JPH0786458B2 - 粘弾性測定用振幅測定装置 - Google Patents
粘弾性測定用振幅測定装置Info
- Publication number
- JPH0786458B2 JPH0786458B2 JP63294233A JP29423388A JPH0786458B2 JP H0786458 B2 JPH0786458 B2 JP H0786458B2 JP 63294233 A JP63294233 A JP 63294233A JP 29423388 A JP29423388 A JP 29423388A JP H0786458 B2 JPH0786458 B2 JP H0786458B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- offset
- signal
- peak
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/32—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying repeated or pulsating forces
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/0001—Type of application of the stress
- G01N2203/0005—Repeated or cyclic
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/0058—Kind of property studied
- G01N2203/0069—Fatigue, creep, strain-stress relations or elastic constants
- G01N2203/0071—Creep
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/0058—Kind of property studied
- G01N2203/0092—Visco-elasticity, solidification, curing, cross-linking degree, vulcanisation or strength properties of semi-solid materials
- G01N2203/0094—Visco-elasticity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/02—Details not specific for a particular testing method
- G01N2203/0202—Control of the test
- G01N2203/021—Treatment of the signal; Calibration
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/02—Details not specific for a particular testing method
- G01N2203/06—Indicating or recording means; Sensing means
- G01N2203/067—Parameter measured for estimating the property
- G01N2203/0682—Spatial dimension, e.g. length, area, angle
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/02—Details not specific for a particular testing method
- G01N2203/06—Indicating or recording means; Sensing means
- G01N2203/067—Parameter measured for estimating the property
- G01N2203/0688—Time or frequency
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、粘弾性測定装置の長さ信号振幅測定に関する
ものである。
ものである。
本発明は、長さ信号の高制度振幅測定を目的とするため
のピーク測定回路と、オフセット回路と、加算回路と、
オフセット量演算回路から構成され、前記長さ信号がサ
ンプルの膨張やクリープなどによりオフセットを含んで
いた場合、オフセット量演算回路はそのオフセットを除
去するための信号をオフセット回路に出力し、長さ信号
のオフセットを除去することにより、長さ信号の振幅測
定におけるサンプルの膨張やクリープなどの影響をなく
したものである。
のピーク測定回路と、オフセット回路と、加算回路と、
オフセット量演算回路から構成され、前記長さ信号がサ
ンプルの膨張やクリープなどによりオフセットを含んで
いた場合、オフセット量演算回路はそのオフセットを除
去するための信号をオフセット回路に出力し、長さ信号
のオフセットを除去することにより、長さ信号の振幅測
定におけるサンプルの膨張やクリープなどの影響をなく
したものである。
従来、この種の発明に関しては、長さ信号の振幅を、ピ
ーク測定回路の測定スパンに比べ十分に小さくしておき
オフセットを含んだまま測定するものがあった。
ーク測定回路の測定スパンに比べ十分に小さくしておき
