JPH0797064B2 - 光フアイバ構造測定法 - Google Patents
光フアイバ構造測定法Info
- Publication number
- JPH0797064B2 JPH0797064B2 JP1750687A JP1750687A JPH0797064B2 JP H0797064 B2 JPH0797064 B2 JP H0797064B2 JP 1750687 A JP1750687 A JP 1750687A JP 1750687 A JP1750687 A JP 1750687A JP H0797064 B2 JPH0797064 B2 JP H0797064B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fiber
- cladding
- inspected
- core
- eccentricity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光フアイバの構造測定法に関し、とくに被測定
光フアイバを切断することなく光フアイバ内部構造を測
定する光フアイバ構造測定法に関するものである。
光フアイバを切断することなく光フアイバ内部構造を測
定する光フアイバ構造測定法に関するものである。
〔従来の技術〕 従来、光フアイバの内部構造を測定する方法としては、
被測定光フアイバを切断し、その切断断面を顕微鏡また
はテレビカメラを通して観察し、測定を行うという手法
が採られている。
被測定光フアイバを切断し、その切断断面を顕微鏡また
はテレビカメラを通して観察し、測定を行うという手法
が採られている。
従来の技術による測定法には、次のような問題点があ
る。
る。
第一に、従来の切断による方法では、常に被測定対象と
なる光フアイバを切断し、その切断面での構造パラメー
タを観測するので、被測定対象となる光フアイバは必ず
破壊されてしまう。
なる光フアイバを切断し、その切断面での構造パラメー
タを観測するので、被測定対象となる光フアイバは必ず
破壊されてしまう。
第二に、従来の方法では切断面においてのみ光フアイバ
の断面観測ができるので、光フアイバの光軸方向に沿つ
て連続的に構造パラメータを測定することができない。
そのため、光フアイバの一部分に生じている局所的な構
造パラメータの変動などは測定対象になりにくく、光フ
アイバの全長について正確な測定ができない。
の断面観測ができるので、光フアイバの光軸方向に沿つ
て連続的に構造パラメータを測定することができない。
そのため、光フアイバの一部分に生じている局所的な構
造パラメータの変動などは測定対象になりにくく、光フ
アイバの全長について正確な測定ができない。
第三に、光フアイバの切断には高度な精密性を要する
が、それによつても切断時に生じる光フアイバの傷や欠
け、切断面の傾きなどによつて測定精度が低下するの
で、構造パラメータを正確に測定することが難かしい。
が、それによつても切断時に生じる光フアイバの傷や欠
け、切断面の傾きなどによつて測定精度が低下するの
で、構造パラメータを正確に測定することが難かしい。
本発明は従来の問題点を解決し、光フアイバの構造パラ
メータを高精度で、かつ簡便に測定する方法を提供する
ため、光源と、画像処理機能を結合した撮像レンズおよ
びテレビカメラを含む撮像系とを、光源と撮像系を結ぶ
光軸が被検フアイバの長手方向に対して直交し、かつ被
検フアイバの中心を通る位置に配置し、被検フアイバを
フアイバの軸を中心に回転させるか、または光源と撮像
系を結ぶ光軸が被検フアイバ上の測定点を通過し、かつ
被検フアイバの軸に直交するように回転させ、前記回転
させたときの少くとも二つ以上の回転角における被検フ
アイバのクラツド外縁部およびコア・クラツド境界部の
相対位置を認識し、観測面の位置情報を基に被検フアイ
バ表面のレンズ効果の補正を行い、前記観測した角度に
おけるコア・クラツド境界部の真の位置を求めることに
より、前記二つ以上の測定角度における偏心量・クラツ
ド径およびコア径を求め、偏心量については正弦波関数
をフイツテイングし、クラツド径・コア径については平
均化処理を加えることにより、被検フアイバの構造パラ
メータを規定する偏心量・クラツド径・コア径およびク
