JPH0782120B2 - Radiation image magnifying observation device - Google Patents
Radiation image magnifying observation deviceInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は可視光、紫外線もしくはX線の少なくとも2つ
の波長領域で試料を観察することが可能な放射線像拡大
観察装置に関するものである。The present invention relates to a radiographic image magnifying observation apparatus capable of observing a sample in at least two wavelength regions of visible light, ultraviolet light or X-ray.
従来、可視光、紫外線もしくはX線の波長領域に利用す
る放射線像拡大観察装置は、それぞれの波長領域ごとに
その光学系が異なるため、各波長領域ごとに専用の顕微
鏡として実現されていた。Conventionally, the radiation image magnifying and observing device used in the visible, ultraviolet, or X-ray wavelength range has been realized as a dedicated microscope for each wavelength range because its optical system is different for each wavelength range.
例えば、「パリティ」(培風館)Vol.01No.04(1984)
に示されるX線顕微鏡では、X線源からのX線は試料セ
ット位置に置かれた試料に入射され、透過X線はX線像
拡大部の斜入射反射鏡で反射され、X線フィルムなどに
X線像が形成されている。このため、従来のX線顕微鏡
はX線専用であり、可視光像や紫外線像の観察には全く
用いることができなかった。For example, “Parity” (Baifukan) Vol.01No.04 (1984)
In the X-ray microscope shown in, the X-ray from the X-ray source is incident on the sample placed at the sample setting position, and the transmitted X-ray is reflected by the oblique-incidence reflecting mirror in the X-ray image magnifying section, and the X-ray film, etc. An X-ray image is formed on. Therefore, the conventional X-ray microscope is dedicated to X-rays and cannot be used for observing a visible light image or an ultraviolet image at all.
このように、従来装置では各波長ごとに専用の装置を用
いて試料を観察しなければならないため、ある試料の可
視光像、紫外線像およびX線像を観察しようとするとき
には、その試料を別個の顕微鏡にセットし直さなければ
ならない。すると、セットのたびに位置ずれしたりする
ため、同一試料による放射線像を可視光、紫外線もしく
はX線の間で再現性よく得ることができなかった。As described above, in the conventional apparatus, the sample must be observed for each wavelength by using a dedicated apparatus. Therefore, when the visible light image, the ultraviolet ray image, and the X-ray image of a certain sample are to be observed, the sample is separated. I have to put it back in my microscope. Then, the position of each set is displaced, so that a radiation image of the same sample cannot be obtained with good reproducibility among visible light, ultraviolet rays, or X-rays.
そこで本発明は、可視光、紫外線もしくはX線の各波長
領域における放射線像を、同一の装置で試料をセットし
直すことなく、再現性よく得ることのできる放射線像拡
大観察装置を提供することを目的とする。Therefore, the present invention provides a radiographic image magnifying observation apparatus capable of reproducibly obtaining a radiographic image in each wavelength region of visible light, ultraviolet light, or X-ray without resetting a sample with the same device. To aim.
本発明に係る放射線像拡大観察装置は、可視光、紫外線
もしくはX線のうちの少なくとも2つの波長領域の放射
線を試料セット位置に向けて出射する放射線源と、試料
セット位置を通過することにより形成された放射線像を
拡大する斜入射反射鏡を用いた放射線像拡大部と、拡大
された放射線像を可視光、紫外線もしくはX線の波長領
域ごとに検出する検出手段とを備える。A radiographic image magnifying observation apparatus according to the present invention is formed by passing a radiation source that emits radiation in at least two wavelength regions of visible light, ultraviolet rays, or X-rays toward a sample setting position, and a sample setting position. A radiation image enlarging unit that uses an oblique incidence reflecting mirror that magnifies the magnified radiation image, and detection means that detects the magnified radiation image for each visible light, ultraviolet ray, or X-ray wavelength region.