オフセットを含んだまま測定するものがあった。
上記従来技術においては、ピーク測定回路の測定スパン
の大部分をオフセットにより捨ててしまい高精度な振幅
測定ができないという欠点があった。
の大部分をオフセットにより捨ててしまい高精度な振幅
測定ができないという欠点があった。
本発明は上記の欠点をなくすために開発されたもので、
その主たる構成要件は、長さ信号のピークを測定するピ
ーク測定回路と、前記長さ信号にオフセットを付けるた
めのオフセット回路と、前記長さ信号に前記オフセット
回路出力を加算または減算するための加算回路と、前記
ピーク測定回路からの出力信号を読み込む、その値に応
じた信号をオフセット回路に出力するオフセット量演算
回路とから構成され、前記長さ信号のオフセットを除去
することを特徴を有する粘弾性測定用振幅測定装置から
構成される。
その主たる構成要件は、長さ信号のピークを測定するピ
ーク測定回路と、前記長さ信号にオフセットを付けるた
めのオフセット回路と、前記長さ信号に前記オフセット
回路出力を加算または減算するための加算回路と、前記
ピーク測定回路からの出力信号を読み込む、その値に応
じた信号をオフセット回路に出力するオフセット量演算
回路とから構成され、前記長さ信号のオフセットを除去
することを特徴を有する粘弾性測定用振幅測定装置から
構成される。
上記構成の作用は先ず、長さ信号を加算回路に入力し、
オフセット回路からのオフセット値を加算して前記ピー
ク測定回路に入力すると、上下のピーク値が前記オフセ
ット量演算回路に出力される。前記オフセット量演算回
路では上側ピークと下側ピークの値から前記入力信号の
中心値を計算する。前記オフセット量演算回路では前記
入力信号の中心値と前記ピーク測定回路の入力スパンの
中心値を比較し、差がある場合、その差を打ち消す値、
プラス現在オフセット回路に与えている値をオフセット
回路に出力する。前記オフセット回路では前記オフセッ
ト量演算回路からの値を前記加算回路に出力し、前記入
力信号の中心値と前記ピーク測定回路入力スパンの中心
値との差を打ち消していくことにより前記ピーク測定回
路にはオフセットを含まない信号が入力される。よって
サンプルの膨張やクリープなどにより前記入力信号の中
心値が移動した場合でも高精度に振幅測定を行う目的を
達成する。
オフセット回路からのオフセット値を加算して前記ピー
ク測定回路に入力すると、上下のピーク値が前記オフセ
ット量演算回路に出力される。前記オフセット量演算回
路では上側ピークと下側ピークの値から前記入力信号の
中心値を計算する。前記オフセット量演算回路では前記
入力信号の中心値と前記ピーク測定回路の入力スパンの
中心値を比較し、差がある場合、その差を打ち消す値、
プラス現在オフセット回路に与えている値をオフセット
回路に出力する。前記オフセット回路では前記オフセッ
ト量演算回路からの値を前記加算回路に出力し、前記入
力信号の中心値と前記ピーク測定回路入力スパンの中心
値との差を打ち消していくことにより前記ピーク測定回
路にはオフセットを含まない信号が入力される。よって
サンプルの膨張やクリープなどにより前記入力信号の中
心値が移動した場合でも高精度に振幅測定を行う目的を
達成する。
以下本発明を一実施例に示した図面に基づき詳細に説明
すると、第1図中2は加算回路で1の長さ信号入力端に
接続するとともにオフセット回路5及びピーク測定回路
3に接続される。4はオフセット量演算回路でピーク測
定回路3に接続するとともにオフセット回路5に接続さ
れる。
すると、第1図中2は加算回路で1の長さ信号入力端に
接続するとともにオフセット回路5及びピーク測定回路
3に接続される。4はオフセット量演算回路でピーク測
定回路3に接続するとともにオフセット回路5に接続さ
れる。
1の長さ信号入力端に第2図中bのような信号が入力さ
れた場合、オフセット回路5は出力0μmなのでb信号
はピーク測定回路3にそのまま入力され上側ピーク300
μm、下側ピーク100μmが測定され、オフセット量演
算回路4に出力される。オフセット量演算回路4では上
側ピークと下側ピークの値から入力信号の中心値+100
μmを算出し、この+100μmを打ち消すようにオフセ
ット回路5へ信号を出力する。5のオフセット回路は−
100μmを加算回路に加えピーク測定回路3へ入力する
信号は第2図cのようにオフセットが取り去られる。次
に長さ信号入力端1に第2図aのような信号が入力され
るとオフセット回路5の働きによりピーク測定回路3に
は第2図dのような信号が入力され上側ピーク100μ
m、下側ピーク300μmが測定され、オフセット量演算
回路4に出力される。オフセット量演算回路4では上側
ピークと下側ピークの値から入力信号の中心値−100μ
mを算出し、この−100μmを打ち消すための+100μm
と現在オフセット回路5に出力している−100μmを加
え0μmに相当する信号をオフセット回路に出力する。
ピーク測定回路3に入力される信号は、長さ信号入力端
に入力された信号第2図aと同じ第2図eの信号となり
常にオフセットのない状態になる。よって長さ信号入力
端1に入力される信号がサンプルの膨張やクリープなど
によりオフセットがついたりさらにそのオフセット量が
ドリフトしても上記の動作を繰り返すことによりピーク
測定回路3のスパンを有効に使用した高精度の振幅検出
ができるようになる。
れた場合、オフセット回路5は出力0μmなのでb信号
はピーク測定回路3にそのまま入力され上側ピーク300
μm、下側ピーク100μmが測定され、オフセット量演
