JPH079738B2

JPH079738B2 - 磁気記録再生装置

Info

Publication number: JPH079738B2
Application number: JP60191836A
Authority: JP
Inventors: 哲生飯島; 巌畠山
Original assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp
Current assignee: NTT Inc
Priority date: 1985-09-02
Filing date: 1985-09-02
Publication date: 1995-02-01
Anticipated expiration: 2010-02-01
Also published as: JPS6252774A

Description

【発明の詳細な説明】［発明の技術分野］本発明は、ハード磁気ディスク装置、フレキシブル磁気
ディスク装置、光磁気ディスク装置等の磁気記録再生装
置に関し、特に、当該磁気記録再生装置を高信頼化及び
高密度化する上で障害になっていた記録媒体の欠陥、突
起、異物等の影響を回避する構成の改良に関する。

［発明の技術的背景とその問題点］従来、リジッド又はフレキシブル磁気ディスク装置にお
いては、記録媒体と磁気ヘッドの衝突によって起こる媒
体クラッシュ又はヘッドクラッシュを避けるため、（１）記録媒体表面粗さを小さくして、相互接触の機
会を極力減らす、（２）記録媒体および磁気ヘッド周辺部を半密閉構造
にして、塵埃及び異物の混入付着を防止する、（３）記録媒体製造時に生ずる突起に対しては、その
製造後にバニッシュヘッドを使って突起を除去する、等の対策が必要とされていた。

しかしながら、上記対策（１）において、特にフレキシ
ブル媒体の場合に、表面粗さの最大高さを0.15μｍ以下
にすることは、塗布技術の点から困難である。

また、上記対策（２）によると、半密閉構造とは言え、
塵埃及び異物の混入は避けられず、媒体クラッシュ又は
ヘッドクラッシュの原因となる。

また、上記対策（３）については、例えば木暮、他によ
る「3,2ギカバイト集合形磁気ディスク装置用浮動ヘッ
ドおよび媒体の機械特性」電気通信研究所研究実用化報
告、Vol,31,No.1,pp291−303（1982）に示されるよう
に、AE（アコーステック・エミッョン）センサを用い
て、記録媒体表面上の突起とバニッシュスライダ（ヘッ
ド）との衝突現象をモニタしながら、上記突起を除去す
ることが行なわれている。

しかし、このようにして除去することができる突起の高
さは、上記文献例で明らかにされているように0.15μｍ
以上であり、従って、上記対策（３）を高密度・高信頼
な磁気ディスクシステムに、すぐには適用することがで
きない。

また、例えばバニッシュ直後に上記突起と磁気ヘッドと
が接触しなくても、薄膜形ディスクの場合は、磁性層表
面に形成している潤滑剤の装置動作中の流動によって、
また、塗布形ディスクの場合には塑性流動等によって前
記磁性層表面に凹凸ができることにより、何れの場合に
もついには記録媒体と磁気ヘッドとを衝突・クラッシュ
する事態を招く。

従って、従来対策（１）〜（３）を施しても、高信頼な
磁気ヘッド・記録媒体インターフェースの関係が完全に
は保証されないという問題があった。

このようなことから、従来にあっては、あらかじめバニ
ッシュヘッドでバニッシュする突起高さに比べて、大き
な浮上隙間となるように十分マージンを持たせて前記磁
気ヘッドが設計されていた。

しかしながら、この場合には低浮上隙間を実現して高密
度記録を達成しようとするも記録波長λ、浮上すきまｄ
との間にあるスペーシング損失＝54.5d/λ（dB）という
公知の関係式によってスペーシング損失が増大し、結果
として高密度記録が達成できないという問題点があっ
た。

即ち、従来の磁気記録再生装置に於ては記録媒体表面上
にある欠陥、突起、異物等のため高信頼かつ高密度な磁
気記録再生が達成できないという問題点があった。

［発明の目的］本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、その
目的は、高信頼且つ高密度に磁気記録・再生が行なえる
磁気記録再生装置を提供することにある。

