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JPH0792498B2 - Method and apparatus for diagnosing deterioration of electronic circuit and method and apparatus for detecting abnormal waveform therefor - Google Patents
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JPH0792498B2 - Method and apparatus for diagnosing deterioration of electronic circuit and method and apparatus for detecting abnormal waveform therefor - Google Patents

Method and apparatus for diagnosing deterioration of electronic circuit and method and apparatus for detecting abnormal waveform therefor

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JPH0792498B2
JPH0792498B2 JP4108547A JP10854792A JPH0792498B2 JP H0792498 B2 JPH0792498 B2 JP H0792498B2 JP 4108547 A JP4108547 A JP 4108547A JP 10854792 A JP10854792 A JP 10854792A JP H0792498 B2 JPH0792498 B2 JP H0792498B2
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JP
Japan
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electronic circuit
output signal
detecting
abnormal waveform
level
Prior art date
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JP4108547A
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貢一 松本
次夫 向井
真澄 小幡
正晴 梅若
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Osaka Gas Co Ltd
Original Assignee
Osaka Gas Co Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】この発明は、電子回路の劣化診断
方法および装置とそのための異常波形検出方法および装
置に関し、より特定的には、電子回路の劣化の進行程度
を定量的に診断する方法および装置とそのための異常波
形検出方法および装置に関する。 【0002】 【従来の技術】その用途の重要性から高度の安定性と信
頼性が要求され、故障の許されない電気設備が種々存在
する。たとえば、発変電所,ガス/石油プラント施設,
通信,放送,病院,電子計算機等に用いられる電源装置
が、その典型的な例として挙げられる。従来、このよう
な故障の許されない電気設備においては、故障の発生を
未然に防止するために、頻繁に点検が行われる。また、
そこに用いられている電子回路がたとえ正常に動作して
いても、ある一定の使用期間が経過した時点で寿命とみ
なし、新しいものに取り替えるようにしていた。また、
故障検知器を設け、当該故障検知器によって電気設備の
故障が検知された場合は、即座に補助装置に運転を切り
換えることにより、システム全体に異常が波及しないよ
うにしていた。 【0003】 【発明が解決しようとする課題】上記のごとく、従来
は、正常に動作しているか否かにかかわらず、ある一定
の使用期間が経過した時点で電子回路を新しいものに取
り替えるようにしているため、それを用いた電気設備の
維持費が極めて高くなるという問題点があった。また、
頻繁に点検を行わなければならないため、管理が面倒で
あるという問題点があった。さらに、故障時のバックア
ップのために必ず補助装置を設けなければならず、設備
費が高価になるという問題点があった。 【0004】それゆえに、この発明の目的は、電子回路
の劣化の程度を容易に診断でき、それによって電子回路
の交換時期を明確に予測しうるような劣化診断方法およ
び装置とそのような劣化診断に好適する異常波形検出方
法および装置を提供することである。 【0005】 【課題を解決するための手段】請求項に係る発明は、
振幅,最大レベルおよび最小レベルが常に一定な信号中
に生じる異常波形を検出する装置であって、信号の最大
レベルと最小レベルとの間に少なくとも2つのしきい値
を設定するしきい値設定手段と、所定期間内に信号のレ
ベルが各しきい値を通過する回数を検出する通過回数検
出手段と、通過回数検出手段によって検出された各しき
い値についての通過回数を相互に比較することにより、
信号中の異常波形を検出する手段とを備えている。 【0006】請求項に係る発明は、振幅,最大レベル
および最小レベルが常に一定な信号中に生じる異常波形
を検出する装置であって、信号の最大レベルと最小レベ
ルとの間にしきい値を設定するしきい値設定手段と、所
定期間内に信号のレベルがしきい値を通過する回数を検
出する通過回数検出手段と、所定期間内における基準通
過回数を設定する基準通過回数設定手段と、通過回数検
出手段によって検出された通過回数と基準通過回数設定
手段によって設定された基準通過回数とを比較すること
により、信号中の異常波形を検出する手段とを備えてい
る。 【0007】請求項3に係る発明は、出力信号の波形に
基づいて電子回路の劣化を診断する装置であって、 電子
回路の出力信号中の異常波形を検出するための異常波形
検出手段と、 異常波形検出手段の異常波形検出回数を計
数する計数手段とを備え、 異常波形検出手段は、 電子回
路の出力信号の最大レベルと最小レベルとの間に少なく
とも2つのしきい値を設定するしきい値設定手段と、
子回路の出力信号のレベルが各しきい値間を通過すると
きの時間幅を検出する時間幅検出手段と、 基準時間幅を
設定する基準時間幅設定手段と、 時間幅検出手段によっ
て検出された時間幅と基準時間幅設定手段によって設定
された基準時間幅とを比較することにより、電子回路の
出力信号中の異常波形を検出する手段とを含み、 計数手
段の計数結果を電子回路の劣化の診断指標とすることを
特徴とする。 【0008】請求項4に係る発明は、出力信号の波形に
基づいて電子回路の劣化を診断する装置であって、 電子
回路の出力信号中の異常波形を検出するための異常波形
検出手段と、 異常波形検出手段の異常波形検出回数を計
数する計数手段とを備え、 異常波形検出手段は、 信号の
最大レベルと最小レベルとの間に少なくとも2つのしき
い値を設定するしきい値設定手段と、 所定期間内に電子
回路の出力信号のレベルが各しきい値を通過する回数を
検出する通過回数検出手段と、 通過回数検出手段によっ
て検出された各しきい値についての通過回数を相互に比
較することにより、電子回路の出力信号中の異常波形を
検出する手段とを含み、 計数手段の計数結果を電子回路
の劣化の診断指標とすることを特徴とする。 【0009】請求項5に係る発明は、出力信号の波形に
基づいて電子回路の劣化を診断する装置であって、 電子
回路の出力信号中の異常波形を検出するための異常波形
検出手段と、 異常波形検出手段の異常波形検出回数を計
数する計数手段とを備え、 異常波形検出手段は、 電子回
路の出力信号の最大レベルと最小レベルとの間にしきい
値を設定するしきい値設定手段と、 所定期間内に電子回
路の出力信号のレベルがしきい値を通過する回数を検出
する通過回数検出手段と、 所定期間内における基準通過
回数を設定する基準通過回数設定手段と、 通過回数検出
手段によって検出された通過回数と基準通過回数設定手
段によって設定された基準通過回数とを比較することに
より、電子回路の出力信号中の異常波形を検出する手段
とを含み、 計数手段の計数結果を電子回路の劣化の診断
指標とすることを特徴とする。 【0010】請求項6に係る発明は、出力信号の波形に
基づいて電子回路の劣化を診断する装置であって、 電子
回路の出力信号中の異常波形を検出するための異常波形
検出手段と、 異常波形検出手段の異常波形検出回数を計
数する計数手段とを備え、 異常波形検出手段は、 電子回
路の出力信号の最大レベルと最小レベルとの間に第1お
よび第2のしきい値を設定するしきい値設定手段と、
子回路の出力信号のレベルが第1および第2のしきい値
間に入る方向とその直後に第1および第2のしきい値間
から出る方向との一致不一致に基づいて、電子回路の出
力信号中の異常波形を検出する手段とを含み、 計数手段
の計数結果を電子回路の劣化の診断指標とすることを特
徴とする。 【0011】請求項7に係る発明は、出力信号の波形に
基づいて電子回路の劣化を診断する装置であって、 電子
回路の出力信号中の異常波形を検出するための異常波形
検出手段と、 異常波形検出手段の異常波形検出回数を計
数する計数手段と、 予め定められた一定時間ごとの計数
手段の計数結果が所定の値を越えたときに電子回路が異
常であると判定する判定手段とを備えている。 【0012】請求項に係る発明は、振幅,最大レベル
および最小レベルが常に一定な信号中に生じる異常波形
を検出する方法であって、信号の最大レベルと最小レベ
ルとの間に少なくとも2つのしきい値を設定し、所定期
間内に信号のレベルが各しきい値を通過する回数を検出
し、この検出された各しきい値についての通過回数を相
互に比較することにより、信号中の異常波形を検出する
ことを特徴とする。 【0013】請求項に係る発明は、振幅,最大レベル
および最小レベルが常に一定な信号中に生じる異常波形
を検出する方法であって、信号の最大レベルと最小レベ
ルとの間にしきい値を設定し、所定期間内に信号のレベ
ルがしきい値を通過する回数を検出し、この検出された
通過回数と予め設定された所定期間内の基準通過回数と
を比較することにより、信号中の異常波形を検出するこ
とを特徴とする。 【0014】請求項10に係る発明は、出力信号の波形
に基づいて電子回路の劣化を診断する方法であって、
子回路の出力信号の最大レベルと最小レベルとの間に少
なくとも2つのしきい値を設定し、電子回路の出力信号
のレベルが各しきい値間を通過するときの時間幅を検出
し、この検出された時間幅と予め設定された基準時間幅
とを比較することにより、電子回路の出力信号中の異常
波形を検出し、その異常波形検出回数を計数することに
より、電子回路の劣化の診断指標とすることを特徴とす
る。 【0015】請求項11に係る発明は、出力信号の波形
に基づいて電子回路の劣化を診断する方法であって、
号の最大レベルと最小レベルとの間に少なくとも2つの
しきい値を設定し、所定期間内に電子回路の出力信号の
レベルが各しきい値を通過する回数を検出し、この検出
された各しきい値についての通過回数を相互に比較する
ことにより、電子回路の出力信号中の異常波形を検出
し、その異常波形検出回数を計数することにより、電子
回路の劣化の診断指標とすることを特徴とする。 【0016】請求項12に係る発明は、出力信号の波形
に基づいて電子回路の劣化を診断する方法であって、
子回路の出力信号の最大レベルと最小レベルとの間にし
きい値を設定し、所定期間内に電子回路の出力信号のレ
ベルがしきい値を通過する回数を検出し、この検出され
た通過回数と予め設定された所定期間内の基準通過回数
とを比較することにより、電子回路の出力信号中の異常
波形を検出し、その異常波形検出回数を計数することに
より、電子回路の劣化の診断指標とすることを特徴とす
る。 【0017】請求項13に係る発明は、出力信号の波形
に基づいて電子回路の劣化を診断す る方法であって、
子回路の出力信号の最大レベルと最小レベルとの間に第
1および第2のしきい値を設定し、電子回路の出力信号
のレベルが第1および第2のしきい値間に入る方向とそ
の直後に第1および第2のしきい値間から出る方向との
一致不一致に基づいて、電子回路の出力信号中の異常波
形を検出し、その異常波形検出回数を計数することによ
り、電子回路の劣化の診断指標とすることを特徴とす
る。 【0018】請求項14に係る発明は、出力信号の波形
に基づいて電子回路の劣化を診断する方法であって、
子回路の出力信号中の異常波形を検出し、その異常波形
検出回数を計数し、予め定められた一定時間ごとの計数
結果が所定の値を越えたときに電子回路が異常であると
判定することを特徴とする。 【0019】 【作用】請求項1または8に係る発明においては、異常
波形を検出すべき信号の最大レベルと最小レベルとの間
に少なくとも2つのしきい値を設定しておき、所定期間
内にこの信号のレベルが各しきい値を通過する回数を相
互に比較することにより、信号中の異常波形を検出する
ようにしている。 【0020】請求項2または9に係る発明においては、
異常波形を検出すべき信号の最大レベルと最小レベルと
の間にしきい値を設定しておき、所定期間内にこの信号
のレベルがしきい値を通過する回数と予め設定された所
定期間内の基準通過回数とを比較することにより、信号
中の異常波形を検出するようにしている。 【0021】請求項3または10に係る発明において
は、電子回路の出力信号の最大レベルと最小レベルとの
間に少なくとも2つのしきい値を設定しておき、この出
力信号のレベルが各しきい値間を通過するときの時間幅
と予め設定された基準時間幅とを比較することにより、
出力信号中の異常波形を検出するようにしている。 【0022】請求項4または11に係る発明において
は、電子回路の出力信号の最大レベルと最小レベルとの
間に少なくとも2つのしきい値を設定しておき、所定期
間内にこの出力信号のレベルが各しきい値を通過する回
数を相互に比較することにより、出力信号中の異常波形
を検出するようにしている。 【0023】請求項5または12に係る発明において
は、電子回路の出力信号の最大レベルと最小レベルとの
間にしきい値を設定しておき、所定期間内にこの出力信
号のレベルがしきい値を通過する回数と予め設定された
所定期間内の基準通過回数とを比較することにより、出
力信号中の異常波形を検出するようにしている。 【0024】請求項6または13に係る発明において
は、電子回路の出力信号の最大レベルと最小レベルとの
間に第1および第2のしきい値を設定しておき、この出
力信号のレベルが第1および第2のしきい値間に入る方
向とその直後に第1および第2のしきい値間から出る方
向との一致不一致に基づいて、出力信号中の異常波形を
検出するようにしている。 【0025】請求項7または14に係る発明において
は、予め定められた一定時間ごとの計数結果が所定の値
を越えたときに電子回路が異常であると判定するように
している。 【0026】 【実施例】図1は、この発明の一実施例に係る劣化診断
装置を備えた無停電電源装置(Uninterrupt
ible Power Supply)の構成を示す回
路図である。図1において、入力端子1および2は、図
示しない商用交流電源に接続されている。商用交流電源
から入力端子1および2に供給される交流電力は、整流
器3で直流に変換された後、コイル4aおよびコンデン
サ4bによって構成される平滑回路4でさらに平滑され
てインバータ6に与えられる。なお、整流器3の出力端
には、停電時に電力を供給するための蓄電池7が接続さ
れている。インバータ6は、後述するように複数のスイ
ッチング素子を含み、インバータ制御回路8によってこ
れらスイッチング素子のオンオフが適当に制御されるこ
とにより、与えられた直流電圧を交流パルス電圧に変換
する。 【0027】インバータ6の出力は、絶縁トランス9の
1次側コイル9aに与えられる。絶縁トランス9の2次
側コイル9bの出力は、交流リアクトル10aおよびコ
ンデンサ10bによって構成される交流フィルタ10で
無用な高調波成分が取り除かれた後、出力端子12およ
び13に与えられる。出力端子12および13は、図示
しない負荷に接続されている。なお、出力端子12と交
流フィルタ10との間には、切換スイッチ14が介挿さ
れている。 【0028】さらに、インバータ6の出力は、この発明
の特徴となる劣化診断装置15に与えられる。この劣化
診断装置15は、インバータ6およびインバータ制御回
路8の劣化の進行程度を診断するためのものである。 【0029】上記のように構成される無停電電源装置
は、常時は商用交流電源から整流器3,平滑回路4,イ
ンバータ6,絶縁トランス9,交流フィルタ10を介し
て負荷に交流を供給している。そして、停電時には蓄電
池7からインバータ6,絶縁トランス9,交流フィルタ
10を介して引き続き負荷に電力を供給する。このよう
に無停電電源装置は、停電時においても継続的に負荷に
電力を供給しうるため、停電の許されない発変電所,ガ
ス/石油プラント設備,通信,放送,病院,電子計算機
等の電源装置として用いられている。なお、切換スイッ
チ14は、常時は交流フィルタ10の出力を出力端子1
2に供給しているが、無停電電源装置の試験時や故障時
には切り換えられて商用交流電源の出力を出力端子12
に直接供給する。 【0030】図2は、図1におけるインバータ6のより
詳細な構成を示す回路図である。図2において、インバ
ータ6は、スイッチング素子の一例としてのNPNトラ
ンジスタTR1〜TR4と、逆流防止用ダイオードD1
〜D4とを含む。トランジスタTR1は、そのコレクタ
が正側電源線L1に接続され、そのエミッタがトランジ
スタTR2のコレクタに接続されている。トランジスタ
TR2のエミッタは、負側電源線L2に接続されてい
る。トランジスタTR3は、そのコレクタが正側電源線
L1に接続され、そのエミッタがトランジスタTR4の
コレクタに接続されている。トランジスタTR4のエミ
ッタは、負側電源線L2に接続されている。ダイオード
D1,D2,D3およびD4は、それぞれ、トランジス
タTR1,TR2,TR3およびTR4と並列に接続さ
れている。 【0031】トランジスタTR1,TR2,TR3およ
びTR4のベースには、インバータ制御回路8から制御
信号φA1,φA2,φB1およびφB2がそれぞれ与
えられる。トランジスタTR1のエミッタとトランジス
タTR2のコレクタとの接続点であるノードN1は、絶
縁トランス9における1次側コイル9aの一端に接続さ
れている。一方、トランジスタTR3のエミッタとトラ
ンジスタTR4のコレクタとの接続点であるノードN2
は、上記1次コイル9aの他端に接続されている。さら
に、ノードN2は、劣化診断装置15に接続されてい
る。 【0032】図3は、図1および図2に示すインバータ
の動作を説明するための波形図である。以下、この図3
を参照して、上記インバータ6の動作を説明する。 【0033】まず、直列接続されたトランジスタTR1
およびTR2によって構成される左側のスイッチング回
路(以下、レフトアームと称す)LAに着目すると、ト
ランジスタTR1のベース与えられる制御信号φA1と
トランジスタTR2のベースに与えられる制御信号φA