ここで、放射線源と試料セット位置の間もしくは試料セ
ット位置と放射線像拡大部の間には、可視光、紫外線も
しくはX線のいずれかの波長領域を選択的に除去するフ
ィルタが介在されていてもよく、拡大された放射線像の
結像位置には、可視光、紫外線もしくはX線の少なくと
もいずれかに感度を有する光電変換手段を設けるように
してもよい。また、放射線像拡大部中の放射線の光路に
は進退可能な反射手段を設け、この反射手段による反射
光の結像位置には当該反射光に感度を有する反射光検出
手段を設けるようにしてもよい。Here, a filter for selectively removing a visible light, ultraviolet ray, or X-ray wavelength region is interposed between the radiation source and the sample setting position or between the sample setting position and the radiation image enlarging portion. Alternatively, a photoelectric conversion unit having sensitivity to at least one of visible light, ultraviolet rays, and X-rays may be provided at the position where the magnified radiation image is formed. Further, a reflecting means capable of moving forward and backward is provided in the optical path of the radiation in the radiation image enlarging section, and a reflected light detecting means having sensitivity to the reflected light is provided at an image forming position of the reflected light by the reflecting means. Good.
本発明の構成によれば、フィルタの交換等によって放射
線像を可視光、紫外線もしくはX線の間で適宜に変更で
き、これらの放射線像は各波長領域ごとに放射線像を検
出できる検出手段に結像される。このため、試料の放射
線像を可視光、紫外線もしくはX線の波長領域で選択し
て得ることが可能になる。According to the configuration of the present invention, the radiation image can be appropriately changed between visible light, ultraviolet rays, and X-rays by exchanging the filter, etc., and these radiation images are connected to the detection means capable of detecting the radiation image for each wavelength region. To be imaged. Therefore, the radiation image of the sample can be selected and obtained in the visible light, ultraviolet ray, or X-ray wavelength region.
以下、添付図面の第1図および第2図を用いて本発明の
実施例を説明する。なお、図面の説明において同一の要
素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 and 2 of the accompanying drawings. In the description of the drawings, the same elements will be denoted by the same reference symbols, without redundant description.
第1図は本発明の一実施例に係る放射線像拡大観察装置
の構成図である。放射線源1は例えばシンクロトロン放
射型の光源で構成され、この放射線源1は可視光からX
線に至る波長領域の放射線を出射する。すなわち、シン
クロトロン放射光(SOR光)は第2図に示すような波長
分布を有しており、これは放射線源1の前面に配置され
たフィルタ2を透過して、試料セット部材3の試料セッ
ト位置に設けられた試料4に照射される。ここで、フィ
ルタ2としてはホウ硅酸ガラス製、石英ガラス製あるい
は数μmの厚さのポリパラキシリレン(商品名パリレ
ン)製のものを用いることができる。そして、フィルタ
としてホウ硅酸ガラス製のものを用いたときには紫外線
およびX線がカットされて可視光のみが透過される。石
英ガラス製のものを用いたときには、X線がカットされ
て紫外線および可視光のみが透過される。そして、ポリ
パラキシリレン製のものを用いたときには、300〜3000
Å程度の波長の紫外線がカットされてX線および可視光
が透過される。FIG. 1 is a configuration diagram of a radiographic image magnifying observation apparatus according to an embodiment of the present invention. The radiation source 1 is composed of, for example, a synchrotron radiation type light source.
Emit radiation in the wavelength range up to the line. That is, the synchrotron radiation light (SOR light) has a wavelength distribution as shown in FIG. 2, and this is transmitted through the filter 2 arranged in front of the radiation source 1, and the sample of the sample setting member 3 The sample 4 provided at the set position is irradiated. Here, the filter 2 may be made of borosilicate glass, quartz glass, or polyparaxylylene (trade name parylene) having a thickness of several μm. When a filter made of borosilicate glass is used, ultraviolet rays and X-rays are cut off and only visible light is transmitted. When quartz glass is used, X-rays are cut and only ultraviolet rays and visible light are transmitted. And when using polyparaxylylene, 300-3000
Ultraviolet rays with a wavelength of about Å are cut and X-rays and visible light are transmitted.