ラツド非円率を求めることを特徴としている。
メータを高精度で、かつ簡便に測定する方法を提供する
ため、光源と、画像処理機能を結合した撮像レンズおよ
びテレビカメラを含む撮像系とを、光源と撮像系を結ぶ
光軸が被検フアイバの長手方向に対して直交し、かつ被
検フアイバの中心を通る位置に配置し、被検フアイバを
フアイバの軸を中心に回転させるか、または光源と撮像
系を結ぶ光軸が被検フアイバ上の測定点を通過し、かつ
被検フアイバの軸に直交するように回転させ、前記回転
させたときの少くとも二つ以上の回転角における被検フ
アイバのクラツド外縁部およびコア・クラツド境界部の
相対位置を認識し、観測面の位置情報を基に被検フアイ
バ表面のレンズ効果の補正を行い、前記観測した角度に
おけるコア・クラツド境界部の真の位置を求めることに
より、前記二つ以上の測定角度における偏心量・クラツ
ド径およびコア径を求め、偏心量については正弦波関数
をフイツテイングし、クラツド径・コア径については平
均化処理を加えることにより、被検フアイバの構造パラ
メータを規定する偏心量・クラツド径・コア径およびク
ラツド非円率を求めることを特徴としている。
本発明による光フアイバ構造測定法においては、被検フ
アイバを、フアイバの側面から観測するため、被検フア
イバを切断する必要がなく、フアイバ切断端面の状態が
測定値に影響を与えることはない。従つて光フアイバの
構造測定を非破壊で高精度に、かつ簡便に行うことがで
きる。
アイバを、フアイバの側面から観測するため、被検フア
イバを切断する必要がなく、フアイバ切断端面の状態が
測定値に影響を与えることはない。従つて光フアイバの
構造測定を非破壊で高精度に、かつ簡便に行うことがで
きる。
また、被検フアイバまたは光源および撮像系を回転させ
て観測を行うことにより、被検フアイバの円周方向にお
けるクラツド径・コア径・偏心量の変化を知ることが可
能で、これらのデータを処理することにより被検フアイ
バの真のクラツド径・コア径・偏心量およびクラツド非
円率を精度よく測定することができる。とくに偏心量に
ついては、正弦波関数をフイツテイングするという手法
により、各回転角度における偏心測定量の中から真の偏
心成分のみを抽出するため、電気的または機械的な測定
誤差要因を受け難い。
て観測を行うことにより、被検フアイバの円周方向にお
けるクラツド径・コア径・偏心量の変化を知ることが可
能で、これらのデータを処理することにより被検フアイ
バの真のクラツド径・コア径・偏心量およびクラツド非
円率を精度よく測定することができる。とくに偏心量に
ついては、正弦波関数をフイツテイングするという手法
により、各回転角度における偏心測定量の中から真の偏
心成分のみを抽出するため、電気的または機械的な測定
誤差要因を受け難い。
たとえば、撮像系の拡大倍率が上下方向に異なる場合、
第２図ａに示すように、従来の測定法においては、測定
される偏心量は撮像系の拡大倍率の歪の撮影を受けるた
め、偏心のない被検フアイバに対しても、上記の歪みに
対応する量εが偏心量として測定される。第２図ａで20
はクラツド、１はコア、22は真のコア，真のクラツド，
測定されるコアそれぞれの中心、23は測定されるクラツ
ド中心である。本発明による光フアイバ構造測定法にお
いては、被検フアイバの偏心量は、被検フアイバの円周
方向における偏心測定量の変化にもとづいて求められる
ことから、上記の歪の影響を受け難い。第２図ｂおよび
ｃに、偏心のない被検フアイバを測定する例として、本
発明による観測角度０゜および180゜における撮像系の
拡大倍率の歪の影響を示す。本発明による測定方法で
は、観測角度を変えても測定偏心量が変化しないので被
検フアイバの偏心量は零と判定される。偏心のない被検
フアイバを測定する場合も、撮像系の拡大倍率に歪が存
在しても、被検フアイバの円周方向における偏心量の変
化に対しては影響がなく、正弦波関数のフイツテイング
を行つた場合、その振幅が零とになり、被検フアイバの
偏心量は零と測定される。以下図面にもとづき実施例に
ついて説明する。
第２図ａに示すように、従来の測定法においては、測定
される偏心量は撮像系の拡大倍率の歪の撮影を受けるた
め、偏心のない被検フアイバに対しても、上記の歪みに
対応する量εが偏心量として測定される。第２図ａで20