2とは、図3に示すように互いに相補的な関係を有して
いる。したがって、トランジスタTR1およびTR2は
交互にオンオフ状態を繰り返し、同時にオン状態になる
ことはない。一方、直列接続されたトランジスタTR3
およびTR4で構成される右側のスイッチング回路(以
下、ライトアームと称す)RAも同様である。すなわ
ち、トランジスタTR3およびTR4は、相補的な制御
信号φB1およびφB2によって交互にオンオフ状態を
繰り返し、同時にオン状態になることはない。 【0034】トランジスタTR1およびTR3がオン状
態でかつトランジスタTR2およびTR4がオフ状態の
とき、またはトランジスタTR1およびTR3がオフ状
態でかつトランジスタTR2およびTR4がオン状態の
ときは、ノードN1とN2との間に電位差は生じず、絶
縁トランス9の1次側電圧V1は0Vとなる。また、ト
ランジスタTR1およびTR4がオン状態でかつトラン
ジスタTR2およびTR3がオフ状態のときは、ノード
N1は正の電源電圧、ノードN2は負の電源電圧とな
る。したがって、このとき絶縁トランス9の1次側電圧
V1は正の最大電圧Vmaxとなる。逆に、トランジス
タTR1およびTR4がオフ状態でかつトランジスタT
R2およびTR3がオン状態のときは、ノードN1は負
の電源電圧、ノードN2は正の電源電圧となり、絶縁ト
ランス9の1次側電圧V1は負の最大電圧−Vmaxに
なる。 【0035】上記のごとく、インバータ6の出力電圧す
なわち絶縁トランス9の1次側電圧V1は、トランジス
タTR1〜TR4のオンオフ状態の組合せにより、3つ
の電圧値Vmax,0V,−Vmaxをとり得る。した
がって、インバータ制御回路8によってレフトアームL
AとライトアームRAとの動作状態を適当にずらせるこ
とにより、図3に示すような不等幅矩形波の交流パルス
電圧V1を得ることができる。 【0036】上記交流パルス電圧V1は、不等幅矩形波
であるため、高調波を多く含む。この高調波を交流フィ
ルタ10で取り除き、基本波だけを抜き出すことによ
り、図3に示すような正弦波交流V2を得ることができ
る。なお、インバータ制御回路8によって交流パルス電
圧V1の各パルス幅を適当に制御すれば、正弦波交流V
2の実効値を一定とする定電圧制御を行うことができ
る。 【0037】なお、図3の最下段に拡大して示すよう
に、制御信号φB1およびφB2には、わずかながらト
ランジスタTR3およびTR4がともにオフ状態となる
時間が設けてある。これは、トランジスタTR3および
TR4のスイッチング動作の遅れにより、トランジスタ
TR3およびTR4が同時にオン状態となるのを防ぐた
めである。このことは、制御信号φA1およびφA2に
ついても同様であり、それによってトランジスタTR1
およびTR2が同時にオン状態となるのが防止されてい
る。 【0038】ところで、インバータ制御回路8の部品定
数が経年劣化で少しずつ変化してくると、各制御信号φ
A1,φA2,φB1,φB2のタイミング関係や電圧
レベルにずれが生じてくる。また、インバータ6におけ
る各トランジスタTR1〜TR4の動作速度も度重なる
サージ電圧の進入があれば除々に劣化すると考えられ
る。これらの原因により、各アームの出力に針状のパル
スが発生したり、中間電圧(最大電圧と最小電圧との間
の電圧)の出力が発生するようになる。中間電圧の出力
は、アームの上下のトランジスタが同時にオンしている
ときに発生し、同時にオン状態となる時間が短いときは
針状のパルスとなる。他の異常例として、インバータ6
を構成するトランジスタのスイッチングスピードが遅く
なってアーム出力が反転するときの傾斜が緩くなるなど
の現象もある。それらの兆候をつかみ、大きな故障に向
かって劣化が進みつつあることを捉えるのが劣化診断装
置15の役割である。 【0039】図4は、レフトアームLA(またはライト
アームRA)の出力に含まれる異常波形の典型的な例を
示す波形図である。なお、この図4は、負側電源線L2
に対するノードN1(またはノードN2)の電位を各ア
ームLAおよびRAの出力としている。図4(a)に示
すアーム出力は、異常波形として中間電圧を有する針状
の異常パルスP1を含んでいる。また、図4(b)に示
すアーム出力は、異常波形として正規パルスのエッジ部
分に中間電圧出力P2を含んでいる。また、図4(c)
に示すアーム出力は、異常波形として最大電圧Vmax
を有する異常パルスP3を含んでいる。 【0040】劣化診断装置15の詳細な説明を行う前
に、図5を参照して劣化診断装置15における異常波形
の検出原理を説明する。まず、アーム出力の最大電圧V
maxと最小電圧0Vとの間には、少なくとも2つのし
きい値電圧Va,Vb(Vmax>Va>Vb>0V)
が設定される。 【0041】劣化診断装置15は、アームの出力電圧レ
ベルがしきい値電圧Vbを通過してからVaを通過する
までの時間幅(または、しきい値電圧Vaを通過してか
らVbを通過するまでの時間幅)Tw(または、T
w’)を計測する。そして、この計測された時間幅Tw
(または、Tw’)と予め設定された基準時間幅とを比
較し、計測された時間幅Tw(または、Tw’)が予め
設定された基準時間幅よりも長いときは、そこにおいて
異常波形すなわちパルスのエッジ部分における中間電圧
出力P2(または、P2’)が生じていると判断する。 【0042】次に、劣化診断装置15は、所定時間内に
アームの出力電圧レベルがしきい値電圧Vaを通過する
回数としきい値電圧Vbを通過する回数とを個別に計測
する。そして、両計測値を比較し、両計測値が不一致の
場合は、アーム出力に異常波形すなわちしきい値電圧V
aとVbとの間のレベルを有する異常パルスP1が含ま
れていると判断する。 【0043】次に、劣化診断装置15は、所定時間内に
アームの出力電圧レベルがしきい値電圧Vaを通過する
回数を計測する。そして、この計測された回数が予め設
定された基準回数値よりも多い場合は、異常波形すなわ
ちしきい値電圧Vaよりも大きいレベルを有する異常パ
ルスP3が含まれていると判断する。 【0044】図6は、図1に示す劣化診断装置15の構
成の一例を示すブロック図である。なお、図6に示す劣
化診断装置は、ハード回路のみによって劣化の検出を行
うように構成されている。 【0045】図6において、ライトアームRAの出力
は、レベル検出器201および202に与えられる。レ
ベル検出器201には、しきい値レベル設定回路203
からしきい値電圧Vaが与えられている。また、レベル
検出器202には、しきい値レベル設定回路203から
しきい値電圧Vbが与えられている。レベル検出器20
1および202の検出出力は、それぞれ、カウンタ20
4および205に与えられる。カウンタ204のカウン
ト出力は、比較器206および207に与えられる。カ
ウンタ205のカウント出力は、比較器207に与えら
れる。比較器206には、基準回数設定回路208から
基準回数値が与えられる。比較器206および207の
出力は、ORゲート209に与えられる。 【0046】発振器210は、一定周波数のパルス信号
を出力する。発振器210の発振周波数は、ライトアー
ムRAの出力パルスの最大周波数よりも十分大きな値に
選ばれている。発振器210の出力パルスは、リセット
パルス発生回路211に与えられる。リセットパルス発
生回路211は、たとえば分周器を含み発振器210の
出力パルスからリセットパルスを作成する。このリセッ
トパルスは、カウンタ204および205に与えられ
る。 【0047】レベル検出器201および202の出力は
イネーブル信号として、それぞれ、タイマカウンタ21
2および213に与えられる。また、レベル検出器20
1および202の出力はリセット信号として、それぞ
れ、タイマカウンタ213および212に与えられる。
さらに、タイマカウンタ212および213には、発振
器210の発振出力がクロック信号として与えられてい
る。タイマカウンタ212および213のカウント出力
は、それぞれ、比較器214および215に与えられ
る。比較器214および215には、基準時間幅設定回
路216から基準時間幅が与えられる。比較器214お
よび215の出力は、ORゲート209に与えられる。 【0048】ORゲート209の出力は、カウンタ21
7に与えられる。このカウンタ217は、リセット信号
によって一定時間(たとえば1時間)ごとにセットされ
る。カウンタ217のカウント出力は、表示装置21
8,記録装置219および警報装置220に与えられ
る。 【0049】次に、図6に示す劣化診断装置の動作を説
明する。レベル検出器201は、ライトアームRAの出
力レベルがしきい値電圧Vaと一致したときに検出パル
スを出力する。同様に、レベル検出器202は、ライト
アームRAの出力レベルがしきい値電圧Vbと一致した
ときに検出パルスを出力する。カウンタ204は、レベ
ル検出器201の検出パルスをカウントすることによ
り、ライトアームRAの出力レベルがしきい値電圧Va
を通過した回数をカウントする。カウンタ205は、レ
ベル検出器202の検出パルスをカウントすることによ
り、ライトアームRAの出力レベルがしきい値電圧Vb
を通過した回数をカウントする。カウンタ204および
205は、リセットパルス発生回路211からのリセッ
トパルスによって所定周期ごとにリセットされる。カウ
ンタ204は、リセットされたときにそのカウント結果
を比較器206および207に出力する。同様に、カウ
ンタ205は、リセットされたときにそのカウント結果
を比較器207に出力する。 【0050】比較器206は、カウンタ204のカウン
ト値(所定周期内にライトアームRAの出力レベルがし
きい値電圧Vaを通過した回数)と基準回数設定回路2
08から与えられる基準回数値とを比較し、不一致のと
きに異常波形検出パルスを出力する。ここで、基準回数
設定回路208には、ライトアームRAの出力波形が正
常であった場合にライトアームRAの出力レベルがしき
い値電圧Vaを通過する基準の回数値が設定されてい
る。したがって、比較器206が不一致を検出した場
合、ライトアームRAの出力には図5に示す異常パルス
P3が含まれていることになる。 【0051】比較器207は、カウンタ204のカウン
ト値(所定周期内にライトアームRAの出力レベルがし
きい値電圧Vaを通過した回数)とカウンタ205のカ
ウント値(所定周期内にライトアームRAの出力レベル
がしきい値電圧Vbを通過した回数)とを比較し、不一
致のときに異常波形検出パルスを出力する。ライトアー
ムRAの出力波形が正常な場合、カウンタ204のカウ
ント値とカウンタ205のカウント値とは常に一致する
はずである。しかしながら、ライトアームRAの出力波
形に中間レベルの異常パルスP1が含まれている場合
は、カウンタ205のカウント値の方がカウンタ204
のカウント値よりも多くなる。したがって、比較器20
7は、カウンタ204および205のカウント値を相互
に比較することにより、ライトアームRAの出力波形に
上記異常パルスP1が含まれているか否かを検出してい
る。 【0052】タイマカウンタ212は、ライトアームR
Aの出力レベルがしきい値電圧Vaを通過したときにレ
ベル検出器201の検出出力によってスタートされ、発
振器210から与えられるクロック信号をカウントす
る。そして、タイマカウンタ212は、ライトアームR
Aの出力レベルがしきい値電圧Vbを通過したときにレ
ベル検出器202の検出出力によってリセットされる。
したがって、タイマカウンタ212は、ライトアームR
Aの出力レベルがしきい値電圧Vaを通過してからしき
い値電圧Vbを通過するまでの時間幅Tw’(図5参
照)を計測している。一方、タイマカウンタ213は、
ライトアームRAの出力がしきい値電圧Vbを通過した
ときにレベル検出器202の検出出力によってスタート
され、発振器210からのクロック信号をカウントす
る。そして、タイマカウンタ213は、ライトアームR
Aの出力レベルがしきい値電圧Vaを通過したときにレ
ベル検出器201の検出出力によってリセットされる。
したがって、タイマカウンタ213は、ライトアームR
Aの出力レベルがしきい値電圧Vbを通過してからしき
い値電圧Vaを通過するまでの時間幅Tw(図5参照)
を計測している。 【0053】ライトアームRAの出力波形は、矩形波で
あるためタイマカウンタ212および213によって計
測される各時間幅は、ほぼ0となるはずである。しかし
ながら、ライトアームRAの出力波形がパルスのエッジ
部分において図5に示すような中間電圧出力P2または
P2’を含む場合、タイマカウンタ213または212
によって計測される時間幅TwまたはTw’は0よりも
長くなる。基準時間幅設定回路216には、パルスのエ
ッジ部分において許容され得る基準時間幅が設定されて
いる。 【0054】比較器214は、タイマカウンタ212の
カウント値が上記基準時間幅を超えたときに異常波形検
出パルスを出力する。同様に、比較器215は、タイマ
カウンタ213のカウント値が基準時間幅を超えたとき
に異常波形検出パルスを出力する。すなわち、比較器2
14は、ライトアームRAの出力パルスの立ち下がりエ
ッジ部分において中間電圧出力P2’が存在するか否か
を検出している。また、比較器215はライトアームR
Aの出力パルスの立ち上がりエッジ部分において中間電
圧出力P2が存在するか否かを検出している。 【0055】比較器206,207,214および21
5から出力される異常波形検出パルスは、ORゲート2
09を介してカウンタ217に与えられ、カウントされ
る。このカウンタ217は、一定時間(たとえば1時
間)ごとにリセットされる。そして、リセット直前のカ
ウント値が表示装置218に表示され、記録装置219
に記録される。 【0056】したがって、使用者は、表示装置218の
表示内容および記録装置219の記録内容を見れば、上
記一定時間内にライトアームRAの出力波形がどの程度
の異常波形を生じているかを明確に知ることができる。
すなわち、インバータ6またはインバータ制御回路8の
劣化の進行程度が定量的に把握できる。 【0057】また、警報装置220は、カウンタ217
のカウント値が予め定める一定値を超えたとき、インバ
ータ6またはインバータ制御回路8が重度の劣化を起こ
しているものと判断し、警報を発生する。したがって、
使用者は無停電電源装置が故障を起こす前にその予兆を
知ることができ、そのような故障が生じる前にインバー
タ6またはインバータ制御回路8を取り替えることがで
きる。 【0058】図7は、図1に示す劣化診断装置15の他
の構成例を示すブロック図である。なお、図7に示す劣
化診断装置は、プログラム制御によって劣化の診断を行
うように構成されている。 【0059】図7において、ライトアームRAの出力
は、A/D変換器301に与えられ、一定のサンプリン
グ周期でデジタル信号に変換される。A/D変換器30
1の出力は、波形メモリ302およびデータ処理装置3
03に与えられる。データ処理装置303は、マイクロ
コンピュータやパーソナルコンピュータや専用のDSP
(ディジタル・シグナル・プロセッサ)等によって構成
され得るが、本実施例ではマイクロコンピュータによっ
て構成されている。すなわち、データ処理装置303
は、CPU303aと、ROM303bと、RAM30
3cとを含む。ROM303bには、後述の図8〜図1
1に示すようなフローチャートに従う種々の動作プログ
ラムが格納されている。CPU303aは、ROM30
3bに格納された動作プログラムに従って動作し、A/
D変換器301から与えられるデータを処理する。RA
M303cには、CPU303aのデータ処理に必要な
種々のデータが記憶される。 【0060】CPU303aには、さらに表示装置31
8,記録装置319および警報装置320が接続されて
いる。これら表示装置318,記録装置319および警
報装置320の構成は、それぞれ図6に示す表示装置2
18,記録装置219および警報装置220の構成と同
様である。 【0061】次に、図8〜図11に示すフローチャート
を参照して、図7に示す劣化診断装置の動作を説明す
る。 【0062】まず、図8のステップS1において、スタ
ート時刻t0として現在時刻tが設定され、劣化の進行
程度を示す劣化程度指標値Zがクリアされる。次に、ス
テップS2に進み、基準周期内での異常検出が行われ
る。このステップS2のサブルーチンの詳細は、図9〜
図11に示されている。 【0063】まず、図9のステップS201において、
CPU303aは、A/D変換器301から出力される
サンプリングデータを入力し、波形メモリ302または
RAM303cに記憶させる。次に、ステップS202
に進み、CPU303aは、上記サンプリングデータに
基づいて基準周期の検出を行う。ここで、基準周期と
は、図3に示す周期Tsのことを意味する。ライトアー
ムRAの出力波形は、前述したように不等幅矩形波であ
るため、個々のパルス単位ではパルス幅が変動するが、
連続したパルス列で観察すると、その波形は一定の周期
ごとに同じ変化を繰り返している。基準周期Tsは、こ
の繰り返し周期のことを示している。 【0064】次に、ステップS203に進み、合計異常
回数値Z0,第1の異常回数値Z1,第2の異常回数値
Z2,第3の異常回数値Z3,通過回数値KaおよびK
bがいずれもクリアされる。ここで、第1の異常回数値
Z1は図5に示す異常パルスP1に関連する異常回数値
を示しており、第2の異常回数値Z2は図5に示すパル
スのエッジ部分における中間電圧出力P2およびP2’
に関連する異常回数値を示しており、第3の異常回数値
Z3は図5に示す異常パルスP1およびP3に関連する
異常回数値を示している。また、合計異常回数値Z0
は、第1〜第3の異常回数値Z1〜Z3を重み付け演算
して線形結合することにより得られる。通過回数値Ka
は、ライトアームRAの出力レベルがしきい値電圧Va
を通過した回数を示している。通過回数値Kbはライト
アームRAの出力レベルがしきい値電圧Vbを通過した
回数を示している。 【0065】次に、ステップS204に進み、CPU3
03aは、前述の基準周期Tsにおける最初のサンプリ
ング値V(0)を波形メモリ302またはRAM303
cから読み出す。なお、基準周期Tsにおけるサンプリ
ング数はN個である。したがって、波形メモリ302ま
たはRAM303cには、1周期Tsに対応するサンプ
リング値として、N個のサンプリング値V(0)〜V
(N−1)が記憶されている。 【0066】次に、ステップS205に進み、状態フラ
グfpの初期設定が行われる。後述するように、基準周
期内の異常検出は、N個のサンプリング値V(0)〜V
(N−1)を時間軸方向に沿って前から順番に2つずつ
比較することにより行われる。このとき、同じタイミン
グで比較される時間的に隣接した2つのサンプリング値
のうち、時間的に前のサンプリング値の状態が状態フラ
グfpによって示される。初期設定の段階では、基準周
期内の最初のサンプリング値V(0)に基づいて状態フ
ラグfpの設定が行われる。すなわち、V(0)>Va
のとき、状態フラグfpには1が設定される。また、V
a≧V(0)≧Vbのとき、状態フラグfpには0が設
定される。また、V(0)<Vbのとき、状態フラグf
pには−1が設定される。 【0067】次に、ステップS206に進み、ループ回
数値iに1が設定される。次に、図10のステップS2
07に進み、サンプリング値V(i)のレベルに基づい
て、状態フラグfの設定が行われる。この状態フラグf
は、前述した同じタイミングで比較される時間的に隣接
