JPH0795828B2 - 固体撮像装置の駆動方法 - Google Patents
固体撮像装置の駆動方法Info
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- JPH0795828B2 JPH0795828B2 JP60237269A JP23726985A JPH0795828B2 JP H0795828 B2 JPH0795828 B2 JP H0795828B2 JP 60237269 A JP60237269 A JP 60237269A JP 23726985 A JP23726985 A JP 23726985A JP H0795828 B2 JPH0795828 B2 JP H0795828B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は電荷転送形固体撮像装置に係り、特に低スメア
かつ高S/Nに好適な固体撮像装置の駆動法に関する。
かつ高S/Nに好適な固体撮像装置の駆動法に関する。
二次元固体撮像装置は、小型,軽量,メンテナンスフリ
ー,低消費電力等の利点を有しており、電子管撮像デバ
イスにかわり次期撮像デバイスとして期待されている。
しかしながら、明るい被写体を写したときに、再生画の
上下に尾を引く垂直スメア現象が生じ、高照度における
画質劣化の原因となる。この垂直スメアを低減する優れ
た方法として、小沢他,1984年テレビジヨン学会全国大
会予稿集3-15,P67〜68に記載のスメア差動方式がある。
この方式は、垂直スメア電荷と、垂直スメアの重畳され
た信号電荷を同時に読み出し、両者の差をとることによ
り、スメアの重畳されない信号電荷を出力するものであ
る。本方式により、垂直スメアは実用上問題ないレベル
まで低減できるが、演算処理によりランダム雑音が増加
し、S/N比が劣化するという問題が残されていた。
ー,低消費電力等の利点を有しており、電子管撮像デバ
イスにかわり次期撮像デバイスとして期待されている。
しかしながら、明るい被写体を写したときに、再生画の
上下に尾を引く垂直スメア現象が生じ、高照度における
画質劣化の原因となる。この垂直スメアを低減する優れ
た方法として、小沢他,1984年テレビジヨン学会全国大
会予稿集3-15,P67〜68に記載のスメア差動方式がある。
この方式は、垂直スメア電荷と、垂直スメアの重畳され
た信号電荷を同時に読み出し、両者の差をとることによ
り、スメアの重畳されない信号電荷を出力するものであ
る。本方式により、垂直スメアは実用上問題ないレベル
まで低減できるが、演算処理によりランダム雑音が増加
し、S/N比が劣化するという問題が残されていた。
本発明の目的は、特にインターライン型CCD固体撮像装
置において、前述のスメア差動法を、ランダム雑音の増
加なく行い、低スメアかつ高感度な固体撮像装置を提供
することにある。
置において、前述のスメア差動法を、ランダム雑音の増
加なく行い、低スメアかつ高感度な固体撮像装置を提供
することにある。
一般に、スメア差動法を行う時、独立に読まれるスメア
電荷量をGqs、信号に混入したスメア電荷量をqsとする
と、差動演算によりスメアを除去し、真の信号電荷を得
るためには、独立に読まれるスメア電荷量を1/G倍し、
スメアの重畳された信号電荷より引けばよい。このと
き、独立に読まれるスメア電荷量に混入したランダム雑
音電荷量をns、スメア電荷の重畳された信号電荷に混入
したランダム雑音電荷量をnとすると、真の信号電荷に
混入するランダム雑音量ntは、式(1)で表わすことが
できる。
電荷量をGqs、信号に混入したスメア電荷量をqsとする
と、差動演算によりスメアを除去し、真の信号電荷を得
るためには、独立に読まれるスメア電荷量を1/G倍し、
スメアの重畳された信号電荷より引けばよい。このと
き、独立に読まれるスメア電荷量に混入したランダム雑
音電荷量をns、スメア電荷の重畳された信号電荷に混入
したランダム雑音電荷量をnとすると、真の信号電荷に
混入するランダム雑音量ntは、式(1)で表わすことが
できる。
すなわち、 だけ、ランダム雑音が増加する。したがつて、独立に読
まれるスメア電荷量を、信号に混入したスメア電荷量よ
り大きくすることにより(G>1)、ランダム雑音の増
加を防ぐことができる。そして、本発明においては、イ
ンターライン型CCD固体撮像装置において、独立に読ま
