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JPH079366B2 - 形状測定方法および装置 - Google Patents
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JPH079366B2 - 形状測定方法および装置 - Google Patents

形状測定方法および装置

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JPH079366B2
JPH079366B2 JP17642788A JP17642788A JPH079366B2 JP H079366 B2 JPH079366 B2 JP H079366B2 JP 17642788 A JP17642788 A JP 17642788A JP 17642788 A JP17642788 A JP 17642788A JP H079366 B2 JPH079366 B2 JP H079366B2
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mounting table
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calculated
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民治 手塚
久夫 原
浩幸 佐藤
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Description

【発明の詳細な説明】 <本発明の産業上の利用分野> 本発明は、載置台に載置された被測定物の表面に光ビー
ムを照射してその表面形状を測定する形状測定方法およ
び装置に関する。
<従来技術> この種の測定装置では、X−Y方向に移動可能なX−Y
ステージ上に被測定物を載置し、このステージを移動さ
せて、上方からの光ビームの照射点を予め決められた被
測定物の測定点に順次移動させることによってその表面
形状の測定を行なっている。
このような形状測定装置において、同一の複数の被測定
物を連続的に測定する場合は、X−Yステージ上の決め
られた複数の測定場所に被測定物をそれぞれ配列載置し
ておき、その測定場所の位置データを含む測定プログラ
ムに従ってX−Yステージに対する照射点の移動を行な
い、連続的な測定を行なうようにしている。
このように複数の被測定物をそれぞれ決められた測定場
所に載置するために従来より第7図に示すような、載置
台1が用いられている。
この載置台1は、X−Yステージ上の所定位置に固定で
き、その載置台1aには、被測定物Wを縦横に配列載置す
るための3つのガイド片2がネジ止めされている。
ガイド片2は四角形の被測定物Wの隣接する2辺に当接
するように形成されており、左右の間隔(Xp)上下の間
隔(Yp)で被測定物Wを載置できる。
ガイド片2に設けられた半円状の切欠部2aは、ガイド片
2と当接する被測定物の2片の角部のバリやゴミ等を避
けて被測定物Wをガイド片2に隙間なく当接させるため
のものである。
測定の際は、予めX−Yステージ上に固定された載置台
1に所定数の被測定物Wを載置して、第8図に示すよう
に載置台1上に設定されたX−Y平面の原点位置(0、
0)からの計算上の測定点座標位置(Xa、Ya)に光ビー
ムの照射点がくるようにX−Yステージを移動させ、そ
の高さZaを検出している。
なお、載置台1の表面に設けられた小さな多数の穴3
は、被測定物Wを載置面1aに吸着させるための吸着穴で
ある。
<本発明が解決しようとする問題点> しかしながら、測定表面の端部に極めて近い部分を測定
する場合、ガイド片2の寸法精度や変形あるいは載置台
1に対する取付誤差等により、計算上の測定点に対して
実際の光ビームの照射点の位置が、測定表面外のガイド
片2や載置面にズレてしまい測定が失敗するという問題
があった。
本発明はこの問題を解決した形状測定方法および装置を
提供することを目的としている <前記問題点を解決するための手段> 前記問題点を解決するために本発明の形状測定装置は、 被測定物を所定の測定場所に載置するためのガイド部を
有する載置台と、 載置台に載置される物体表面に光ビームを照射し、その
反射光を受けて該照射点の載置面からの高さを検出する
光検出手段と、 照射点近傍の映像を画面表示する映像手段と、 載置台の載置面に設定されたX−Y平面の原点に対して
与えられた座標データに対応する位置に、前記照射点を
相対移動させるXYZ移動手段と、 X−Y平面の原点に対する照射点の座標位置を検出する
XY位置検出手段と、 予め決められた位置に表示がなされた基準物と、 載置台の所定の測定場所に載置される基準物の表示の前
記X−Y平面原点からの座標位置を演算して、算出され
た座標データを前記XYZ移動手段へ出力する演算手段
と、 演算手段からの座標データを受けて相対移動した照射点
と基準物の表示とを映像手段の画面上で一致させる手動
