Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JPH0785045B2 - Dust generation measurement method - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JPH0785045B2 - Dust generation measurement method - Google Patents

Dust generation measurement method

Info

Publication number
JPH0785045B2
JPH0785045B2 JP62042387A JP4238787A JPH0785045B2 JP H0785045 B2 JPH0785045 B2 JP H0785045B2 JP 62042387 A JP62042387 A JP 62042387A JP 4238787 A JP4238787 A JP 4238787A JP H0785045 B2 JPH0785045 B2 JP H0785045B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
dust
amount
measuring
measured
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP62042387A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS63208737A (en
Inventor
剛伸 松尾
仁 深尾
正幸 今福
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Taisei Corp
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Taisei Corp
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Taisei Corp, Tokyo Electron Ltd filed Critical Taisei Corp
Priority to JP62042387A priority Critical patent/JPH0785045B2/en
Publication of JPS63208737A publication Critical patent/JPS63208737A/en
Publication of JPH0785045B2 publication Critical patent/JPH0785045B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、発塵量測定方法に係り、特に清浄環境を必要
とする場所等で使用される装置および装置の運動機構か
らの発塵量の測定に適用して好適な発塵量測定方法に関
する。
The present invention relates to a dust generation amount measuring method, and more particularly to a device used in a place requiring a clean environment and a motion mechanism of the device. The present invention relates to a dust generation amount measuring method suitable for measuring the dust generation amount from the air.

(従来の技術) 例えば、半導体デバイスの製造では、半導体ウエハ上に
微細なパターンの形成を行う工程等、極度に清浄化され
た雰囲気が要求される工程が多く、このような工程は一
般にクリーンルーム内で行われる。
(Prior Art) For example, in the manufacture of semiconductor devices, there are many processes that require an extremely cleaned atmosphere, such as a process of forming a fine pattern on a semiconductor wafer. Such a process is generally performed in a clean room. Done in.

一般にクリーンルームは、超高性能エアフィルタ等を用
いて清浄化されたクリーンエアーが上部から下部へ向け
て流通されるダウンフローが形成されており、クリーン
ルーム内の装置、人体等から発生した塵埃は、床部から
排出されるよう構成されている。
Generally, in a clean room, a downflow is formed in which clean air purified using an ultra-high performance air filter is distributed from the upper part to the lower part, and dust generated from devices in the clean room, human bodies, etc. It is configured to be discharged from the floor.

しかしながら、半導体装置製造技術の発展はめざまし
く、超微細化が進んでいる。この超微細化にともない塵
埃が直接的に影響するため、クリーンルームもクラス1
0、クラス1等の超清浄度を維持した環境が要求され、
入室人員も若干名となるため、中に入る装置の自動化が
行われる。したがって、自動化機器の発塵量は極端に制
限する必要がある。発塵の少ない自動化機器の開発には
高精度な定量的発塵量の測定法が必要である。
However, the development of semiconductor device manufacturing technology is remarkable, and ultra-miniaturization is progressing. Due to the direct impact of dust with this ultra-miniaturization, clean rooms are also class 1
An environment that maintains ultra cleanliness of 0, class 1, etc. is required,
Since there are only a few people entering the room, the equipment inside will be automated. Therefore, it is necessary to extremely limit the amount of dust generated by automated equipment. Highly accurate quantitative dust amount measurement methods are necessary for the development of automated equipment that generates little dust.

従来このような発塵量を測定する場合は、クリーンルー
ム内に被測定装置等を配置し、光散乱式粒子計数器の気
体採取部分を装置機動部近傍に配置して、動作状態にお
ける被測定装置近傍の塵埃を採取し、発塵量を測定する
等の方法が行われていた。
Conventionally, when measuring such a dust generation amount, the device to be measured, etc. is arranged in a clean room, and the gas sampling part of the light scattering type particle counter is arranged in the vicinity of the moving part of the device to measure the device under operation. Methods such as collecting dust in the vicinity and measuring the amount of dust generation have been performed.

(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上述の従来の方法では、クリーンルーム
等の大規模な施設を必要とする問題と、クリーンルーム
内のダウンフローの影響、クリーンルーム内の装置ある
いは人体等から発生した塵埃のまわり込み、被測定装置
から発生した塵埃の飛散等があり、正確に発塵量を測定
することができないという問題がある。
(Problems to be Solved by the Invention) However, in the above-mentioned conventional method, a problem that requires a large-scale facility such as a clean room, an influence of downflow in the clean room, an apparatus or a human body in the clean room, etc. There is a problem in that the amount of dust generated cannot be accurately measured due to dust that has come around and scattering of dust that has occurred from the device to be measured.