れるスメア電荷量を信号に混入したスメア電荷量より大
きくするために、垂直電荷転送素子を、各水平走査期間
内にスメア電荷の混入したN個(N:正の整数)の光信号
電荷をそれぞれ蓄積するN個の電極とスメア電荷を蓄積
する1個の電極と空の状態にある1個の電極とのN+2
電極からなる組の複数組をもって構成し、各水平帰線期
間内に上記空の状態にある電極に電荷転送方向に見てそ
の直ぐ後方の電極に蓄積されている第1の電荷を移し、
次に該第1の電荷の移動によって空の状態になった電極
にさらにその直ぐ後方の電極に蓄積されている第2の電
荷を移し、一般に第n(n=1〜N)の電荷の移動によ
って空の状態になった電極に第n+1の電荷を移す動作
を繰り返し、かつ、上記した各水平走査期間内に空の状
態にある電極の電荷転送方向に見て直ぐ後方に上記した
スメア電荷を蓄積する電極を配置し、各水平帰線期間内
には先ず上記スメア電荷を蓄積する電極に蓄積されてい
るスメア電荷を上記空の状態にある電極に移す動作を行
なうようにしている。
まれるスメア電荷量を、信号に混入したスメア電荷量よ
り大きくすることにより(G>1)、ランダム雑音の増
加を防ぐことができる。そして、本発明においては、イ
ンターライン型CCD固体撮像装置において、独立に読ま
れるスメア電荷量を信号に混入したスメア電荷量より大
きくするために、垂直電荷転送素子を、各水平走査期間
内にスメア電荷の混入したN個(N:正の整数)の光信号
電荷をそれぞれ蓄積するN個の電極とスメア電荷を蓄積
する1個の電極と空の状態にある1個の電極とのN+2
電極からなる組の複数組をもって構成し、各水平帰線期
間内に上記空の状態にある電極に電荷転送方向に見てそ
の直ぐ後方の電極に蓄積されている第1の電荷を移し、
次に該第1の電荷の移動によって空の状態になった電極
にさらにその直ぐ後方の電極に蓄積されている第2の電
荷を移し、一般に第n(n=1〜N)の電荷の移動によ
って空の状態になった電極に第n+1の電荷を移す動作
を繰り返し、かつ、上記した各水平走査期間内に空の状
態にある電極の電荷転送方向に見て直ぐ後方に上記した
スメア電荷を蓄積する電極を配置し、各水平帰線期間内
には先ず上記スメア電荷を蓄積する電極に蓄積されてい
るスメア電荷を上記空の状態にある電極に移す動作を行
なうようにしている。
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。
第1図は、本発明の一実施例を示すインターライン型CC
D固体撮像装置の構成図である。
D固体撮像装置の構成図である。
第1図において、1−1,1−2は光ダイオード、2′は
イオン注入領域8を備えた3重転送動作を行わせる垂直
CCD、2′−1,2′−2…は垂直CCD2′を構成する電極、
3′−1,3′−2,3′−3は垂直CCD2′が送つてきた3種
類の信号電荷QA,QB,qsを受け入れて、各電荷を出力4ー
1,4−2,4−3に向けて転送する水平CCD、5′−1,5′−
2,5′−3,5′−4は垂直CCD2′を駆動する垂直クロツク
パルス発生器である。ここで、水平CCD3′を駆動する水
平クロツクパルスは、図面を簡単化するために記載が省
略されているが、2相でも、あるいは3相,4相でもよ
い。垂直CCD2′を構成する4つの電極2′−1,2′−2,
2′−3,2′−4のうちの3つの電極の下には、2系列の
信号電荷QA,QBとスメアqsが蓄積され、残る1つの電極
は空の状態に置かれる。そして、後述する3重転送モー
ドにより、信号電荷QA,QB,qsは水平CCD3′−1,3′−2,
3′−3に送り込まれる。
イオン注入領域8を備えた3重転送動作を行わせる垂直
CCD、2′−1,2′−2…は垂直CCD2′を構成する電極、
3′−1,3′−2,3′−3は垂直CCD2′が送つてきた3種
類の信号電荷QA,QB,qsを受け入れて、各電荷を出力4ー
1,4−2,4−3に向けて転送する水平CCD、5′−1,5′−
2,5′−3,5′−4は垂直CCD2′を駆動する垂直クロツク
パルス発生器である。ここで、水平CCD3′を駆動する水
平クロツクパルスは、図面を簡単化するために記載が省
略されているが、2相でも、あるいは3相,4相でもよ
い。垂直CCD2′を構成する4つの電極2′−1,2′−2,
2′−3,2′−4のうちの3つの電極の下には、2系列の
信号電荷QA,QBとスメアqsが蓄積され、残る1つの電極