算回路4に出力される。オフセット量演算回路4では上
側ピークと下側ピークの値から入力信号の中心値+100
μmを算出し、この+100μmを打ち消すようにオフセ
ット回路5へ信号を出力する。5のオフセット回路は−
100μmを加算回路に加えピーク測定回路3へ入力する
信号は第2図cのようにオフセットが取り去られる。次
に長さ信号入力端1に第2図aのような信号が入力され
るとオフセット回路5の働きによりピーク測定回路3に
は第2図dのような信号が入力され上側ピーク100μ
m、下側ピーク300μmが測定され、オフセット量演算
回路4に出力される。オフセット量演算回路4では上側
ピークと下側ピークの値から入力信号の中心値−100μ
mを算出し、この−100μmを打ち消すための+100μm
と現在オフセット回路5に出力している−100μmを加
え0μmに相当する信号をオフセット回路に出力する。
ピーク測定回路3に入力される信号は、長さ信号入力端
に入力された信号第2図aと同じ第2図eの信号となり
常にオフセットのない状態になる。よって長さ信号入力
端1に入力される信号がサンプルの膨張やクリープなど
によりオフセットがついたりさらにそのオフセット量が
ドリフトしても上記の動作を繰り返すことによりピーク
測定回路3のスパンを有効に使用した高精度の振幅検出
ができるようになる。
以上のように本発明によれば、入力信号のオフセットを
除去するように構成したから、ピーク測定回路のスパン
内においては、オフセットを含まない振幅だけの測定が
有効にかつ高精度に行われる。また移送検出回路におい
てゼロクロス信号を使う場合にも有効であり、それら両
方に使った場合さらに有効である。
除去するように構成したから、ピーク測定回路のスパン
内においては、オフセットを含まない振幅だけの測定が
有効にかつ高精度に行われる。また移送検出回路におい
てゼロクロス信号を使う場合にも有効であり、それら両
方に使った場合さらに有効である。
また、オフセット量演算回路をマイクロプロセッサなど
により実現できることはいうまでもない。
により実現できることはいうまでもない。
第1図は本発明の回路ブロック図、第2図は本発明によ
る信号の説明図、第3図は従来技術による信号の説明図
である。 1……長さ信号入力端 2……加算回路 3……ピーク測定回路 4……オフセット量演算回路 5……オフセット回路
る信号の説明図、第3図は従来技術による信号の説明図
である。 1……長さ信号入力端 2……加算回路 3……ピーク測定回路 4……オフセット量演算回路 5……オフセット回路
Claims (1)
- 【請求項1】長さ方向のピークを測定するピーク測定回
路と、前記長さ信号にオフセットを付けるためのオフセ
ット回路と、前記長さ信号に前記オフセット回路出力を
加算または減算するための加算回路と、前記ピーク測定
回路からの信号を読み込み、その値に応じた信号をオフ
セット回路に出力するオフセット量演算回路とから構成
され、前記長さ信号のオフセットを除去することを特徴
とする粘弾性測定用振幅測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63294233A JPH0786458B2 (ja) | 1988-11-21 | 1988-11-21 | 粘弾性測定用振幅測定装置 |
| US07/437,224 US4984469A (en) | 1988-11-21 | 1989-11-16 | Amplitude measurement device for viscoelasticity analysis |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63294233A JPH0786458B2 (ja) | 1988-11-21 | 1988-11-21 | 粘弾性測定用振幅測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02140644A JPH02140644A (ja) | 1990-05-30 |
| JPH0786458B2 true JPH0786458B2 (ja) | 1995-09-20 |
Family
ID=17805065
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63294233A Expired - Lifetime JPH0786458B2 (ja) | 1988-11-21 | 1988-11-21 | 粘弾性測定用振幅測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4984469A (ja) |
| JP (1) | JPH0786458B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5710426A (en) * | 1996-03-01 | 1998-01-20 | Ta Instruments, Inc. | Dynamic and thermal mechanical analyzer having an optical encoder with diffraction grating and a linear permanent magnet motor |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB680311A (en) * | 1950-07-17 | 1952-10-01 | Nat Res Dev | Improvements in or relating to apparatus for the measurement of peak strain |