した2つのサンプリング値のうち、時間的に後のサンプ
リング値の状態を示すフラグである。V(i)>Vaの
とき、状態フラグfには1が設定される。Va≧V
(i)≧Vbのとき、状態フラグfには0が設定され
る。V(i)<Vbのとき、状態フラグfには−1が設
定される。 【0068】次に、ステップS208に進み、状態フラ
グfpの設定値と状態フラグfの設定値との関係が判断
される。このステップS208の判断処理によって状態
フラグfpの設定値と状態フラグfの設定値との関係
は、5つの場合に分類され、分類された各場合について
所定の処理が行われる。このとき実行される所定の処理
の詳細については後述する。次に、ステップS213に
進み、状態フラグfの設定値が状態フラグfpに設定さ
れる。これによって同時に比較される2つのサンプリン
グ値の組み合わせが時間軸方向へ1つシフトされること
になる。次に、ステップS214に進み、ループ回数値
iが1だけインクリメントされる。次に、ステップS2
15に進み、ループ回数値iが1基準周期Ts内のサン
プリング数Nと一致したか否かが判断される。一致して
いない場合はステップS207〜S215の処理が繰り
返し実行される。 【0069】次に、前述のステップS208で分類され
た各場合について実行される処理を以下に説明する。 【0070】(1)fp×f=−1の場合 この場合、図12に示されるように同時に比較される2
つのサンプリング値のうち、先のサンプリング値V(i
−1)が上部ゾーン(しきい値電圧Vaよりも高い電圧
ゾーン)内にありかつ後のサンプリング値V(i)が下
部ゾーン(しきい値電圧Vbよりも低い電圧ゾーン)内
にあるか、または先のサンプリング値V(i−1)が下
部ゾーン内にありかつ後のサンプリング値V(i)が上
部ゾーン内にあることになる。すなわち、後のサンプリ
ング値V(i)は、先のサンプリング値V(i−1)に
対して中間ゾーン(しきい値電圧VaとVbとの間の電
圧ゾーン)を突き抜けるように変化している。 【0071】上記の場合、ライトアームRAの出力レベ
ルはしきい値電圧VaおよびVbをいずれも通過するた
め、ステップS209において通過回数値KaおよびK
bがいずれも1だけインクリメントされる。また、ステ
ップS209では、方向フラグfsがリセットされ、突
入ループ回数値jがクリアされる。なお、方向フラグf
sは、サンプリング値V(i)が中間ゾーン内に突入し
てきた方向(増加方向かまたは減少方向か)を示すフラ
グである。また、突入ループ回数値jは、サンプリング
値が中間ゾーン内に突入してきたときのループ回数値を
示している。ステップS209の動作が終了すると、ス
テップS213の処理に進む。 【0072】(2)fp=1でかつf=0の場合 この場合、図13の左側に示すように先のサンプリング
値V(i−1)は上部ゾーン内にあり、かつ後のサンプ
リング値V(i)は中間ゾーン内にあることになる。し
たがって、この場合、ライトアームRAの出力レベルは
しきい値電圧Vaを通過するため、ステップS210に
おいて通過回数値Kaが1だけインクリメントされる。
また、ステップS210では、方向フラグfsに減少方
向を示す−1が設定される。さらに、ステップS210
では、突入ループ回数値jにループ回数iの値が設定さ
れる。ステップS210の処理が終了すると、ステップ
S213の処理に進む。 【0073】(3)fp=−1でかつf=0の場合 この場合、図13の右側に示すように、前回のサンプリ
ング値V(i−1)が下部ゾーン内にあり、かつ今回の
サンプリング値V(i)が中間ゾーン内にあることにな
る。したがって、この場合、ライトアームRAの出力レ
ベルはしきい値電圧Vbを通過するため、ステップS2
11において通過回数値Kbが1だけインクリメントさ
れる。また、ステップS211では、方向フラグfsに
増加方向を示す1が設定される。さらに、ステップS2
11では、突入ループ回数値jにループ回数値iが設定
される。ステップS211の処理が終了すると、ステッ
プS213の処理に進む。 【0074】(4)fp=0でかつf≠0の場合 この場合、図14に示すように、先のサンプリング値V
(i−1)は中間ゾーン内にあり、かつ後のサンプリン
グ値V(i)は上部ゾーンまたは下部ゾーン内にあるこ
とになる。このとき、状態フラグfと方向フラグfsと
の関係によって、ライトアームRAの出力波形の変化が
2つの場合に分類される。 【0075】まず、f=fsの場合は、図15に示すよ
うに、中間ゾーンへの突入方向と中間ゾーンからの脱出
方向とがともに同じ方向(増加方向または減少方向)と
なる。このとき、i−jの値が予め定められた基準時間
幅(本実施例では基準時間幅として「3」を設定してい
る)よりも大きければ、ライトアームRAの出力波形に
図5の中間電圧出力P2またはP2’が含まれているこ
とになるため、ステップS212aにおいて第2の異常
回数値Z2が1だけインクリメントされる。 【0076】一方、f=−fsの場合は、図16に示す
ように、中間ゾーンへの突入方向と中間ゾーンからの脱
出方向とが異なった方向となる。この場合、ライトアー
ムRAの出力波形は、図5の異常パルスP1を含むこと
になるため、ステップS212aにおいて第1の異常回
数値Z1が1だけインクリメントされる。 【0077】次に、ステップS212bに進み、方向フ
ラグfsがリセットされ、突入ループ回数値jがクリア
される。その後、ステップS213の処理に進む。 【0078】(5)fp=fの場合 この場合、先のサンプリング値V(i−1)と後のサン
プリング値V(i)は、ともに同じゾーン内にあるた
め、何も処理は行われず、直接ステップS214の処理
に進む。 【0079】1周期Ts内におけるすべてのサンプリン
グ値V(0)〜V(N−1)について上記処理が終了す
ると、ステップS215でi=Nが判断され、図11の
ステップS216に進む。ステップS216では、しき
い値電圧Vaの通過回数Kaが予め定められた基準通過
回数Kと一致するか否かが判断される。不一致の場合
は、ライトアームRAの出力波形が図5の異常パルスP
3を含むことになるため、ステップS217において第
3の異常回数値Z3が1だけインクリメントされる。 【0080】前述のステップS216で通過回数Kaと
基準通過回数値Kとの一致が判断された場合、またはス
テップS217の処理が終了した場合、次にステップS
218に進み、今度はしきい値電圧Vbの通過回数値K
bと予め定められた基準通過回数値Kとの一致が判断さ
れる。不一致の場合は、ライトアームRAの出力波形が
図5の異常パルスP1またはP3を含むことになるた
め、ステップS219において第3の異常回数値Z3が
1だけインクリメントされる。 【0081】ステップS218で通過回数値Kbと基準
通過回数値Kとの一致が判断された場合、またはステッ
プS219の処理が終了した場合、次にステップS22
0に進み、合計異常回数値Z0が演算される。この合計
異常回数値Z0は、第1の異常回数値Z1,第2の異常
回数値Z2,第3の異常回数値Z3を重み付け演算して
線形結合することにより得られる。すなわち、合計回数
値Z0は、次式によって求められる。 Z0=αZ1+βZ2+γZ3 上式において、α,β,γは、重み付けのための係数値
である。 【0082】このように重み付け演算によって合計異常
回数値Z0を求めるようにしたのは、第1〜第3の異常
回数値Z1〜Z3によってそれぞれ評価されるインバー
タ6またはインバータ制御回路8の劣化の程度が1対1
に対応しないからである。したがって、それぞれの各異
常回数値Z1〜Z3が示す劣化の程度を考慮して、重み
付け演算を行うことにより、1基準周期内での総合的な
合計異常回数値Z0を求めるようにしている。 【0083】上記ステップS220の処理が終了する
と、再び図8のメインルーチンにリターンする。まず、
ステップS3において、合計異常回数値Z0が0である
か否かが判断される。合計異常回数値Z0が0でない場
合、すなわち基準周期内に何らかの異常波形が発生して
いる場合は、ステップS4に進み、劣化程度指標値Zに
合計回数値Z0が加算される。その後、ステップS5の
処理に進む。一方、合計異常回数値Z0が0であった場
合、すなわち基準周期内に波形異常が存在していなかっ
た場合は、ステップS4の処理をスキップして直接ステ
ップS5の処理に進む。 【0084】ステップS5においては、現在時刻tとス
タート時刻t0との差が予め定められた一定時間T(た
とえば1時間)を超えたか否かが判断される。上記差が
一定時間Tよりも短い場合は、再びステップS2〜S4
の動作が繰り返される。一方、現在時刻tとスタート時
刻t0との差が一定時間Tを超えた場合は、ステップS
6の処理に進む。 【0085】ステップS6では、劣化程度指標値Zが表
示装置318に表示され、記録装置319に記録され
る。したがって、使用者は、表示または記録された劣化
程度指標値Zの大きさまたは増加率を見ることにより、
インバータ6およびインバータ制御回路8劣化がどの程
度進行しているか定量的に知ることができる。 【0086】次に、ステップS7に進み、劣化程度指標
値Zが予め定められた許容値Mを超えているか否かが判
断される。劣化程度指標値Zが許容値Mよりも小さい場
合は、再びステップS1〜S6の動作が繰り返される。
一方、劣化程度指標値Zが許容値Mを超えた場合は、ス
テップS8に進み、警報装置320によって警報が発せ
られる。すなわち、インバータ6またはインバータ制御
回路8の劣化が許容できないほど進行したものと判断さ
れ、そのことが使用者に報知される。したがって、使用
者は無停電電源装置が完全に故障する前に、インバータ
6およびインバータ制御回路8に重度の劣化が生じてい
ることを知ることができ、故障発生前に部品の交換が可
能となる。 【0087】なお、以上説明した実施例では、無停電電
源装置に用いられるインバータ6およびインバータ制御
回路8の劣化の進行程度を診断するようにしたが、この
発明は、これに限定されることなく、その他の電子回路
の異常波形を検出してその劣化の進行程度を診断するこ
とももちろん可能である。 【0088】また、上記実施例では、劣化診断装置15
は矩形波パルスを出力する電子回路の出力信号中の異常
波形を検出してその劣化の進行程度を診断するようにし
ているが、この発明は矩形波パルスに限らず一定振幅を
有する正弦波を出力する電子回路に対する異常波形の検
出および劣化の進行程度の診断にも適用が可能である。 【0089】 【発明の効果】以上のように、この発明の劣化診断方法
および装置によれば、電子回路の劣化の程度を定量的な
指標値として得ることができるため、熟練者によらずと
も電子回路の劣化の進行程度を明確に知ることができ、
電子回路の無駄な取替えを無くすことができる。また、
故障発生の予知が正確に行えるため、電子回路の取り替
え時期を誤ることがなく、故障の発生によってシステム
全体に異常が波及する最悪事態を未然に防止することが
できる。 【0090】また、この発明異常波形検出方法および装
置によれば、信号中の異常波形を極めて正確に検出で
き、その検出結果を上記のような劣化診断に有効に用い
ることができる。
Detailed Description of the Invention [0001] BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic circuit deterioration diagnosis.
Method and apparatus and method and apparatus for detecting abnormal waveform therefor
More specifically, the degree of deterioration of electronic circuits
Method and device for quantitatively diagnosing urine and abnormal wave therefor
Shape detection method and apparatus. [0002] 2. Description of the Related Art Due to the importance of its application, it is highly stable and reliable.
There are various types of electrical equipment that require reliability and cannot be tolerated.
To do. For example, power substations, gas / oil plant facilities,
Power supply unit used for communication, broadcasting, hospital, computer etc.
Is a typical example. Traditionally like this
For electrical equipment that is not allowed to fail
Frequent inspections are performed to prevent this. Also,
Even if the electronic circuits used there are working properly
However, the life is considered to have expired after a certain period of use.
None, I was trying to replace it with a new one. Also,
Provide a failure detector, and use the failure detector to
If a failure is detected, immediately turn off the auxiliary equipment.
By replacing it, the abnormality does not spread to the entire system.
I was sick. [0003] As described above, the conventional
Is a certain value regardless of whether it is operating normally
Replace the electronic circuit with a new one when the
Since it is designed to be replaced, electrical equipment using it
There was a problem that the maintenance cost would be extremely high. Also,
Maintenance is cumbersome because it requires frequent inspections.
There was a problem. In addition, backup in case of failure
Must be equipped with auxiliary equipment for
There was a problem that the cost was high. Therefore, it is an object of the present invention to provide an electronic circuit.
The degree of deterioration of the
Deterioration diagnosis method and
And apparatus and abnormal waveform detection method suitable for such deterioration diagnosis
To provide a method and a device. [0005] [Means for Solving the Problems]1The invention pertaining to
In a signal whose amplitude, maximum level and minimum level are always constant
A device that detects abnormal waveforms that occur in the
At least two thresholds between level and minimum level
The threshold setting means for setting the
Pass count detection that detects the number of times the bell passes each threshold
The output means and the respective thresholds detected by the passage count detection means
By comparing the number of passages for a certain value with each other,
And a means for detecting an abnormal waveform in the signal. ClaimsTwoThe invention according to
Waveforms that occur in a signal whose minimum level is always constant
Is a device for detecting the maximum level and the minimum level of the signal.
Threshold setting means for setting a threshold between
The number of times the signal level passes the threshold value within a fixed period is detected.
The passing count detection means and the reference communication within a predetermined period
Reference pass count setting means to set the excess count and pass count detection
Setting the number of passages detected by the output means and the reference number of passages
Comparing with a reference number of passes set by means
And a means for detecting an abnormal waveform in the signal.
It [0007]According to the invention of claim 3, in the waveform of the output signal
A device for diagnosing deterioration of an electronic circuit based on Electronic