［発明の概要］上記目的を達成するため、本発明の磁気記録再生装置
は、剛体又はフレキシブル基体上に形成された磁性薄層
からなる記録媒体との間で、磁気ヘッドを介して情報の
記録及び再生を行う磁気記録再生装置において、光学レ
ンズとこの光学レンズを取付けたアクチュエータとから
なる光学ヘッドを、前記記録媒体の移動方向に一致する
ように、且つ前記磁気ヘッドに先行して設けると共に、
前記アクチュエータと前記磁気ヘッドとをジンバルを介
して結合してなり、光学ヘッドが焦点制御されることに
応答して、前記磁性薄層表面の欠陥、突起及び異物等を
検出する手段と、前記欠陥等が検出されたときに、前記
光学ヘッドが焦点制御されることに応答して、前記欠陥
等の高さ及び／又は大きさが一定値以上であるか否かを
判定し、且つ一定値以上であれば、前記磁気ヘッドによ
る情報の記録又は再生動作を回避させる手段とを含むこ
とを特徴とする。

［発明の実施例］以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。

第１図は本発明が適用された磁気記録再生装置の要部及
び記録媒体の概略を示す構成説明図である。

この実施例の磁気記録再生装置では、磁気ヘッド２と、
記録媒体16の移動方向に一致するように、且つ前記磁気
ヘッド２に先行して設けられた光学ヘッド１と、この光
学ヘッド１と前記磁気ヘッド２を結合するジンバル12と
を基本的に備えている。

光学ヘッド１は、光源３の光ビーム４をミラー５で反射
させて、光学レンズ６により記録媒体16に照射させ、こ
の照射反射光を図示していない受光器で受ける。そし
て、光学レンズ６の保護手段を兼ねたアクチュエータ７
及び同８を支持体９により支持体体10に取付けている。

この光学ヘッド１に後続する磁気ヘッド２は、先端にコ
イル11が設けられ、またジンバル12によって、前記光学
ヘッド１のアクチュエータ７及び同８に結合されてい
る。

記録媒体16は、磁気的情報担体13とトラック案内手段14
とを基板15上に設けてなる。

このうよな各部において、光学ヘッド１のアクチュエー
タ７及び同８は、後述する焦点サーボ及びトラッキング
サーボ情報をフィードバックし、光学レンズ６を補正動
作する手段が含まれる。ここで、補正動作する手段は、
コイルを含む磁気回路で構成されていても、電歪素子等
の手段であってもよい。また、焦点サーボ及びラッキン
グサーボに必要な光学レンズ、ミラー、検出器及びコイ
ル等は図示を省略している。

同じく光学ヘッド１の光源３は、レーザであっても電子
ビーム等の集束されたビームであれば良く、例えば電子
ビームであれば、光学レンズ６は磁界レンズに置換えれ
ば良い。また、光源は光学レンズと一体の構成であって
も、所謂光源・光学レンズ分離型の構成であってもよ
い。

磁気ヘッド２は、接触形又は浮上形の何れでもよいが、
ヘッドと記録媒体とをサブミクロン以下で安定に保持さ
れる所謂浮動ヘッドてあった方が前述した高密度記録性
及び信頼性を向上させる観点から望ましい。

そして、磁気ヘッド２の構造は、バルク型又は薄膜型の
何れであっても良く、これ等の浮動のメカニズムは、正
圧形、負圧形又は正負両用形の何れであっても良い。ま
た、所謂垂直記録用のシングルポール形、補助磁極励磁
形であっても、リングタイプであっても、磁気抵抗効果
形のヘッドであってもよい。また、磁気ヘッド先端に光
を導いて、磁気光学的に再生をする方式のヘッドであっ
てもよい。なお、磁気ヘッドに流す記録電流発生回路、
再生回路及びフォーカラング、トラッキング等の検出手
段及び回路と、サーボ回路と、光学ヘッドのアクチュエ
ータ制御回路等は図示されていない。

