JPH0773038B2 - 走査電子顕微鏡の画像処理装置 - Google Patents
走査電子顕微鏡の画像処理装置Info
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- JPH0773038B2 JPH0773038B2 JP1327440A JP32744089A JPH0773038B2 JP H0773038 B2 JPH0773038 B2 JP H0773038B2 JP 1327440 A JP1327440 A JP 1327440A JP 32744089 A JP32744089 A JP 32744089A JP H0773038 B2 JPH0773038 B2 JP H0773038B2
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- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
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- G06T5/00—Image enhancement or restoration
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- H—ELECTRICITY
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
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- H01J37/222—Image processing arrangements associated with the tube
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- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10056—Microscopic image
- G06T2207/10061—Microscopic image from scanning electron microscope
-
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/22—Treatment of data
- H01J2237/221—Image processing
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- Analytical Chemistry (AREA)
- Image Processing (AREA)
Description
に係り、特に、観察像のノイズを低減して画質を向上さ
せることが可能な画像処理装置に関するものである。
しては、例えば特開昭62−285582号公報に記載されるよ
うに、カメラからの映像信号を指定したフレーム数だけ
積分し、ランダムノイズを低減する技術が提案されてい
る。
発展させたものとしては、特開昭61−135034号公報に記
載されるように、電子線の照射によって試料から放出さ
れる二次電子等の検出信号と画像メモリに記憶されてい
る信号との差を求め、それが最小となったときのアドレ
ス関係に基づいて、検出信号を画像メモリに積算して記
憶させることによって画質の改善を図る技術が提案され
ている。
で検出される映像あるいは画像の改善にあたっては、検
出信号を画像データとして一旦画像メモリに記憶する
際、試料上の同一部分を複数回走査し、この複数回の走
査に基づく画像データを該画像メモリにおいて積分し、
該積分されたデータに基づいて観察像を表示するといっ
た、いわゆるフレーム間積分が広く用いられている。
種の方法が提案されており、それぞれ一長一短ではある
が、走査電子顕微鏡では、メモリを多く必要とせず構成
が比較的簡単であることから巡回デジタル積分回路が広
く用いられている。
イズの抑圧量に応じて入力信号Dtの減衰係数Nを予め設
定し、1/N倍に減衰された入力信号Dtと、(1−1/N)倍
に減衰された画像メモリの出力信号∫Dt−1とを加算
し、該加算後のデータを画像信号∫Dtとして出力する
と共に、積分後の画像データとして画像メモリに再記憶
する方法である。
号Dtよりも出力信号∫Dt−1を優先する場合を“積分
度合を大きくする”と表現し、減衰係数Nを小さくして
出力信号∫Dt−1よりも入力信号Dtを優先する場合を
“積分度合を小さくする”と表現し、減衰係数Nの逆数
1/Nをk値として表す場合もある。
係数Nを大きくして積分度合を大きくすれば、S/N比が
向上して画質が改善されるものの検出信号の変化に対す
る追従性が悪くなる。
ムの条件変更等によって観察像の検出信号に変化が生じ
ても、変更後の観察像が直ちに表示されず、変化前の観
察像が残像として残ってしまう。
と、追従性は向上するものの画質の改善効果が小さくな
ってしまう。
とは難しく、従来技術においては、観察像が変化せず観
察像の検出信号の変化が小さいときには、追従性よりも
S/N比の向上を優先させるために積分度合を大きくし、
検出信号の変化が大きいときには、S/N比の向上よりも
追従性を優先させるために積分度合を小さくするといっ
た操作をオペレータが行っており、操作が繁雑になって
しまうという問題があった。
件に変化が生じたときには、該変化に追従し、通常の観
察時には画質向上の効果の高い画像処理装置を提供する
ことである。
な手段を講じた。
をはかる走査電子顕微鏡の画像処理装置において、 電子顕微鏡の観察条件を監視する手段と、観察条件に基
