JPH0785105B2 - Magnetic material tester - Google Patents
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- JPH0785105B2 JPH0785105B2 JP62056795A JP5679587A JPH0785105B2 JP H0785105 B2 JPH0785105 B2 JP H0785105B2 JP 62056795 A JP62056795 A JP 62056795A JP 5679587 A JP5679587 A JP 5679587A JP H0785105 B2 JPH0785105 B2 JP H0785105B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は磁性材料の特性を測定する試験器に関し、特に
スイツチング電源に用いられる磁気増幅器用可飽和磁心
としての磁性材料の特性測定用試験器に関するものであ
る。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a tester for measuring characteristics of a magnetic material, and more particularly to a tester for measuring characteristics of a magnetic material as a saturable magnetic core for a magnetic amplifier used in a switching power supply. It is about.
従来技術による磁性材料試験器の説明の前にこれを理解
し易くするために、磁性材料の一例として可飽和磁心を
取り上げ、これを第7図に示されるスイツチング電源の
磁気増幅器用可飽和リアクトル18に用いた時のその動作
について説明する。このような可飽和リアクトルを用い
た磁気増幅器制御型のスイツチング電源としては、電子
通信学会技術研究報告PE84−37等に示されるものが現在
最も一般的なものである。Before explaining the magnetic material tester according to the prior art, in order to make it easy to understand, a saturable magnetic core is taken as an example of the magnetic material, and the saturable reactor for a magnetic amplifier of a switching power supply shown in FIG. The operation when used for is explained. As the magnetic amplifier control type switching power supply using such a saturable reactor, the one shown in Technical Report PE84-37 of the Institute of Electronics and Communication Engineers is currently the most common one.
まず、このスイツチング電源で制御素子として用いられ
る可飽和リアクトル18について述べる。可飽和リアクト
ルは、その磁心を形成する磁性材料が第9図に示される
ような角形特性のB−H曲線を有するものが理想的であ
る。第9図において縦軸のBは磁束密度を、横軸のHは
磁界の強さを表わしており、以下文章および図について
も同様の符号の意味としその説明は省略する。また、破
線のB−H曲線(P→t2→S→t3→Q→R→P)はこの
理想的な可飽和リアクトルに正弦波交流電圧を印加した
場合のものであり、実線のB−H曲線(P′−t2→S→
t3→Q′−P′)はこの可飽和リアクトルをスイツチン
グ電源に用いた場合のものである。スイツチング電源に
用いた実線のB−H曲線において、可飽和リアクトル18
は、その磁心の状態が点P′から点t2の間では高インピ
ーダンス、点t2から点Sの間ではインピーダンスが零と
なるため、点P′から点t2で阻止状態、点t2から点Sで
導通状態となるスイツチング素子として作用している。First, the saturable reactor 18 used as a control element in this switching power supply will be described. Ideally, the saturable reactor is one in which the magnetic material forming the magnetic core has a BH curve with a square characteristic as shown in FIG. In FIG. 9, B on the vertical axis represents the magnetic flux density, and H on the horizontal axis represents the magnetic field strength. In the following texts and figures, the same symbols are used and the description thereof is omitted. The broken line B-H curve (P → t 2 → S → t 3 → Q → R → P) is the case where a sinusoidal AC voltage is applied to this ideal saturable reactor. -H curve (P'-t 2 → S →
t 3 → Q′−P ′) is when this saturable reactor is used as a switching power supply. In the solid BH curve used for the switching power supply, the saturable reactor 18
It is 'since high impedance between points t 2 from, between the point t 2 of the point S impedance becomes zero, the point P' state of the magnetic core point P blocking state from at point t 2, the point t 2 From the point S to act as a switching element which becomes conductive.
次に、第7図に示されるスイツチング電源回路におい
て、その全体的な動作について第8図,第9図,第10図
を用いて以下に述べる。Next, the overall operation of the switching power supply circuit shown in FIG. 7 will be described below with reference to FIGS. 8, 9 and 10.