移動手段と、 手動移動手段による照射点の載置台に対する相対的な移
動量をXY位置検出手段光検出手段とから得られる検出座
標と演算手段からの座標データとの演算によって検出す
る移動量検出手段と、 この移動量を測定場所の補正値として記憶する記憶手段
と、 所定の測定場所に載置された被測定物の測定点座標を記
憶手段に記憶された補正値で補正演算してXYZ移動手段
に出力する補正演算手段とを備えている。
また、載置台に載置された被測定物の表面に光ビームを
照射して該照射点の高さを検出することによって前記被
測定物の表面形状の測定を行なう形状測定方法におい
て、 物体を所定の測定位置に載置させるためのガイド部を有
する載置台の所定の測定位置に、予め決められた位置に
表示がなされた基準物を載置する段階と、 載置台の載置面に設定されたX−Y平面の原点から計算
される基準物の表示の座標位置に照射点を相対移動させ
る段階と、 照射点を載置台に対して手動により相対移動して、照射
点近傍を映像する画面上で基準物の表示に一致させる段
階と、 手動移動後のX−Y平面の原点に対する照射点の座標位
置を検出し、この検出座標と計算上の表示の座標との演
算によって照射点の相対移動量を算出する段階と、 算出された移動量を補正値として記憶する段階と、 基準物に代えて、被測定物を所定の測定場所に載置する
段階と、 所定の測定場所に載置された被測定物の測定点のX−Y
面上における計算上の位置を補正値によって補正する段
階と、 補正された位置に照射点を相対移動させ照射点のZ方向
の高さを測定する段階とを備えている。
<作用> このため、被測定物の測定前にその測定場所毎に記憶さ
れた補正値によって被測定物に対する測定点座標が補正
され、補正された座標位置に光ビームの照射点が移動さ
れ、その高さ測定が行なわれる。
<本発明の実施例>(第1〜6図) 以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説明する。
第1図は、本発明の一実施例の形状測定装置の全体構成
を示す図である。
図において、10は測定機構部であり、基台11上にはX−
Yステージ12が設けられており、X−Yステージ12の上
には前述同様の載置台1が固定されている。
Xステージ12aは載置台1を左右方向(第1図におい
て)に移動させ、Yステージ12bは、Xステージ12aと直
行する方向に載置台1を移動させるように構成されてい
る。
また、Yステージ12b上には、Xステージ12aの規準位置
(載置台の基準原点)からの移動量を検出するX位置検
出器12cが設けられ、Yステージの側方には同様にYス
テージ12bの移動量を検出するY位置検出器12dが設けら
れている。
13は、載置台1の吸着穴3から空気を吸い込むバキュー
ム装置である。
14は、X−Yステージ12上方に配置された光センサ部で
あり、載置台1に光ビームを照射する投光部14aとその
反射光を受けて、照射点の高さ変化に対応する変位信号
を出力する受光検出部14bとから構成されている。
この変位信号は光センサ部14から照射点までの距離に応
じて変化するもので、この信号に基づいて算出される距
離を、光センサ部14から載置台1のX−Y平面の原点ま
での高さから減算することによって、照射点の原点から
の高さが得られる。
この光センサ部14には、照射点近傍を拡大して映像を出
力するモニタカメラ15が一体化されている。
16は、この光センサ部14をX−Yステージ12に直交する
方向に移動させるZステージであり、X−Yステージ12
およびZステージ16はともにXYZ駆動部17によって移動
制御される。
18は、モニタカメラからの映像信号を画面に表示するモ
ニタテレビである。
19は、移動信号を直接XYZ駆動部17に入力することによ
り、X−Yステージ12を単独に移動させる手動操作部で
ある。
20は、コンピュータによって構成された測定制御部であ
り、測定プログラムや制御信号等を入力するための入力
操作部21と測定プログラムに従ってXYZ駆動部17から各
ステージに移動信号を与えて、光センサ部14の受光検出
部14bからの変位信号に基づいて、被測定物の測定点の
Z方向の高さを算出する処理部22と、データや測定方法
等を表示するための表示部23とを備えている。
この処理部22は、第2図に示すように載置台1の左下の
所定位置を絶対座標の基準原点(0、0、0)としてX
−Yステージ12、Zステージ16等の制御を行なってお
り、被測定物に対する測定プログラムは、ガイド片2に
よって定められた9つの測定場所E1〜E9の取付基準位置
R1〜R9を測定原点として、測定点の位置へ、測定ルート
の開始点および終了点の座標点が設定されている。
したがって、全ての被測定物に対して同一の測定を行な
う場合は、1個の被測定物に対する測定プログラムを各
測定場所E1〜E9の取付基準位置R1〜R9から起動させるこ
とによって連続測定を行なうことができる。
第3図はこの被測定物に対する測定を行なう前に予め行
なわれる補正処理の手順を示すフローチャートである。