づいてフレーム間積分の積分度合を設定する手段と、フ
レーム間積分の施された積分後画像データ∫Dt−1を
記憶するフレームメモリと、画像データDtと積分後画像
データ∫Dt−1との間で、前記設定された積分度合で
フレーム間積分を行い、該積分後の画像データを新たな
積分後画像データ∫Dtとして前記フレームメモリに記
憶させる積分手段と、積分後画像データ∫Dtを観察像
として表示する手段。
あったりして、画質改善効果よりも追従性が期待される
場合には、自動的に積分度合が小さくなる。
が無く、追従性よりも画質改善効果が期待される場合に
は、自動的に積分度合が大きくなるので、追従性と画質
の改善効果とを両立させた走査電子顕微鏡の画像処理装
置を提供できるようになる。
処理装置のブロック図であり、走査電子顕微鏡1の倍
率、コンデンサレンズの絞り、非点収差補正、試料ステ
ージの移動、走査速度、ガンマ補正、フォーカス調整、
電子ビームの照射条件といった試料観察条件、および検
出器4の感度は制御部2によって制御される。
ら放出される二次電子、反射電子等の二次信号は前記検
出器4で検出される。検出器4での検出信号aは、増幅
器で増幅された後に観察用CRT10に入力される。観察用C
RT10では、電子ビームの走査と同期した偏向走査が行わ
れ、試料3の観察像が表示される。
5でデジタル画像データDtに変換された後にフレーム間
積分回路6に入力される。フレーム間積分回路6は、該
画像データDtと、後述するフレームメモリ7から出力さ
れる、1フレーム前の積分後画像データ∫Dt−1とで
フレーム間積分を行い、積分後の画像データを新たな積
分後画像データ∫Dtとしてフレームメモリ7に入力す
る。
によってアナログ信号に変換され、モニタ9に表示され
る。モニタ9の観察像表示周期は、走査電子顕微鏡1の
走査周期に同期していても同期していなくても良い。つ
まり、走査電子顕微鏡1の走査速度が遅くても、モニタ
9の表示速度を速くすることによってモニタ9上では観
察像を静止画として表示することができる。
ック図である。
ームメモリ7から出力された1フレーム前の積分後画像
データ∫Dt−1との間で減算を実行し、その差信号b
を積分度合制御回路11に出力する。
得られる積分値∫bとそのときの積分度合を決定する係
数kとの関係が予めデータテーブルとして登録されてお
り、実際の制御にあたっては、得られた積分値∫bを該
データテーブルにあてはめることによって、積分値∫b
が大きい場合には積分度合を小さくするために係数kの
値を大きくし、積分値∫bが小さい場合には積分度合を
大きくするためにkの値を小さくするといった制御を行
う。
おいてk倍の利得で減衰され、フレームメモリ7から出
力された1フレーム前の積分後画像データ∫Dt−1は
減衰器22において(1−k)倍の利得で減衰される。
算され、加算後のデータが新たな積分後画像データ∫D
tとしてフレームメモリ7に登録されると共に、その時
点での画像データとして前記D/A変換器8に出力され
る。
とは、以下のような関係を有することとなる。
り、その値が小さいとノイズの低減効果が大きくなるが
追従性が低下し、その値が大きいとノイズの低減効果が
小さくなるが追従性が向上する。また、k=1であれば
フレーム間積分は行われず、入力信号がそのまま出力さ
れて画質改善は行われない。
フレーム数は、ノイズによる誤検出をキャンセルできる
程度にしておくことが望ましい。また、前記データテー
ブルは、画質改善が自然な感じで行われるようなステッ
プで登録しておくことが望ましい。
値∫bと、積分値∫bの変化に応じて制御される係数k
との関係を示した図である。
も徐々に大きくなり、積算値∫bがあるしきい値を越え
るまでは係数kと積算値∫bとは略比例関係を示す。前
記しきい値を越えると係数kはk=1で飽和してフレー
ム間積分は行われない。また、検出信号aが安定して積
分値∫bが小さくなると係数kも徐々に小さくなり、再
びフレーム間積分が開始される。
よりも追従性を優先させる必要がある場合には自動的に
係数kが大きくなって積分度合が小さくなり、その逆の
場合には自動的に積分度合が大きくなるので、常に最適
条件での観察が可能になる。
回路6の構成を示したブロック図であり、第2図と同一
の符号は同一または同等部分を表している。
後画像データ∫Dt−1を減じ、その減算値に応じて出
力される差信号bをそのまま積分度合制御回路11に入力
し、前記同様、該差信号bの積分値∫bに応じて係数k
を制御する。
さらに加算器23において積分後画像データ∫Dt−1が
加算され、加算後の画像データは新たな積分後画像デー
タ∫Dtとしてフレームメモリに登録されると共に、そ
の時点での画像データとして前記D/A変換器8に出力さ
れる。
り簡単な回路構成で実現することができる。
ると該ノイズによって差信号bが大きくなり、その必要
がないにもかかわらず積分度合が小さくなってしまう場
合がある。
路構成が複雑となり、装置が大形で高価なものとなって
しまう。
った、走査電子顕微鏡の観察条件が観察像にもたらす影
響が加味されていないので、実使用においては以下のよ
うな不都合が生じる場合がある。
する追従性が高く、走査速度が遅いと観察像の変化に対
する追従性が悪いことから、走査速度が速く設定されて
いる場合には、前記差信号bが大きくなっても積分度合
を小さくすることなく十分な追従性が得られる。
差信号bの値だけで積分度合を制御していたため、必要
以上に積分度合が小さく設定され、画質の改善効果が十
分に得られないという問題があった。
し、簡単な回路構成で優れた効果を達成できる走査電子
顕微鏡の画像処理装置を示す。
像処理装置のブロック図であり、第1図と同一の符号は