第7図において、可飽和リアクトル18は前述の理想的な
特性を持つた磁性材料を磁心としているものとする。ト
ランス17の2次巻線端子間には、トランジスタ16をパル
ス発生回路15で駆動することにより、第8図(a)で示
される電圧Viが生じる。同図において、縦軸はトランス
17の2次巻線端子間の電圧Vi、横軸は時間tを表わして
おり、TONはトランジスタ16の導通期間、Tはパルス発
生回路15により発生するパルスの周期を表わしている。
次に磁心の状態を考えると、可飽和リアクトル18の時刻
t1における磁心の状態が第9図に示される点t1にあると
すると、時刻t2における磁心の状態を表わす点t2までは
可飽和リアクトル18は高インピーダンスの状態にあるか
ら後段に電圧は出力されない。しかし、点t2に達すると
磁心が飽和し、可飽和リアクトル18のインピーダンスは
ほぼ零となり負荷に電流が供給され始め、点Sで負荷電
流供給状態となる。次に、磁心の状態が点t3で表わされ
る時刻t3に第7図のトランジスタ16が阻止状態になる
と、制御回路20からダイオード19を通して可飽和リアク
トル18に、スイツチング電源の出力電圧に応じた逆向き
の電圧が印加され、磁心は第9図の点Q′で表わせられ
る状態までリセツトされる。これらのことより、可飽和
リアクトル18の端子間の電圧は第8図(b)に示される
ようなものとなる。同図において、縦軸は可飽和リアク
トル18の端子間の電圧VL、横軸は時間tを表わしてい
る。toffは可飽和リアクトル18の高インピーダンス期間
(オフ期間)、tonは低インピーダンス期間(オン期
間)を表わしている。また、スイツチング電源の出力電
圧をVoとすると、Vはo次式により表わせられる。In FIG. 7, it is assumed that the saturable reactor 18 uses a magnetic material having the above-mentioned ideal characteristics as a magnetic core. By driving the transistor 16 with the pulse generating circuit 15, a voltage Vi shown in FIG. 8A is generated between the secondary winding terminals of the transformer 17. In the figure, the vertical axis is the transformer.
The voltage Vi between the secondary winding terminals of 17 and the horizontal axis represent time t. T ON represents the conduction period of the transistor 16 and T represents the cycle of the pulse generated by the pulse generation circuit 15.
Next, considering the state of the magnetic core, the time of saturable reactor 18
When the magnetic core of state at t 1 and lies in t 1 shown in FIG. 9, is at time t 2 to t 2 the point representing the state of the magnetic core saturable reactor 18 is the voltage at the subsequent stage from a state of high impedance Is not output. However, when the point t 2 is reached, the magnetic core is saturated, the impedance of the saturable reactor 18 becomes substantially zero, and the current starts to be supplied to the load, and the load current is supplied at the point S. Next, at time t 3 when the state of the magnetic core is represented by the point t 3 , when the transistor 16 of FIG. 7 enters the blocking state, the saturable reactor 18 is passed from the control circuit 20 through the diode 19 to the saturable reactor 18 according to the output voltage of the switching power supply. A reverse voltage is applied and the core is reset to the state represented by point Q'in FIG. As a result, the voltage across the saturable reactor 18 becomes as shown in FIG. 8 (b). In the figure, the vertical axis represents the voltage V L between the terminals of the saturable reactor 18, and the horizontal axis represents the time t. t off represents a high impedance period (off period) of the saturable reactor 18, and t on represents a low impedance period (on period). Further, when the output voltage of the switching-source and V o, V is expressed by o the following equation.