本発明は、かかる従来の事情に対処してなされたもの
で、クリーンルーム等の大規模な施設を必要とせず、被
測定物の動作状態における発塵量等を正確に定量的に測
定することのできる発塵量測定方法を提供しようとする
ものである。
The present invention has been made in response to such conventional circumstances, and does not require a large-scale facility such as a clean room, and can accurately and quantitatively measure the amount of dust generated in the operating state of the measured object. The present invention is intended to provide a method for measuring the amount of dust generated.

[発明の構成] (問題点を解決するための手段) すなわち本発明の発塵量測定方法は、半導体製造工程に
使用されるクリーンルーム内に配置される物から発生す
る塵埃の量を測定するにあたり、 被測定物を、上部に清浄気体を生成するためのフイル
タ、下部にベルマウスレデューサを具備した容器内に設
けて外気と隔離し、 前記容器内に前記フィルタを介して導入され、前記ベル
マウスレデューサを介して導出される上方から下方へ向
かう清浄気体を通過させ、 前記容器の下部に設けた採取管により、この採取管の周
囲の気体の流速と採取した気体の流速がほぼ等しくなる
よう吸引して、前記容器内を通過した気体の少なくとも
一部を採取し、 前記採取管により採取した気体内の塵埃の量を測定する ことを特徴とする。
[Configuration of Invention] (Means for Solving Problems) That is, the dust generation amount measuring method of the present invention is used for measuring the amount of dust generated from an object arranged in a clean room used in a semiconductor manufacturing process. The object to be measured is installed in a container equipped with a filter for producing a clean gas in the upper part and a bell mouth reducer in the lower part to be isolated from the outside air, and is introduced into the container through the filter, and the bell mouth A clean gas, which is discharged from above through the reducer and goes downward, is passed through and a suction pipe is installed at the lower part of the container so that the flow velocity of the gas around the collection pipe and the flow velocity of the collected gas become almost equal. Then, at least a part of the gas that has passed through the container is sampled, and the amount of dust in the gas sampled by the sampling tube is measured.

(作 用) 本発明の発塵量測定方法では、試験の対象とする被測定
物を容器内に設けて他の発塵体と隔離し、測定室内に上
部から下部へ向けて流通する清浄化気体流を形成する。
そして、例えば動作状態の被測定物から発生した塵埃
を、排気配管内から流通気体の一部とともに採取して、
塵埃数を測定する。
(Operation) In the dust generation amount measuring method of the present invention, the object to be tested is provided in the container to be isolated from other dust-generating objects, and is cleaned from the upper part to the lower part in the measurement chamber. Form a gas stream.
Then, for example, dust generated from the measured object in the operating state is collected together with a part of the flowing gas from the exhaust pipe,
Measure the dust count.

したがって、他の発塵体から発生した塵埃の影響を受け
ることがなく、また、排気配管等から効率良く塵埃を採
取することにより、クリーンルーム等の大規模な施設を
必要とせず、正確に発塵量を測定することができる。
Therefore, it is not affected by the dust generated from other dust generators, and the dust is efficiently collected from the exhaust pipe, etc., so that a large-scale facility such as a clean room is not required and the dust is accurately generated. The quantity can be measured.

(実施例) 以下本発明の発塵量測定方法を図面を参照して一実施例
について説明する。
(Embodiment) An embodiment of the dust generation amount measuring method of the present invention will be described below with reference to the drawings.

測定室1は、材質例えば帯電防止処理を施された透明な
硬質塩化ビニル板(帯電防止プレート)からなり、内径
例えば300mm〜500mm、高さ例えば200mm〜400mm程度に円
筒状に形成され、内部を目視可能に構成されている。
The measuring chamber 1 is made of a material such as a transparent hard vinyl chloride plate (antistatic plate) that has been subjected to antistatic treatment, and is formed into a cylindrical shape with an inner diameter of, for example, 300 mm to 500 mm and a height of, for example, 200 mm to 400 mm. It is configured to be visible.

また、この測定室1内には、被測定物2を保持するため
の保持機構1aが配置されている。この保持機構1aは、測
定室1内の気体流を乱さない形状が望ましく、直径例え
ば8mm程度の鏡面仕上を施されたステンレス丸棒が、80m
m程度の間隔を設けて2本配置されて構成されている、
このステンレス丸棒はアース1aが接地されている。
A holding mechanism 1a for holding the object to be measured 2 is arranged in the measuring chamber 1. This holding mechanism 1a preferably has a shape that does not disturb the gas flow in the measurement chamber 1, and a stainless round bar with a mirror finish of about 8 mm in diameter is 80 m long.
Two are arranged at intervals of about m,
This stainless steel round bar is grounded at earth 1a.

