JPH077339B2 - 携帯可能電子装置のテスト方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、不揮発性のデータメモリおよびCPUなどの制
御素子を有するICチップを内蔵した、いわゆるICカード
と称される携帯可能電子装置のテスト方法に関する。

（従来の技術） 最近、新たな携帯可能なデータ記憶媒体として、不揮発
性のデータメモリおよびCPUなどの制御素子を有するIC
チップを内蔵したICカードが開発されている。この種の
ICカードは、内部の制御素子により内蔵するデータメモ
リに対してデータの読出しおよび書込みあるいは消去を
行なう。

ところで通常、上記制御素子は、内蔵する制御プログラ
ムにより種々の制御を行なうようになっている。ところ
が従来、この制御プログラムは、ICカードの製造時にマ
スクROMで構成されるプログラムメモリに書込まれてお
り、一度書込まれたプログラムメモリに新たなプログラ
ム、たとえばICカードのテストプログラムを追加するこ
とは不可能であった。このため、新たなプログラムを書
込むためにはプログラムメモリ（マスクROM）を作り直
さなければならず、費用と時間に大きなロスが生じてい
た。

（発明が解決しようとする問題点） 上記したように、従来は製造後に新たなテストプログラ
ムを書込み、これを実行させることができないという欠
点があった。

そこで、本発明は以上の欠点を除去するもので、製造後
に新たなテストプログラムを任意に書込み、これを実行
させることができ、一度しか使用しないテストプログラ
ムをプログラムメモリ部に書込む必要がなく、プログラ
ムメモリ部を作り直す必要もなくなり、しかもこの一度
しか使用しないことを、データメモリ部に記憶されるフ
ラグ情報で規定でき、テストプログラムのロードが一度
しかできないようになっている携帯可能電子装置のテス
ト方法を提供することを目的とする。

［発明の構成］ （問題点を解決するための手段） 本発明の携帯可能電子装置のテスト方法は、データメモ
リ部とこのデータメモリ部に対してデータの読出しおよ
び書込みを行うための制御部とこの制御部が制御を行う
ための制御プログラムを記憶したプログラムメモリ部と
を有するものにおいて、テストプログラムが実行済みか
否かのフラグ情報を上記データメモリ部に記憶してお
き、外部装置からテストプログラムのロード命令を受信
した場合に上記フラグ情報に基づきテストプログラムが
実行済みでない場合にプログラムロード可能の応答出力
を外部装置に出力し、外部装置からテストプログラムの
ロード命令を受信した場合に上記フラグ情報に基づきテ
ストプログラムが実行済みの場合にテストプログラムの
プログラムロードの実行が不可能であることを外部装置
に出力し、プログラムロード可能の応答出力を行った後
に外部装置から受信したテストプログラムを上記データ
メモリ部に記憶し、上記データメモリ部に記憶されたテ
ストプログラムを実行して実行結果を上記外部装置に出
力し、上記テストプログラムを実行した後に上記データ
メモリ部のフラグ情報を実行済みである情報に更新する
ことを特徴とする。

（作用） 本発明は、データメモリ部とこのデータメモリ部に対し
てデータの読出しおよび書込みを行うための制御部とこ
の制御部が制御を行うための制御プログラムを記憶した
プログラムメモリ部とを有するものにおいて、テストプ
ログラムが実行済みか否かのフラグ情報を上記データメ
モリ部に記憶しておき、外部装置からテストプログラム
のロード命令を受信した場合に上記フラグ情報に基づき
テストプログラムが実行済みでない場合にプログラムロ
ード可能の応答出力を外部装置に出力し、外部装置から
テストプログラムのロード命令を受信した場合に上記フ
ラグ情報に基づきテストプログラムが実行済みの場合に
テストプログラムのプログラムロードの実行が不可能で
あることを外部装置に出力し、プログラムロード可能の
応答出力を行った後に外部装置から受信したテストプロ
グラムを上記データメモリ部に記憶し、上記データメモ
リ部に記憶されたテストプログラムを実行して実行結果
を上記外部装置に出力し、上記テストプログラムを実行
した後に上記データメモリ部のフラグ情報を実行済みで
ある情報に更新するようにしたものである。