Abnormal waveform for detecting an abnormal waveform in the output signal of the circuit
Detection means, Measure the number of abnormal waveforms detected by the abnormal waveform detector
And counting means for counting, The abnormal waveform detection means is Electronic times
Less than the maximum and minimum level of the output signal of the road
And a threshold setting means for setting two thresholds, Electric
When the level of the output signal of the slave circuit passes between the thresholds
Time width detection means for detecting the time width of the Reference time width
Reference time width setting means to be set, By the time width detection means
Set by the time width detected and the reference time width setting means
By comparing with the reference time width
And means for detecting an abnormal waveform in the output signal, Counting hand
Using the counting result of the stage as a diagnostic index of the deterioration of the electronic circuit
Characterize. [0008]The invention according to claim 4 relates to the waveform of the output signal.
A device for diagnosing deterioration of an electronic circuit based on Electronic
Abnormal waveform for detecting an abnormal waveform in the output signal of the circuit
Detection means, Measure the number of abnormal waveforms detected by the abnormal waveform detector
And counting means for counting, The abnormal waveform detection means is Signal
At least two thresholds between the maximum and minimum levels
Threshold setting means for setting a certain value, Electronic within a predetermined period
The number of times the level of the output signal of the circuit passes each threshold
Means for detecting the number of times of passage, By the passage count detection means
The number of passes for each threshold detected by
By comparing, the abnormal waveform in the output signal of the electronic circuit
And means for detecting, The counting result of the counting means is electronic circuit
Is used as a diagnostic index for deterioration of [0009]According to the invention of claim 5, the waveform of the output signal
A device for diagnosing deterioration of an electronic circuit based on Electronic
Abnormal waveform for detecting an abnormal waveform in the output signal of the circuit
Detection means, Measure the number of abnormal waveforms detected by the abnormal waveform detector
And counting means for counting, The abnormal waveform detection means is Electronic times
Threshold between the maximum and minimum level of the output signal of the road
Threshold setting means to set the value, Electronic times within a prescribed period
Detects the number of times the output signal level of a road passes a threshold value
Means for detecting the number of passages, Passing the standard within a predetermined period
A reference passage number setting means for setting the number of times, Pass count detection
Number of passing times detected by means and reference passing number setting hand
To compare with the reference number of passes set by the dan
For detecting an abnormal waveform in the output signal of an electronic circuit
Including and Diagnosis of deterioration of electronic circuit by counting result of counting means
It is characterized by being used as an index. [0010]According to the invention of claim 6, the waveform of the output signal
A device for diagnosing deterioration of an electronic circuit based on Electronic
Abnormal waveform for detecting an abnormal waveform in the output signal of the circuit
Detection means, Measure the number of abnormal waveforms detected by the abnormal waveform detector
And counting means for counting, The abnormal waveform detection means is Electronic times
Between the maximum and minimum level of the output signal of the road
And threshold setting means for setting the second threshold, Electric
The level of the output signal of the child circuit is the first and second threshold values.
Between the first and second threshold values immediately after
Based on the mismatch with the direction from the
And a means for detecting an abnormal waveform in the force signal, Counting means
It is a special feature that the counting result of
To collect. [0011]According to the invention of claim 7, the waveform of the output signal
A device for diagnosing deterioration of an electronic circuit based on Electronic
Abnormal waveform for detecting an abnormal waveform in the output signal of the circuit
Detection means, Measure the number of abnormal waveforms detected by the abnormal waveform detector
Counting means for counting, Counting every predetermined time
When the counting result of the means exceeds a predetermined value, the electronic circuit
And a determining means for determining that it is normal. Claims8The invention according to
Waveforms that occur in a signal whose minimum level is always constant
Is a method of detecting the maximum signal level and the minimum signal level.
Set at least two thresholds between the
Detects the number of times the signal level passes each threshold in the interval
The number of passes for each detected threshold
Detect abnormal waveforms in signals by comparing each other
It is characterized by Claims9The invention according to
Waveforms that occur in a signal whose minimum level is always constant
Is a method of detecting the maximum signal level and the minimum signal level.
Set a threshold between the signal level and
Detected the number of times the
Number of passages and reference number of passages within a preset period
The abnormal waveform in the signal can be detected by comparing
And are characterized. [0014]The invention according to claim 10 is the waveform of an output signal.
A method of diagnosing deterioration of an electronic circuit based on Electric
Between the maximum level and the minimum level of the output signal of the slave circuit,
Even if two thresholds are set, the output signal of the electronic circuit
The time width when the level of the signal passes between the thresholds
However, this detected time width and the preset reference time width
By comparing with, the abnormality in the output signal of the electronic circuit
Detecting waveforms and counting the number of abnormal waveforms detected
Is used as a diagnostic index for deterioration of electronic circuits.
It [0015]The invention according to claim 11 is the waveform of the output signal.
A method of diagnosing deterioration of an electronic circuit based on Belief
Between at least two levels of
Set the threshold value and set the output signal of the electronic circuit within the predetermined period.
Detects the number of times the level passes each threshold and detects this
The number of passes for each given threshold against each other
Detect an abnormal waveform in the output signal of the electronic circuit
Then, by counting the number of times the abnormal waveform is detected,
It is characterized by being used as a diagnostic index of circuit deterioration. [0016]The invention according to claim 12 is the waveform of the output signal.
A method of diagnosing deterioration of an electronic circuit based on Electric
Between the maximum level and the minimum level of the output signal of the slave circuit
Set a threshold value and check the output signal of the electronic circuit within a predetermined period.
The number of times the bell passes the threshold is detected and this
The number of passing times and the reference number of passing times within a preset period
By comparing with, the abnormality in the output signal of the electronic circuit
Detecting waveforms and counting the number of abnormal waveforms detected
Is used as a diagnostic index for deterioration of electronic circuits.
It [0017]The invention according to claim 13 is the waveform of an output signal.
To diagnose the deterioration of electronic circuits based on Method, Electric
Between the maximum level and the minimum level of the output signal of the child circuit,
Set the 1st and 2nd thresholds and output signal of electronic circuit
And the level at which the level goes between the first and second threshold values.
Immediately after and with the direction of exiting between the first and second threshold values
Anomalous waves in the output signal of the electronic circuit based on the match mismatch
By detecting the shape and counting the number of abnormal waveform detections,
It is used as a diagnostic index for deterioration of electronic circuits.
It [0018]The invention according to claim 14 is the waveform of an output signal.