ただし、ton:可飽和リアクトル18のオン期間 toff:可飽和リアクトル18のオフ期間 TON:トランジスタ16の導通期間 T:パルス発生回路15による発生パルスの周期 Vi:トランス17の2次巻線端子間電圧 したがつて、(1)式より分るように、可飽和リアクト
ル18のオフ期間toffを制御することによりスイツチング
電源の出力電圧Voを制御することができる。つまり、可
飽和リアクトル18のオフ期間ooffはトランジスタ16の阻
止期間における制御回路20による磁心のリセツト量によ
つて決まり、出力電圧Voを下げたい場合はリセツト量を
大きくし、出力電圧Voを上げたい場合はリセツト量を小
さくすることにより制御することができる。 However, t on : ON period of saturable reactor 18 t off : OFF period of saturable reactor 18 T ON : Conduction period of transistor 16 T: Period of pulse generated by pulse generation circuit 15 V i : Secondary winding of transformer 17 The output voltage V o of the switching power supply can be controlled by controlling the off period t off of the saturable reactor 18 as can be seen from the equation (1) according to the voltage between the line terminals. That is, the off period o off of the saturable reactor 18 is determined by the reset amount of the magnetic core by the control circuit 20 in the blocking period of the transistor 16, and when the output voltage V o is desired to be decreased, the reset amount is increased and the output voltage V o is decreased. When it is desired to raise the value, it can be controlled by reducing the reset amount.
しかしながら、第7図における可飽和リアクトル18の実
際の磁心の特性は第9図に示されるような理想的なB−
H曲線にはならず、第10図に示されるような形を持つた
B−H曲線となる。同図に示されるように、実線で表わ
せられたスイツチング電源として動作中の磁心のB−H
曲線も、破線で表わせられた正弦波交流電圧を印加して
測定した磁心のB−H曲線も第9図とは大きく異なる。
また磁心の状態が点t2から点Sの間では可飽和リアクト
ル18のインピーダンスは零とはならない。この点t2から
点S間の傾きは特にスイツチング電源の制御特性に大き
な影響を与えるものである。However, the characteristics of the actual magnetic core of the saturable reactor 18 in FIG. 7 are the ideal B− as shown in FIG.
Instead of the H curve, it becomes a BH curve having a shape as shown in FIG. As shown in the figure, BH of the magnetic core operating as the switching power supply shown by the solid line
The curve and the BH curve of the magnetic core measured by applying a sinusoidal AC voltage represented by a broken line are also very different from those in FIG.
Further, the impedance of the saturable reactor 18 does not become zero when the state of the magnetic core is between the point t 2 and the point S. The inclination between the points t 2 and S has a great influence on the control characteristics of the switching power supply.
通常、トランジスタ16の阻止期間に可飽和リアクトル18
の磁心はリセツトされる。しかし、第10図に示されるよ
うに実際の磁心は負荷電流が零となる時に、すなわち第
10図において点Sから点t3の状態に向う時に、トランジ
スタ16は導通期間TONにあるが、磁束密度Bはわずかに
リセツトされ、図中に示される磁束密度Bの増分ΔBdに
相応した電圧が、可飽和リアクトル18の両端に発生す
る。この時のリセツトは制御回路20からの制御電圧によ
るものではなく、磁心特有の性質から生じるものであ
る。このΔBdで表わせられる磁束密度Bの増分は飽和磁
束密度と残留磁束密度との差である。また、その増分
は、可飽和リアクトル18が高インピーダンスの状態にお
いて生じるため、その増分期間は、負荷に電流が供給さ
れない可飽和リアクトル18のオフ期間toffに相当するも
のとなる。このことは(1)式から明らかなように、出
力電圧Voの制御はこのオフ期間toffを変化させることに
より行なつているため、制御回路20からのリセツトによ
らないΔBdの存在はリセツト制御量に悪影響を及ぼし、
電源の制御範囲を狭めていることになる。Normally, the saturable reactor 18 during the blocking period of the transistor 16
The magnetic core of is reset. However, as shown in Fig. 10, the actual magnetic core is when the load current becomes zero, that is,
When directed from the point S to the state of point t 3 in FIG. 10, but the transistor 16 is in the conduction period T ON, the magnetic flux density B is slightly reset, the voltage commensurate with the incremental ΔBd of the magnetic flux density B shown in FIG. Occurs at both ends of the saturable reactor 18. The reset at this time is not caused by the control voltage from the control circuit 20, but is caused by the property peculiar to the magnetic core. The increment of the magnetic flux density B represented by ΔBd is the difference between the saturation magnetic flux density and the residual magnetic flux density. Further, the increment occurs in the state where the saturable reactor 18 has a high impedance, and thus the increment period corresponds to the off period t off of the saturable reactor 18 in which the load is not supplied with current. As is clear from the equation (1), since the output voltage V o is controlled by changing the off period t off , the existence of ΔBd which does not depend on the reset from the control circuit 20 is reset. Adversely affects the controlled variable,
This means that the control range of the power supply is narrowed.