（実施例） 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。

第４図は本発明に係る携帯可能電子装置としてのICカー
ドのテストシステムの構成例を示している。このテスト
システムは、製造されたICカードの良，不良を判定する
ためのテストプログラムをICカードにロードして実行さ
せるためのもので、ICカード１に対してデータの読出し
および書込みを行なうためのカードリーダ・ライタ２、
このカードリーダ・ライタ２が接続されるホストコンピ
ュータ３、このホストコンピュータ３に接続されるキー
ボード４、CRTディスプレイ装置５、およびフロッピィ
ディスク装置６から構成されている。ICカード１のテス
トプログラムは、ホストコンピュータ３からカードリー
ダ・ライタ２を介してICカード１へロードされるように
なっている。

第３図はICカード１の構成例を概略的に示すもので、制
御手段としての制御素子（たとえばCPU）11、メモリ部1
2、およびカードリーダ・ライタ２との電気的接触を得
るためのコンタクト部13によって構成されていて、これ
らのうち破線内の部分（制御素子11、メモリ部12）は１
つのICチップで構成されており、このICチップはICカー
ド１内に埋設されている。

第１図はメモリ部12の構成（メモリマップ）を示してい
る。すなわち、０番地からＡ−１番地までが制御素子11
の制御プログラムが書込まれているマスクROM部（プロ
グラムメモリ部）21、Ａ番地からＢ−１番地までがICカ
ード１の運用時にデータを記憶するEEPROM部（データメ
モリ部）22、Ｂ番地からＣ番地までがICカード１の動作
時に一時的なデータを記憶するRAM部（作業用メモリ
部）23となっている。そして、ICカード１の製造段階で
その良，不良を判定するテストプログラムをEEPROM部22
の所定のエリア24に外部からロードし、そのテストプロ
グラムを実行するようになっている。すなわち、EEPROM
部22のエリア24はプログラムメモリ部の一部として割り
付けられている。これにより、テスト後は上記エリア24
をデータ用として使用でき、また一度しか使用しないテ
ストプログラムをマスクROM部21に書込まずにすむ。な
お、EEPROM部22の特定エリア内には照合情報として暗証
番号があらかじめ書込まれているものとする。また、上
記エリア24の部分はEPROMあるいはRAMであってもよい。

また、EEPROM部22内にはフラグ部25が設けられており、
このフラグ部25は一度テストプログラムをロードして実
行したか否かを判別するためのものである。フラグ部25
の内容は、テストプログラムの実行前は製造後のEEPROM
部22の初期状態の「FF」（16進）であり、テストプログ
ラムの実行後は「０」に書換える。フラグ部25の内容が
「０」のときは、テストプログラムをロードして実行す
る機能を使用できないようにする。これにより、一度テ
ストの終了したICカード１に対してはテストプログラム
をロードして実行することができなくなり、運用時のIC
カード１の内部データを保護することが可能となる。