記録媒体16の磁気的情報担体13は、所謂薄膜であって
も、磁性体を含有した塗膜であってもよい。なお、磁気
的情報担体13の残留磁化状態は基板15と水平でも垂直で
もその中間であってもよい。

同じく記録媒体７のトラック案内手段14は、光ディスク
等で用いる溝であっても、また光の反射率及び屈折率が
記録領域と所謂未記録領域で異なるものであっても、あ
るいは他の手段であってもよい。なお、このトラック案
内手段14は、第１図では基板15に付属して記したが、所
謂ステッピングモータの磁極の回転角度に対応させてあ
る決った量だけトラック位置を変え、これによってトラ
ック位置決めを行う手段であってもよい。

基板15は、材料が無機又は有機の何れであってもよく、
剛体２はフレキシブル体の何れであっても、又光に対し
と透明でも不透明であっても良い。

なお、17は記録媒体７の移動方向を示す矢印である。

次に、この実施例において、記録媒体16のトラック案内
手段14に光ビーム４を照射させながら、焦点サーボ及び
トランキングサーボを行う構成を説明する。

上記焦点サーボ及びトラッキングサーボを行う技術とし
ては、例えば光ディスク等に用いられて公知の技術を用
いても良く、その一例として第２図に検出器から焦点ず
れ信号を得る回路を示している。

図中20は４分割光検出器、21はプリアンプ、22は差動増
幅器、23は焦点ずれ信号出力端である。この図で、正常
な焦点サーボが成されていれば４分割光検出器20内に示
したｂのような円形ビーム、近すぎればa,遠すぎればｃ
のようなビームが得られる光学系構成になっている。尚
該光学学構成は公知なので図示していない。

この結果、焦点ずれ信号（検出器出力電圧）と焦点ずれ
量との関係は第３図で示される関係となる。ここで焦点
ずれ量に対して焦点ずれ信号が直線関係になるようにす
るため、必要に応じて補償回路が設けられるが、概略図
中に示した（３−１）から（３−２）の範囲が焦点制御
可能なダイナミックレンジとなりその値は光学ヘッドの
特性制御方法により異なるが、焦点ずれ量ΔＺの範囲と
しておよそI200〜I300μｍである。

次に、これらの制御ループを有する焦点制御回路の検出
領域に媒体欠陥又は突起があった場合に、その検出を行
なう動作と、磁気ヘッドを回避する動作とについて説明
する。

第６図は前記焦点ずれ信号出力電圧（関数ｘとする）の
時間変化及びそれから波生する各回路動作を示したもの
である。（ａ）は前記ｘのアナログ波形、（ｂ）はスラ
イスレベル（電圧）S₁を越す点でパルス化したときのパ
ルス化回路出力値、（ｃ）は同様にスライスレベルS
₂（＞S₁）に対応したパルス化回路出力値を示してい
る。また（ｄ）は（ａ）の微分波形（ｘ）であり、微分
回路出力点の電圧、（ｅ）は前記微分波形をスライスレ
ベルS₁′を越す値でパルス化したパルス化回路出力信号
である。

記録媒体表面に突起又は異物が付着した場合を考える
と、第６図（ａ）に示す焦点ずれ信号は（６−１）点で
スライスレベルS₁を越しその後スライスレベルS₂を越す
信号が発生する。このとき（ｂ）及び（ｃ）に表われる
信号パルスの有無、持続時間によって前記突起又は異物
の高さ、大きさを判別することができる。例えば、スラ
イスレベルS₁と同時にスライスレベルS₂にもパルスが発
生すれば高さの高い突起又は異物であり、前記パルスの
持続時間が長ければ、その長さに対応した大きさを有し
ていると判別できる。

この焦点ずれ信号は光学ビームを使う場合、その強度分
布は通常ガウシアン分布状であるため前記突起又は欠陥
の体積がある一定の値以上でないと第６図（ａ）の（６
−１）点以降に示したような焦点ずれ信号とはならな
い。