以上の説明から分るように、可飽和リアクトルに用いら
れる磁心材料は、飽和磁束密度と残留磁束密度との差で
ある磁束密度の増分ΔBdの小さいものを使用することが
極めて重要であり、そのためには、この磁束密度の増分
ΔBdを正確に測定することが必要である。また、B−H
曲線のヒステリシス・リープの面積は、磁心の損失に比
例する。そのため、可飽和リアクトルの損失を正確に把
握するためには、それが動作状態に近似した条件で磁心
のB−H曲線を測定することが必要である。As can be seen from the above description, it is extremely important that the magnetic core material used for the saturable reactor has a small increment ΔBd of the magnetic flux density, which is the difference between the saturated magnetic flux density and the residual magnetic flux density. It is necessary to accurately measure the increment ΔBd of this magnetic flux density. Also, B-H
The area of the hysteresis leap of the curve is proportional to the loss of the magnetic core. Therefore, in order to accurately grasp the loss of the saturable reactor, it is necessary to measure the BH curve of the magnetic core under the condition that it is close to the operating state.
従来、この種の磁性材料を評価する際に用いられるもの
としては、第3図に示されるようなB−H特性試験器、
あるいは電子通信学会技術研究報告PE85−26に示される
ような第5図のCMCの測定回路がある。Conventionally, the BH characteristic tester as shown in FIG. 3 has been used as the one used for evaluating this kind of magnetic material.
Alternatively, there is a measuring circuit of CMC shown in Fig. 5 as shown in Technical Report PE85-26 of IEICE.
第3図の磁性材料試験器では、被試験磁性材料3を磁心
としたコイル2を形成せしめ、発振器1によりこのコイ
ル2に交流電圧を印加し、コイル2の端子間電圧を電圧
測定回路4で、コイル2に流れる電流を電流測定回路5
でそれぞれ測定する。得られた電流値iから磁界の強さ
Hは以下に示す式(2)より、また得られた電圧値vか
ら磁束密度Bは以下に示す式(3)より計算で求めら
れ、これらの計算は信号処理部6にて行なわれる ただし、N:コイル2の巻回数 i:コイル2に流れる電流値 le:コイル2の平均磁路長 ただし、N:コイル2の巻回数 v:コイル2の端子間電圧値 Ae:コイル2の実効断面積 この第3図に示される試験器により測定されたB−H曲
線は、第4図のようになる。第4図から分るように、こ
の測定による被試験磁性材料3のB−H曲線の特性は、
第10図の実線で示される実際のスイツチング電源の可飽
和リアクトル18の磁心のB−H曲線の特性とは大きく異
なり、そのため前述したΔBdおよび磁心の損失を正しく
評価することはできない。In the magnetic material tester of FIG. 3, a coil 2 having a magnetic material 3 to be tested as a magnetic core is formed, an AC voltage is applied to this coil 2 by an oscillator 1, and a voltage between terminals of the coil 2 is measured by a voltage measuring circuit 4. , The current flowing through the coil 2 is measured by the current measuring circuit 5
Measure each with. From the obtained current value i, the strength H of the magnetic field is calculated from the equation (2) shown below, and from the obtained voltage value v, the magnetic flux density B is calculated from the equation (3) shown below. Is performed by the signal processing unit 6. However, N: number of turns of coil 2 i: current value flowing in coil 2 le: average magnetic path length of coil 2 However, N: number of turns of coil 2 v: voltage value between terminals of coil 2 Ae: effective area of coil 2 The BH curve measured by the tester shown in FIG. 3 is as shown in FIG. become. As can be seen from FIG. 4, the characteristic of the BH curve of the magnetic material 3 under test by this measurement is as follows.