は空の状態に置かれる。そして、後述する3重転送モー
ドにより、信号電荷QA,QB,qsは水平CCD3′−1,3′−2,
3′−3に送り込まれる。
第2図は、本発明による垂直CCDの3重転送動作を示す
説明図である。
説明図である。
第2図(a)に示すように、クロツクパルス発生器5′
−1〜5′−4の各ラインには、各電極2′−1,2′−
2,2′−3,2′−4,2′−1…が順次接続されている。第
2図(c)に示すパルスタイミングのt1〜tnの時刻にお
ける各電極2′−1,2′−2,2′−3,2′−4,…の下のポ
テンシヤルが、第2図(b)に示され、各電極の位置は
第2図(a)に対応している。
−1〜5′−4の各ラインには、各電極2′−1,2′−
2,2′−3,2′−4,2′−1…が順次接続されている。第
2図(c)に示すパルスタイミングのt1〜tnの時刻にお
ける各電極2′−1,2′−2,2′−3,2′−4,…の下のポ
テンシヤルが、第2図(b)に示され、各電極の位置は
第2図(a)に対応している。
第2図(b)により、3重転送動作を説明する。
(i)t=t1:1フイールド期間に入射した光によつて、
光ダイオード1−1,1−2に蓄積された信号電荷QA,Q
Bは、高電圧のクロツクパルスによつて導通状態にある
(ポテンシヤルの低下した)転送ゲート7−1,7−2を
通して垂直CCD2′側に送り込まれ、電極2′−1,2′−
3の下に蓄積される。
光ダイオード1−1,1−2に蓄積された信号電荷QA,Q
Bは、高電圧のクロツクパルスによつて導通状態にある
(ポテンシヤルの低下した)転送ゲート7−1,7−2を
通して垂直CCD2′側に送り込まれ、電極2′−1,2′−
3の下に蓄積される。
(ii)t=t2:信号電荷QAは電極2′−1が低電圧とな
つたことにより、電極2′−1下から電極2′−2下へ
垂直CCD2′内を1電極分移動する。
つたことにより、電極2′−1下から電極2′−2下へ
垂直CCD2′内を1電極分移動する。
(iii)t=t3:電極2′−1に印加されるクロツクパ
ルスは高電圧になり、各電極下のポテンシヤルは低くな
るが、各電極下の一部に形成されたイオン注入層8の形
成する障壁VBにより、電荷QA,QBは時間t=t2のときと
同一電極下に蓄積される。
ルスは高電圧になり、各電極下のポテンシヤルは低くな
るが、各電極下の一部に形成されたイオン注入層8の形
成する障壁VBにより、電荷QA,QBは時間t=t2のときと
同一電極下に蓄積される。
(iv)t=t4:垂直走査期間に入るので、電荷QA,QBが
水平CCDに向けて転送される。なお、t=t1,t2は、垂直
帰線期間内の時刻である。
水平CCDに向けて転送される。なお、t=t1,t2は、垂直
帰線期間内の時刻である。
先ず、電極2′−4に低電圧が加わり、電極2′−4に
蓄積されていたスメア電荷qsか電極2′−1の下に転送
され、電極2′−1下のスメアq′sと加算される。こ
こで、スメア電荷は、光入射によつて発生した電荷が垂
直CCD側に漏洩することにより発生するもので、これ以
降の転送期間中(t4〜tn)にも漏洩してくるため、時間
の経過とともにスメア電荷量は多くなる。一方、この漏
洩電荷はどの電極にも入り込むので、信号QA,QBにもス
メア電荷が混入し、信号中のスメア成分は時間の経過と
ともにやはり大きくなる。
蓄積されていたスメア電荷qsか電極2′−1の下に転送
され、電極2′−1下のスメアq′sと加算される。こ
こで、スメア電荷は、光入射によつて発生した電荷が垂
直CCD側に漏洩することにより発生するもので、これ以
降の転送期間中(t4〜tn)にも漏洩してくるため、時間
の経過とともにスメア電荷量は多くなる。一方、この漏
洩電荷はどの電極にも入り込むので、信号QA,QBにもス
メア電荷が混入し、信号中のスメア成分は時間の経過と
ともにやはり大きくなる。
(v)t=t5:これまでに電極2′−3に蓄積された電
荷QBが、電極2′−3の電圧が低電圧となり、高電圧の
加わつた電極2′−4の下に転送される。
荷QBが、電極2′−3の電圧が低電圧となり、高電圧の
加わつた電極2′−4の下に転送される。
(vi)t=t6:電極2′−3が高電圧,電極2′−2が
低電圧となり、電極2′−2に蓄積されていた電荷QAは
電極2′−3の下に転送される。
低電圧となり、電極2′−2に蓄積されていた電荷QAは
電極2′−3の下に転送される。