例えば、投影面積は小さいが高さが高い突起があったと
しよう。この場合、第６図（ｄ）に示した時間微分波形
情報ｘをも併用することによってある高さ以上の突起又
は異物を検出することが可能となる。第６図（ａ）の
（６−２）点に示した急激であるがスライスレベルS₁に
到達しない微小変化に対して、同図（ｄ）に示したよう
にスライスレベルS₁′以上でパルスを発生させる回路を
設けておく。ここでS₁′のレベルが低すぎるといわゆる
ノイズ、外乱により制御系全体が影響を受けるので注意
を要する。これらの値はビームの強度、分布検出器の特
性等の性能に左右されるのでその場合に応じて突起又は
異物の検出能力を考え合わせて決めればよい。

尚、第６図では簡単のためS₁、S₂、S₁′の各値をそれぞ
れの電圧レベルにとったが、必ずしもこの個数（レベル
数）、レベル値に限定されるものではない。

前記説明に於て、光ビームはガウス分布としたが、本発
明はこの例に限定されるものではなく、例えば磁気ディ
スク装置に適応した場合、トラック幅方向に何れかの方
法でビームを広げることによってトラック幅全体をカバ
ーできる構成であってもよい。以下にこの場合の実施例
について少し詳しく述べる。

まず検出すべき欠陥、突起、異物等の物理的サイズにつ
いて記述する。欠陥には２種類あり、凹状欠陥と凸状欠
陥がある。凹状欠陥の多くはピンホールであり、アルミ
ニウム基板材料中に混入するFe,Si、Mn等の不純物元素
が原因となり基板中に金属間化合物を形成し、アルマイ
ト形成時形成されるものである。このため基板母材の高
純度化、アルマイト条件、アルマイト研磨条件の適正化
が図られているが、10μｍ以上の欠陥がディスク面当り
50個程度あり、また信号品質に影響を与える位の大きさ
のものはせいぜい３μｍφ以上の欠陥が存在している。
例えば服部、３「3,2ギガバイト集合系磁気ディスク装
置用れんぞく薄膜媒体」電気通信研究書研究実用化報
告、Vol,31,No.1,pp277−289（1982）、および中西、３
「ギガバイト集合形磁気ディスク装置の電磁変換特性」
上記文献pp259−276（1982）。

次に、凸状欠陥の場合は、前記バニッシュで取り得る最
小の値0.15μｍ程度の高さのもので、ディスク基板面上
の長さは上記高さの一般に約100倍程度即ち数10μｍの
大きさであることは、これ等表面粗さのプロファイルを
とうたときの高さと長さの次元の差から明らかである。
即ち、凸状欠陥についても基板面への投影面積にして数
100μm²以上、せいぜい10μｍφの大きさを対象とすれ
ば良いことがわかる。

これらの欠陥を検出するため、トラック幅方向にわたっ
て一様に光ビームを照射する方法とその光学ヘッドの構
成の実施例について以下に述べる。即ち、（ｉ）光ビームは円形から楕円レンズを使ってだ円形
のビームにする。

（ii）さらにビームを分割してより広いトラック幅を
カバーする。

（iii）円形ビームをふってトラック幅相当の領域を
カバーする方法がある。

まず、（ｉ）について、レーザダイオードを使って記録
媒体面に焦点を結ばせたとすると該だ円の長／短軸は10
μｍ×１μｍ程度にすることは容易である。この場合、
10μｍ以上のトラック幅ならさらにビームを複数に分割
して（方法（ii））、該トラック幅全体をカバーするよ
うにする。ここで、最近のいわゆるウインチェスタタイ
プの磁気ディスク装置ではトラック幅は20μｍ程度から
50μｍ程度１〜400Tpi相当なのでビームの分割は２つか
らせいぜい５本程度と考えられ、本発明では光ディスク
のように記録を要しないという点を考え合わせるとレー
ザパワーの点からみて十分実用的な範囲である。