This is very different from the characteristic of the BH curve of the magnetic core of the saturable reactor 18 of the actual switching power supply shown by the solid line in FIG. 10, and therefore the above-mentioned ΔBd and loss of the magnetic core cannot be correctly evaluated.
一方、第5図の磁性材料試験器では、発振器1から被試
験磁性材料3を磁心とするコイル2にダイオード11と抵
抗12を用いて半波電圧を印加するとともに、制御用巻線
13に直流電流を流すことにより発生する直流磁界をこの
コイル2に加えている。コイル14は制御用巻線13に交流
電流を流さないために挿入されているものである。磁心
3は以下に示す式(4)で計算される、制御用巻線13に
よる直流磁界Hのため、第6図の点cまでリセツトされ
る。On the other hand, in the magnetic material tester of FIG. 5, a half-wave voltage is applied from the oscillator 1 to the coil 2 having the magnetic material under test 3 as the magnetic core by using the diode 11 and the resistor 12, and the control winding is used.
A DC magnetic field generated by applying a DC current to 13 is applied to this coil 2. The coil 14 is inserted in the control winding 13 so as not to pass an alternating current. The magnetic core 3 is reset to the point c in FIG. 6 due to the DC magnetic field H by the control winding 13 calculated by the following equation (4).
ただし、Nc:制御用巻線13の巻回数 Ic:制御電流 le:コイルの平均磁路長 この状態で半波電圧をコイル2に印加すると、磁心3は
第6図に示されるような片側で飽和するB−H曲線を呈
し、第10図の実線で示される実際のスイツチング電源の
動作時のものに近い特性を示す。 However, Nc: the number of turns of the control winding 13 Ic: control current le: average magnetic path length of the coil When a half-wave voltage is applied to the coil 2 in this state, the magnetic core 3 is moved to one side as shown in FIG. It exhibits a saturated BH curve and shows characteristics close to those of the actual switching power supply operating as shown by the solid line in FIG.
しかしながら実際のスイツチング電源では、第5図の回
路のように直流電流による直流磁界を磁心3に加えて制
御しているのではなく、被試験磁性材料を磁心とするコ
イル2の端子間に印加するリセツト電圧を変化すること
により制御しているため、実際の動作とは異なり正確な
評価にはなつていない。また、制御用巻線13側のコイル
14は交流電流を無視できる程度まで小さくするには、十
分大きなインピーダンスを持たせる必要があり、そのた
め形状が大きくなるという欠点を有している。However, in an actual switching power supply, a DC magnetic field by a DC current is not applied to the magnetic core 3 for control as in the circuit of FIG. 5, but a magnetic material under test is applied between the terminals of the coil 2 having the magnetic core. Since it is controlled by changing the reset voltage, accurate evaluation is not achieved unlike the actual operation. Also, the coil on the side of the control winding 13
14 needs to have a sufficiently large impedance in order to make the AC current small enough to be ignored, and therefore has a drawback that the shape becomes large.
本発明による磁性材料試験器は以上のような問題点を解
決するために、被試験磁性材料を磁心とするコイルへ電
圧および電流を供給する発振器に、被試験磁性材料の磁
化のリセツト量に応じた電圧をそのコイルに印加する電
圧印加回路をその発振器とそのコイルの間に設けたもの
である。In order to solve the above problems, the magnetic material tester according to the present invention provides an oscillator for supplying a voltage and a current to a coil having a magnetic material under test as a magnetic core according to a reset amount of magnetization of the magnetic material under test. A voltage application circuit for applying a different voltage to the coil is provided between the oscillator and the coil.