同一または同等部分を表している。
れ、前記したような、倍率、走査速度、試料ステージ移
動等の観察条件の変更は、該マイクロコンピュータの管
理下で行われる。したがって、観察条件の変更の有無お
よびその変更量、たとえば倍率の変化量、試料ステージ
の移動量等はマイクロコンピュータにとっては既知であ
る。
ような場合であっても、移動部にロータリーエンコーダ
等の適宜の手段を付加し、その出力信号をマイクロコン
ピュータに入力するようにすれば、マイクロコンピュー
タは試料ステージの移動の有無および移動量を認識する
ことができる。
ステージの位置といった、観察像に変化を及ぼすような
観察条件が変更されると、該変更に応じた係数kを表す
信号が制御部2からフレーム間積分回路61に出力される
ようにし、該係数kによって積分度合が制御されるよう
にした点に特徴がある。
ック図であり、第2図と同一の符号は同一または同等部
分を表している。
tは減衰器21においてk倍の利得で減衰され、フレーム
メモリ7から出力された1フレーム前の積分後画像デー
タ∫Dt−1は減衰器22において(1−k)倍の利得で
減衰される。
算され、加算後のデータが新たな積分後画像データ∫D
tとしてフレームメモリ7に登録されると共に、その時
点での画像データとして前記D/A変換器8に出力され
る。前記減衰器21、22における係数kは前記制御部2か
ら出力される信号によって制御される。
設定される係数kと、その結果であるノイズ減衰量Pと
の関係を示した図である。
コンデンサレンズの絞り、非点収差、走査速度、ガンマ
補正、フォーカス調整、試料ステージの位置、電子ビー
ムの照射条件等を変更すると、制御部2はこれを検出し
て観察条件が変化したものと判断し、係数kを1に設定
する。
信号がそのまま出力されるので画質改善は行われない。
したがって、観察像は観察条件の変更に直ちに追従して
変化する。
終了すると、制御部2はこれを検出して一定時間ts経過
後から係数kを、前記変更量に応じた傾きで1から徐々
に減じる。この結果、画質改善が行われるようになる。
が変化しても積分度合が変化しないので、より正確な観
察が可能になる。さらに、積分度合を変化させるか否か
の判定が、走査電子顕微鏡の観察条件を変更するための
各種のスイッチ等の操作を検出することによって行われ
るので、簡単な回路構成となる。
とにより、走査速度が速いために観察像の変化に対する
追従性が高い場合には、たとえば試料ステージが移動し
ても積分度合をさほど小さくしないといった制御が可能
になる。
は、一般的に解像度の高い観察像が要求される場合が多
く、また拡大倍率を低くして観察が行われる場合は、観
察位置を特定する場合のように解像度よりも追従性が要
求される場合が多いことから、拡大倍率が高く設定され
ている場合には、たとえば試料ステージが移動しても積
分度合をさほど小さくしないといった制御も可能にな
る。
観察条件の変化のいずれか一方を検出することによって
積分度合を変化させるものとして説明したが、両者の機
能を組み合わせて制御するようにしても良い。
うな効果が達成される。
たり、電子顕微鏡の観察条件に変更があったりして、画
質改善効果よりも追従性が期待される場合には、自動的
に積分度合が小さくなり、一方、画像データの変化や電
子顕微鏡の観察条件の変更が無く、追従性よりも画質改
善効果が期待される場合には、自動的に積分度合が大き
くなるので、追従性と画質の改善効果とを両立させた走
査電子顕微鏡の画像処理装置を提供できるようになる。
ク図、第2図は第1図のフレーム間積分回路のブロック
図、第3図は第2図の機能を説明するための図、第4図
は本発明の第2実施例のフレーム間積分回路のブロック
図、第5図は本発明の第3実施例である画像処理装置の
ブロック図、第6図は第5図のフレーム間積分回路のブ
ロック図、第7図は第6図の機能を説明するための図、
第8図は巡回デジタル積分回路のブロック図である。 1…走査電子顕微鏡、2…制御部、3…試料、4…検出
器、5…A/D変換器、6…フレーム間積分回路、7…フ
レームメモリ、8…D/A変換器、9…モニタ、10…観察
用CRT
Claims (4)
- 【請求項1】試料上で電子線を走査して得られる画像デ
ータDtにフレーム間積分を施して画質の改善をはかる走
査電子顕微鏡の画像処理装置であって、 電子顕微鏡の観察条件を監視する手段と、 観察条件に基づいてフレーム間積分の積分度合を設定す
る手段と、 フレーム間積分の施された積分後画像データ∫Dt−1
を記憶するフレームメモリと、 画像データDtと積分後画像データ∫Dt−1との間で、
前記設定された積分度合でフレーム間積分を行い、積分
後の画像データを新たな積分後画像データ∫Dtとして
フレームメモリに記憶させる積分手段と、 積分後画像データ∫Dtを観察像として表示する手段と
を具備したことを特徴とする走査電子顕微鏡の画像処理
装置。 - 【請求項2】画像データDtの1フレーム単位での変化量
を検出する手段をさらに具備し、 前記積分度合を設定する手段は、前記画像データDtの変
化量および観察条件に基づいて積分度合を設定すること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の走査電子顕微
鏡の画像処理装置。 - 【請求項3】前記積分度合を設定する手段は、電子線の
走査速度が速いほど積分度合を大きくすることを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の走査電子顕微鏡の画像
処理装置。 - 【請求項4】前記積分度合を設定する手段は、拡大倍率