いま、第４図のような凸状欠陥（突起）ヘッド構成を考
えてみる。即ち、凸状欠陥42の基板上への投影面積を10
μｍφ、トラック幅20μｍ、光学ヘッドからの光ビーム
41が20μｍ×１μｍの楕円形状であるとする。この場
合、凸状欠陥の存在によって、最も単純に反射率が変わ
るものとすれば、該凸状欠陥は反射率変化ΔR/R＝50％
（R:欠陥がない場合の反射率）となり十分検出可能であ
る。

次に、円形状光ビームをトラック幅方向に変調する方法
がある。第５図は光変調器のシステム構成例を示す。31
は音響光学形光変調素子、32は集光レンズ、33は第０次
光（非回折光；これは使用せず）、34は第１次の回折光
であり光ディスク等で使われる通常の光学系35に導かれ
る。光学系35では記録媒体上１μｍ程度まで集束され。
36は搬送波発信機（ｃ）、37は変調信号（ｍ）、38
は変調器39は増幅器である。θは光変調器31への入射
角、２θは回折角であり、２θ＝・λ／νの関係で表
される。（：周波数、λ：波長、ν:TeO₂中を伝わる
音速）光変調素子はレーザプリンタ、レーザファクシミ
リ度に用いられている超音波変調器でよく、その光変調
原理は公知である。一例として、二酸化テルル単結晶
（TeO₂）を用いた光変調素子（例えば、日本電気製造OD
−8823型；搬送波周波数80MHz）に入射ビーム系100μｍ
で入射させると、変調帯域幅（△ｉ）は△ｉ〜0.54
ν/d〜22.7（MHz）但し、ν:TeO₂媒体中を伝わる音速
（＝4.2×10³m/s）となる。このとき被変調周波数幅２△ｉに対する１次
回折角の変化△（２θ）は、 Δ（２θ）＝２Δｉ・λ／ν より（λ:He−Neレーザ光源の波長とすると0.633nm） Δ（２θ）＝6.84×10^-3（rad）となる。光変調素子31から工学系35を通して記録媒体
（図示せず）までの距離を50mmとすれば、該１次回折ビ
ームの該記録媒体上のふれ △2x（μｍ）は、 △（2x）＝△（２θ）・50×10³＝342（μｍ）となり、前記磁気ヘッドのトラック幅を十分カバーでき
るオーダである。

以上述べたように、（ａ）単一ビームでシリンドリカル
レンズを用いてだ円光にして記録媒体上に照射する方
法、（ｂ）マルチビームで（ａ）と同様な手法でトラッ
ク幅をカバーする方法、（ｃ）円形ビームを光変調素子
で変調させる方法、等によって少なくともトラック幅全
域にわたって光ビームを照射することができる。これら
の方法によって記録媒体上の欠陥を検出することが可能
となる。

このとき、凸状欠陥は磁気ヘッドを接触すると磁気ヘッ
ド、記録媒体ともクラッシュする事態となるので、後述
するように検出と回避を行うことが特に重要となる。一
方凹状欠陥、とくに前述した３μｍφ程度の欠陥（ピン
ホール）についても信号品質を著しく劣化される場合に
ついて後述するようにエラースキップ、交替トラックの
選択、等を動作を行なわせればよい。

尚、本発明の好適な検出範囲について述べておく。既に
明らかなように、約0.8μｍφのスポットを変調させる
ことによってビーム走査した場合、瞬間的には、面積に
してその半分位即ち約0.63μｍφの領域までは反射率変
化50％程度で検出できる。しかし、それ以下例えば反射
率変化30％程度となる基板面への投影面積をもつ大きさ
の欠陥0.5μｍφでは検出が困難になる。この場合、通
常の種類の該欠陥の高さは前記したスケールファクタ10
0として0.005μｍとなるのでクラッシュの心配はない
が、球の異物が飛来した場合にはクラッシュの原因とな
る。このような極めてまれな場合も含めれば、本発明の
好適な検出範囲は直径0.5μｍ程度の球状欠陥が最小に
なる。