さらに、測定室1は清浄化気体がこの測定室1内を通過
するように構成されている。すなわち測定室1の上部に
は、フィルタ収容室3を介してフレキシブルダクト等か
らなる導入配管4が接続されている。この導入配管4
は、スライダック5により送風量を可変とされたブロワ
6等の送風手段に接続されている、 なお、フィルタ収容室3は、例えば横断面が一辺200mm
〜400mm程度の正方形等とされた形状とされており、上
部にプレフィルタ3aが配置され、下部に例えばウルパフ
ィルタ等の超高性能エアフィルタ3bが配置されている。
このフィルタ収容室3、プレフィルタ3a、超高性能エア
フィルタ3bは、被測定物2全体に清浄化気体を吹き付け
られる程度の大きさおよび形状とすることが好ましい。
また、フィルタの種類は、例えば測定対象となる塵埃を
被測定物2が運動しない状態でほとんどゼロなる程度に
除去でき、清浄化気体が得られるものであればどのよう
なものでも良い。
Furthermore, the measurement chamber 1 is configured so that the purified gas passes through the measurement chamber 1. That is, the introduction pipe 4 formed of a flexible duct or the like is connected to the upper portion of the measurement chamber 1 via the filter storage chamber 3. This introduction pipe 4
Is connected to an air blower such as a blower 6 whose air blow rate is variable by a sliderac 5. The filter housing chamber 3 has, for example, a cross section of 200 mm on a side.
It has a square shape or the like of about 400 mm, a pre-filter 3a is arranged in the upper part, and an ultra-high performance air filter 3b such as a ULPA filter is arranged in the lower part.
It is preferable that the filter accommodating chamber 3, the pre-filter 3a, and the ultra-high performance air filter 3b have a size and a shape such that a cleaning gas can be blown to the entire DUT 2.
Any type of filter may be used as long as it can remove dust to be measured to almost zero while the object to be measured 2 does not move, and a purified gas can be obtained.

測定室1の下部には、被測定物2で発生した塵埃を正確
かつ定量的に測定可能な測定系が配設される。すなわ
ち、ベルマウスレデューサ7を介して排気配管8が接続
されている。この排気配管8内には、光散乱式粒子計数
器9に接続されたサンプリング管10が配置されており、
サンプリンク管10が配置された部位の配管下流側には、
例えばオリフィス11aと圧力計(デジタルマノメータ)1
1b等からなる流量測定手段が配置されている。
A measurement system capable of accurately and quantitatively measuring dust generated in the DUT 2 is disposed below the measurement chamber 1. That is, the exhaust pipe 8 is connected via the bellmouth reducer 7. Inside this exhaust pipe 8, a sampling pipe 10 connected to a light scattering type particle counter 9 is arranged,
On the downstream side of the pipe where the sumplink pipe 10 is arranged,
For example, orifice 11a and pressure gauge (digital manometer) 1
A flow rate measuring means consisting of 1b etc. is arranged.

なお、上記ベルマウスレデューサ7は、第2図に示すよ
うに例えば鏡面仕上を施されたステンレス鋼板等からな
り、上記ベルマウスレデューサ7にはアース7aを接地し
ており、全長aが例えば300mm、内径bが100mm〜400mm
程度とされ、開口端部の径cが内径bに対して1.6倍程
度、図中符号d、e、f、gで示される領域のRが内径
bに対してそれぞれ0.2、0.33、0.2、0.305倍とされた
複数種のRを組み合わせた形状とされており、例えば内
径bに対して1.6倍程度の内径とされた測定室1からの
気体流を、排気配管8内へ乱流等を生じさせることなく
絞るように構成したものである。すなわち、ここで乱流
等が生じると、塵埃の停滞、偏り等が生じたり、新たな
塵埃の発生等が生じ、被測定物からの発塵量を正確に測
定することが困難となる。
The bell mouth reducer 7 is made of, for example, a stainless steel plate having a mirror finish as shown in FIG. 2, the bell mouth reducer 7 is grounded to the earth 7a, and the total length a is 300 mm, for example. Inner diameter b is 100 mm to 400 mm
The diameter c of the opening end is about 1.6 times as large as the inner diameter b, and the Rs of the regions indicated by reference signs d, e, f, and g in the drawing are 0.2, 0.33, 0.2, and 0.305, respectively. It has a shape in which a plurality of doubled types of R are combined, and for example, a gas flow from the measurement chamber 1 having an inner diameter of about 1.6 times the inner diameter b is turbulent in the exhaust pipe 8. It is configured to squeeze without letting go. That is, if a turbulent flow or the like occurs here, the dust becomes stagnant or biased, or new dust is generated, which makes it difficult to accurately measure the amount of dust generated from the measured object.

また、サンプリング管10は、帯電防止処理を施されたウ
レタン等から構成され、その先端部には、第3図にも示
すように鏡面仕上を施されたステンレス鋼等から円筒状
に形成された筒状部材10aが配置されている。
The sampling tube 10 is made of urethane or the like that has been subjected to antistatic treatment, and its tip is formed in a cylindrical shape from stainless steel or the like having a mirror finish as shown in FIG. The tubular member 10a is arranged.