はクラツド、１はコア、22は真のコア，真のクラツド，
測定されるコアそれぞれの中心、23は測定されるクラツ
ド中心である。本発明による光フアイバ構造測定法にお
いては、被検フアイバの偏心量は、被検フアイバの円周
方向における偏心測定量の変化にもとづいて求められる
ことから、上記の歪の影響を受け難い。第２図ｂおよび
ｃに、偏心のない被検フアイバを測定する例として、本
発明による観測角度０゜および180゜における撮像系の
拡大倍率の歪の影響を示す。本発明による測定方法で
は、観測角度を変えても測定偏心量が変化しないので被
検フアイバの偏心量は零と判定される。偏心のない被検
フアイバを測定する場合も、撮像系の拡大倍率に歪が存
在しても、被検フアイバの円周方向における偏心量の変
化に対しては影響がなく、正弦波関数のフイツテイング
を行つた場合、その振幅が零とになり、被検フアイバの
偏心量は零と測定される。以下図面にもとづき実施例に
ついて説明する。
第１図は本発明の光フアイバ構造測定法を用いた光フア
イバ構造測定装置の実施例の構成概要図である。１は光
源、３は被検フアイバ、４は撮像レンズ、５はテレビカ
メラ（TVカメラと略記）、６は被検フアイバ３をフアイ
バの軸を中心として回転させる回転機構付のフアイバセ
ツトステージ、２は光源１、被検フアイバ３、撮像レン
ズ４およびTVカメラ５を結ぶ光軸であり、光軸２は被検
フアイバ３の軸に直交する位置に配置する。７は画像処
理装置、８はTVモニタ、９はホストCPU、10はプリンタ
である。
イバ構造測定装置の実施例の構成概要図である。１は光
源、３は被検フアイバ、４は撮像レンズ、５はテレビカ
メラ（TVカメラと略記）、６は被検フアイバ３をフアイ
バの軸を中心として回転させる回転機構付のフアイバセ
ツトステージ、２は光源１、被検フアイバ３、撮像レン
ズ４およびTVカメラ５を結ぶ光軸であり、光軸２は被検
フアイバ３の軸に直交する位置に配置する。７は画像処
理装置、８はTVモニタ、９はホストCPU、10はプリンタ
である。
第３図は、第１図に示した光フアイバ構造測定装置を用
いてシングルモード光フアイバを側面から観測した場合
のモニタ画像の一例である。11は被検フアイバのクラツ
ド部、12はコア部を示す。
いてシングルモード光フアイバを側面から観測した場合
のモニタ画像の一例である。11は被検フアイバのクラツ
ド部、12はコア部を示す。
第４図は第３図に示したモニタ画像の直線▲▼上
における輝度分布を示したものである。被検フアイバを
ある回転角度から見たときの、見かけの構造パラメー
タ、すなわちクラツド径・コア径・偏心量は第４図の輝
度分布のデータを処理することにより得られる。第４図
において、クラツド外縁部の位置P1,P2は定められたス
ライス・レベルを用いて求められ、クラツド中心の位置
M1はP1とP2の中点として求められる。コア・クラツド境
界部の位置Q1,Q2およびコア中心の位置M2は、輝度分布
特性のR1,R2間の輝度データを処理することにより求め
られる。またコア・クラツド境界部の位置Q1,Q2および
コア中心の位置M2は、被検フアイバ表面のレンズ効果の
ため観測面の位置、すなわち撮像系の焦点と被検フアイ
バとの相対位置によつて変化するが、これは明暗比 の値をもとに補正を加えることによつて、真のコア・ク
ラツド境界の位置▲Ｑ＊ １▼▲Ｑ＊ ２▼および真のコア
中心位置▲Ｍ＊ ２▼に変換される。このとき当該観測角
度におけるクラツド径・コア径・偏心量はそれぞれ によつて表わされる。
における輝度分布を示したものである。被検フアイバを
ある回転角度から見たときの、見かけの構造パラメー
タ、すなわちクラツド径・コア径・偏心量は第４図の輝
度分布のデータを処理することにより得られる。第４図
において、クラツド外縁部の位置P1,P2は定められたス
ライス・レベルを用いて求められ、クラツド中心の位置
M1はP1とP2の中点として求められる。コア・クラツド境
界部の位置Q1,Q2およびコア中心の位置M2は、輝度分布
特性のR1,R2間の輝度データを処理することにより求め
られる。またコア・クラツド境界部の位置Q1,Q2および
コア中心の位置M2は、被検フアイバ表面のレンズ効果の
ため観測面の位置、すなわち撮像系の焦点と被検フアイ