先づ、載置台1の測定場所E1〜E9に、第4図に示すよう
に被測定物と同一形状で取付基準位置(左下の角部)か
ら座標点(X0、Y0、Z0)の位置に表示点Mがマークされ
た基準物30を載置固定をしておき、この補正処理をスタ
ートさせると、ステップ1でカウント値Cn、Cm(配列位
置の行列に対する値)がそれぞれ1に初期化される
(n、mは測定場所の配列個数でともに3)。
ステップ2では、このカウント値Cn、Cmに対して、 Xs=X1+Xp(Cn−1)+X0 Ys=Y1+Yp(m−Cm)+Y0 Zs=Z0 の演算によって測定場所E1の取付基準位置R1が算出され
る。
ステップ3では、この座標値(Xs、Ys、Zs)に対応する
移動信号がXYZ駆動部17に出力され、X−Yステージ12
およびZステージ16が移動され、光センサ部14からの光
ビームが載置台1の座標位置(Xs、Ys、Zs)を照射す
る。
ステップ4で照射点の焦点合わせが行なわれた後、ステ
ップ5で手動移動許可信号が表示部23に出力される。
ここで、モニタテレビ18の画面には、光ビームの照射点
と基準物30の表示点Mとがガイド片2の取付誤差等によ
って一致せずズレた状態で映像されることになり、ステ
ップ6では、手動操作部19の操作により、X−Yステー
ジ12を手動移動させてモニタテレビ18の画面上で照射点
と表示点を一致させる。
この手動操作によって照射点と表示点とが一致した後、
ステップ7で位置確定のキー操作が検出される。
ステップ8では、手動移動後の照射点(表示点)の座標
位置(Xr、Yr、Zr)が検出される。
この検出は、XY位置検出器12c、12dからの検出信号と、
光センサ部14からの変位信号によって行なわれるが、変
位信号は光センサ部14と照射点との距離に対応してお
り、処理部22において、載置台1の基準原点から光セン
サ部14までの距離(Zステージの移動によって変化す
る)から変位信号に対応する距離を減じることにより、
Zrが検出されることになる。
この演算は、測定時にも常に処理部22で行なわれてい
る。
ステップ8では、表示点の計算上の座標位置(Xs、Ys、
Zs)と手動移動後の座標位置(Xr、Yr、Zr)とからその
移動量 ΔX=Xr−Xs ΔY=Yr−Ys ΔZ=Zr−Zs がそれぞれ算出され、ステップ10では、この移動量を測
定場所E1の補正値ΔR1として、メモリの(Cm、Cn)番地
即ち(1、1)番地に記憶する。
ステップ11では、Cnが1だけ増加され、この値がn+1
(=4)に等しいか小さいかがステップ12で判別され、
小さいときはステップ2へ戻る。
またCnが“4"に等しいときは、ステップ13でCnを1にセ
ットし、Cmが1だけ増加した後、Cmの値がm+1(=
4)に等しいか小さいかがステップ14で判別され、小さ
い時はステップ2へ戻る。
したがって、各測定場所E1〜E7の取付基準位置R1〜R7の
補正値ΔR1〜ΔR7は、第5図に示すようにΔR1〜ΔR3、
ΔR6〜ΔR4、ΔR7〜ΔR9の順に測定場所に対応するメモ
リ番地に配列記憶されることになる。
第6図は、基準物30に代えて被測定物を各測定場所に載
置して同一の測定を連続的に行なう処理手順を示すフロ
ーチャートであり、取付基準位置を測定原点として各被
測定物について共通な一連の測定プログラムが予め所定
アドレスに記憶されているものとする。
第6図においてステップ1では、ワークカウンタの値W
が1に初期化され、ステップ2では、このW値に対応す
る測定場所(W=1のときE1)の行列値(Cm、Cn)即ち
(1、1)が算出される。
ステップ3では行列値(Cm、Cn)に対応するアドレスよ
りその測定場所の補正値ΔR(W)(ΔX、ΔY、Δ
X)が読み出され、取付基準位置の補正済座標が次式に
よって算出される。
Xr=X1+Xp(Cn−1)+ΔX Yr=Y1+Yp(M−Cm)+ΔY Zr=ΔZ ステップ4では、所定のアドレスより測定プログラムが
読出され、ステップ5では、読出された測定プログラム
の座標データに対して取付基準位置の補正済座標(Xr、
Yr、Zr)が加算される。
これによって測定プログラムの座標データは、載置台1
の基準原点に対する絶対座標に変換されることになる。
ステップ6では、変換された座標データに基づいて測定
プログラムが実行され、この座標データに対応する移動
信号がXYZ駆動部17に出力される。
ステップ7では測定中に得られる測定データ(高さデー
タ)が順次読みとられ、所定アドレスから順に記憶され
る。
ステップ8では、記憶された測定データに基づいて測定
表面の平行度やソリ等の判定演算が行なわれ、ステップ
9ではその判別結果が所定のアドレスに記憶される。
ステップ10ではWの値が1増加され、ステップ11では、
Wの値がm×n+1(=10)に等しいか否かが判断さ
れ、等しくない(小さい)場合はステップ2へ戻る。
この処理はすべての被測定物に対して繰返され、Wがm
×n+1(=10)に等しくなると、ステップ12ですべて
の被測定物の判定結果が表示部23に表示される。
<本発明の他の実施例> なお、前記実施例では、載置台1をX−Yステージ12上