筒状部材10aは、全長hが例えば50mm程度とされ、先端
部の外形i、肉厚jがそれぞれ6.8mm、0.15mmとされて
いるのに対して、サンプリング管10側端部の外形k、肉
厚lがそれぞれ8.0mm、0.2mmとされ、先端部が小径、肉
薄となるテーパ状に形成されている。すなわち、塵埃の
採取に際しサンプリング管10およびその先端で乱流が発
生しないように構成されている。この筒状部材10aは、
測定室1からの気体流を乱すことなく、この気体の一部
を採取するためのものである。さらに、サンプリング管
10も、約800mmに渡り排気配管8内を徐々に斜め下方に
伸ばされ、排気配管8壁から外部へ導出されており、気
体採取部分の乱流発生を防止する構成とされている。
The tubular member 10a has a total length h of, for example, about 50 mm, and has an outer shape i at the tip and a wall thickness j of 6.8 mm and 0.15 mm, respectively. The thickness 1 is 8.0 mm and 0.2 mm, respectively, and the tip end is formed in a tapered shape with a small diameter and a thin wall. That is, the turbulent flow is not generated in the sampling tube 10 and its tip when collecting dust. This tubular member 10a is
This is for collecting a part of this gas without disturbing the gas flow from the measurement chamber 1. In addition, the sampling tube
Reference numeral 10 also gradually extends obliquely downward in the exhaust pipe 8 over a distance of about 800 mm and is led out from the wall of the exhaust pipe 8 to prevent turbulent flow from occurring in the gas sampling portion.

また、筒状部材10aの位置は適宜選択できるように上下
左右調節可能な機構になっている。そして、筒状部材10
aおよびサンプリング管10により気体の一部を排気管8
外へ導出し、光散乱式粒子計数器9で塵埃量を計数す
る。この光散乱式粒子計数器9には、有効に塵埃を導入
するために吸入機構が設けられる。
In addition, the position of the tubular member 10a is a mechanism that can be adjusted vertically and horizontally so that it can be selected appropriately. Then, the tubular member 10
a and a sampling pipe 10 to exhaust a part of the gas to the exhaust pipe 8
It is led out to the outside and the amount of dust is counted by the light scattering type particle counter 9. The light-scattering type particle counter 9 is provided with a suction mechanism for effectively introducing dust.

なお、上記サンプリング管10先端の筒状部材10aは、第
4図および第5図に示すように、先端部が一定のRを持
って広がった形状、あるいは開口端部へ向けて徐々に広
がった形状等としても良い。
As shown in FIGS. 4 and 5, the tubular member 10a at the tip of the sampling tube 10 has a shape in which the tip has a certain radius R or is gradually expanded toward the opening end. It may have a shape or the like.

次に上記構成の装置を用いたこの実施例方法を説明す
る。測定室1内に、低発塵性の不織布で拭き取りを行う
か、あるいは洗浄用エアーを吹き付ける等して前処理を
行った被測定物2を配置し、まず被測定物2の動作を停
止状態として、ブロワ6を作動させ、測定室1内に清浄
化空気等を導入して予め定めた期間準備操作する。定常
状態になった後、サンプリング管10によって採取される
清浄化空気中の塵埃数を光散乱式粒子計数器9によって
測定する。なお、サンプリング管10からは、吸引を行う
が、サンプリング管10先端部において、採取空気の流れ
が方向を変えることのないようにサンプリング管10先端
部を配置し、かつ、採取空気の流速がこの周囲の排気配
管内を流通する空気の流速とほぼ等しくなるよう、ブロ
ワ6による送風量、サンプリング管10先端部の筒状部材
10aの内径および吸引量等を調節することが好ましい。
この状態で、まず被測定物2に付着した塵埃を除去し、
光散乱式粒子計数器9によって測定される塵埃数がほと
んどゼロに近い状態を確認しバックグラウンドの清浄度
とする。、次に、被測定物2を作動させ、運動機構を所
定の条件で運動したときの発生塵埃数を測定し運動時の
清浄度とする。この測定は、サンプリング管10先端部の
筒状部材10aの位置を排気配管内の断面方向に移動させ
て複数個所において測定することが好ましい。運動機構
からの発塵量は、この運動時の清浄度からバックグラウ
ンドの清浄度を差し引いて求められ、さらに測定室1へ
流入する気体の流量を測定し単位換算を行えば、被測定
物2からの総塵埃量を求めることができる。
Next, the method of this embodiment using the apparatus having the above configuration will be described. In the measurement chamber 1, the DUT 2 that has been pretreated by wiping with a non-dusting non-woven fabric or blowing a cleaning air is placed, and the operation of the DUT 2 is stopped first. As a result, the blower 6 is actuated, purified air or the like is introduced into the measurement chamber 1, and a preparatory operation is performed for a predetermined period. After the steady state is reached, the number of dust particles in the purified air collected by the sampling tube 10 is measured by the light scattering type particle counter 9. Although suction is performed from the sampling tube 10, the sampling tube 10 tip is arranged so that the flow of the sampling air does not change direction at the sampling tube 10 tip, and the flow rate of the sampling air is The amount of air blown by the blower 6 and the cylindrical member at the tip of the sampling pipe 10 so that the flow velocity of the air flowing through the surrounding exhaust pipe becomes almost equal.
It is preferable to adjust the inner diameter of 10a and the suction amount.
In this state, first remove the dust adhering to the DUT 2,
The state where the number of dust measured by the light scattering type particle counter 9 is almost zero is confirmed and the background cleanliness is determined. Then, the DUT 2 is operated, and the number of dusts generated when the motion mechanism is moved under a predetermined condition is measured and used as the cleanliness during the motion. This measurement is preferably performed at a plurality of positions by moving the position of the tubular member 10a at the tip of the sampling pipe 10 in the cross-sectional direction within the exhaust pipe. The amount of dust generated from the movement mechanism is obtained by subtracting the background cleanliness from the cleanliness during this movement, and further measuring the flow rate of the gas flowing into the measurement chamber 1 and performing unit conversion, the measured object 2 The total amount of dust from can be calculated.