放射線が試料4を透過すると放射線像が形成され、これ
は入射窓5を介して放射線像拡大部6に入射される。こ
こで、入射窓5の材料としてはX線、紫外線および可視
光を良好に透過させ、かつ雰囲気ガスを透過させること
のない材料が用いられ、例えば1〜10μm程度の厚さの
ポリプロピレン膜が適している。入射された放射線の斜
入射反射鏡7で反射され、これによって放射線の波長領
域にかかわりなく放射線像は拡大される。そして、不要
な放射線がストッパ8でカットされたのち、拡大放射線
像が光電面9に結像される。When the radiation passes through the sample 4, a radiation image is formed, and the radiation image is incident on the radiation image enlarging portion 6 through the entrance window 5. Here, as the material of the entrance window 5, a material that allows good transmission of X-rays, ultraviolet rays and visible light and does not allow the passage of atmospheric gas is used. For example, a polypropylene film having a thickness of about 1 to 10 μm is suitable. ing. The incident radiation is reflected by the oblique-incidence reflecting mirror 7, whereby the radiation image is enlarged regardless of the wavelength region of the radiation. Then, after the unnecessary radiation is cut by the stopper 8, an enlarged radiation image is formed on the photocathode 9.
ここで、放射線の光路には進退自在な反射鏡10が設けら
れ、この反射鏡10が支持棒11によって光路から後退され
ているとき(図名の実線のとき)には、拡大放射線像は
光電面9に結像されるようになっている。これに対し、
反射鏡10が支持棒11によって放射線の光路に進出されて
いるとき(図中の点線のとき)には、拡大放射線像は光
検出器12の受光面に結像されるようになっている。Here, a reflecting mirror 10 that can move back and forth is provided in the optical path of the radiation, and when the reflecting mirror 10 is retracted from the optical path by the support rod 11 (in the case of the solid line in the figure), the magnified radiation image is photoelectric. An image is formed on the surface 9. In contrast,
When the reflecting mirror 10 is advanced to the optical path of radiation by the support rod 11 (indicated by the dotted line in the figure), the enlarged radiation image is formed on the light receiving surface of the photodetector 12.
拡大放射線像が光電面9に結像されると、これに対応し
た光電子が光電面9から放出され、これによる電子像は
コイル13a,13bによって拡大される。そして、拡大され
た電子像はマイクロチャンネルプレート14で倍増された
後、螢光面15に結像されて光学像を形成する。上記のよ
うに、本実施例では放射線像拡大部6に電子像拡大部16
が付設された構造となっている。螢光面15に形成された
光学像はカメラ17で取り込まれた後にフレームメモリ18
に一時的に蓄えられ、その後にCTR等を備えたモニタ19
に与えられる。一方、このモニタ19には光検出器12の出
力信号も入力されるようになっている。When the magnified radiation image is formed on the photocathode 9, photoelectrons corresponding thereto are emitted from the photocathode 9, and the resulting electron image is magnified by the coils 13a and 13b. Then, the magnified electronic image is doubled by the microchannel plate 14 and then focused on the fluorescent surface 15 to form an optical image. As described above, in the present embodiment, the electronic image enlarging unit 16 is added to the radiation image enlarging unit 6.
It has a structure attached. The optical image formed on the fluorescent surface 15 is captured by the camera 17 and then stored in the frame memory 18
Monitor 19 equipped with a CTR etc.
Given to. On the other hand, the output signal of the photodetector 12 is also input to the monitor 19.
次に、第1図に示す放射線像拡大観察装置の作用を、可
視光、紫外線およびX線像の検出ごとに説明する。Next, the operation of the radiation image magnifying observation apparatus shown in FIG. 1 will be described for each detection of visible light, ultraviolet rays, and X-ray images.
まず、可視光像を観察する場合には、フィルタ2として
ホウ硅酸ガラス製のものを用いる。そして、支持棒11を
操作して反射鏡10を第1図の点線のように、放射線の光
路中に進出させる。すると、放射線源1から出射された
放射線のうち紫外線とX線はフィルタ2でカットされ、
可視光のみが試料4に照射される。この可視光像は放射
線像拡大部6で拡大され、反射鏡10で反射されて光検出
器12の受光面に結像される。従って、モニタ19で試料4
の可視光像を観察することができる。First, when observing a visible light image, a filter made of borosilicate glass is used. Then, the support rod 11 is operated to advance the reflecting mirror 10 into the optical path of the radiation as shown by the dotted line in FIG. Then, ultraviolet rays and X-rays of the radiation emitted from the radiation source 1 are cut by the filter 2,
Only visible light is applied to the sample 4. This visible light image is magnified by the radiation image magnifying section 6, reflected by the reflecting mirror 10 and focused on the light receiving surface of the photodetector 12. Therefore, monitor 4
It is possible to observe the visible light image of.
