≤ 2 n (n is the minimum N) are required. In this embodiment, since it is 4 ≦ 2 2, are required two setting signal. By doing so, it is possible to obtain outputs having four different meanings R0 to R3.
このデジタル比較器は、これを利用することが望ましい
特定の用途を有する。その用途の1つとして、コンピュ
ータの機能・性能評価を行うエミュレータがある。エミ
ュレータには、プログラムの予め設定したアドレスにお
いて、CPUの停止、実行軌跡のオン/オフ、実行時間計
測タイマのオン/オフといった各種動作が行える機能が
必要である。そこで、それら動作を行うべき予め設定さ
れたプログラムアドレスと、CPUにより実行されている
プログラムアドレスとを比較するためにディジタル比較
器が使用される。この用途に第4図のディジタル比較器
を使用する場合には、CPUの停止、実行軌跡のオン/オ
フ、実行時間計測タイマのオン/オフ等の各動作を各配
列構造素子に対応づける。例えば、CPUの停止は配列構
造素子18aに対応させ、実行軌跡のオンは配列構造素子1
8bに対応させ、…、というようにである。そして、各動
作が行われるべきプログラムアドレスを、各動作に対応
する配列構造素子に参照データとして設定する。例え
ば、CPUを停止させるべきアドレスは配列構造素子18aに
設定し、実行軌跡をオンすべきアドレスは配列構造素子
18bに設定し、…、というようにである。その後、CPUが
実行しているアドレスを比較データとして与える。この
実行アドレスが予め設定したアドレスに一致したとき、
信号R0〜R3が出力され、この信号R0〜R3によってエミュ
レータの行うべき動作が示される。例えば、信号R0が出
力されればCPUの停止、信号R1が出力されれば、実行軌
跡オン、…、というようにである。従って、この第4図
のディジタル比較器はエミュレータにおいて非常に使い
易い。This digital comparator has particular applications where it is desirable to make use of it. One of its uses is an emulator that evaluates the functions and performance of computers. The emulator is required to have a function capable of performing various operations such as stopping the CPU, turning on / off the execution trace, and turning on / off the execution time measurement timer at a preset address of the program. Therefore, a digital comparator is used to compare the preset program address for performing those operations with the program address executed by the CPU. When the digital comparator of FIG. 4 is used for this purpose, each operation such as CPU stop, execution locus on / off, and execution time measurement timer on / off is associated with each array structure element. For example, the stop of the CPU corresponds to the array structure element 18a, and the execution locus is on when the array structure element 1a is turned on.
It corresponds to 8b, and so on. Then, the program address at which each operation should be performed is set as reference data in the array structure element corresponding to each operation. For example, the address at which the CPU should be stopped is set in the array structure element 18a, and the address at which the execution locus is turned on is the array structure element.
Set it to 18b, and so on. After that, the address executed by the CPU is given as comparison data. When this execution address matches the preset address,
The signals R0 to R3 are output, and the signals R0 to R3 indicate the operation to be performed by the emulator. For example, when the signal R0 is output, the CPU is stopped, when the signal R1 is output, the execution locus is turned on, and so on. Therefore, the digital comparator of FIG. 4 is very easy to use in the emulator.
第5図は参考例に係るディジタル比較器のブロック図で
ある。これが第4図のものと異なる点は、4分割される
1個の配列構造素子18′においてデータ比較がなされる
ことである。そして、4分割された配列構造素子18′の
どの部分にデータ設定をするか、およびデータの突き合
せをするかを指定するための2ビットの信号Aが、端子
29を介してデコーダ16およびデコーダセレクタ22に与え
られている。FIG. 5 is a block diagram of a digital comparator according to a reference example. This is different from the one shown in FIG. 4 in that data is compared in one array structure element 18 'divided into four. Then, a 2-bit signal A for designating which part of the four-divided array structure element 18 'is to be set with data and to be matched with data is a terminal.
It is given to the decoder 16 and the decoder selector 22 via 29.
この参考例も、第4図の実施例と同様にエミュレータに
おける使用に適している。その場合、配列構造素子の分
割された各部分がエミュレータの各動作と対応付けら
れ、その各部分に、対応する各動作のアドレスが設定さ
れる。次いで、CPUにより実行されているアドレスが比
較的データとして与えられ、配列構造素子においてデー
タ比較が行われる。このデータ比較は、信号Aによって
選択された配列構造素子内の1つの部分において行われ
る。つまり、信号Aによって、エミュレータが行うべき
動作が選択されることになる。This reference example is also suitable for use in an emulator as in the embodiment shown in FIG. In this case, each divided part of the array structure element is associated with each operation of the emulator, and the address of each corresponding operation is set in each part. Then, the address being executed by the CPU is relatively given as data, and data comparison is performed in the array structure element. This data comparison is performed in one part in the array structure element selected by the signal A. That is, the signal A selects the operation to be performed by the emulator.
本発明は上記実施例に限定されるものでなく、種々の変
形が可能である。例えば比較されるディジタルデータは
8ビットのものに限らない。また、本発明のディジタル
比較器は、あるディジタルデータが発生したか否かを記
憶するメモリとして活用することもできる。また、複数
の配列構造素子を設け、その中から任意に選択した配列
構造素子に参照データを設定できるようにすると共に、
データ比較の一致がどの配列構造素子で生じたのかを出
力信号によって示す、又は、データ比較を行う配列構造
素子を任意に選択できるようにしているので、例えば、
エミュレータにおけるアドレス比較、のような特定の用
途に対して大変使い易いディジタル比較器が提供でき
る。The present invention is not limited to the above embodiment, but various modifications can be made. For example, the digital data to be compared is not limited to 8-bit data. Also, the digital comparator of the present invention can be utilized as a memory for storing whether or not certain digital data is generated. In addition, a plurality of array structure elements are provided, and reference data can be set to the array structure element arbitrarily selected from among them,
The output signal indicates in which array structure element the coincidence of the data comparison has occurred, or since it is possible to arbitrarily select the array structure element for performing the data comparison, for example,
It is possible to provide a very easy-to-use digital comparator for a specific application such as address comparison in an emulator.