被試験磁性材料は発振器の正の半周期では前記コイルに
より磁化され飽和し、負の半周期では前記コイルへ磁化
のリセツト量に応じた電圧を印加することによりリセツ
トされる。The magnetic material under test is magnetized and saturated by the coil in the positive half cycle of the oscillator, and reset in the negative half cycle by applying a voltage according to the reset amount of the magnetization to the coil.
次に本発明についての実施例を図面を参照して説明す
る。第1図は本発明による磁性材料試験器の一実施例を
示す回路図である。Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a magnetic material tester according to the present invention.
同図に示される磁性材料試験器は、被試験磁性材料3を
磁心とするコイル2の端子間電圧を測定する電圧測定回
路4と、そのコイル2に流れる電流を測定する電流測定
回路5と、それらの回路から得られる電圧値と電流値を
磁束密度Bと磁界の強さHに換算する信号処理部6と、
前記コイル2に電圧および電流を供給する発振器1と、
この発振器1に直列接続された電圧印加回路とから構成
されている。またこの電圧印加回路は、発振器1の正の
半周期に導通する第1のダイオード7と抵抗8の直列回
路と、発振器1の負の半周期に生じる電圧が減少する極
性に接続される出力電圧が可変な直流電圧源10と発振器
1の負の半周期に導通する第2のダイオード9の直列回
路との並列接続により構成されている。The magnetic material tester shown in the figure includes a voltage measuring circuit 4 for measuring a voltage across terminals of a coil 2 having a magnetic material under test 3 as a magnetic core, and a current measuring circuit 5 for measuring a current flowing through the coil 2. A signal processing unit 6 for converting a voltage value and a current value obtained from those circuits into a magnetic flux density B and a magnetic field strength H;
An oscillator 1 for supplying voltage and current to the coil 2,
It is composed of a voltage application circuit connected in series to the oscillator 1. This voltage application circuit is also connected to a series circuit of a first diode 7 and a resistor 8 which conducts in the positive half cycle of the oscillator 1 and an output voltage which is connected to a polarity in which the voltage generated in the negative half cycle of the oscillator 1 decreases. Is connected in parallel with a variable DC voltage source 10 and a series circuit of a second diode 9 that conducts in the negative half cycle of the oscillator 1.
以下にその動作について説明する。発振器1の電圧が正
の半周期では第1のダイオード7が導通し、第2のダイ
オード9が阻止状態となるため、前記コイル2には第1
のダイオード7、抵抗8を通して電圧が印加され、被試
験磁性材料である磁心3は徐々に磁化され最後には飽和
する。負の半周期になると、第1のダイオード7が阻止
状態、第2のダイオード9が導通状態となり、前記コイ
ル2には可変直流電圧源10、第2のダイオード9を通し
て電圧が印加される。この印加電圧は可変直流電圧源10
の出力電圧を変えることにより可変なものとなる。磁心
3の磁束密度Bと磁界の強さHは、前記コイル2の電
圧,電流をそれぞれ電圧測定回路4、電流測定回路5で
測定し信号処理部6にて換算されることにより得られ
る。The operation will be described below. In the positive half cycle of the voltage of the oscillator 1, the first diode 7 conducts and the second diode 9 enters the blocking state.
A voltage is applied through the diode 7 and the resistance 8 of the magnetic core 3, and the magnetic core 3 as the magnetic material under test is gradually magnetized and finally saturated. In the negative half cycle, the first diode 7 is in the blocking state and the second diode 9 is in the conducting state, and a voltage is applied to the coil 2 through the variable DC voltage source 10 and the second diode 9. This applied voltage is variable DC voltage source 10
It becomes variable by changing the output voltage of. The magnetic flux density B and the magnetic field strength H of the magnetic core 3 are obtained by measuring the voltage and current of the coil 2 by the voltage measuring circuit 4 and the current measuring circuit 5, respectively, and converting them by the signal processing unit 6.