A method of diagnosing deterioration of an electronic circuit based on Electric
Detects an abnormal waveform in the output signal of the slave circuit and
Counts the number of detections and counts at a predetermined fixed time
If the electronic circuit is abnormal when the result exceeds the specified value
It is characterized by judging. [0019] [Operation] Claims1 or 8In the invention relating to
Between the maximum and minimum level of the signal whose waveform is to be detected
Set at least two thresholds for
The number of times the level of this signal passes each threshold within
Detect abnormal waveforms in signals by comparing each other
I am trying. Claims2 or 9In the invention pertaining to
The maximum level and minimum level of the signal that should detect the abnormal waveform
Set a threshold value between the
The number of times the level of the
By comparing the number of times of passing the reference within the fixed period,
The abnormal waveform inside is detected. Claims3 or 10In the invention pertaining to
Is the maximum and minimum level of the output signal of the electronic circuit
Set at least two threshold values between
Time width when the level of the force signal passes between each threshold
By comparing with the preset reference time width,
The abnormal waveform in the output signal is detected. Claims4 or 11In the invention pertaining to
Is the maximum and minimum level of the output signal of the electronic circuit
Set at least two thresholds in between, and
The number of times the level of this output signal passes each threshold within
Abnormal waveforms in the output signal by comparing the numbers with each other
I am trying to detect. Claims5 or 12In the invention pertaining to
Is the maximum and minimum level of the output signal of the electronic circuit
Set a threshold between them and output this signal within the specified period.
Number of times the level of the signal passes the threshold and preset
By comparing with the reference number of passages within a predetermined period,
The abnormal waveform in the force signal is detected. Claims6 or 13In the invention pertaining to
Is the maximum and minimum level of the output signal of the electronic circuit
Set the first and second threshold values in between, and
One in which the level of the force signal falls between the first and second threshold values
Direction and immediately after that, those who exit between the first and second thresholds
The abnormal waveform in the output signal
I'm trying to detect. Claims7 or 14In the invention pertaining to
Is a predetermined value for the counting result for each predetermined time.
To determine that the electronic circuit is abnormal when it exceeds
is doing. [0026] DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a deterioration diagnosis according to an embodiment of the present invention.
Uninterruptible power supply (Uninterrupt)
Time to show the configuration of the Ible Power Supply)
It is a road map. In FIG. 1, input terminals 1 and 2 are
Connected to a commercial AC power supply not shown. Commercial AC power supply
AC power supplied from the input terminals 1 and 2 is rectified
After being converted into direct current by the device 3, the coil 4a and the condenser
Further smoothed by the smoothing circuit 4 composed of
Is given to the inverter 6. The output end of the rectifier 3
A storage battery 7 is connected to the
Has been. The inverter 6 has a plurality of switches as described later.
Including the switching element, the inverter control circuit 8
Make sure that the switching elements are turned on and off appropriately.
Convert the given DC voltage to AC pulse voltage by
To do. The output of the inverter 6 is the output of the isolation transformer 9.
It is given to the primary coil 9a. Secondary of isolation transformer 9
The output of the side coil 9b is the AC reactor 10a and the coil.
With the AC filter 10 composed of the capacitor 10b
After removing unnecessary harmonic components, output terminal 12 and
And 13 are given. Output terminals 12 and 13 are shown
Not connected to the load. Note that the output terminal 12
A change-over switch 14 is inserted between the flow filter 10 and the flow filter 10.
Has been. Further, the output of the inverter 6 is
Is given to the deterioration diagnosis device 15 which is a characteristic of This deterioration
The diagnostic device 15 includes an inverter 6 and an inverter control circuit.
This is for diagnosing the degree of progress of deterioration of the road 8. Uninterruptible power supply configured as described above
Is always connected to the rectifier 3, smoothing circuit 4,
Via inverter 6, isolation transformer 9 and AC filter 10
Supply alternating current to the load. And it stores electricity in the event of a power failure
Pond 7 to inverter 6, isolation transformer 9, AC filter
The load is subsequently supplied with power via 10. like this
The uninterruptible power supply keeps the load on even during a power failure.
Power substations, gas and
S / oil plant equipment, communication, broadcasting, hospital, computer
It is used as a power supply device. The switching switch
The switch 14 normally outputs the output of the AC filter 10 to the output terminal 1
2 is being supplied, but during testing or failure of the uninterruptible power supply
To the output terminal 12 of the commercial AC power supply.
Supply directly to. FIG. 2 is a circuit diagram of the inverter 6 in FIG.
It is a circuit diagram which shows a detailed structure. In FIG.
The data 6 is an NPN transistor as an example of a switching element.
Transistors TR1 to TR4 and backflow prevention diode D1
~ D4. The transistor TR1 has its collector
Is connected to the positive power line L1 and its emitter is
It is connected to the collector of the star TR2. Transistor
The emitter of TR2 is connected to the negative power supply line L2.
It The collector of the transistor TR3 has a positive power supply line.
It is connected to L1 and its emitter is of transistor TR4.
It is connected to the collector. Emi of transistor TR4
Is connected to the negative power supply line L2. diode
D1, D2, D3 and D4 are the transitions
Connected in parallel with TR1, TR2, TR3 and TR4
Has been. Transistors TR1, TR2, TR3 and
And the base of TR4 are controlled by the inverter control circuit 8.
Signals φA1, φA2, φB1 and φB2 are given respectively.
available. Transistor TR1 emitter and transistor
Node N1 which is the connection point with the collector of
Connected to one end of the primary coil 9a of the edge transformer 9.
Has been. On the other hand, the emitter and transistor of the transistor TR3
Node N2 which is a connection point with the collector of the transistor TR4
Is connected to the other end of the primary coil 9a. Furthermore
In addition, the node N2 is connected to the deterioration diagnosis device 15.
It FIG. 3 shows the inverter shown in FIGS. 1 and 2.
6 is a waveform diagram for explaining the operation of FIG. Below, this Figure 3
The operation of the inverter 6 will be described with reference to FIG. First, the transistor TR1 connected in series.
And the left side switching circuit constituted by TR2
Focusing on the road (hereinafter referred to as the left arm) LA,
The control signal φA1 given to the base of the transistor TR1
Control signal φA given to the base of the transistor TR2
2 has a complementary relationship with each other as shown in FIG.
There is. Therefore, the transistors TR1 and TR2 are
Alternately turns on and off, and turns on at the same time
There is no such thing. On the other hand, the transistor TR3 connected in series
And the switching circuit on the right side composed of TR4 (hereinafter
The same applies to RA (below, referred to as a light arm). Sanawa
The transistors TR3 and TR4 have complementary control
The signals φB1 and φB2 are turned on and off alternately.
Repeatedly, it is not turned on at the same time. The transistors TR1 and TR3 are turned on.
And the transistors TR2 and TR4 are off.
Or when transistors TR1 and TR3 are off
And the transistors TR2 and TR4 are turned on.
At this time, no potential difference is generated between the nodes N1 and N2, and
The primary side voltage V1 of the edge transformer 9 becomes 0V. Also,
Transistors TR1 and TR4 are on and
When transistors TR2 and TR3 are off, the node
N1 is a positive power supply voltage and node N2 is a negative power supply voltage.
It Therefore, at this time, the primary side voltage of the isolation transformer 9
V1 becomes the maximum positive voltage Vmax. On the contrary, Transis
Transistors TR1 and TR4 are off and the transistor T
Node N1 is negative when R2 and TR3 are on
Power supply voltage of node N2 becomes positive power supply voltage
The primary side voltage V1 of the lance 9 becomes the maximum negative voltage −Vmax.
Become. As described above, the output voltage of the inverter 6
That is, the primary side voltage V1 of the isolation transformer 9 is
3 depending on the combination of the ON / OFF states of TR1 to TR4
Voltage values of Vmax, 0V, and -Vmax can be taken. did
Therefore, the left arm L is controlled by the inverter control circuit 8.
It is necessary to properly shift the operating states of A and the light arm RA.
And the AC pulse of a non-uniform width rectangular wave as shown in FIG.
The voltage V1 can be obtained. The AC pulse voltage V1 is a rectangular wave of non-uniform width.
Therefore, many harmonics are included. This harmonic is
Filter 10 and remove only the fundamental wave.
Therefore, a sine wave AC V2 as shown in FIG. 3 can be obtained.
It It should be noted that the inverter control circuit 8 controls the AC pulse
If the pulse width of the pressure V1 is controlled appropriately, the sine wave AC voltage V
Constant voltage control that keeps the effective value of 2 constant
It It should be noted that as shown in the enlarged view at the bottom of FIG.
The control signals φB1 and φB2 are
Both the transistors TR3 and TR4 are turned off.
I have time. This is the transistor TR3 and
Due to delay of switching operation of TR4,
To prevent TR3 and TR4 from turning on at the same time
It is. This means that the control signals φA1 and φA2
The same is true for the transistor TR1.
And TR2 are prevented from turning on at the same time.
It By the way, the components of the inverter control circuit 8 are determined.
When the number gradually changes due to deterioration over time, each control signal φ
Timing relation and voltage of A1, φA2, φB1, φB2
There is a gap in the level. Also, in the inverter 6
The operating speeds of the respective transistors TR1 to TR4 are also repeated.
It is considered that the surge voltage gradually deteriorates if it enters.
It Due to these causes, the needle-shaped pulse is
May occur or an intermediate voltage (between the maximum voltage and the minimum voltage
Output). Output of intermediate voltage
The transistors above and below the arm are on at the same time
Occasionally, and when it is on for a short time at the same time
It becomes a needle-like pulse. As another abnormal example, the inverter 6
The switching speed of the transistors that make up the
And the inclination when the arm output reverses becomes loose, etc.
There is also the phenomenon of. Grasping those signs, it is suitable for major failure
It is the deterioration diagnostic equipment that captures the fact that deterioration is progressing.
This is the role of the device 15. FIG. 4 shows the left arm LA (or the right arm).
Arm RA) typical example of abnormal waveform included in output
It is a waveform diagram shown. It should be noted that FIG. 4 shows the negative power supply line L2.
The potential of the node N1 (or node N2) with respect to
It is used as the output of the LA and RA. Shown in Figure 4 (a)
The arm output is needle-shaped with an intermediate voltage as an abnormal waveform.
The abnormal pulse P1 is included. Also shown in FIG.
The arm output is an abnormal waveform with an edge part of the normal pulse.
The intermediate voltage output P2 is included in the minute. In addition, FIG.
The arm output shown in is the maximum voltage Vmax as an abnormal waveform.
An abnormal pulse P3 having Before giving a detailed description of the deterioration diagnostic device 15.
In addition, referring to FIG. 5, an abnormal waveform in the deterioration diagnosis device 15
The detection principle of is explained. First, the maximum voltage V of the arm output
Between max and the minimum voltage 0V, at least two lines
Threshold voltage Va, Vb (Vmax> Va> Vb> 0V)
Is set. The deterioration diagnosing device 15 has an arm output voltage level.
Bell passes threshold voltage Vb and then Va
Until the time width (or the threshold voltage Va has passed)
Time width from passing to Vb) Tw (or T
w ') is measured. Then, this measured time width Tw
(Or Tw ′) is compared with a preset reference time width.
In comparison, the measured time width Tw (or Tw ′) is
If it is longer than the set reference time width,
Abnormal waveform or intermediate voltage at the edge of the pulse
It is determined that the output P2 (or P2 ') is generated. Next, the deterioration diagnosing device 15 is set within a predetermined time.
The output voltage level of the arm passes the threshold voltage Va.
Individually measure the number of times and the number of times the threshold voltage Vb is passed
To do. Then, the two measured values are compared, and the two measured values do not match.
In this case, the arm output has an abnormal waveform, that is, the threshold voltage V.
includes an abnormal pulse P1 having a level between a and Vb
It is determined that Next, the deterioration diagnosing device 15 is set within the predetermined time.
The output voltage level of the arm passes the threshold voltage Va.
Measure the number of times. Then, this measured number of times is set in advance.
If it is more than the specified reference frequency value, the abnormal waveform
The abnormal power having a level higher than the threshold voltage Va.
It is determined that Ruth P3 is included. FIG. 6 shows the structure of the deterioration diagnosis device 15 shown in FIG.
It is a block diagram showing an example of composition. In addition, inferiority shown in FIG.
The computerized diagnosis device detects deterioration only by the hardware circuit.
It is configured to In FIG. 6, the output of the right arm RA
Are provided to level detectors 201 and 202. Les
The bell detector 201 includes a threshold level setting circuit 203.
Is given a threshold voltage Va. Also the level
From the threshold level setting circuit 203 to the detector 202,
The threshold voltage Vb is given. Level detector 20
The detection outputs of 1 and 202 are the counter 20
4 and 205. Counter 204 counter
Output is provided to comparators 206 and 207. Mosquito
The count output of the counter 205 is given to the comparator 207.
Be done. The comparator 206 is provided with a reference number setting circuit 208.
A reference count value is given. Of the comparators 206 and 207
The output is given to the OR gate 209. The oscillator 210 is a pulse signal of a constant frequency.
Is output. The oscillation frequency of the oscillator 210 is
A value that is sufficiently larger than the maximum frequency of the output pulse of RA
Has been selected. The output pulse of the oscillator 210 is reset
It is given to the pulse generation circuit 211. From reset pulse
The raw circuit 211 includes, for example, a frequency divider, of the oscillator 210.
Create a reset pulse from the output pulse. This reset
Pulse is provided to counters 204 and 205.
It The outputs of the level detectors 201 and 202 are
The timer counter 21 is used as an enable signal.
2 and 213. In addition, the level detector 20
The outputs of 1 and 202 are reset signals, respectively.
And provided to the timer counters 213 and 212.
Further, the timer counters 212 and 213 have oscillations.
The oscillation output of the instrument 210 is given as a clock signal.
It Count output of timer counters 212 and 213
Are provided to comparators 214 and 215, respectively.
It The comparators 214 and 215 have reference time width setting times.
The reference time width is given from the path 216. Comparator 214
The outputs of and 215 are provided to OR gate 209. The output of the OR gate 209 is the counter 21.
