JPH0769393B2 - Real Chip Simulator - Google Patents
Real Chip SimulatorInfo
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- JPH0769393B2 JPH0769393B2 JP62069623A JP6962387A JPH0769393B2 JP H0769393 B2 JPH0769393 B2 JP H0769393B2 JP 62069623 A JP62069623 A JP 62069623A JP 6962387 A JP6962387 A JP 6962387A JP H0769393 B2 JPH0769393 B2 JP H0769393B2
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- Japan
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- lsi
- simulator
- logic
- real chip
- logic simulator
- Prior art date
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、LSIとソフトウェアシミュレータとを組合せ
て論理シミュレーションを行うシミュレータに関し、特
にダイナミック回路を含むMOS LSIを簡単なタイミング
調整で利用可能としたリアルチップシミュレータに関す
る。The present invention relates to a simulator for performing logic simulation by combining an LSI and a software simulator, and in particular, a MOS LSI including a dynamic circuit can be used with simple timing adjustment. Real chip simulator.
従来、この種のリアルチップシミュレータは、高速動作
するが数百マイクロ秒しか状態を保持できないLSIと、
1つの入力信号を変化させたシミュレーションに数秒も
かかるソフトウェアシュミレータとの組み合せで構成さ
れていたので、これらの動作のタイミングをとるための
ソフトウェアシミュレータの出力をLSI用の入力信号パ
ターンに編集しなおした後に、LSIに入力していた。Conventionally, this kind of real-chip simulator has a LSI that operates at high speed but can hold the state for only a few hundred microseconds.
Since it was composed in combination with a software simulator, which takes several seconds to simulate changing one input signal, the output of the software simulator for timing these operations was reedited into the input signal pattern for LSI. Later, it was input to LSI.
上述した従来のリアルチップシミュレータでは、LSIの
回路規模が小さな場合は、LSIの動作時間は短かく、ソ
フトウェアシミュレータの動作時間でほぼ制限されてい
たが、LSIの回路規模が急激に大きくなるにつれて、LSI
の内部回路をリセットした初期状態からシミュレーショ
ンしたい回路状態にまで変化させるのに数十分から数時
間も必要となり、数パターンの追加シミュレーションに
1日以上かかってしまう例が生じている。更に、LSIは
通常MOS FETを用いたダイナミック回路で構成されてい
るため、同じ回路状態を長時間保持できない為に、長時
間かかるシミュレーションのためには何回も回路状態の
設定をやり直さなければならないという欠点がある。In the above-mentioned conventional real chip simulator, when the circuit scale of the LSI is small, the operating time of the LSI is short and is almost limited by the operating time of the software simulator.However, as the circuit scale of the LSI rapidly increases, LSI
It takes several tens of minutes to several hours to change the initial state of resetting the internal circuit from the initial state to the circuit state to be simulated, and an example in which additional simulation of several patterns takes one day or more occurs. Furthermore, since the LSI is usually composed of a dynamic circuit that uses MOS FETs, it is not possible to maintain the same circuit state for a long time. Therefore, it is necessary to set the circuit state again many times for a simulation that takes a long time. There is a drawback that.
本発明のリアルチップシミュレータは、複数のLSIを実
装して検討すべき論理回路を実現したボードを冷却する
低温槽と、LSIの動作電圧を調整できる可変電圧源と、
論理回路を検討するプログラムに基づいてLSIを制御す
る論理シミュレータと、LSIを実装したボードと、論理
シミュレータの出力信号レベルを調整してLSIに供給す
るインターフェイスと、LSIと論理シミュレータの入
力,出力信号の同期をとる為の可変クロック信号発生装
置とを有している。The real chip simulator of the present invention includes a low temperature tank for cooling a board that implements a logic circuit to be studied by mounting a plurality of LSIs, a variable voltage source capable of adjusting the operating voltage of the LSIs,
A logic simulator that controls an LSI based on a program for examining a logic circuit, a board on which the LSI is mounted, an interface that adjusts the output signal level of the logic simulator and supplies it to the LSI, and input and output signals of the LSI and the logic simulator And a variable clock signal generator for synchronizing the above.
本発明のリアルチップシミュレータは、LSIの動作温度
を下げる事によりLSI内でのデータ保持時間を長くし、
低速動作する論理シミュレータに合わせたクロック周期
でLSIを低速動作させる事により、LSIと論理シミュレー
タのタイミング調整用プログラムの作成が不要になり、
LSIと論理シミュレータの入出力信号のタイミングを合
わせる為の入,出力信号パターンの編集が不要になり、
リアルチップシミュレータとして論理シミュレータとLS
Iの動作時間の和ではなく、どちらかの動作時間の長い
方にまで動作時間を短縮できる。The real chip simulator of the present invention extends the data retention time in the LSI by lowering the operating temperature of the LSI,
By making the LSI operate at a low speed with a clock cycle that matches the logic simulator operating at low speed, it becomes unnecessary to create a timing adjustment program for the LSI and the logic simulator.