バとの相対位置によつて変化するが、これは明暗比 の値をもとに補正を加えることによつて、真のコア・ク
ラツド境界の位置▲Ｑ＊ １▼▲Ｑ＊ ２▼および真のコア
中心位置▲Ｍ＊ ２▼に変換される。このとき当該観測角
度におけるクラツド径・コア径・偏心量はそれぞれ によつて表わされる。
また、光源と撮像系を結ぶ光軸が被検フアイバの軸に直
交していない場合、たとえば第５図に示すように光源13
の位置がＡからＢに変化した場合には、被検フアイバ14
を通し、対物レンズ15を介してテレビカメラ16により観
測される輝度分布のパターンは第６図に示すように変化
する。第６図の輝度分布において、IAは第５図の光源13
がＡの位置で光源ずれのないときの輝度分布であり、IB
は光源13がＢの位置で光源ずれのあるときの輝度分布で
ある。この輝度分布から求められる構造パラ−メータ
は、光源の位置ずれの影響の加わつたものとなるが、本
発明による光フアイバ構造測定装置においては、光源と
撮像系を結ぶ光軸が被検フアイバの軸に直交しているの
で、光源ずれの影響を受けることはない。
交していない場合、たとえば第５図に示すように光源13
の位置がＡからＢに変化した場合には、被検フアイバ14
を通し、対物レンズ15を介してテレビカメラ16により観
測される輝度分布のパターンは第６図に示すように変化
する。第６図の輝度分布において、IAは第５図の光源13
がＡの位置で光源ずれのないときの輝度分布であり、IB
は光源13がＢの位置で光源ずれのあるときの輝度分布で
ある。この輝度分布から求められる構造パラ−メータ
は、光源の位置ずれの影響の加わつたものとなるが、本
発明による光フアイバ構造測定装置においては、光源と
撮像系を結ぶ光軸が被検フアイバの軸に直交しているの
で、光源ずれの影響を受けることはない。
被検フアイバを30度ずつ回転させながら第１図の測定装
置を用いてシングルモード光フアイバのクラツド径、コ
ア径、偏心量を測定した結果を第７図乃至第９図に示
す。
置を用いてシングルモード光フアイバのクラツド径、コ
ア径、偏心量を測定した結果を第７図乃至第９図に示
す。
第７図はクラツド径Ｄの測定結果である。各観測角度に
おけるクラツド径の測定値の平均が被検フアイバのクラ
ツド径となる。また、各観測角度におけるクラツド径の
最大値と最小値の差を平均クラツド径で除した値、すな
わちδ/D×100がクラツド非円率となる。
おけるクラツド径の測定値の平均が被検フアイバのクラ
ツド径となる。また、各観測角度におけるクラツド径の
最大値と最小値の差を平均クラツド径で除した値、すな
わちδ/D×100がクラツド非円率となる。
第８図はコア径ｄの測定結果である。各観測角度におけ
るコア径の測定値の平均が被検フアイバのコア径とな
る。
るコア径の測定値の平均が被検フアイバのコア径とな
る。
第９図は偏心量の測定結果である。各観測角度における
偏心量の測定値に対して正弦波函数をフイツテイングし
た結果が実線で示されている。この正弦波関数の振幅Ａ
が被検フアイバの偏心量、初期位相が被検フアイバの偏
心の方向角θとなる。
偏心量の測定値に対して正弦波函数をフイツテイングし
た結果が実線で示されている。この正弦波関数の振幅Ａ
が被検フアイバの偏心量、初期位相が被検フアイバの偏
心の方向角θとなる。
第１図の測定装置を用いて測定を行つた測定値再現性と
従来の測定法による測定値再現性を比較した結果を次表
に示す。ここで測定値再現性は繰返し回数20での標準偏
差で示す値である。次表から解るとおり、本発明による
と、クラツド径，コア径，コア／クラツド偏心量、クラ
ツド非円率各項目とも従来法による測定に比べて、繰返
し測定を行つた場合の測定値標準偏差が小さく、信頼性
の高い測定が行われている。
従来の測定法による測定値再現性を比較した結果を次表
に示す。ここで測定値再現性は繰返し回数20での標準偏
差で示す値である。次表から解るとおり、本発明による
と、クラツド径，コア径，コア／クラツド偏心量、クラ
ツド非円率各項目とも従来法による測定に比べて、繰返
し測定を行つた場合の測定値標準偏差が小さく、信頼性
の高い測定が行われている。
〔発明の効果〕 以上説明したように、本発明による光フアイバ構造測定
法においては、次に述べる二つの理由、すなわち、 第１に、光フアイバの切断面を用いるのではなく、側面