次に、上記のような構成において第２図に示すフローチ
ャートを参照して動作を説明する。まず、テストすべき
ICカード１をカードリーダ・ライタ２にセットし、その
後キーボード４で暗証番号を入力する。この入力された
暗証番号は、ホストコンピュータ３からカードリーダ・
ライタ２を介してICカード１の制御素子11へ送られる。
すると、制御素子11は、メモリ部12のEEPROM部22に記憶
されている暗証番号と上記入力された暗証番号とを照合
する。照合結果が正しくなければ（暗証番号が不一致の
とき）、制御素子11は照合エラーを意味する応答データ
を出力して処理を終了し、照合結果が正しければ（暗証
番号が一致のとき）、制御素子11は命令データの入力を
待機する。ここで、ホストコンピュータ３から命令デー
タが入力されると、制御素子11はテストプログラムのロ
ード命令か否かを判別し、テストプログラムのロード命
令以外のものであれば、制御素子11は他の命令処理を行
なうか、無効な命令であればエラーを意味する応答デー
タを出力して処理を終了する。テストプログラムのロー
ド命令であれば、制御素子11はEEPROM部22のフラグ部25
を読出して「０」でないことを確認する。フラグ部25が
「０」であった場合、制御素子11は命令実行不能を意味
する応答データを出力して処理を終了し、フラグ部25が
「０」でなければ、制御素子11はテストプログラムのロ
ードが可能であることを意味する応答データを出力す
る。この応答データを受取ると、ホストコンピュータ３
はテストプログラムを制御素子11へ転送する。すると、
制御素子11は、転送されてきたテストプログラムをEEPR
OM部22のエリア24へ書込み、その後テストプログラムを
正しくロードできたか否かをチェックする。正しくロー
ドできなかった場合、制御素子11はプログラムロードエ
ラーを意味する応答データを出力して処理を終了する。
正しくロードできた場合、制御素子11はそのテストプロ
グラムを実行する。テストプログラムの実行が終了する
と、制御素子11はEEPROM部22のフラグ部25を「０」に書
換えてテスト結果を出力し、全ての処理を終了する。

以上説明したICカードによれば、製造後にテストプログ
ラムを書込み、これを実行させることができる。したが
って、一度しか使用しないテストプログラムをマスクRO
M部に書込む必要がなく、またテストプログラムを書込
むためにマスクROM部を作り直す必要もなくなる。

なお、前記実施例では、携帯可能電子装置としてICカー
ドを例示したが、本発明はカード状のものに限定される
ものでなく、たとえばブロック状あるいはペンシル状の
ものでもよい。また、携帯可能電子装置のハード構成も
その要旨を逸脱しない範囲で種々変形可能である。

［発明の効果］ 以上詳述したように本発明によれば、製造後に新たなテ
ストプログラムを任意に書込み、これを実行させること
ができ、一度しか使用しないテストプログラムをプログ
ラムメモリ部に書込む必要がなく、プログラムメモリ部
を作り直す必要もなくなり、しかもこの一度しか使用し
ないことを、データメモリ部に記憶されるフラグ情報で
規定でき、テストプログラムのロードが一度しかできな
いようになっている携帯可能電子装置のテスト方法を提
供できる。

【図面の簡単な説明】

図は本発明の一実施例を説明するためのもので、第１図
はICカードのメモリ部の構成を示す図、第２図はICカー
ドのテスト動作を説明するフローチャート、第３図はIC
カードの構成例を概略的に示すブロック図、第４図はIC
カードのテストシステムの構成例を示すブロック図であ
る。 １……ICカード（携帯可能電子装置）、11……制御素子
（制御部）、12……メモリ部、21……マスクROM部（プ
ログラムメモリ部）、22……EEPROM部（データメモリ
部）、24……テストプログラムを書込むエリア、25……
フラグ部。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】データメモリ部とこのデータメモリ部に対
   してデータの読出しおよび書込みを行うための制御部と
   この制御部が制御を行うための制御プログラムを記憶し
   たプログラムメモリ部とを有する携帯可能電子装置のテ
   スト方法において、 テストプログラムが実行済みか否かのフラグ情報を上記
   データメモリ部に記憶しておき、 外部装置からテストプログラムのロード命令を受信した
   場合に上記フラグ情報に基づきテストプログラムが実行
   済みでない場合にプログラムロード可能の応答出力を外
   部装置に出力し、 外部装置からテストプログラムのロード命令を受信した
   場合に上記フラグ情報に基づきテストプログラムが実行
   済みの場合にテストプログラムのプログラムロードの実
   行が不可能であることを外部装置に出力し、 プログラムロード可能の応答出力を行った後に外部装置
   から受信したテストプログラムを上記データメモリ部に
   記憶し、 上記データメモリ部に記憶されたテストプログラムを実
   行して実行結果を上記外部装置に出力し、 上記テストプログラムを実行した後に上記データメモリ
   部のフラグ情報を実行済みである情報に更新する ことを特徴とする携帯可能電子装置のテスト方法。