次に前記のようにして記録媒体上の突起又は異物検出し
た後、これを回避する方法を、第７図を使って説明す
る。

第７図（ａ）は、第６図（ｂ）で示したパルス化回路出
力端の信号である。このような信号が入ったとき、第６
図（ｂ）に示したように時間τ_０だけ経て焦点サーボを
オフにし、さらに、時間τ_１（≧τ_０）だけ経った時点
で第１図７・８に示したアクチュエータのコイルに電流
を起動し（（ｃ）図）、前記光学ヘッドを強制的にリフ
トオフする。この時前記コイルに流す電流は第６図で示
したスライスレベルS₁,S₂、S₁′等にパルスが検出され
たかどうかを判定しその媒体欠陥の高さを認識し、その
値に応じて決めればよい。次に、（ａ）図のパルス立下
りをみて、時間τ_１後コイル伝流を切るとともにおくれ
時間τ_２（τ_２≧τ_１＋τ_０）焦点サーボをオンにする
（ｃ）図。これによって第１図に示した磁気ヘッド２は
記録媒体16上の突起又は異物を有効に避けることができ
る。尚、τ_０は第１図で光学ヘッド１の中心から磁気ヘ
ッド２までの距離と、磁気ヘッド２・記録媒体16間の相
対速度とから決まるおくれ時間である。τ_１とτ_０及び
τ_２とτ_１の差は本質的には必要ではなく本方式の動作
を実現できるだけの動作マージンが得られればよい。

第７図においては、光学ヘッドをもつアクチュエータを
起動するのに、コイルに電流を流した場合を説明した
が、例えば電歪素子のアクチュエータを用いた場合には
該電歪素子に印加する電圧と言いかえればよく、要は前
記磁気ヘッドと結合された光学ヘッドを制御する手段で
あれば何でもよい。また、コイルに流す電流波形もパル
スでなくても本方式の動作が得られるものならばどんな
方式でもよい。例えば破線で示したバンバン制御波形７
−１であってもよい。さらに、第７図では第６図（ｂ）
の波形を例に動作を説明したが、これに限定されるもの
ではなく要するに突起又は異物検出回路（図示せず）最
終段の信号を対象とすればよい。

尚、第６図、第７図では突起又は異物、即ち、記録媒体
表面から出っぱっている場合について説明したが、ピン
ホール等の凹型欠陥の場合は前記焦点ずれ信号は負側に
出てくる。この場合も同様に負のスライスレベルを設け
ればよく、以後の信号処理も前述した方法と同様であ
る。しかしこの場合には磁気ヘッドと凹型欠陥部は直接
接触することがないため、必ずしも回避手段は実行しな
くてもよく、また、欠陥スキップ即ち欠陥と判定される
部分には記録又は再生しないという手法が採られてもよ
い。この場合、欠陥部のトラック番号、セクタ番号を記
憶しておくためのメモリが備えられていてもよい。

また、本実施例ではレーザ光源を用いる焦点サーボ技術
（４分割検出器）を応用した方式を記述したが、本方式
はこれに限定されるものではなく、記録媒体上の欠陥、
突起、異物、等が検出できるものならば何でもよい。

例えば、マイケルソン干渉計を応用することも可能であ
る。この場合、明細書の第22頁20行目の「R_O,R_S」をとを入射光及び散乱・反射光の波数ベクトル、ｋを波
数、ｎを屈折率とすると、焦点面が突起等によってだけ移動したときの光路点Δｌはであらわされる。今、ヘッド記録媒体相対速度が小さい
とみなされる場合には、ｎ＝１とおけば、Δｌはおよそ、Δｌ〜２Δγとなる
ことにより、半波長分の突起に対して１波長の干渉縞の
移動が起こることになる。この移動量・方向を検知して
前述の方式で判別・回避すればよい。