このような可視光像の観察を行なった後、紫外線の観察
に切り換える場合には、フィルタ2を石英ガラス製のも
のに代える。そして、支持棒11を操作して反射鏡10を第
1図中の実線のように、放射線の光路から後退させる。
すると、放射線源1から出射された放射線のうちX線は
フィルタ2でカットされ、可視光と紫外線のみが試料4
に照射される。このため、可視光像と紫外線像が光電面
9に結像されることになるが、光電面9についてはX線
および紫外線にのみ感度を有するように設計しておく
と、紫外線像のみに対応して光電子が放出されることに
なる。従って、この光電子による電子像が拡大、増幅さ
れて螢光面15に形成され、光学的にカメラ17に取り込ま
れてフレームメモリ18からモニタ19に送られるので、試
料4の紫外線像を観察できる。After switching to the observation of ultraviolet rays after observing such a visible light image, the filter 2 is replaced with that made of quartz glass. Then, the support rod 11 is operated to retract the reflecting mirror 10 from the optical path of the radiation as shown by the solid line in FIG.
Then, the X-rays of the radiation emitted from the radiation source 1 are cut by the filter 2, and only the visible light and the ultraviolet rays are collected by the sample 4
Is irradiated. For this reason, a visible light image and an ultraviolet light image are formed on the photocathode 9, but if the photocathode 9 is designed to have sensitivity only to X-rays and ultraviolet rays, only the ultraviolet image can be handled. Then, photoelectrons are emitted. Therefore, the electronic image formed by the photoelectrons is enlarged and amplified, formed on the fluorescent surface 15, optically captured by the camera 17, and sent from the frame memory 18 to the monitor 19, so that the ultraviolet image of the sample 4 can be observed.
上記のように可視光像をおよび紫外線像の観察を行なっ
た後にX線像の観察を行なうときには、フィルタ2をポ
リパラキシリレン製のものに交換する。このようにする
と、フィルタ2によって300〜3000Åの波長域の紫外線
がカットされ、可視光およびX線のみが試料4に照射さ
れる。すると、紫外線像の観察の場合と同様に可視光像
およびX線像が光電面9に結像される。ところが、光電
面9は可視光に感度を有していないので、結局はX線像
のみがモニタ19で表示されることになる。When observing the X-ray image after observing the visible light image and the ultraviolet light image as described above, the filter 2 is replaced with a filter made of polyparaxylylene. In this way, the filter 2 cuts off ultraviolet rays in the wavelength range of 300 to 3000 Å, and the sample 4 is irradiated with only visible light and X-rays. Then, the visible light image and the X-ray image are formed on the photocathode 9 as in the case of observing the ultraviolet image. However, since the photocathode 9 has no sensitivity to visible light, only the X-ray image is displayed on the monitor 19 in the end.
なお、本発明は上記実施例に限定されることなく、種々
の変形が可能である。The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made.
例えば、放射線源としてはSOR光源に限らず、ガスプラ
ズマ光源やレーザプラズマ光源などを適宜に用いること
ができる。また、可視光からX線までの広い波長領域だ
けでなく、例えば紫外線からX線までの波長領域で適用
可能なものとしてもよい。この場合には、第1図におい
て、反射鏡10、光検出器12などを省略することができ
る。更に、フィルタ2についても各種の材料製のものを
用いることかできる。また、電子像拡大部を設けること
も必須ではない。For example, the radiation source is not limited to the SOR light source, and a gas plasma light source, a laser plasma light source, or the like can be appropriately used. Further, it may be applicable not only in a wide wavelength range from visible light to X-rays but also in a wavelength range from ultraviolet rays to X-rays. In this case, the reflecting mirror 10, the photodetector 12 and the like can be omitted in FIG. Further, the filter 2 may be made of various materials. Further, it is not essential to provide the electronic image enlarging portion.