を用いて測定を行うため、被検フアイバの切断を必要と
せず、被検フアイバの切断面の不整および傾きに起因す
る測定誤差が生じない。
法においては、次に述べる二つの理由、すなわち、 第１に、光フアイバの切断面を用いるのではなく、側面
を用いて測定を行うため、被検フアイバの切断を必要と
せず、被検フアイバの切断面の不整および傾きに起因す
る測定誤差が生じない。
第２に、被検フアイバまたは光源と撮像系を回転させて
測定を行い、各観測角度において得られた測定値に対し
て平均化および正弦波関数のフイツテイングを行うこと
により、被検フアイバの構造パラメータを求める方法で
あることから、再現性に優れたデータが得られる。
測定を行い、各観測角度において得られた測定値に対し
て平均化および正弦波関数のフイツテイングを行うこと
により、被検フアイバの構造パラメータを求める方法で
あることから、再現性に優れたデータが得られる。
という理由により、非破壊で、高精度かつ簡便に光フア
イバの内部構造の測定を行うことができ、その効果が大
きい。
イバの内部構造の測定を行うことができ、その効果が大
きい。
第１図は本発明の測定法を行うのに用いる光フアイバ構
造測定装置の実施例の構成概要図、第２図ａ乃至ｃは偏
心のないフアイバを測定する際の撮像系の拡大倍率の歪
の影響を説明する図で、第２図ａは従来の測定法、第２
図b,cはそれぞれ観測角度０゜および180゜における本発
明の測定法による観測結果を示す図、第３図は第１図の
測定装置を用いてシングルモード光フアイバを観測した
場合のモニタ画像、第４図は第３図のモニタ画像の線ａ
−ａ′上における輝度分布、第５図は光源の位置ずれを
説明する図、第６図は第５図における光源の位置ずれに
よる輝度分布のパターンの変化を示す図、第７図乃至第
９図はそれぞれ第１図の測定装置を用いてシングルモー
ド光フアイバのクラツド径，コア径および偏心量を測定
した結果である。 １……光源、２……光軸、３……被検フアイバ、４……
撮像レンズ、５……テレビカメラ、６……回転機構付フ
アイバセツトステージ、７……画像処理装置、８……テ
レビモニタ、９……ホストCPU、10……プリンタ、11…
…クラツド部、12……コア部、13……光源、14……被検
フアイバ、15……対物レンズ、16……テレビカメラ、20
……クラツド、21……コア、22……真のコア中心，真の
クラツド中心および測定されるコア中心、23……測定さ
れるクラツド中心
造測定装置の実施例の構成概要図、第２図ａ乃至ｃは偏
心のないフアイバを測定する際の撮像系の拡大倍率の歪
の影響を説明する図で、第２図ａは従来の測定法、第２
図b,cはそれぞれ観測角度０゜および180゜における本発
明の測定法による観測結果を示す図、第３図は第１図の
測定装置を用いてシングルモード光フアイバを観測した
場合のモニタ画像、第４図は第３図のモニタ画像の線ａ
−ａ′上における輝度分布、第５図は光源の位置ずれを
説明する図、第６図は第５図における光源の位置ずれに
よる輝度分布のパターンの変化を示す図、第７図乃至第
９図はそれぞれ第１図の測定装置を用いてシングルモー
ド光フアイバのクラツド径，コア径および偏心量を測定
した結果である。 １……光源、２……光軸、３……被検フアイバ、４……
撮像レンズ、５……テレビカメラ、６……回転機構付フ
アイバセツトステージ、７……画像処理装置、８……テ
レビモニタ、９……ホストCPU、10……プリンタ、11…
…クラツド部、12……コア部、13……光源、14……被検
フアイバ、15……対物レンズ、16……テレビカメラ、20
……クラツド、21……コア、22……真のコア中心，真の
クラツド中心および測定されるコア中心、23……測定さ
れるクラツド中心
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−85350（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−213225（ＪＰ，Ａ) 特開 昭53−11082（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】光フアイバの内部構造を測定する方法にお
いて、 光源と、画像処理機能を結合した撮像レンズおよびテレ