Given to 7. This counter 217 has a reset signal
Set at regular time intervals (for example, 1 hour)
It The count output of the counter 217 is displayed by the display device 21.
8, given to recording device 219 and alarm device 220
It Next, the operation of the deterioration diagnosing device shown in FIG. 6 will be explained.
Reveal The level detector 201 outputs the light arm RA.
When the force level matches the threshold voltage Va, the detection pulse
Output. Similarly, the level detector 202 is
The output level of the arm RA matches the threshold voltage Vb
Sometimes it outputs a detection pulse. The counter 204 has a level
By counting the detection pulses of the detector 201.
And the output level of the write arm RA is the threshold voltage Va.
Count the number of times you pass. The counter 205 is
By counting the detection pulses of the bell detector 202,
And the output level of the write arm RA is the threshold voltage Vb.
Count the number of times you pass. Counter 204 and
205 is a reset pulse from the reset pulse generation circuit 211.
Pulse is reset every predetermined period. Cow
The counter 204 will return its count result when it is reset.
Is output to the comparators 206 and 207. Similarly, cow
Counter 205, when it is reset
Is output to the comparator 207. The comparator 206 counts the counter 204.
Value (the output level of the right arm RA is
Number of times threshold voltage Va has been passed) and reference number setting circuit 2
08 compared with the reference number of times value,
The abnormal waveform detection pulse is output. Where the reference number
The output waveform of the write arm RA is positive in the setting circuit 208.
If the output level of the right arm RA is
The reference number of times of passing the high voltage Va is set.
It Therefore, if the comparator 206 detects a mismatch,
In this case, the abnormal pulse shown in FIG.
P3 is included. The comparator 207 counts the counter 204.
Value (the output level of the right arm RA is
The number of times the threshold voltage Va has been passed) and the counter 205
Unt value (the output level of the right arm RA within a predetermined period
Of the threshold voltage Vb), and
An abnormal waveform detection pulse is output when there is a match. Lighter
If the output waveform of the RAM RA is normal, the counter 204
And the count value of the counter 205 always match.
Should be. However, the output wave of the light arm RA
If the shape contains an intermediate level abnormal pulse P1
Indicates that the count value of the counter 205 is the counter 204
More than the count value of. Therefore, the comparator 20
7 counts the count values of the counters 204 and 205 with each other.
To the output waveform of the light arm RA by comparing
It is detected whether or not the abnormal pulse P1 is included.
It The timer counter 212 is a light arm R.
When the output level of A passes the threshold voltage Va,
It is started by the detection output of the bell detector 201,
Counts the clock signal given from the shaker 210
It Then, the timer counter 212 has the right arm R
When the output level of A passes the threshold voltage Vb,
It is reset by the detection output of the bell detector 202.
Therefore, the timer counter 212 has the right arm R
After the output level of A has passed the threshold voltage Va,
Time width Tw 'before passing a certain value voltage Vb (see FIG. 5)
Is being measured. On the other hand, the timer counter 213
The output of the write arm RA has passed the threshold voltage Vb
Sometimes start by detection output of level detector 202
And counts the clock signal from the oscillator 210
It Then, the timer counter 213 indicates that the light arm R
When the output level of A passes the threshold voltage Va,
It is reset by the detection output of the bell detector 201.
Therefore, the timer counter 213 has the right arm R
After the output level of A has passed the threshold voltage Vb,
Time width Tw before passing the threshold voltage Va (see FIG. 5)
Is being measured. The output waveform of the light arm RA is a rectangular wave.
Therefore, timer counters 212 and 213
Each time width measured should be almost zero. However
However, the output waveform of the light arm RA is a pulse edge.
In the part, the intermediate voltage output P2 as shown in FIG. 5 or
If P2 'is included, the timer counter 213 or 212
The time width Tw or Tw 'measured by
become longer. The reference time width setting circuit 216 includes a pulse error
The standard time width that can be allowed in the
There is. The comparator 214 has a timer counter 212.
Abnormal waveform detection when the count value exceeds the above reference time width
Output the output pulse. Similarly, the comparator 215 has a timer
When the count value of the counter 213 exceeds the reference time width
An abnormal waveform detection pulse is output to. That is, the comparator 2
14 is the trailing edge of the output pulse of the write arm RA.
Whether or not there is an intermediate voltage output P2 'in the edge portion
Is being detected. Further, the comparator 215 is a light arm R.
At the rising edge of the output pulse of A,
It is detected whether or not the pressure output P2 exists. Comparators 206, 207, 214 and 21
The abnormal waveform detection pulse output from the OR gate 5 is the OR gate 2
It is given to the counter 217 via 09 and is counted.
It This counter 217 has a fixed time (for example, 1 o'clock).
It is reset every time). Then, the
The count value is displayed on the display device 218, and the recording device 219 is displayed.
Recorded in. Therefore, the user can
If you look at the displayed contents and the recorded contents of the recording device 219,
How much the output waveform of the light arm RA is within a certain time
It is possible to clearly know whether or not the abnormal waveform is generated.
That is, the inverter 6 or the inverter control circuit 8
The progress of deterioration can be quantitatively grasped. Further, the alarm device 220 has a counter 217.
When the count value of exceeds the predetermined value,
Data 6 or inverter control circuit 8 causes severe deterioration.
It judges that it is working and issues an alarm. Therefore,
The user can predict the failure of the UPS before it fails.
You can know and wait for such
It is possible to replace the controller 6 or the inverter control circuit 8.
Wear. FIG. 7 shows another example of the deterioration diagnostic device 15 shown in FIG.
3 is a block diagram showing a configuration example of FIG. In addition,
The computerized diagnosis device diagnoses deterioration by program control.
It is configured to In FIG. 7, the output of the write arm RA
Is given to the A / D converter 301, and a fixed sampling
It is converted into a digital signal in a cycle. A / D converter 30
The output of 1 is the waveform memory 302 and the data processing device 3
Given to 03. The data processing device 303 is a micro
Computer, personal computer, dedicated DSP
(Digital signal processor) etc.
However, in this embodiment, a microcomputer is used.
Is configured. That is, the data processing device 303
Is a CPU 303a, a ROM 303b, and a RAM 30
3c and. The ROM 303b includes the later-described FIGS.
Various operation programs according to the flow chart as shown in 1.
The ram is stored. The CPU 303a is the ROM 30
It operates according to the operation program stored in 3b, and A /
The data provided from the D converter 301 is processed. RA
M303c is required for data processing of CPU303a
Various data are stored. The CPU 303a further includes a display device 31.
8, the recording device 319 and the alarm device 320 are connected
There is. These display device 318, recording device 319 and alarm
The configuration of the reporting device 320 is the same as that of the display device 2 shown in FIG.
18, the configuration of the recording device 219 and the alarm device 220
It is like. Next, the flow charts shown in FIGS.
The operation of the deterioration diagnosis device shown in FIG. 7 will be described with reference to FIG.
It First, in step S1 of FIG.
The current time t is set as the start time t0, and the deterioration progresses.
The deterioration degree index value Z indicating the degree is cleared. Next,
Proceed to step S2 to detect anomalies within the reference cycle.
It Details of the subroutine of step S2 are shown in FIG.
It is shown in FIG. First, in step S201 of FIG.
The CPU 303a is output from the A / D converter 301
Input sampling data and enter the waveform memory 302 or
It is stored in the RAM 303c. Next, step S202.
Then, the CPU 303a changes the sampling data to
Based on this, the reference period is detected. Where the reference period and
Means the period Ts shown in FIG. Lighter
The output waveform of the RA is a non-uniform width rectangular wave as described above.
Therefore, the pulse width fluctuates in individual pulse units,
When observed with a continuous pulse train, its waveform has a constant period.
The same changes are repeated every time. The reference period Ts is
It indicates the repetition cycle of. Next, in step S203, a total abnormality occurs.
Number of times Z0, first abnormality count value Z1, second abnormality count value
Z2, third abnormal count value Z3, passing count values Ka and K
Both b are cleared. Where the first abnormal count value
Z1 is an abnormal count value related to the abnormal pulse P1 shown in FIG.
And the second abnormality count value Z2 is shown in FIG.
Intermediate voltage outputs P2 and P2 'at the edge of the
Shows the number of abnormalities related to
Z3 is related to the abnormal pulses P1 and P3 shown in FIG.
Indicates the value of the number of abnormalities. In addition, the total abnormality count value Z0
Is a weighting calculation of the first to third abnormality count values Z1 to Z3.
And linearly combined to obtain. Passage value Ka
Indicates that the output level of the write arm RA is the threshold voltage Va.
Indicates the number of times the vehicle has passed. Pass count value Kb is light
The output level of the arm RA has passed the threshold voltage Vb.
Shows the number of times. Next, in step S204, the CPU 3
03a is the first sample in the above-mentioned reference period Ts.
Ringing value V (0) as waveform memory 302 or RAM 303.
Read from c. In addition, the sample in the reference period Ts
The number of rings is N. Therefore, the waveform memory 302 or
The RAM 303c has a sump corresponding to one cycle Ts.
N sampling values V (0) to V as ring values
(N-1) is stored. Next, in step S205, the status flag is
The initial setting of the group fp is performed. As described below, the reference circumference
Abnormality detection within the period is performed by N sampling values V (0) to V
(N-1) 2 in order from the front along the time axis direction
It is done by comparing. At this time, the same timing
Two time-adjacent sample values compared in
Of these, the state of the sampling value that is earlier in time is the state flag.
Indicated by gp fp. At the initial setting stage, the reference
Based on the first sampling value V (0) in the period, the status flag is
The lag fp is set. That is, V (0)> Va
At this time, 1 is set to the state flag fp. Also, V
When a ≧ V (0) ≧ Vb, 0 is set in the status flag fp.
Is determined. When V (0) <Vb, the status flag f
-1 is set in p. Next, the process proceeds to step S206 and the loop
The numerical value i is set to 1. Next, step S2 in FIG.
07, based on the level of the sampling value V (i)
Thus, the status flag f is set. This status flag f
Are adjacent in time compared with each other at the same timing
Of the two sampled values that were sampled later in time
It is a flag showing the state of the ring value. V (i)> Va
At this time, 1 is set to the state flag f. Va ≧ V
When (i) ≧ Vb, 0 is set to the state flag f.
It When V (i) <Vb, the status flag f is set to -1.
Is determined. Next, in step S208, the status flag is
Judgment of the relationship between the setting value of gp
To be done. The state is determined by the determination processing in step S208.
Relationship between set value of flag fp and set value of status flag f
Is classified into 5 cases, and for each classified case
Predetermined processing is performed. Predetermined processing executed at this time
The details of will be described later. Then, in step S213
Then, the setting value of the status flag f is set to the status flag fp.
Be done. Two samplers that are compared at the same time
The combination of the group value is shifted by 1 in the time axis direction.
become. Next, in step S214, the loop count value
i is incremented by 1. Next, step S2
15, the loop count value i is within a reference period Ts
It is determined whether or not the number of pulling N matches. In agreement
If not, the processes of steps S207 to S215 are repeated.
Returned and executed. Next, the classification is performed in step S208 described above.
The processing executed in each case will be described below. (1) When fp × f = −1 In this case, the two are compared at the same time as shown in FIG.
Of the two sampling values, the previous sampling value V (i
-1) is in the upper zone (voltage higher than the threshold voltage Va)
Zone) and the later sampling value V (i) is lower
Part zone (voltage zone lower than threshold voltage Vb)
Or the previous sampling value V (i-1) is below
Sampling value V (i) is higher than
It will be in the club zone. That is, the later sample
Ringing value V (i) to the previous sampling value V (i-1)
On the other hand, in the middle zone (the voltage between the threshold voltages Va and Vb)
It is changing so as to penetrate through the pressure zone). In the above case, the output level of the right arm RA
The threshold voltage Va and Vb.
Therefore, in step S209, the passing count values Ka and K
Both b are incremented by 1. In addition,
In step S209, the direction flag fs is reset and the collision
The incoming loop count value j is cleared. The direction flag f
s is the sampling value V (i) rushes into the intermediate zone.
A flag that indicates the direction (increase or decrease)
It is Gu. In addition, the inrush loop count value j is
The loop count value when the value enters the middle zone
Shows. When the operation of step S209 ends, the scan
The process proceeds to step S213. (2) When fp = 1 and f = 0 In this case, as shown on the left side of FIG.
The value V (i-1) is in the upper zone and
The ring value V (i) will be in the intermediate zone. Shi
Therefore, in this case, the output level of the light arm RA is
Since the threshold voltage Va is passed, the process proceeds to step S210.
The pass count value Ka is incremented by one.
Further, in step S210, the direction flag fs is decreased.
-1, which indicates the direction, is set. Furthermore, step S210
Then, the value of the loop count i is set to the inrush loop count value j.
Be done. When the process of step S210 ends, the step
The process proceeds to S213. (3) When fp = -1 and f = 0 In this case, as shown on the right side of FIG.
Value V (i-1) is in the lower zone, and
The sampling value V (i) must be in the intermediate zone.
It Therefore, in this case, the output level of the write arm RA is
Since the bell passes the threshold voltage Vb, step S2
11, the number of passages value Kb is incremented by 1.
Be done. In step S211, the direction flag fs is set to
1 indicating the increasing direction is set. Further, step S2
In 11, the loop count value i is set to the inrush loop count value j
To be done. When the process of step S211 ends, the step
The process proceeds to step S213. (4) When fp = 0 and f ≠ 0 In this case, as shown in FIG.
(I-1) is in the intermediate zone and is a later sample
Value V (i) must be in the upper or lower zone.
Becomes At this time, the state flag f and the direction flag fs
Changes in the output waveform of the right arm RA
There are two cases. First, in the case of f = fs, as shown in FIG.
Sea urchin, direction of entry into the middle zone and escape from the middle zone
Both directions are the same (increase or decrease)
Become. At this time, the value of i-j is a predetermined reference time
Width (In this embodiment, "3" is set as the reference time width.
The output waveform of the light arm RA,
5 includes the intermediate voltage output P2 or P2 'of FIG.
Therefore, the second abnormality is detected in step S212a.