これにより得られる磁心3のB−H曲線を第2図に示
す。第2図の実線のB−H曲線に示されるように、発振
器1の正の半周期に磁心3は点t1から点Sまで磁化され
飽和し、負の半周期に磁心3は飽和状態にある点Sから
点t1までリセツトされる。可変直流電圧源10の出力電圧
を上げると、負の半周期に前記コイル2に印加される電
圧は、発振器1による出力電圧と可変直流電圧源10の出
力電圧との差の分が印加されるのであるから当然小さく
なる。そのため、磁心3のリセツトは点t1′までとな
り、その時のB−H曲線は第2図の破線のようになる。The BH curve of the magnetic core 3 thus obtained is shown in FIG. As shown by the solid BH curve in FIG. 2, in the positive half cycle of the oscillator 1, the magnetic core 3 is magnetized and saturated from the point t 1 to the point S, and in the negative half cycle, the magnetic core 3 is saturated. It is reset from a certain point S to a point t 1 . When the output voltage of the variable DC voltage source 10 is increased, the voltage applied to the coil 2 in the negative half cycle is the difference between the output voltage of the oscillator 1 and the output voltage of the variable DC voltage source 10. Therefore, it naturally becomes smaller. Therefore, reset the core 3 becomes to a point t 1 ', B-H curve at that time is as shown in dashed line in Figure 2.
このように被試験磁性材料である磁心3のリセツトは、
これを磁心とするコイル2に印加する電圧により行なわ
れ、またそのリセツト量はこの電圧の大きさに応じるた
め、これにより得られるB−H曲線は実使用状況に非常
に近いものとなる。In this way, the reset of the magnetic core 3 which is the magnetic material under test is
This is performed by the voltage applied to the coil 2 having this as a magnetic core, and the reset amount depends on the magnitude of this voltage, so that the BH curve obtained by this is very close to the actual use situation.
以上説明したように本発明による磁性材料試験器は、従
来の試験器に、被試験磁性材料を磁心とするコイルへ磁
化のリセツト量に応じた電圧を印加する電圧印加回路を
設けることにより、被試験磁性材料のリセツトは実使用
方法と同様に電圧により行なうことができ、そのためこ
の試験器により簡便に得られるB−H曲線は実使用時に
非常に近いものとなる。また、第5図の従来例に示され
る交流分をなくすためのコイル14を大きくするという必
要がないので、従来に比べて形状的にも大きくならない
という効果もある。As described above, the magnetic material tester according to the present invention is configured such that the conventional tester is provided with a voltage applying circuit for applying a voltage according to the reset amount of magnetization to the coil having the magnetic material under test as a magnetic core. The reset of the test magnetic material can be carried out by voltage as in the actual use method, so that the BH curve easily obtained by this tester becomes very close to the actual use. Further, since it is not necessary to increase the size of the coil 14 for eliminating the AC component shown in the conventional example of FIG. 5, there is also an effect that the shape is not increased as compared with the conventional case.