ビカメラを含む撮像系とを、前記光源と撮像系を結ぶ光
軸が被検フアイバの長手方向に対して直交し、かつ被検
フアイバの中心を通る位置に配置し、 前記被検フアイバをフアイバの軸を中心に回転させる
か、または前記光源と撮像系を結ぶ光軸が前記被検フア
イバ上の測定点を通過し、かつ被検フアイバの軸に直交
するように回転させ、 前記回転させたときの少くとも二つ以上の回転角におけ
る前記被検フアイバのクラツド外縁部およびコア・クラ
ツド境界部の相対位置を認識し、観測面の位置情報を基
に前記被検フアイバ表面のレンズ効果の補正を行い、 前記観測した角度におけるコア・クラツド境界部の真の
位置を求めることにより、前記二つ以上の測定角度にお
ける偏心量・クラツド径およびコア径を求め、 偏心量については正弦波関数をフイツテイングし、 クラツド径・コア径については平均化処理を加えること
により、 前記被検フアイバの構造パラメータを規定する偏心量・
クラツド径・コア径およびクラツド非円率を求める ことを特徴とする光フアイバ構造測定法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CA000543994A CA1295476C (en) | 1986-08-15 | 1987-08-07 | Method and apparatus of measuring outer diameter and structure of optical fiber |
| EP87111831A EP0256539A3 (en) | 1986-08-15 | 1987-08-14 | Method and apparatus of measuring outer diameter and structure of optical fiber |
| KR1019870008958A KR900005642B1 (ko) | 1986-08-15 | 1987-08-14 | 광파이버 구조 및 외경측정의 장치 및 방법 |
| US07/085,598 US4882497A (en) | 1986-08-15 | 1987-08-14 | Method and apparatus of measuring outer diameter and structure of optical fiber |
| AU76894/87A AU585728B2 (en) | 1986-08-15 | 1987-08-14 | Method and apparatus of measuring outer diameter and structure of optical fiber |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61-191534 | 1986-08-15 | ||
| JP19153486 | 1986-08-15 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63165726A JPS63165726A (ja) | 1988-07-09 |
| JPH0797064B2 true JPH0797064B2 (ja) | 1995-10-18 |
Family
ID=16276263
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1750687A Expired - Lifetime JPH0797064B2 (ja) | 1986-08-15 | 1987-01-28 | 光フアイバ構造測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0797064B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2610656B2 (ja) * | 1988-09-07 | 1997-05-14 | 住友電気工業株式会社 | 光ファイバ観察装置 |
| US6661502B1 (en) * | 1999-10-28 | 2003-12-09 | Fitel Usa Corp. | Method and apparatus for measuring the diameter and/or eccentricity of a coating layer of a coated optical fiber |