The count value Z2 is incremented by 1. On the other hand, when f = -fs, it is shown in FIG.
The direction of entry into the intermediate zone and the exit from the intermediate zone.
The outgoing direction is different. In this case, lighter
The output waveform of the mu RA must include the abnormal pulse P1 of FIG.
Therefore, in step S212a, the first abnormal
The numerical value Z1 is incremented by 1. Next, in step S212b, the direction flag is set.
The lag fs is reset and the inrush loop count value j is cleared
To be done. Then, the process proceeds to step S213. (5) When fp = f In this case, the previous sampling value V (i-1) and the subsequent sampling value
The pulling values V (i) are both within the same zone.
Therefore, no processing is performed, and the processing of step S214 is directly performed.
Proceed to. All samples in one cycle Ts
The above-mentioned processing is completed for the grouping values V (0) to V (N-1).
Then, i = N is determined in step S215, and
It proceeds to step S216. In step S216,
The number of passages Ka of a certain value voltage Va is a predetermined reference passage
It is determined whether or not the number of times K matches. In case of disagreement
Indicates that the output waveform of the write arm RA is the abnormal pulse P in FIG.
Since 3 is included, the first
The abnormal count value Z3 of 3 is incremented by 1. In step S216 described above,
If a match with the reference passage count value K is determined, or
When the processing of step S217 is completed, the next step S
Proceed to 218, and this time, the number K of passages of the threshold voltage Vb
b is determined to be equal to a predetermined reference passage number value K.
Be done. If they do not match, the output waveform of the write arm RA is
The abnormal pulse P1 or P3 of FIG. 5 is included.
Therefore, in step S219, the third abnormality count value Z3
It is incremented by 1. At step S218, the passing count value Kb and the reference
If a match with the passing count value K is determined, or if the step
If the process of step S219 is completed, then step S22 is performed.
The process proceeds to 0 and the total abnormality count value Z0 is calculated. This total
The abnormality count value Z0 is the first abnormality count value Z1 or the second abnormality count.
The weighted value Z2 and the third abnormal value Z3 are calculated.
It is obtained by linear combination. That is, the total number of times
The value Z0 is calculated by the following equation. Z0 = αZ1 + βZ2 + γZ3 In the above equation, α, β, γ are coefficient values for weighting
Is. In this way, the weighting calculation causes the total abnormality.
The number of rotations Z0 is determined by the first to third abnormalities.
Invar evaluated by the numbers Z1 to Z3
The degree of deterioration of the inverter 6 or the inverter control circuit 8 is 1: 1.
Because it does not correspond to. Therefore, each difference
Considering the degree of deterioration indicated by the number of times Z1 to Z3, the weight
By performing the addition calculation, the total
The total abnormality count value Z0 is calculated. The process of step S220 is completed.
Then, the process returns to the main routine of FIG. First,
In step S3, the total abnormality count value Z0 is 0.
It is determined whether or not. When the total error count value Z0 is not 0
That is, if some abnormal waveform occurs within the reference period,
If so, the process proceeds to step S4 and the deterioration degree index value Z is set.
The total count value Z0 is added. After that, in step S5
Go to processing. On the other hand, if the total abnormality count value Z0 is 0,
That is, there is no waveform abnormality within the reference period
If it does, skip step S4 and directly
Go to step S5. At step S5, the current time t and
The difference from the start time t0 is a predetermined time T (
It is judged whether or not it has exceeded 1 hour. The difference is
When it is shorter than the fixed time T, steps S2 to S4 are performed again.
The operation of is repeated. On the other hand, current time t and start time
If the difference from the time t0 exceeds the fixed time T, step S
Proceed to the process of 6. In step S6, the deterioration degree index value Z is displayed.
Displayed on the display device 318 and recorded on the recording device 319.
It Therefore, the user is
By looking at the magnitude or rate of increase of the degree index value Z,
How much the inverter 6 and the inverter control circuit 8 deteriorate
You can quantitatively know if it is progressing. Next, in step S7, the deterioration degree index
It is determined whether the value Z exceeds the predetermined allowable value M.
Be refused. When the deterioration index value Z is smaller than the allowable value M
If so, the operations of steps S1 to S6 are repeated again.
On the other hand, when the deterioration degree index value Z exceeds the allowable value M,
Proceed to step S8, and an alarm is issued by the alarm device 320.
To be That is, the inverter 6 or the inverter control
It is judged that the deterioration of the circuit 8 has progressed unacceptably.
This is notified to the user. Therefore use
Before the uninterruptible power supply completely fails,
6 and the inverter control circuit 8 are severely deteriorated.
The parts can be replaced before a failure occurs.
It becomes Noh. In the embodiment described above, the uninterruptible power supply is used.
6 used for power source device and inverter control
The degree of deterioration of the circuit 8 is diagnosed.
The invention is not limited to this, and other electronic circuits
The abnormal waveform of the can be detected to diagnose the degree of deterioration.
Of course it is possible. Further, in the above embodiment, the deterioration diagnosis device 15
Is an abnormality in the output signal of an electronic circuit that outputs a rectangular wave pulse
Detect the waveform and diagnose the degree of deterioration
However, the present invention is not limited to rectangular wave pulse
Waveform detection for electronic circuits that output sine waves
It can also be applied to diagnose the degree of progress of deterioration and deterioration. [0089] As described above, the deterioration diagnosis method of the present invention.
According to the device and the device, the degree of deterioration of the electronic circuit can be quantitatively determined.
Since it can be obtained as an index value,
Can clearly know the progress of deterioration of electronic circuits,
It is possible to eliminate unnecessary replacement of electronic circuits. Also,
Since it is possible to accurately predict the occurrence of failures, it is necessary to replace electronic circuits.
The system can be
It is possible to prevent the worst situation that abnormalities spread to the whole
it can. The present invention also provides an abnormal waveform detection method and device.
According to the above, the abnormal waveform in the signal can be detected extremely accurately.
And use the detection results effectively for the above-mentioned deterioration diagnosis.
You can

【図面の簡単な説明】 【図1】この発明の一実施例に係る劣化診断装置を備え
た無停電電源装置の構成を示す回路図である。 【図2】図1に示すインバータのより詳細な構成を示す
回路図である。 【図3】図1および図2に示すインバータの動作を説明
するための波形図である。 【図4】図1および図2のインバータの出力中に含まれ
る異常波形の典型的な例を示す波形図である。 【図5】図1に示す劣化診断装置における異常波形の検
出原理を説明するための波形である。 【図6】図1に示す劣化診断装置の構成の一例を示すブ
ロック図である。 【図7】図1に示す劣化診断装置の構成の他の例を示す
ブロック図である。 【図8】図7に示す劣化診断装置の動作を説明するため
のフローチャートである。 【図9】図8に示すサブルーチンのより詳細な動作の第
1の部分を示すフローチャートである。 【図10】図8に示すサブルーチンのより詳細な動作の
第2の部分を示すフローチャートである。 【図11】図8に示すサブルーチンのより詳細な動作の
第3の部分を示すフローチャートである。 【図12】比較される2つのサンプリング値の遷移状態
の第1の例を示す模式図である。 【図13】比較される2つのサンプリング値の遷移状態
の第2の例を示す模式図である。 【図14】比較される2つのサンプリング値の遷移状態
の第3の例を示す模式図である。 【図15】中間ゾーンに突入する方向と脱出する方向が
同一の場合におけるサンプリング値の遷移状態を示す模
式図である。 【図16】中間ゾーンに突入する方向と脱出する方向と
が逆の場合におけるサンプリング値の遷移状態を示す模
式図である。 【符号の説明】 3: 整流器 4: 平滑回路 6: インバータ 7: 蓄電池 8: インバータ制御回路 9: 絶縁トランス 10: 交流フィルタ 14: 切換スイッチ 15: 劣化診断装置 LA: レフトアーム RA: ライトアーム TR1〜TR4: スイッチング素子としてのトランジ
スタ
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of an uninterruptible power supply device including a deterioration diagnosis device according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a circuit diagram showing a more detailed configuration of the inverter shown in FIG. FIG. 3 is a waveform diagram for explaining the operation of the inverter shown in FIGS. 1 and 2. FIG. 4 is a waveform diagram showing a typical example of an abnormal waveform included in the output of the inverter of FIGS. 1 and 2. 5 is a waveform for explaining the principle of detecting an abnormal waveform in the deterioration diagnostic device shown in FIG. FIG. 6 is a block diagram showing an example of a configuration of a deterioration diagnosis device shown in FIG. FIG. 7 is a block diagram showing another example of the configuration of the deterioration diagnostic device shown in FIG. 8 is a flow chart for explaining the operation of the deterioration diagnosis device shown in FIG. 9 is a flowchart showing a first part of a more detailed operation of the subroutine shown in FIG. 10 is a flowchart showing a second part of a more detailed operation of the subroutine shown in FIG. 11 is a flowchart showing a third part of a more detailed operation of the subroutine shown in FIG. FIG. 12 is a schematic diagram showing a first example of transition states of two sampled values to be compared. FIG. 13 is a schematic diagram showing a second example of transition states of two sampled values to be compared. FIG. 14 is a schematic diagram showing a third example of transition states of two sampled values to be compared. FIG. 15 is a schematic diagram showing a transition state of sampling values in the case where the direction of entry into the intermediate zone and the direction of exit thereof are the same. FIG. 16 is a schematic diagram showing a transition state of sampling values in the case where the direction of entry into the intermediate zone and the direction of exit thereof are opposite. [Explanation of Codes] 3: Rectifier 4: Smoothing circuit 6: Inverter 7: Storage battery 8: Inverter control circuit 9: Insulation transformer 10: AC filter 14: Changeover switch 15: Degradation diagnosis device LA: Left arm RA: Right arm TR1 to TR1 TR4: Transistor as switching element

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H02H 7/12 K H02M 7/48 Z 9181−5H (72)発明者 小幡 真澄 京都府京都市南区吉祥院西ノ庄猪之馬場町 1番地 日本電池株式会社内 (72)発明者 梅若 正晴 京都府京都市南区吉祥院西ノ庄猪之馬場町 1番地 日本電池株式会社内 (56)参考文献 特開 平3−35170(JP,A) 特開 昭63−100380(JP,A) 特開 昭62−145173(JP,A) 特開 平3−248064(JP,A) 実開 昭63−81265(JP,U) 実開 平2−26342(JP,U) 実開 平2−26821(JP,U)─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Internal reference number FI Technical display location H02H 7/12 K H02M 7/48 Z 9181-5H (72) Inventor Masumi Obata Minami Kyoto City Kyoto Prefecture Ward, Kichijoin Nishinosho Inonobabacho No. 1 within Japan Battery Co., Ltd. (72) Inventor Masaharu Umewaka No. 1 Kichijoin Nishinosho Inonobabacho No. 1 in Minami-ku, Kyoto City, Kyoto Prefecture Within Japan Battery Co., Ltd. (56) References Special Kaihei 3-35170 (JP, A) JP 63-100380 (JP, A) JP 62-145173 (JP, A) JP 3-248064 (JP, A) Actual break 63-81265 ( JP, U) Actual flat 2-26342 (JP, U) Actual flat 2-26821 (JP, U)

Claims (1)

【特許請求の範囲】 【請求項】 振幅,最大レベルおよび最小レベルが常
に一定な信号中に生じる異常波形を検出する装置であっ
て、 前記信号の最大レベルと最小レベルとの間に少なくとも
2つのしきい値を設定するしきい値設定手段と、 所定期間内に前記信号のレベルが各前記しきい値を通過
する回数を検出する通過回数検出手段と、 前記通過回数検出手段によって検出された各しきい値に
ついての通過回数を相互に比較することにより、前記信
号中の異常波形を検出する手段とを備える、異常波形検
出装置。 【請求項】 振幅,最大レベルおよび最小レベルが常
に一定な信号中に生じる異常波形を検出する装置であっ
て、 前記信号の最大レベルと最小レベルとの間にしきい値を
設定するしきい値設定手段と、 所定期間内に前記信号のレベルが前記しきい値を通過す
る回数を検出する通過回数検出手段と、 前記所定期間内における基準通過回数を設定する基準通
過回数設定手段と、 前記通過回数検出手段によって検出された通過回数と前
記基準通過回数設定手段によって設定された基準通過回
数とを比較することにより、前記信号中の異常波形を検
出する手段とを備える、異常波形検出装置。 【請求項3】 出力信号の波形に基づいて電子回路の劣
化を診断する装置であって、 前記電子回路の出力信号中の異常波形を検出するための
異常波形検出手段と、 前記異常波形検出手段の異常波形検出回数を計数する計
数手段とを備え、 前記異常波形検出手段は、 前記電子回路の出力信号の最大レベルと最小レベルとの
間に少なくとも2つ のしきい値を設定するしきい値設定
手段と、 前記電子回路の出力信号のレベルが各前記しきい値間を
通過するときの時間幅を検出する時間幅検出手段と、 基準時間幅を設定する基準時間幅設定手段と、 前記時間幅検出手段によって検出された時間幅と前記基
準時間幅設定手段によって設定された基準時間幅とを比
較することにより、前記電子回路の出力信号中の異常波
形を検出する手段とを含み、 前記計数手段の計数結果を前記電子回路の劣化の診断指
標とすることを特徴とする、電子回路の劣化診断装置。 【請求項4】 出力信号の波形に基づいて電子回路の劣
化を診断する装置であって、 前記電子回路の出力信号中の異常波形を検出するための
異常波形検出手段と、 前記異常波形検出手段の異常波形検出回数を計数する計
数手段とを備え、 前記異常波形検出手段は、 前記信号の最大レベルと最小レベルとの間に少なくとも
2つのしきい値を設定するしきい値設定手段と、 所定期間内に前記電子回路の出力信号のレベルが各前記
しきい値を通過する回数を検出する通過回数検出手段
と、 前記通過回数検出手段によって検出された各しきい値に
ついての通過回数を相互に比較することにより、前記電
子回路の出力信号中の異常波形を検出する手段とを含
み、 前記計数手段の計数結果を前記電子回路の劣化の診断指
標とすることを特徴とする、電子回路の劣化診断装置。 【請求項5】 出力信号の波形に基づいて電子回路の劣
化を診断する装置であって、 前記電子回路の出力信号中の異常波形を検出するための
異常波形検出手段と、 前記異常波形検出手段の異常波形検出回数を計数する計
数手段とを備え、 前記異常波形検出手段は、 前記電子回路の出力信号の最大レベルと最小レベルとの
間にしきい値を設定 するしきい値設定手段と、 所定期間内に前記電子回路の出力信号のレベルが前記し
きい値を通過する回数を検出する通過回数検出手段と、 前記所定期間内における基準通過回数を設定する基準通
過回数設定手段と、 前記通過回数検出手段によって検出された通過回数と前
記基準通過回数設定手段によって設定された基準通過回
数とを比較することにより、前記電子回路の出力信号中
の異常波形を検出する手段とを含み、 前記計数手段の計数結果を前記電子回路の劣化の診断指
標とすることを特徴とする、電子回路の劣化診断装置。 【請求項6】 出力信号の波形に基づいて電子回路の劣
化を診断する装置であって、 前記電子回路の出力信号中の異常波形を検出するための
異常波形検出手段と、 前記異常波形検出手段の異常波形検出回数を計数する計
数手段とを備え、 前記異常波形検出手段は、 前記電子回路の出力信号の最大レベルと最小レベルとの
間に第1および第2のしきい値を設定するしきい値設定
手段と、 前記電子回路の出力信号のレベルが前記第1および第2
のしきい値間に入る方向とその直後に前記第1および第
2のしきい値間から出る方向との一致不一致に基づい
て、前記電子回路の出力信号中の異常波形を検出する手
段とを含み、 前記計数手段の計数結果を前記電子回路の劣化の診断指
標とすることを特徴とする、電子回路の劣化診断装置。 【請求項7】 出力信号の波形に基づいて電子回路の劣