第1図は本発明による磁性材料試験器の一実施例を示す
回路図、第2図は第1図で示される磁性材料試験器の一
実施例の回路を使用して測定した被試験磁性材料のB−
H曲線、第3図および第5図は従来の磁性材料試験器を
表わす回路図、第4図および第6図はそれぞれ第3図お
よび第5図の磁性材料試験器による被試験磁性材料のB
−H曲線、第7図は本発明による磁性材料試験器へ適用
される被試験磁性材料について説明をするための磁気増
幅器制御型スイツチング電源の回路図、第8図(a)は
第7図のトランス17の2次巻線端子間電圧の電圧波形、
(b)は同じく可飽和リアクトル18の端子間電圧の電圧
波形、第9図はスイツチング電源に使用するのに理想的
な特性を持つ磁性材料のB−H曲線、第10図はスイツチ
ング電源に実際に使われる磁性材料のB−H曲線であ
る。 1……発振器、2……被試験磁性材料3を磁心とするコ
イル、3……被試験磁性材料、4……電圧測定回路、5
……電流測定回路、6……信号処理部、7,9……ダイオ
ード、8……抵抗、10……可変直流電圧源。FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a magnetic material tester according to the present invention, and FIG. 2 is a magnetic material under test measured using the circuit of an embodiment of the magnetic material tester shown in FIG. B-
H curve, FIGS. 3 and 5 are circuit diagrams showing a conventional magnetic material tester, and FIGS. 4 and 6 are B of magnetic materials to be tested by the magnetic material testers of FIGS. 3 and 5, respectively.
-H curve, FIG. 7 is a circuit diagram of a magnetic amplifier control type switching power supply for explaining a magnetic material under test applied to a magnetic material tester according to the present invention, and FIG. 8 (a) is a circuit diagram of FIG. Voltage waveform of the voltage between the secondary winding terminals of the transformer 17,
(B) is also the voltage waveform of the voltage across the saturable reactor 18, Fig. 9 is a BH curve of a magnetic material with ideal characteristics for use in a switching power supply, and Fig. 10 is an actual switching power supply. 3 is a B-H curve of a magnetic material used for. 1 ... Oscillator, 2 ... Coil having magnetic material under test 3 as magnetic core, 3 ... Magnetic material under test, 4 ... Voltage measuring circuit, 5
...... Current measurement circuit, 6 …… Signal processing unit, 7,9 …… Diode, 8 …… Resistance, 10 …… Variable DC voltage source.
Claims (1)
磁性材料と、 第1のダイオードと抵抗の直列体からなる第1の直列体
と、前記第1のダイオードと極性が逆の第2のダイオー
ドとその第2のダイオードの極性と極性が逆の電圧可変
電源の直列体からなる第2の直列体とを並列にした並列
体を介して前記第1の巻線に電圧を供給する発信器と、 前記第1の巻線に流れる電流を検出する電流測定回路
と、 前記第2の巻線に発生する電圧を検出する電圧検出回路
とから構成されたことを特徴とする磁性材料試験器。1. A magnetic material under test in which a first winding wire and a second winding wire are wound, a first series body composed of a series body of a first diode and a resistor, and the first diode. The first winding via a parallel body in which a second diode having a reverse polarity and a second series body formed of a series body of voltage variable power sources having a polarity opposite to the polarity of the second diode are arranged in parallel. And a current measuring circuit for detecting a current flowing through the first winding, and a voltage detecting circuit for detecting a voltage generated in the second winding. And magnetic material tester.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62056795A JPH0785105B2 (en) | 1987-03-13 | 1987-03-13 | Magnetic material tester |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62056795A JPH0785105B2 (en) | 1987-03-13 | 1987-03-13 | Magnetic material tester |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63223583A JPS63223583A (en) | 1988-09-19 |
| JPH0785105B2 true JPH0785105B2 (en) | 1995-09-13 |
Family
ID=13037338
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62056795A Expired - Lifetime JPH0785105B2 (en) | 1987-03-13 | 1987-03-13 | Magnetic material tester |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0785105B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4677641B2 (en) * | 2006-11-10 | 2011-04-27 | 公立大学法人首都大学東京 | Reactor loss measuring device and measuring method thereof |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61288182A (en) * | 1985-06-14 | 1986-12-18 | Hitachi Metals Ltd | Method and instrument for measuring ac magnetic characteristic |
-
1987
- 1987-03-13 JP JP62056795A patent/JPH0785105B2/en not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 村上孝一「磁気応用工学」P.11−15P.26−32P.160−162朝倉書店1984年12月1日 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63223583A (en) | 1988-09-19 |
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