| WO2020162409A1 (ja) * | 2019-02-04 | 2020-08-13 | 日東電工株式会社 | プラスチック光ファイバのコア径計測方法およびそれに用いるプラスチック光ファイバのコア径計測装置、プラスチック光ファイバの欠陥検出方法およびそれに用いるプラスチック光ファイバの欠陥検出装置 |
| JP7495235B2 (ja) * | 2019-02-04 | 2024-06-04 | 日東電工株式会社 | プラスチック光ファイバのコア径計測方法およびそれに用いるプラスチック光ファイバのコア径計測装置、プラスチック光ファイバの欠陥検出方法およびそれに用いるプラスチック光ファイバの欠陥検出装置 |
| JP2020125961A (ja) * | 2019-02-04 | 2020-08-20 | 日東電工株式会社 | プラスチック光ファイバのコア径計測方法およびそれに用いるプラスチック光ファイバのコア径計測装置 |
| JP7216042B2 (ja) * | 2020-03-27 | 2023-01-31 | Kddi株式会社 | 光ファイバの屈折率分布の測定装置及び当該測定装置の処理装置 |
| CN113048901B (zh) * | 2021-03-05 | 2023-06-27 | 中国建筑材料科学研究总院有限公司 | 基于光流算法测量显微镜下纳米尺度三维形变的方法 |
-
1987
- 1987-01-28 JP JP1750687A patent/JPH0797064B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63165726A (ja) | 1988-07-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100923059B1 (ko) | 편심량 측정 방법 | |
| JP3508369B2 (ja) | 画像測定機 | |
| JP3464835B2 (ja) | 微小円筒形部品の穴径・同心度測定装置 | |
| JP2001194133A (ja) | 円筒形部品の同軸度測定方法及び測定装置 | |
| KR20190067946A (ko) | 광섬유 모재의 기하학적 속성을 결정하기 위한 방법 및 장치 | |
| JPH0797064B2 (ja) | 光フアイバ構造測定法 | |
| JP2509772B2 (ja) | 光コネクタの端面検査装置 | |
| JP2864993B2 (ja) | 表面形状測定装置 | |
| EP1703274B1 (en) | Defect inspecting method | |
| JP4018298B2 (ja) | 光ファイバの捻じれ検出方法 | |
| JP3633132B2 (ja) | 光ファイバ被覆用ダイス選別方法 | |
| JP3012726B2 (ja) | フェルール偏芯検査装置 | |
| JP2592906B2 (ja) | コネクタの構造パラメータの測定装置 | |
| JPH06317498A (ja) | 偏波面保存型光ファイバと半導体レーザとの組立工程における消光比測定方法 | |
| JPH08189816A (ja) | ダイス孔形状測定装置および測定方法 | |
| JP7846716B2 (ja) | 計測装置及び計測方法 | |
| JP3027046B2 (ja) | フェルール偏芯検査方法 | |
| JP2000221008A (ja) | 透明基板の検査方法および透明基板の検査装置 | |
| JPH08233545A (ja) | 穴形状測定方法および測定装置 | |
| JP2514288B2 (ja) | 光コネクタの端面検査装置 | |
| CN120403502A (zh) | 透明均匀性检测方法 | |
| JP3268877B2 (ja) | 非球面レンズの測定方法 | |
| JPS6324243B2 (ja) | ||
| JPH0145861B2 (ja) | ||
| JPH09159575A (ja) | レンズ検査装置 |