が高いほど積分度合を大きくすることを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の走査電子顕微鏡の画像処理装
置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1327440A JPH0773038B2 (ja) | 1989-12-19 | 1989-12-19 | 走査電子顕微鏡の画像処理装置 |
| US07/624,564 US5142147A (en) | 1989-12-19 | 1990-12-10 | Image processing device for an electron microscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1327440A JPH0773038B2 (ja) | 1989-12-19 | 1989-12-19 | 走査電子顕微鏡の画像処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03190046A JPH03190046A (ja) | 1991-08-20 |
| JPH0773038B2 true JPH0773038B2 (ja) | 1995-08-02 |
Family
ID=18199195
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1327440A Expired - Lifetime JPH0773038B2 (ja) | 1989-12-19 | 1989-12-19 | 走査電子顕微鏡の画像処理装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5142147A (ja) |
| JP (1) | JPH0773038B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US6538249B1 (en) * | 1999-07-09 | 2003-03-25 | Hitachi, Ltd. | Image-formation apparatus using charged particle beams under various focus conditions |
| US7727471B2 (en) * | 2004-09-09 | 2010-06-01 | Palo Alto Research Center Incorporated | Rare cell detection using flat-panel imager and chemiluminescent or radioisotopic tags |
| JP5455694B2 (ja) * | 2010-02-09 | 2014-03-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置 |
| TWI494537B (zh) * | 2013-01-23 | 2015-08-01 | 日立全球先端科技股份有限公司 | A pattern measuring method, a device condition setting method of a charged particle beam device, and a charged particle beam device |
| GB201711621D0 (en) | 2017-07-19 | 2017-08-30 | Oxford Instr Nanotechnology Tools Ltd | Improved navigation for electron microscopy |
| JP6963076B2 (ja) * | 2019-08-20 | 2021-11-05 | 日本電子株式会社 | 分析装置および分析方法 |
Family Cites Families (6)
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| JPS61135034A (ja) * | 1984-12-05 | 1986-06-23 | Jeol Ltd | 走査電子顕微鏡等における画像表示方式 |
| JPS61135458U (ja) * | 1985-02-14 | 1986-08-23 | ||
| US4907287A (en) * | 1985-10-16 | 1990-03-06 | Hitachi, Ltd. | Image correction system for scanning electron microscope |
| JP2587410B2 (ja) * | 1986-06-03 | 1997-03-05 | 日本電気株式会社 | デジタル画像処理装置 |
| JPH06105605B2 (ja) * | 1987-09-11 | 1994-12-21 | 株式会社日立製作所 | 電子顕微鏡の像観察装置 |
-
1989
- 1989-12-19 JP JP1327440A patent/JPH0773038B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-12-10 US US07/624,564 patent/US5142147A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03190046A (ja) | 1991-08-20 |
| US5142147A (en) | 1992-08-25 |
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