被測定物2の作動は、モータ等の運動機構からの発塵量
を測定する場合等は、駆動部、ヒータ等を測定室1内に
収容し、測定室1の側壁に設けられた透孔1bから電源ケ
ーブル、コントロールケーブル等を引き出して行う。ま
た、電源ケーブル、コントロールケーブル等と透孔1bと
の間隙は、シリコーン等でシールし、外気の混入を防止
する。
When the amount of dust generated from a moving mechanism such as a motor is measured, the operation of the DUT 2 is such that a driving unit, a heater and the like are housed in the measurement chamber 1 and a through hole provided on the side wall of the measurement chamber 1 is used. Pull out the power cable and control cable from 1b. Further, the gap between the power cable, the control cable and the like and the through hole 1b is sealed with silicone or the like to prevent the entry of outside air.

また、モータ等の駆動部は除き、対象とする運動機構か
らのみの発塵量を測定する場合は、第1図に示すように
モータ2a等の駆動部を測定室1外に配置し、透孔1bに遊
挿されたシャフト2cによってモータ2aと被測定物2の可
動部分とを接続する。このような場合は、シャフト2cの
周囲と透孔1bとの間に生じる間隙は、磁性流体等によっ
てシールする。
Further, when measuring the amount of dust generated only from the target motion mechanism excluding the drive unit such as the motor, the drive unit such as the motor 2a is arranged outside the measurement chamber 1 as shown in FIG. The motor 2a and the movable part of the DUT 2 are connected by a shaft 2c loosely inserted in the hole 1b. In such a case, the gap formed between the periphery of the shaft 2c and the through hole 1b is sealed with magnetic fluid or the like.

すなわち、この実施例方法では、被測定物2を測定室1
内に収容して他の発塵体と隔離しているので、他の発塵
体から発生した塵埃の影響を受けることがなく、また、
サンプリング管10は、測定室1下部にベルマウスレデュ
ーサ7を介して接続された排気配管8内に配置されてお
り、気体流れを乱すことなく効率良く塵埃を採取するこ
とができ、クリーンルーム外の通常雰囲気下等でも、所
望の測定部位からの発塵量を正確に測定することができ
る。
That is, in the method of this embodiment, the DUT 2 is placed in the measurement chamber 1
Since it is housed inside and isolated from other dust-generating bodies, it is not affected by dust generated from other dust-generating bodies, and
The sampling pipe 10 is arranged in the exhaust pipe 8 connected to the lower part of the measurement chamber 1 via the bellmouth reducer 7, and can collect dust efficiently without disturbing the gas flow, and is usually outside the clean room. The amount of dust generated from a desired measurement site can be accurately measured even in an atmosphere or the like.

さらに、被測定物2から発生した塵埃が静帯電して被測
定物2に付着したり気流を乱したりする可能性がある。
この現象は被測定物2が絶縁体で構成されている場合顕
著である。このような静電気対策として第6図に示す如
くフィルタ3の流出側に除電装置20を配設することによ
り改善でき、より精度の高い測定が可能となる。
Furthermore, the dust generated from the DUT 2 may be electrostatically charged and adhere to the DUT 2 or disturb the air flow.
This phenomenon is remarkable when the DUT 2 is made of an insulator. As a countermeasure against such static electricity, it can be improved by disposing the static eliminator 20 on the outflow side of the filter 3 as shown in FIG. 6, and more accurate measurement can be performed.