| GB1191286A (en) * | 1966-09-30 | 1970-05-13 | Courtaulds Ltd | Peak Load Detector |
| US3712125A (en) * | 1970-09-25 | 1973-01-23 | Koehring Co | Load simulation system |
| JPS5222986A (en) * | 1975-08-15 | 1977-02-21 | Kato Ichiro | System for automatic measurement of viscoelasticity |
| US4145933A (en) * | 1978-03-24 | 1979-03-27 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Fatigue failure load indicator |
| US4414852A (en) * | 1981-09-14 | 1983-11-15 | Gould Inc. | Automatic zero balance circuit |
-
1988
- 1988-11-21 JP JP63294233A patent/JPH0786458B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-11-16 US US07/437,224 patent/US4984469A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02140644A (ja) | 1990-05-30 |
| US4984469A (en) | 1991-01-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FR2623623B1 (fr) | Procede pour etalonner des appareils de mesure de force ou de moment et appareils s'y rapportant | |
| JPH0786458B2 (ja) | 粘弾性測定用振幅測定装置 | |
| US3622764A (en) | Method of determining the drift of a gyrocompass | |
| JPH01182784A (ja) | レーザドップラ速度計 | |
| SU1094000A1 (ru) | Способ определени статистической погрешности измерительного преобразовател | |
| SU1273745A2 (ru) | Устройство дл взвешивани движущихс объектов | |
| JPS623739Y2 (ja) | ||
| RU2717552C1 (ru) | Способ цифровой фильтрации шумовой составляющей в инерциальных датчиках | |
| JPS6225698Y2 (ja) | ||
| JPS5819986B2 (ja) | ニンイリヨウイキニツイテノ ae シンゴウシンプクブンプソクテイソウチ | |
| JPS60229623A (ja) | デイジタル保護継電装置 | |
| SE8206678D0 (sv) | Signal- och/eller informations-behandlande anordning | |
| KR100250325B1 (ko) | 차량주행시뮬레이션을위한도로프로파일산출방법 | |
| SU890287A1 (ru) | Способ определени статистической погрешности измерительных устройств | |
| SU777608A1 (ru) | Устройство дл контрол балансного фазочувствительного детектора допплеровского датчика скорости | |
| KRUPENIO et al. | One method of restoration of the value of a calibration signal | |
| JPH01197669A (ja) | パルス幅検出方式 | |
| SU885897A2 (ru) | Устройство дл измерени скорости | |
| JPS61105415A (ja) | 距離計測装置 | |
| SU1215059A1 (ru) | Способ измерени коэффициента нелинейности амплитудной характеристики | |
| JPH0641178Y2 (ja) | スケール変換装置 | |
| JPH02305113A (ja) | オフセットキャンセル回路 | |
| JPS55144701A (en) | Arithmetic unit for vertical deviation of track | |
| JPH04351989A (ja) | レーザドップラー効果を用いた速度計 | |
| JPS63222268A (ja) | 回転速度検出装置 |