以上の時間t4〜t6の動作により、電荷QB,QA,qsは電極1
個分だけ、水平CCD3′側に転送されることになる。
個分だけ、水平CCD3′側に転送されることになる。
以下、同様に、3つの信号QB,QA,qsは水平CCD3′側に転
送され、垂直CCD2′の最終電極に到達したQB,QA,qsが各
々の水平CCD3′−1,3′−2,3′−3に送り込まれる。水
平CCD3′への電荷の送り込みは水平帰線期間内に行わ
れ、水平走査期間に入ると、信号QB,QA,qsは水平CCD内
を同時に出力4−1,4−2,4−3に向けて転送される。な
お、水平CCD3′−1,3′−2,3′−3は、各信号に対して
1個ずつ与えらているので、水平CCDの電荷は従来にお
ける水平CCDと同じ単一転送動作(3重転送動作に対す
る通常動作の表現)で転送させればよい。
送され、垂直CCD2′の最終電極に到達したQB,QA,qsが各
々の水平CCD3′−1,3′−2,3′−3に送り込まれる。水
平CCD3′への電荷の送り込みは水平帰線期間内に行わ
れ、水平走査期間に入ると、信号QB,QA,qsは水平CCD内
を同時に出力4−1,4−2,4−3に向けて転送される。な
お、水平CCD3′−1,3′−2,3′−3は、各信号に対して
1個ずつ与えらているので、水平CCDの電荷は従来にお
ける水平CCDと同じ単一転送動作(3重転送動作に対す
る通常動作の表現)で転送させればよい。
さて、以上の動作において垂直走査期間内の垂直CCD2′
内の電荷転送は、連続して行われるわけではない。すな
わち、水平走査期間内においては、垂直CCD内の電荷
は、図2(b)t=t3の状態で静止している。水平帰線
期間内において、t=t4〜t6の動作を4回繰り返すこと
により、3つの信号QB,QA,qsが水平CCD3′側に転送され
るとともに、一組のQB(n),QA(n),qs(n)が水
平CCDに送り込まれる。このサイクルがくり返され、全
画素の読み出しが行われる。現行のNTSC方式において
は、水平走査期間が約63.5μsecであり、10μsec程度の
水平帰線期間に比して長く、スメア電荷は、大略、垂直
CCD2′内の電荷転送の生じてないt=t3の状態にある期
間において、垂直CCDに混入してくる。その結果、一走
査期間内においては4電極下にはほとんど等量のスメア
電荷が混入する。従つて、本実施例に述べた如く、水平
帰線期間内に、まず、スメア電荷の転送を行い、2電極
分のスメアを集めることにより単独に読み出されるスメ
ア電荷量を信号に混入するスメア電荷のほぼ2倍にする
ことができ、スメア差動に伴うS/N劣化を防ぐことがで
きる。信号電荷に混入するランダム雑音nsとスメア電荷
に混入するランダム雑音量nを等しいとすると、本実施
例の駆動法によれば、S/N劣化は式(1)より1dBとな
る。一方、本実施例の駆動法を採用しない場合には、逆
に2組の信号電荷中の1つの信号電荷には単独に読み出
されるスメア電荷の2倍のスメアが混入する。この結
果、S/N劣化は7dBにも及ぶ。従つて、スメア差動法を行
う時、本実施例の駆動法により、約6dBの感度向上を図
ることができる。
内の電荷転送は、連続して行われるわけではない。すな
わち、水平走査期間内においては、垂直CCD内の電荷
は、図2(b)t=t3の状態で静止している。水平帰線
期間内において、t=t4〜t6の動作を4回繰り返すこと
により、3つの信号QB,QA,qsが水平CCD3′側に転送され
るとともに、一組のQB(n),QA(n),qs(n)が水
平CCDに送り込まれる。このサイクルがくり返され、全
画素の読み出しが行われる。現行のNTSC方式において
は、水平走査期間が約63.5μsecであり、10μsec程度の
水平帰線期間に比して長く、スメア電荷は、大略、垂直
CCD2′内の電荷転送の生じてないt=t3の状態にある期
間において、垂直CCDに混入してくる。その結果、一走
査期間内においては4電極下にはほとんど等量のスメア
電荷が混入する。従つて、本実施例に述べた如く、水平
帰線期間内に、まず、スメア電荷の転送を行い、2電極
分のスメアを集めることにより単独に読み出されるスメ
ア電荷量を信号に混入するスメア電荷のほぼ2倍にする
ことができ、スメア差動に伴うS/N劣化を防ぐことがで
きる。信号電荷に混入するランダム雑音nsとスメア電荷
に混入するランダム雑音量nを等しいとすると、本実施