この除電装置は周知のものでよく、例えば第7図(A)
に示す如く測定室1の内径に相当する絶縁体からなる環
状リング71を枠体として複数組の放電柱72を形成する。
この放電柱72は中間に放電針73列の形成された棒状除電
電極74を設け、この除電電極74を挟む如くアース極75、
76を設けて放電柱72を構成する。この放電柱72の構成は
例えば除電電極74、アース極75、76が三角形の頂点に位
置する構成になっている。アース極75、76は、直径例え
ば8mm程度の鏡面研磨したステンレス棒が用いられる
が、除電電極74は第7図(B)に示す如く直径例えば5m
m程度のステンレス棒77に一列に多数の放電針73を電気
的接続状態で植設し、この放電針73の先端が露出し、上
記ステンレス棒77を被覆する如く絶縁性樹脂被覆78が設
けられており、この放電針73は外部の高電圧発生電源と
高圧線により並列に配線が構成されている。この被覆78
はシリコーン樹脂や発泡樹脂等いずれでもよいが、円筒
状樹脂を長手方向に切断し、上記放電針73列で合掌する
構成になっている。
This static eliminator may be a known one, for example, FIG. 7 (A).
As shown in FIG. 5, a plurality of sets of discharge columns 72 are formed by using an annular ring 71 made of an insulator corresponding to the inner diameter of the measurement chamber 1 as a frame.
This discharge column 72 is provided with a rod-shaped charge eliminating electrode 74 having a row of discharge needles 73 in the middle, and a ground electrode 75, which sandwiches this charge eliminating electrode 74,
The discharge column 72 is formed by providing 76. The discharge column 72 has a structure in which, for example, the static elimination electrode 74 and the ground electrodes 75 and 76 are located at the apexes of a triangle. The earth electrodes 75 and 76 are made of mirror-polished stainless steel rods having a diameter of, for example, about 8 mm, but the static elimination electrode 74 has a diameter of, for example, 5 m as shown in FIG. 7 (B).
A large number of discharge needles 73 are electrically connected to a stainless rod 77 of about m in a row, the tip of the discharge needle 73 is exposed, and an insulating resin coating 78 is provided so as to cover the stainless rod 77. The discharge needle 73 is wired in parallel with an external high voltage generating power source and a high voltage line. This coating 78
May be silicone resin, foamed resin, or the like, but is configured such that a cylindrical resin is cut in the longitudinal direction and the 73 rows of the discharge needles are used for handing.

このような構成の除電装置20を配設することにより、静
電気除去対策した清浄化気体による発塵量の測定を行う
ことができる。これは各放電柱72の金属製放電針73とス
テンレス棒75、76の間で放電を発生させることにより達
成できる。さらにまた、より正確な測定を行うために光
散乱式粒子計数器9の入口側管21に除電装置22を配設す
るとさらに効果が大きい。
By disposing the static eliminator 20 having such a configuration, it is possible to measure the amount of dust generated by the clean gas in which static electricity is removed. This can be achieved by generating a discharge between the metal discharge needle 73 of each discharge column 72 and the stainless steel rods 75 and 76. Furthermore, in order to perform more accurate measurement, the static elimination device 22 is provided in the inlet side tube 21 of the light scattering type particle counter 9 to further enhance the effect.

この除電装置22の構成は第8図に示す如く、サンプリン
グ管10から連設される入口側管21を囲繞する如く配設す
る。
As shown in FIG. 8, the structure of the static eliminator 22 is arranged so as to surround the inlet side pipe 21 connected to the sampling pipe 10.

すなわち、一辺開口の各筒状導電性容器81内の底部82に
アース極84を備えたこの容器81と絶縁して金属製放電針
83を一列に予め定めた間隔で配列して構成した放電容器
85を複数個例えば三角形の頂点の位置に3個配設する。
このように構成した三角形内に入口側管21を配設する
と、入口側管21の内壁に帯電している静電気は入口側管
21の外壁に帯電している静電気を中和除去することで静
電効果により中和除去することができる。この静電気除
去作用はアース極84を備えた容器85と放電針83の間でコ
ロナ放電を生起させ、イオン対を生成することにより達
成できる。
That is, the metal discharge needle is insulated from the container 81 having the ground electrode 84 at the bottom portion 82 in each cylindrical conductive container 81 with one side opening.
Discharge vessel constructed by arranging 83 in a row at a predetermined interval
A plurality of 85, for example, 3 are arranged at the positions of the vertices of a triangle.
When the inlet side tube 21 is arranged in the triangle thus configured, the static electricity charged on the inner wall of the inlet side tube 21 is
By neutralizing and removing the static electricity charged on the outer wall of 21, it can be neutralized and removed by the electrostatic effect. This static electricity removing action can be achieved by causing a corona discharge between the container 85 having the ground electrode 84 and the discharge needle 83 to generate an ion pair.