No need to edit input / output signal patterns to match the input / output signal timing of LSI and logic simulator.
Logic simulator and LS as real chip simulator
The operation time can be shortened to the one having the longer operation time, not the sum of the operation times of I.
次に、本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図に本発明リアルチップシミュレータの実施例を示
す。LSI a,b,c,dを実装して検討すべき論理回路をこれ
らLSIの組み合せとして実現したプリント基板1を低温
槽2内に設置する。次にプログラマブルパルスジェネレ
ータ3と可変電圧源4を備えたI/Oインターフェイス5
をケーブル6でLSI a,b,c,dを実装したプリント基板1
に接続する。I/Oインターフェイス5は論理シミュレー
ション用プログラムを動作させるエンジニアリングワー
クステーション(EWS)7とケーブル8で接続する。プ
リント基板1に実装したLSI a〜dはMOS FETによってダ
イナミック論理回路を構成したものが用いられ、チップ
表面温度を同程度にする為にLSIを組立てたケースの熱
抵抗を調整する放熱フィン等を備えている。FIG. 1 shows an embodiment of the real chip simulator of the present invention. A printed circuit board 1 in which logic circuits to be considered by mounting LSIs a, b, c, d are realized as a combination of these LSIs is installed in a low temperature tank 2. Next, I / O interface 5 equipped with programmable pulse generator 3 and variable voltage source 4
Printed circuit board 1 on which LSI a, b, c, d are mounted with cable 6
Connect to. The I / O interface 5 is connected by a cable 8 to an engineering workstation (EWS) 7 that operates a logic simulation program. The LSIs a to d mounted on the printed circuit board 1 use a dynamic logic circuit composed of MOS FETs, and a heat radiation fin or the like for adjusting the thermal resistance of the case in which the LSIs are assembled in order to make the chip surface temperature almost the same. I have it.
第2図にMOS LSIのデータ保持時間と動作温度との相関
を示す。ここでLSI動作温度とはシリコンチップ表面温
度であって、プリント基板の周囲温度ではないことに注
意する必要がある。Figure 2 shows the correlation between the data holding time of MOS LSI and the operating temperature. It should be noted here that the LSI operating temperature is the surface temperature of the silicon chip, not the ambient temperature of the printed circuit board.
次に装置の動作を説明する。Next, the operation of the device will be described.
−40℃程度に前記プリント基板1の周囲温度を冷却でき
る低温槽2でLSI a,b,c,dを冷却する事により、第2図
に示した様に、ダイナミック回路を用いたMOS LSIのテ
ータ保持時間を室温での動作に較べて1000倍以上長くす
る事ができる。By cooling the LSIs a, b, c, d in the low temperature tank 2 capable of cooling the ambient temperature of the printed circuit board 1 to about −40 ° C., as shown in FIG. The data retention time can be extended 1000 times or more compared to the operation at room temperature.
従ってLSI a,b,c,dを実装したプリント基板1の同期回
路に供給するクロック周期をEWS7上で動作する論理シミ
ュレータに同期をとったクロック周期(常温でLSI特性
表に示されている数百倍のクロック周期)に設定でき
る。MOS LSIを構成しているMOSトランジスタは動作温度
が低下するにつれて閾値が高くなる事から、トランスミ
ッションゲートで動作電圧が制限を受けているLSIでは
電源電圧を常温より高く設定する必要がある。従って一
般に5V電源で動作するEWS7の出力回路と5V以外の電圧で
動作する低温槽2内のLSI a,b,c,d間にあって信号のレ
ベル合わせをレベル調整回路付のI/Oインターフェイス
5を配置する。低温槽2内のLSI a,b,c,dは電源又は基
準電圧を可変電圧源4よりI/Oインターフェイス5を経
由して可変電圧源4より供給する。論理シミュレータを
動作させているEWS7からはケーブル8を通してシミュレ
ーシミュレータの入出力信号とプログラマブルパルスジ
ェネレータ3の基準クロック信号を供給することにより
EWS7上で動作している論理シミュレータのタイミングに
同期してLSIを動作させる事ができ、常温では高速動作
しかできないLSIに較べて2ケタ程度低速なEWS7上の論
理シミュレータとのタイミング合わせを行う為のプログ
ラム作成が不要になり、プリント基板1上のLSIシミュ
レーションパターンの編集も不要となる為にリアルチッ
プシミュレータとして高速化ができる。Therefore, the clock cycle supplied to the synchronous circuit of the printed circuit board 1 on which the LSIs a, b, c, and d are mounted is synchronized with the logic simulator operating on the EWS7 (the number shown in the LSI characteristics table at room temperature). It can be set to 100 times the clock period). Since the MOS transistors that make up a MOS LSI have a higher threshold value as the operating temperature decreases, it is necessary to set the power supply voltage higher than room temperature in an LSI whose operating voltage is limited by the transmission gate. Therefore, there is an I / O interface 5 with a level adjustment circuit between the output circuit of the EWS7 that normally operates with a 5V power supply and the LSIs a, b, c, and d in the low temperature tank 2 that operates with a voltage other than 5V to adjust the signal level. Deploy. The LSI a, b, c, d in the low temperature tank 2 supplies a power source or a reference voltage from the variable voltage source 4 via the variable voltage source 4 via the I / O interface 5. By supplying the input / output signal of the simulation simulator and the reference clock signal of the programmable pulse generator 3 from the EWS7 operating the logic simulator through the cable 8.