化を診断する装置であって、 前記電子回路の出力信号中の異常波形を検出するための
異常波形検出手段と、 前記異常波形検出手段の異常波形検出回数を計数する計
数手段と、 予め定められた一定時間ごとの前記計数手段の計数結果
が所定の値を越えたときに前記電子回路が異常であると
判定する判定手段とを備える、電子回路の劣化診断装
置。 【請求項】 振幅,最大レベルおよび最小レベルが常
に一定な信号中に生じる異常波形を検出する方法であっ
て、 前記信号の最大レベルと最小レベルとの間に少なくとも
2つのしきい値を設定し、所定期間内に前記信号のレベ
ルが各前記しきい値を通過する回数を検出し、この検出
された各しきい値についての通過回数を相互に比較する
ことにより、前記信号中の異常波形を検出することを特
徴とする、異常波形検出方法。 【請求項】 振幅,最大レベルおよび最小レベルが常
に一定な信号中に生じる異常波形を検出する方法であっ
て、 前記信号の最大レベルと最小レベルとの間にしきい値を
設定し、所定期間内に前記信号のレベルが前記しきい値
を通過する回数を検出し、この検出された通過回数と予
め設定された所定期間内の基準通過回数とを比較するこ
とにより、前記信号中の異常波形を検出することを特徴
とする、異常波形検出方法。 【請求項10】 出力信号の波形に基づいて電子回路の
劣化を診断する方法であって、 前記電子回路の出力信号の最大レベルと最小レベルとの
間に少なくとも2つのしきい値を設定し、前記電子回路
の出力信号のレベルが各前記しきい値間を通過するとき
の時間幅を検出し、この検出された時間幅と予め設定さ
れた基準時間幅とを比較することにより、前記電子回路
の出力信号中の異常波形を検出し、その異常波形検出回
数を計数することにより、前記電子回路の劣化の診断指
標とすることを特徴とする、電子回路の劣化診断方法。 【請求項11】 出力信号の波形に基づいて電子回路の
劣化を診断する方法であって、 前記信号の最大レベルと最小レベルとの間に少なくとも
2つのしきい値を設定し、所定期間内に前記電子回路の
出力信号のレベルが各前記しきい値を通過する回数を検
出し、この検出された各しきい値についての通過回数を
相互に比較することにより、前記電子回路の出力信号中
の異常波形を検出し、その異常波形検出回数を計数する
ことにより、前記電子回路の劣化の診断指標とすること
を特徴とする、電子回路の劣化診断方法。 【請求項12】 出力信号の波形に基づいて電子回路の
劣化を診断する方法であって、 前記電子回路の出力信号の最大レベルと最小レベルとの
間にしきい値を設定し、所定期間内に前記電子回路の出
力信号のレベルが前記しきい値を通過する回数を検出
し、この検出された通過回数と予め設定された所定期間
内の基準通過回数とを比較することにより、前記電子回
路の出力信号中の異常波形を検出し、その異常波形検出
回数を計数することにより、前記電子回路の劣化の診断
指標とすることを特徴とする、電子回路の劣化診断方
法。 【請求項13】 出力信号の波形に基づいて電子回路の
劣化を診断する方法であって、 前記電子回路の出力信号の最大レベルと最小レベルとの
間に第1および第2のしきい値を設定し、前記電子回路
の出力信号のレベルが前記第1および第2のしきい値間
に入る方向とその直後に前記第1および第2のしきい値
間から出る方向との一致不一致に基づいて、前記電子回
路の出力信号中の異常波形を検出し、その異常波形検出
回数を計数することにより、前記電子回路の劣化の診断
指標とすることを特徴とする、電子回路の劣化診断方
法。 【請求項14】 出力信号の波形に基づいて電子回路の
劣化を診断する方法であって、 前記電子回路の出力信号中の異常波形を検出し、その異
常波形検出回数を計数し、予め定められた一定時間ごと
の計数結果が所定の値を越えたときに前記電子回路が異
常であると判定することを特徴とする、電子回路の劣化
診断方法。
Claim: What is claimed is: 1. An apparatus for detecting an abnormal waveform occurring in a signal in which the amplitude, the maximum level and the minimum level are always constant, wherein at least 2 is provided between the maximum level and the minimum level of the signal. Threshold value setting means for setting one threshold value, passage number detecting means for detecting the number of times the level of the signal passes each threshold value within a predetermined period, and passage number detecting means An abnormal waveform detecting device, comprising means for detecting an abnormal waveform in the signal by mutually comparing the number of times of passage for each threshold value. 2. An apparatus for detecting an abnormal waveform occurring in a signal whose amplitude, maximum level and minimum level are always constant, the threshold value being set between the maximum level and the minimum level of the signal. Setting means; passage number detecting means for detecting the number of times the level of the signal passes the threshold value within a predetermined period; reference passage number setting means for setting a reference passage number within the predetermined period; An abnormal waveform detecting device comprising: means for detecting an abnormal waveform in the signal by comparing the number of passages detected by the number of times detecting means with the reference number of passages set by the reference number of passages setting means. 3. An electronic circuit is inferior based on the waveform of the output signal.
Which is a device for diagnosing malfunction, for detecting an abnormal waveform in an output signal of the electronic circuit.
Abnormal waveform detection means and a counter for counting the number of abnormal waveform detections of the abnormal waveform detection means
And an abnormal waveform detecting means for detecting the maximum level and the minimum level of the output signal of the electronic circuit.
Threshold setting for setting at least two threshold between
Means and the level of the output signal of the electronic circuit is between the threshold values.
Time width detection means for detecting the time width when passing, reference time width setting means for setting the reference time width, time width detected by the time width detection means and the base
Compare with the reference time width set by the quasi-time width setting means.
By comparing, an abnormal wave in the output signal of the electronic circuit
Shape detecting means, and a counting result of the counting means is used for diagnosing the deterioration of the electronic circuit.
An electronic circuit deterioration diagnosing device characterized by being used as a target. 4. An electronic circuit is inferior based on the waveform of the output signal.
Which is a device for diagnosing malfunction, for detecting an abnormal waveform in an output signal of the electronic circuit.
Abnormal waveform detection means and a counter for counting the number of abnormal waveform detections of the abnormal waveform detection means
Number means, and the abnormal waveform detection means is at least between a maximum level and a minimum level of the signal.
Threshold setting means for setting two threshold values, and the level of the output signal of the electronic circuit within the predetermined period
Passing number detecting means for detecting the number of passing times of the threshold value
And each threshold value detected by the passage count detecting means
By comparing the number of passes for each
Means for detecting an abnormal waveform in the output signal of the slave circuit.
Only, the counting result of the counting means is used as a diagnostic finger for deterioration of the electronic circuit.
An electronic circuit deterioration diagnosing device characterized by being used as a target. 5. A defective electronic circuit based on a waveform of an output signal.
Which is a device for diagnosing malfunction, for detecting an abnormal waveform in an output signal of the electronic circuit.
Abnormal waveform detection means and a counter for counting the number of abnormal waveform detections of the abnormal waveform detection means
And an abnormal waveform detecting means for detecting the maximum level and the minimum level of the output signal of the electronic circuit.
Threshold setting means for setting a threshold between the level of the output signal of the electronic circuit within a predetermined period.
A passage number detecting means for detecting the number of passages of the threshold value and a reference passage for setting a reference passage number within the predetermined period.
The excess number setting means, and the number of passages detected by the passage number detecting means
Reference pass count set by the reference pass count setting means
By comparing with the number in the output signal of the electronic circuit
And a means for detecting an abnormal waveform of the electronic circuit, the result of counting by the counting means being used as a diagnostic command for deterioration of the electronic circuit.
An electronic circuit deterioration diagnosing device characterized by being used as a target. 6. An electronic circuit is inferior based on the waveform of an output signal.
Which is a device for diagnosing malfunction, for detecting an abnormal waveform in an output signal of the electronic circuit.
Abnormal waveform detection means and a counter for counting the number of abnormal waveform detections of the abnormal waveform detection means
And an abnormal waveform detecting means for detecting the maximum level and the minimum level of the output signal of the electronic circuit.
Threshold setting for setting first and second threshold values between
Means and the level of the output signal of the electronic circuit is the first and second
In the direction between the threshold values and immediately after that
Based on the agreement / disagreement with the direction that goes out between the two thresholds
To detect an abnormal waveform in the output signal of the electronic circuit.
And a diagnostic result for the deterioration of the electronic circuit based on the counting result of the counting means.
An electronic circuit deterioration diagnosing device characterized by being used as a target. 7. An electronic circuit is inferior based on the waveform of an output signal.
Which is a device for diagnosing malfunction, for detecting an abnormal waveform in an output signal of the electronic circuit.
Abnormal waveform detection means and a counter for counting the number of abnormal waveform detections of the abnormal waveform detection means
The number means and the counting result of said counting means every predetermined certain period of time
If the electronic circuit is abnormal when exceeds a predetermined value
Deterioration diagnosis device for electronic circuit, comprising:
Place 8. A method for detecting an abnormal waveform occurring in a signal whose amplitude, maximum level and minimum level are always constant, wherein at least two threshold values are set between the maximum level and the minimum level of the signal. However, by detecting the number of times the level of the signal passes each of the threshold values within a predetermined period, and comparing the number of times of passing for each of the detected threshold values with each other, an abnormal waveform in the signal A method for detecting an abnormal waveform, which comprises detecting 9. amplitude, a method of maximum and minimum levels are always detects an abnormal waveform occurring during a given signal, to set the threshold between the maximum and minimum levels of the signal, a predetermined time period An abnormal waveform in the signal is detected by detecting the number of times the level of the signal passes the threshold value, and comparing the detected number of passes with a reference number of passes within a preset predetermined period. A method for detecting an abnormal waveform, which comprises detecting 10. An electronic circuit based on a waveform of an output signal
A method of diagnosing deterioration, comprising a maximum level and a minimum level of an output signal of the electronic circuit.
Setting at least two threshold values between the electronic circuit
When the output signal level of passes through each of the above thresholds
The time width of the
The electronic circuit by comparing
The abnormal waveform in the output signal of the
By counting the number, a diagnostic finger for deterioration of the electronic circuit can be obtained.
A method for diagnosing deterioration of an electronic circuit, which is characterized by: 11. An electronic circuit based on a waveform of an output signal
A method of diagnosing deterioration, said method comprising: deciding at least between a maximum level and a minimum level of said signal.
By setting two thresholds, the electronic circuit
The number of times the output signal level passes each of the thresholds is detected.
The number of passes for each detected threshold
By comparing with each other, the output signal of the electronic circuit
Of abnormal waveforms is detected and the number of times the abnormal waveforms are detected is counted.
To be used as a diagnostic index for deterioration of the electronic circuit
A method for diagnosing deterioration of an electronic circuit, comprising: 12. An electronic circuit based on a waveform of an output signal
A method of diagnosing deterioration, comprising a maximum level and a minimum level of an output signal of the electronic circuit.
A threshold value is set during this period and the output of the electronic circuit
Detects the number of times the force signal level passes the threshold value
However, the detected number of passages and a preset period of time
By comparing with the reference number of passages in
Abnormal waveform in the output signal of the road is detected and the abnormal waveform is detected
Diagnosis of deterioration of the electronic circuit by counting the number of times
A method for diagnosing deterioration of electronic circuits, characterized by being used as an index
Law. 13. An electronic circuit based on a waveform of an output signal
A method of diagnosing deterioration, comprising a maximum level and a minimum level of an output signal of the electronic circuit.
A first threshold value and a second threshold value are set between
The output signal level of is between the first and second threshold values
The first and second thresholds in the direction of entry and shortly thereafter
Based on the agreement and disagreement with the direction from the
Abnormal waveform in the output signal of the road is detected and the abnormal waveform is detected
Diagnosis of deterioration of the electronic circuit by counting the number of times
A method for diagnosing deterioration of electronic circuits, characterized by being used as an index
Law. 14. An electronic circuit based on a waveform of an output signal
A method for diagnosing deterioration, which comprises detecting an abnormal waveform in an output signal of the electronic circuit,
Counts the number of ordinary waveforms detected and at predetermined fixed time intervals
When the counting result of exceeds the specified value, the electronic circuit
Deterioration of electronic circuit characterized by determining that it is normal
Diagnostic method.
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