例の駆動法によれば、S/N劣化は式(1)より1dBとな
る。一方、本実施例の駆動法を採用しない場合には、逆
に2組の信号電荷中の1つの信号電荷には単独に読み出
されるスメア電荷の2倍のスメアが混入する。この結
果、S/N劣化は7dBにも及ぶ。従つて、スメア差動法を行
う時、本実施例の駆動法により、約6dBの感度向上を図
ることができる。
なお、本実施例においては、電荷を蓄積する電極の電圧
を高くして転送を行つているために、電極の電圧の低い
空の電極下の半導体表面のポテンシヤルを基板電位より
低くすることができる。その結果、暗電流を低減でき
る。
を高くして転送を行つているために、電極の電圧の低い
空の電極下の半導体表面のポテンシヤルを基板電位より
低くすることができる。その結果、暗電流を低減でき
る。
また、本発明は、水平CCDの構成・駆動法によらず適用
できるのはいうまでもない。さらに、 第1図においては、垂直CCD内において、一水平走査期
間においては読み出される電荷が、水平CCDに近い側よ
り(qs,QB,QA)の順に並んでいる場合を述べたが(QB,q
s,QA),(QB,QA,qs)の順に並んでいても良い。
できるのはいうまでもない。さらに、 第1図においては、垂直CCD内において、一水平走査期
間においては読み出される電荷が、水平CCDに近い側よ
り(qs,QB,QA)の順に並んでいる場合を述べたが(QB,q
s,QA),(QB,QA,qs)の順に並んでいても良い。
第3図に本発明の別の実施例を示す。第3図において、
第1図と同じものには同一符号を付してある。垂直CCD
2′が3電極で構成されている点が第1図と異なる。本
実施例では水平ブランキング期間において、まずスメア
電荷を空の電極に移動し、つぎに、スメア電荷が移動
し、空になつた電極に信号電荷を移すことにより、単独
で読まれるスメア電荷量を信号に混入するスメア電荷量
の2倍とし、差動に伴うS/N劣化を1dBにとどめることが
できる。
第1図と同じものには同一符号を付してある。垂直CCD
2′が3電極で構成されている点が第1図と異なる。本
実施例では水平ブランキング期間において、まずスメア
電荷を空の電極に移動し、つぎに、スメア電荷が移動
し、空になつた電極に信号電荷を移すことにより、単独
で読まれるスメア電荷量を信号に混入するスメア電荷量
の2倍とし、差動に伴うS/N劣化を1dBにとどめることが
できる。
なお、本発明は一般にN個の信号電荷とM個のスメア電
荷を運ぶ場合にも適用できる。
荷を運ぶ場合にも適用できる。
本発明によれば、スメア差動に伴うランダム雑音の増加
を1dBにすることができるので、低スメアかつ高S/Nの固
体撮像装置を実現することができる。
を1dBにすることができるので、低スメアかつ高S/Nの固
体撮像装置を実現することができる。
第1図は本発明の一実施例を示す電荷転送形固体撮像装
置の基本構成を示す図、第2図は本発明の垂直CCDの3
重転送動作を示す図、第3図は本発明の他の実施例を示
す電荷転送形固体撮像装置の基本構成を示す図である。 1−1,1−2……光ダイオード、2′……垂直CCD、2′
−1,2′−2,2′−3,2′−4……電極、3′−1,3′−2,
3′−3,3″−2,3″……水平CCD、4,4−1,4−2,4−3…
…出力端子、7−1,7−2……転送ゲート、5−1,5−2,
6−1,6−2……クロツクパルス発生器。
置の基本構成を示す図、第2図は本発明の垂直CCDの3
重転送動作を示す図、第3図は本発明の他の実施例を示
す電荷転送形固体撮像装置の基本構成を示す図である。 1−1,1−2……光ダイオード、2′……垂直CCD、2′
−1,2′−2,2′−3,2′−4……電極、3′−1,3′−2,
3′−3,3″−2,3″……水平CCD、4,4−1,4−2,4−3…
…出力端子、7−1,7−2……転送ゲート、5−1,5−2,
6−1,6−2……クロツクパルス発生器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小池 紀雄 東京都国分寺市東恋ヶ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 秋山 俊之 東京都国分寺市東恋ヶ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (56)参考文献 特開 昭60−150384(JP,A) 特開 昭61−117980(JP,A)