なお、第6図に示すように、光散乱式粒子計数器9で測
定された測定結果は、コンピュータ30によって任意のデ
ータ処理を行い、プリンタ31によって所望のデータの形
にプリントアウトするよう構成することができる。ま
た、モータ2aは、コントロールユニット40、CPUボード4
1、デイスクユニツト42、CRT43等を接続して所望の制御
を行うように構成することができる。
As shown in FIG. 6, the measurement result measured by the light-scattering type particle counter 9 is subjected to arbitrary data processing by the computer 30, and is printed out by the printer 31 in a desired data form. be able to. In addition, the motor 2a includes a control unit 40 and a CPU board 4
1, the disk unit 42, the CRT 43, etc. can be connected to perform desired control.

[発明の効果] 上述のように、本発明の発塵量測定方法では、クリーン
ルーム等の大規模な施設を必要とせず、発生した塵埃が
被測定物や配管等に付着することなく、さらに、他の塵
埃のまき込みや、実際の塵埃の飛散等がなく、発塵量を
正確に定量的に測定することができる。
[Effects of the Invention] As described above, the dust generation amount measuring method of the present invention does not require a large-scale facility such as a clean room, and the generated dust does not adhere to the object to be measured, piping, etc. It is possible to accurately and quantitatively measure the amount of dust generation without entrainment of other dust or scattering of actual dust.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の一実施例方法に用いる発塵量測定装置
を示す構成図、第2図および第3図は第1図の要部を示
す一部拡大断面図、第4図および第5図は第3図の変形
例を示す一部拡大断面図、第6図は第1図の他の実施例
の説明図、第7図および第8図は第6図の除電装置の構
成説明図である。 1……測定室、1a……アース、2……被測定物、3……
フィルタ収容室、4……導入配管、6……ブロワ、7…
…ベルマウスレデューサ、7a……アース、8……排気配
管、9……光散乱式粒子計数器、10……サンプリング
管。
FIG. 1 is a block diagram showing a dust generation amount measuring apparatus used in an embodiment method of the present invention, FIGS. 2 and 3 are partially enlarged sectional views showing essential parts of FIG. 1, FIG. 4 and FIG. FIG. 5 is a partially enlarged sectional view showing a modified example of FIG. 3, FIG. 6 is an explanatory view of another embodiment of FIG. 1, and FIGS. 7 and 8 are structural explanations of the static eliminator of FIG. It is a figure. 1 ... Measuring room, 1a ... Ground, 2 ... Object to be measured, 3 ...
Filter chamber, 4 ... Introduction piping, 6 ... Blower, 7 ...
… Bellmouth reducer, 7a… Earth, 8 …… Exhaust pipe, 9 …… Light scattering type particle counter, 10 …… Sampling tube.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 今福 正幸 東京都新宿区西新宿1丁目25番1号 大成 建設株式会社内 (56)参考文献 特開 昭58−90144(JP,A) 特開 昭58−80560(JP,A) 特開 昭60−185138(JP,A) 実開 昭61−91152(JP,U) 実開 昭58−7858(JP,U) 実開 昭59−43770(JP,U) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Masayuki Imafuku 1-25-1 Nishishinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo Within Taisei Corporation (56) Reference JP-A-58-90144 (JP, A) JP-A-SHO 58-80560 (JP, A) JP 60-185138 (JP, A) Actual opening 61-91152 (JP, U) Actual opening Sho 58-7858 (JP, U) Actual opening Sho 59-43770 (JP, U)