でX−Y方向に移動させ、光センサ部14をZ方向に移動
させていたが、本発明は前記実施例に限定されず、固定
された載置台に対して光センサ部をXYZ方向に移動制御
するようにしてもよい。
また、前記実施例では、3×3個の測定場所を有する載
置台1について説明していたが、例えば10×10個の測定
場所を有する載置台と変換することにより、小さな被測
定物の測定を連続して行なうことができる。
また、このように各種の載置台を予め用意しておく場合
は、前もって載置台毎の補正値データを記憶させておく
ことにより、測定を速やかに実行することができる。
<本発明の効果> 本発明の形状測定方法および装置は、前記説明のよう
に、載置台およびガイド部の製造誤差を補正して被測定
物の測定が行なえるため、測定点の位置決めが正確に行
なえ、測定表面の端部に近い部分の測定についても失敗
なく測定することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の全体構成を示す図、第2図
は、一実施例の要部の平面図、第3図は一実施例の処理
手順を示すフローチャート、第4図は、一実施例の要部
を示す斜視図である。 第5図は、第3図の処理結果を示すメモリ部、第6図は
一実施例の処理手順を示すフローチャート図である。 第7図は、従来装置および一実施例の装置に用いられて
いる要部の斜視図、第8図は、第7図にX−Y座標を設
定した平面図である。 10……測定機構部、11……基台、12……X−Yステー
ジ、14……光センサ部、15……モンタカメラ、16……Z
ステージ、17……XYZ駆動部、18……モニタテレビ、20
……測定制御部、21……入力操作部、22……処理部、23
……表示部。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被測定物を所定の測定場所に載置するため
    のガイド部を有する載置台と、 前記載置台に載置される物体表面に光ビームを照射し、
    その反射光を受けて該照射点の載置面からの高さを検出
    する光検出手段と、 前記照射点近傍の映像を画面表示する映像手段と、 前記載置台の載置面に設定されたX−Y平面の原点に対
    して与えられた座標データに対応する位置に、前記照射
    点を相対移動させるXYZ移動手段と、 前記X−Y平面の原点に対する照射点の座標位置を検出
    するXY位置検出手段と、 予め決められた位置に表示がなされた基準物と、 前記載置台の所定の測定場所に載置される前記基準物の
    表示の前記X−Y平面原点からの座標位置を演算して、
    算出された座標データを前記XYZ移動手段へ出力する演
    算手段と、 前記演算手段からの座標データを受けて相対移動した照
    射点と前記表示とを前記映像手段の画面上で一致させる
    手動移動手段と、 前記手動移動手段による前記照射点の載置台に対する相
    対的な移動量を前記XY位置検出手段と前記光検出手段と
    から得られる検出座標と前記演算手段からの座標データ
    との演算によって検出する移動量検出手段と、 前記移動量を前記測定場所の補正値として記憶する記憶
    手段と、 前記所定の測定場所に載置された被測定物の測定点座標
    を前記記憶手段に記憶された補正値で補正演算して前記
    XYZ移動手段に出力する補正演算手段とを備えた形状測
    定装置。
  2. 【請求項2】載置台に載置された被測定物の表面に光ビ
    ームを照射して該照射点の高さを検出することによって
    前記被測定物の表面形状の測定を行なう形状測定方法に
    おいて、 物体を所定の測定位置に載置させるためのガイド部を有
    する載置台の所定の測定位置に、予め決められた位置に
    表示がなされた基準物を載置する段階と、 前記載置台の載置面に設定されたX−Y平面の原点から
    計算される前記基準物の表示の座標位置に前記照射点を
    相対移動させる段階と、 前記照射点を前記載置台に対して手動移動して、前記照
    射点近傍を映像する画面上で前記表示に一致させる段階
    と、 手動移動後のX−Y平面の原点に対する照射点の座標位
    置を検出し、この検出座標と前記計算上の表示の座標と
    の演算によって前記照射点の相対移動量を算出する段階
    と、 前記算出された移動量を補正値として記憶する段階と、 前記基準物に代えて、被測定物を前記所定の測定場所に
    載置する段階と、 所定の測定場所に載置された被測定物の測定点のX−Y
    面上における計算上の位置を前記補正値によって補正す
    る段階と、 補正された位置に前記照射点を相対移動させ照射点のZ
    方向の高さを測定する段階とからなる形状測定方法。
JP17642788A 1988-07-15 1988-07-15 形状測定方法および装置 Expired - Lifetime JPH079366B2 (ja)

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