Claims (2)
- 【請求項1】同一半導体基板上に、2次元状に配列され
た光電変換素子群と、該光電変換素子群に蓄積された光
信号電荷を垂直方向に転送する複数の垂直電荷転送素子
と、該垂直電荷転送素子より転送された光信号電荷を各
水平走査期間内に一度水平方向に転送して出力する水平
電荷転送素子とを集積化し、上記水平電荷転送素子の出
力端以降に転送されてきた光信号電荷から上記垂直電荷
転送素子内での電荷転送中に混入したスメア電荷分を差
し引く引き算器を配置してなる電荷転送型固体撮像装置
において、上記各垂直電荷転送素子を各水平走査期間内
にスメア電荷の混入したN個(N:正の整数)の光信号電
荷をそれぞれ蓄積するN個の電極とスメア電荷を蓄積す
るM個の電極と空の状態にある1個の電極とのN+M+
1電極からなる組の複数組をもって構成し、各水平帰線
期間内に上記空の状態にある電極に電荷転送方向に見て
その直ぐ後方の電極に蓄積されている第1の電荷を移
し、次に該第1の電荷の移動によって空の状態になった
電極にさらにその直ぐ後方の電極に蓄積されている第2
の電荷を移し、一般に第n(n=1〜N)の電荷の移動
によって空の状態になった電極に第n+1の電荷を移す
動作を繰り返し、かつ、上記した各水平走査期間内に空
の状態にある電極の電荷転送方向に見て直ぐ後方に上記
したスメア電荷を蓄積するM個の電極のうちのいずれか
1電極を配置し、各水平帰線期間内には先ず上記スメア
電荷を蓄積する1電極に蓄積されているスメア電荷を上
記空の状態にある電極に移す動作を行なうようにしたこ
とを特徴とする固体撮像装置の駆動方法。 - 【請求項2】上記のスメア電荷を蓄積する電極の個数M
がM=1であることを特徴とする特許請求の範囲第1項
に記載の固体撮像装置の駆動方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60237269A JPH0795828B2 (ja) | 1985-10-25 | 1985-10-25 | 固体撮像装置の駆動方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60237269A JPH0795828B2 (ja) | 1985-10-25 | 1985-10-25 | 固体撮像装置の駆動方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6298876A JPS6298876A (ja) | 1987-05-08 |
| JPH0795828B2 true JPH0795828B2 (ja) | 1995-10-11 |
Family
ID=17012892
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60237269A Expired - Fee Related JPH0795828B2 (ja) | 1985-10-25 | 1985-10-25 | 固体撮像装置の駆動方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0795828B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7880782B2 (en) * | 2008-05-30 | 2011-02-01 | Eastman Kodak Company | Image sensor clocking method |
| CN107468209B (zh) * | 2016-06-07 | 2021-10-08 | 松下知识产权经营株式会社 | 摄像装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60150384A (ja) * | 1984-01-18 | 1985-08-08 | Hitachi Ltd | 固体撮像装置 |
-
1985
- 1985-10-25 JP JP60237269A patent/JPH0795828B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6298876A (ja) | 1987-05-08 |
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