以上、詳細に説明した通り本発明では、フィルタの交換
等によって放射線像を可視光、紫外線もしくはX線の間
で適宜に変更でき、これらの放射線像は各波長領域ごと
に放射線像を検出できる検出手段に結像される。このた
め、可視光、紫外線もしくはX線の各波長領域における
放射線像を、同一の装置で試料をセットし直すことな
く、再現性よく得ることができる。As described above in detail, in the present invention, the radiation image can be appropriately changed between visible light, ultraviolet rays or X-rays by replacing the filter, etc., and these radiation images can be detected for each wavelength region. Is imaged on the means. Therefore, a radiation image in each wavelength region of visible light, ultraviolet light, or X-ray can be obtained with good reproducibility without resetting the sample with the same device.
第1図は、本発明の実施例に係る放射線像拡大観察装置
の構成図、第2図は、シンクロトロン放射光の波長分布
図である。 1…放射線源、2…フィルタ、3…試料セット部材、4
…試料、5…入射窓、6…放射線像拡大部、7…斜入射
反射鏡、8…ストッパ、9…光電面、10…反射鏡、11…
支持棒、12…光検出器、14…マイクロチャンネルプレー
ト、15…螢光面、16…電子像拡大部、17…カメラ、18…
フレームメモリ、19…モニタ。FIG. 1 is a configuration diagram of a radiation image magnifying observation apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a wavelength distribution diagram of synchrotron radiation light. 1 ... Radiation source, 2 ... Filter, 3 ... Sample setting member, 4
... sample, 5 ... incident window, 6 ... radiation image enlarging part, 7 ... oblique incidence reflecting mirror, 8 ... stopper, 9 ... photocathode, 10 ... reflecting mirror, 11 ...
Support rod, 12 ... Photodetector, 14 ... Micro channel plate, 15 ... Fluorescent surface, 16 ... Electronic image magnifying section, 17 ... Camera, 18 ...
Frame memory, 19 ... Monitor.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 早川 毅 静岡県浜松市市野町1126番地の1 浜松ホ トニクス株式会社内 (56)参考文献 特開 昭64−3600(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Takeshi Hayakawa 1 126-1, Nomachi, Hamamatsu City, Shizuoka Prefecture Hamamatsu Photonics Co., Ltd. (56) References JP-A-64-3600 (JP, A)
Claims (4)
くとも2つの波長領域の放射線を試料セット位置に向け
て出射する放射線源と、前記試料セット位置を通過する
ことにより形成された放射線像を拡大する斜入射反射鏡
を用いた放射線像拡大部と、拡大された前記放射線像を
可視光、紫外線もしくはX線の波長領域ごとに検出する
検出手段とを備えることを特徴とする放射線像拡大観察
装置。1. A radiation source that emits radiation in at least two wavelength regions of visible light, ultraviolet rays, or X-rays toward a sample setting position, and a radiation image formed by passing through the sample setting position. Radiation image magnifying observation, comprising: a radiation image magnifying unit that uses a magnifying oblique incidence reflecting mirror; and detection means that detects the magnified radiation image for each visible light, ultraviolet ray, or X-ray wavelength region. apparatus.
しくは前記試料セット位置と前記放射線像拡大部の間に
は、可視光、紫外線もしくはX線のいずれかの波長領域
を選択的に除去するフィルタが介在されている請求項1
記載の放射線像拡大観察装置。2. A wavelength region of visible light, ultraviolet rays or X-rays is selectively removed between the radiation source and the sample setting position or between the sample setting position and the radiation image enlarging portion. A filter is interposed.
The radiographic image magnifying observation apparatus described.
可視光、紫外線もしくはX線の少なくともいずれかに感
度を有する光電変換手段が設けられている請求項1記載
の放射線像拡大観察装置。3. The image forming position of the enlarged radiation image,
The radiographic image magnifying observation apparatus according to claim 1, further comprising photoelectric conversion means having sensitivity to at least one of visible light, ultraviolet rays, and X-rays.
には進退可能な反射手段が設けられ、この反射手段によ
る反射光の結像位置には当該反射光に感度を有する反射
光検出手段が設けられている請求項1記載の放射線像拡
大観察装置。4. A reflection means capable of advancing and retracting is provided in an optical path of the radiation in the radiation image enlarging portion, and a reflection light detecting means having sensitivity to the reflection light is formed at an image forming position of the reflection light by the reflection means. The radiographic image magnifying observation apparatus according to claim 1, further comprising:
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