The LSI can operate in synchronism with the timing of the logic simulator running on the EWS7, and the timing is matched with the logic simulator on the EWS7, which is about two digits slower than the LSI that can only operate at high speed at room temperature. Since it is not necessary to create the program and the editing of the LSI simulation pattern on the printed circuit board 1 is unnecessary, the speed can be increased as a real chip simulator.
以上説明した様に、本発明のリアルチップシミュレータ
は、プリント基板に実装したLSIの動作温度を低下させ
る事によりダイナミック動作する回路のデータ保持時間
を長くし、MOSトランジスタの閾値変化による動作電圧
の変化を調整する可変電圧源とEWSとLSIボード間の信号
レベルを調整するI/Oインターフェイスを設ける事によ
り、リアルチップシミュレータのLSIボード部とEWS上の
ソフトウェアで実現された論理シミュレータのタイミン
グを低速で動作するシミュレータに合わせる事が出来、
タイミング調整用のプログラム作成が不要となり、LSI
ボードシミュレーションパターンの編集が不要となる結
果、リアルチップシミュレータを高速にできる効果があ
る。As described above, the real chip simulator of the present invention lengthens the data retention time of the circuit that operates dynamically by lowering the operating temperature of the LSI mounted on the printed board, and changes the operating voltage due to the threshold change of the MOS transistor. By providing a variable voltage source that adjusts the signal and an I / O interface that adjusts the signal level between the EWS and the LSI board, the timing of the LSI board of the real chip simulator and the logic simulator implemented by the software on the EWS can be controlled at low speed. Can be adapted to a working simulator,
There is no need to create a program for timing adjustment,
As a result of eliminating the need to edit the board simulation pattern, there is an effect that the real chip simulator can be speeded up.
第1図は本発明の一実施例によるシステム構成図、第2
図はダイナミック回路を含むLSIのデータ保持時間/動
作温度の特性図である。 LSI a,b,c,d……LSI、1……プリント基板、2……低温
槽、3……プログラマブル・パルス・ジェネレータ、4
……可変電圧源、5……I/Oインターフェイスシステ
ム、6,8……ケーブル、7……EWS。FIG. 1 is a system configuration diagram according to an embodiment of the present invention, and FIG.
The figure is a characteristic diagram of data holding time / operating temperature of an LSI including a dynamic circuit. LSI a, b, c, d ... LSI, 1 ... Printed circuit board, 2 ... Low temperature tank, 3 ... Programmable pulse generator, 4
...... Variable voltage source, 5 ... I / O interface system, 6,8 ... Cable, 7 ... EWS.
Claims (1)
ュレータを含み論理シミュレータの制御の下で前記LSI
を動作させて論理回路構成を検討するリアルチップシミ
ュレータにおいて、前記LSIを冷却する手段と、前記LSI
の電源電圧を調整する手段と、前記論理シミュレータの
入出力信号レベルと前記LSIの入出力信号レベルを整合
させて前記LSIに供給する手段と、前記論理シミュレー
タより供給されたクロック信号から前記LSIが必要とす
るクロック信号群を合成する手段と備えた事を特徴とす
るリアルチップシミュレータ。1. An LSI and a logic simulator on a computer system, the LSI being controlled by the logic simulator.
And a means for cooling the LSI in a real chip simulator for activating a
Means for adjusting the power supply voltage of the logic simulator, means for matching the input / output signal level of the logic simulator with the input / output signal level of the LSI and supplying the LSI with the clock signal supplied from the logic simulator. A real-chip simulator characterized by having means for synthesizing a required clock signal group.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62069623A JPH0769393B2 (en) | 1987-03-23 | 1987-03-23 | Real Chip Simulator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62069623A JPH0769393B2 (en) | 1987-03-23 | 1987-03-23 | Real Chip Simulator |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63234174A JPS63234174A (en) | 1988-09-29 |
| JPH0769393B2 true JPH0769393B2 (en) | 1995-07-31 |
Family
ID=13408181
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62069623A Expired - Lifetime JPH0769393B2 (en) | 1987-03-23 | 1987-03-23 | Real Chip Simulator |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0769393B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008176906A (en) * | 2006-11-16 | 2008-07-31 | Qimonda North America Corp | System to prevent deterioration of data retention characteristics |
-
1987
- 1987-03-23 JP JP62069623A patent/JPH0769393B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008176906A (en) * | 2006-11-16 | 2008-07-31 | Qimonda North America Corp | System to prevent deterioration of data retention characteristics |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63234174A (en) | 1988-09-29 |
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