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】半導体製造工程に使用されるクリーンルー
ム内に配置される物から発生する塵埃の量を測定するに
あたり、 被測定物を、上部に清浄気体を生成するためのフィル
タ、下部にベルマウスレデューサを具備した容器内に設
けて外気と隔離し、 この容器内に前記フィルタを介して導入され、前記ベル
マウスレデューサを介して導出される上方から下方へ向
かう清浄気体を通過させ、 前記容器の下部に設けた採取管により、この採取管の周
囲の気体の流速と採取した気体の流速がほぼ等しくなる
よう吸引して、前記容器内を通過した気体の少なくとも
一部を採取し、 前記採取管により採取した気体内の塵埃の量を測定する ことを特徴とする発塵量測定方法。
1. When measuring the amount of dust generated from an object placed in a clean room used in a semiconductor manufacturing process, an object to be measured, a filter for generating a clean gas in the upper part, and a bell mouth in the lower part. It is provided in a container equipped with a reducer to be isolated from the outside air, and a clean gas which is introduced into the container through the filter and which is introduced through the bell mouth reducer and goes downward is passed therethrough. The sampling pipe provided at the lower part sucks the gas around the sampling pipe so that the flow velocity of the gas is almost equal to the flow velocity of the sampled gas, and at least a part of the gas passing through the container is sampled. A method for measuring the amount of dust, characterized by measuring the amount of dust in the gas collected by.
【請求項2】被測定物を設けた容器内を通過した気体の
採取位置は、上記気体流路の配管内の異った位置で複数
回行うことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の発
塵量測定方法。
2. The sampling position of the gas which has passed through the container provided with the object to be measured, is performed a plurality of times at different positions in the pipe of the gas flow path. The method for measuring the amount of dust generation described.
【請求項3】被測定物を設けた容器内に流入させる気体
は静電気除去のための除電装置を通過した気体である特
許請求の範囲第1項記載の発塵量測定方法。
3. The dust generation amount measuring method according to claim 1, wherein the gas introduced into the container provided with the object to be measured is a gas that has passed through a static eliminator for removing static electricity.
【請求項4】被測定物を設けた容器から前記容器内を通
過した気体の一部を採取し、採取した気体の通過するす
べての配管に、静電気除去処理を施すことを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載の発塵量測定方法。
4. A part of the gas that has passed through the container is collected from a container provided with an object to be measured, and all pipes through which the collected gas passes are subjected to static electricity removal treatment. The method for measuring the amount of dust generation according to the first section.
【請求項5】被測定物を設けた容器内を流れる清浄気体
流の流路は、乱流を発生しにくいように構成されている
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の発塵量測
定方法。
5. A flow path for a clean gas flow flowing in a container provided with an object to be measured is constructed so as not to easily generate turbulent flow. Dust amount measurement method.
【請求項6】被測定物を設けた容器内を通過した気体の
採取法は、採取する吸引入口で気体の流れ方向を変えな
いようにして行うことを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の発塵量測定方法。
6. The method for collecting the gas having passed through the container provided with the object to be measured is performed so that the suction inlet for sampling does not change the flow direction of the gas.
The method for measuring the amount of dust generation described in the item.
JP62042387A 1987-02-25 1987-02-25 Dust generation measurement method Expired - Lifetime JPH0785045B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62042387A JPH0785045B2 (en) 1987-02-25 1987-02-25 Dust generation measurement method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62042387A JPH0785045B2 (en) 1987-02-25 1987-02-25 Dust generation measurement method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63208737A JPS63208737A (en) 1988-08-30
JPH0785045B2 true JPH0785045B2 (en) 1995-09-13

Family

ID=12634656

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62042387A Expired - Lifetime JPH0785045B2 (en) 1987-02-25 1987-02-25 Dust generation measurement method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0785045B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107478556B (en) * 2017-09-15 2024-03-05 中天道成(苏州)洁净技术有限公司 Online dust particle counting monitoring system based on dust-free exhaust design
CN107957387B (en) * 2017-12-23 2023-06-09 安徽工程大学 Method for evaluating dust content of down products

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS587858U (en) * 1981-07-03 1983-01-19 山里エレクトロナイト株式会社 sublance probe
JPS5880560A (en) * 1981-11-07 1983-05-14 Sankyo Dengiyou Kk Measuring method for velocity of flow of powder and granules
JPS5890144A (en) * 1981-11-26 1983-05-28 Ishibashi Kagaku Kogyo Kk Automatic uniform suction device for exhaust gas
JPS5943770U (en) * 1982-09-16 1984-03-22 アロン化成株式会社 plastic tube
JPS60185138A (en) * 1984-03-05 1985-09-20 Fujita Corp Dust generation evaluation test method
JPH0326440Y2 (en) * 1984-11-20 1991-06-07

Also Published As

Publication number Publication date
JPS63208737A (en) 1988-08-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5214386A (en) Apparatus and method for measuring particles in polydispersed systems and particle concentrations of monodispersed aerosols
US6228149B1 (en) Method and apparatus for moving, filtering and ionizing air
CN104438226B (en) Mask plate cleaning systems
JPS623367B2 (en)
JP2874786B2 (en) Electrostatic detector for aerosol particles
EP3766585B1 (en) Electrical ionizer for aerosol charge conditioning and measurement
Roux et al. Development of a new portable air sampler based on electrostatic precipitation
US4312180A (en) Detecting particles
US20040151672A1 (en) Particle counting method and particle counter
US5194737A (en) Single and double grid long-range alpha detectors
GB2083619A (en) Charge spectrograph
US3896347A (en) Corona wind generating device
CN107847945A (en) Method for selective purification aerosol
JPH0785045B2 (en) Dust generation measurement method
JP4614569B2 (en) Suction type ionizer
JP2929390B2 (en) Air filter leak test method and apparatus
CA1320686C (en) Electrostatic precipitator
JPH06208898A (en) Charged goods neutralizer
JP6052551B2 (en) Method for measuring the weight concentration of particulate matter in the air
JPH0721448B2 (en) Dust generation measuring device
JPH0616009B2 (en) Dust measurement device
US2986923A (en) Means for detecting and measuring aerosols
Hyun et al. Design and performance evaluation of a PN1 sensor for real-time measurement of indoor aerosol size distribution
Kanazawa et al. Simultaneous measurements of wire electrode surface contamination and corona discharge characteristics in an air-cleaning electrostatic precipitator
CN112997287A (en) Particle removal device using symmetrical gas injection