以上述べたように本発明によれば、参照用のディジタル
データとして1つ又は複数のデータをセット可能で、比
較用のディジタルデータを参照データと同時に比較する
ことが出来るため、比較的簡単な構成で高速のデータ比
較が可能なディジタル比較器を得ることができる。As described above, according to the present invention, one or a plurality of data can be set as the reference digital data, and the comparison digital data can be compared with the reference data at the same time. Therefore, the configuration is relatively simple. Thus, it is possible to obtain a digital comparator capable of high speed data comparison.
第1図は本発明の参考例に係るディジタル比較器のブロ
ック図、第2図はその要部のブロック図、第3図は本発
明の他の参考例に係るディジタル比較器のブロック図、
第4図は本発明の実施例に係るディジタル比較器のブロ
ック図、第5図は本発明の他の参考例に係るディジタル
比較器のブロック図、第6図は従来のディジタル比較器
のブロック図である。 16……デコーダ、18……配列構造素子、22……デコーダ
セレクタ、24……バッファ、30,32……データセレク
タ。FIG. 1 is a block diagram of a digital comparator according to a reference example of the present invention, FIG. 2 is a block diagram of a main part thereof, and FIG. 3 is a block diagram of a digital comparator according to another reference example of the present invention.
FIG. 4 is a block diagram of a digital comparator according to an embodiment of the present invention, FIG. 5 is a block diagram of a digital comparator according to another reference example of the present invention, and FIG. 6 is a block diagram of a conventional digital comparator. Is. 16 …… decoder, 18 …… array structure element, 22 …… decoder selector, 24 …… buffer, 30,32 …… data selector.
Claims (6)
の状態に設定され得る、アドレス可能な複数の設定エリ
アを有する複数の配列構造素子と、 第1のデータを受け、前記複数の配列構造素子のいずれ
か1つを選択して、選択した配列構造素子内の前記第1
のデータによってアドレスされる前記設定エリアを前記
第2の状態に設定する設定手段と、 第2のデータを受け、前記複数の配列構造素子各々の前
記第2のデータによってアドレスされる前記設定エリア
の設定内容を複数同時に読出して、前記複数の配列構造
素子に対応する複数ビットの出力を発生する突合手段
と、 を備えるディジタル比較器。1. The first state is set as an initial state and the second state is individually set.
A plurality of array structure elements having a plurality of addressable setting areas, which can be set to the state, and receiving one of the first data, selecting one of the plurality of array structure elements, and selecting the selected array structure. The first in the element
Setting means for setting the setting area addressed by the data of the second state to the second state, and the setting area for receiving the second data and being addressed by the second data of each of the plurality of array structure elements. A digital comparator comprising: butting means for simultaneously reading a plurality of setting contents and generating a plurality of bits of output corresponding to the plurality of array structure elements.
ードして前記配列構造素子に与えるデコーダを有する特
許請求の範囲第1項記載のディジタル比較器。2. The digital comparator according to claim 1, wherein said setting means has a decoder which decodes said first data and supplies it to said array structure element.
ードして前記配列構造素子に与えるデコーダと、前記複
数ビットの出力を保持するバッファとを有する特許請求
の範囲第1項又は第2項記載のディジタル比較器。3. The abutting means includes a decoder for decoding the second data and applying the decoded data to the array structure element, and a buffer for holding an output of the plurality of bits. The digital comparator described in the item.
記第1の状態に初期設定するための初期化手段を有する
特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれかに記載のデ
ィジタル比較器。4. The digital comparison according to claim 1, wherein the array structure element has an initialization means for initializing the setting area to the first state. vessel.
異なる入力端子に受けることを特徴とする特許請求の範
囲第1項乃至第4項のいずれかに記載のディジタル比較
器。5. The digital comparator according to any one of claims 1 to 4, wherein the first data and the second data are received at different input terminals.
の全ての前記設定エリアを一斉に前記第1の状態に設定
するためのクリア端子を有することを特徴とする特許請
求の範囲第1項乃至第5項のいずれかに記載のディジタ
ル比較器。6. The array structure element has a clear terminal for simultaneously setting all the setting areas in each array structure element to the first state. The digital comparator according to any one of items 1 to 5.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60181551A JPH0756626B2 (en) | 1985-08-19 | 1985-08-19 | Digital comparator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60181551A JPH0756626B2 (en) | 1985-08-19 | 1985-08-19 | Digital comparator |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| JPS6240526A JPS6240526A (en) | 1987-02-21 |
| JPH0756626B2 true JPH0756626B2 (en) | 1995-06-14 |
Family
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Family Applications (1)
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| JP60181551A Expired - Fee Related JPH0756626B2 (en) | 1985-08-19 | 1985-08-19 | Digital comparator |
Country Status (1)
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|---|---|
| JP (1) | JPH0756626B2 (en) |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPS59121537A (en) * | 1982-12-28 | 1984-07-13 | Nec Corp | Bit pattern collating circuit |
-
1985
- 1985-08-19 JP JP60181551A patent/JPH0756626B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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