最後に、本発明になる媒体欠陥の検出及び回避手段を実
装置に組込んで使用した場合一層の高信頼化がはかれる
ことにつてい述べる。既にこれまで述べたことからわか
るように、まず、記録時に記録媒体上の欠陥（突起）が
多いとスキップ（回避）動作がひんぱんとなり処理能力
が低下することが予想される。しかしこれは、媒体の記
録能力が低下したことを示唆するもので、媒体劣化の兆
候と判断される。従って、交替トラックに記録する、記
録媒体そのものを交換する等の処理を実行する。この場
合、エラー検出手段は記録媒体劣化予防手段としても機
能していることになる。

次に、記録時に正常であったのにくり返り再生している
うちに欠陥（突起）が検出されるようになったとしよ
う。この場合、通常備えられているエラー訂正機能の範
囲で救済できればよいが、さらに悪化すれば前記と同様
なチェック機能を働かせる。また、どうしても再生が必
要な場合には、欠陥ジャンプの程度を小さくする等の接
触軽減操作をすることも可能である。

これらの方式的手段による信頼性向上はいずれも欠陥
（突起）の検出手段を持っていることによるもので、デ
ータの信頼性と、ヘッド及び記録媒体部品の信頼性とを
共に向上できるという従来にはない利点を有することは
明らかである。

［発明の効果］以上説明したように、本発明によれば、記録媒体移動方
向と一致し、且つ先行する光学ヘッドで欠陥等を検出す
ることにより、後続する磁気ヘッドが欠陥等に衝突する
のを未然に回避するように構成したため、磁気ヘッドの
決定的なクラッシュ要因を防止することができる。ま
た、本発明によれば欠陥等を検出する手段として集束ビ
ームを用いているので１μｍ以下の高精度な欠陥等の検
出ができるとともに、簡単な回路を用いて欠陥等の高
さ、大きさ等を判定し、この情報をもとに焦点、サーボ
機構にフィードバックしているため、上記媒体上の欠
陥、突起、異物等と磁気ヘッドは接触せず、また、方式
的サポートを併用することにより磁気ヘッド及び記録媒
体また記録情報を高信頼化できるという利点がある。

また、上記利点によって磁気ヘッドはマージン限界まで
記録媒体との浮上すきまを小さくできため高密度記録で
きるという利点がある。さらに、本発明の構成部品は汎
用部品を使え、既存のアセンブリ技術の範囲で構成でき
るので小型にして安価で生産性にもすぐれるという利点
がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明が適用された磁気記録再生装置の要部及
び記録媒体の概略を示す構成説明図、第２図及び第３図
は焦点サーボ検出構成の説明図、第４図及び第５図はト
ラッキングサーボ構成の説明図、第６図は記録媒体の欠
陥等を検出・判定する動作を説明するタイムチャート、
第７図は磁気ヘッド回避する動作を説明するタイムチャ
ートである。１……光学ヘッド、２……磁気ヘッド３……光源、６……光学レンズ 7,8……アクチュエータ 12……ジンバル、16……記録媒体

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】剛体又はフレキシブル基体上に形成された
磁性薄層からなる記録媒体16との間で、磁気ヘッド２を
介して情報の記録及び再生を行う磁気記録再生装置にお
いて、光学レンズ６とこの光学レンズ６を取付けたアク
チュエータ７、８とからなる光学ヘッド１を、前記記録
媒体16の移動方向に一致するように、且つ前記磁気ヘッ
ド２に先行して設けると共に、前記アクチュエータ７、
８と前記磁気ヘッド２とをジンバル12を介して結合して
なり、前記光学ヘッド１が焦点制御されることに応答し
て、前記磁性薄層表面の欠陥、突起及び異物等を検出す
る手段と、前記欠陥等が検出されたときに、前記光学ヘ
ッドが焦点制御されることに応答して、前記欠陥等の高
さ及び／又は大きさが一定値以上であるか否かを判定
し、且つ一定値以上であれば、前記磁気ヘッド２による
情報の記録又は再生動作を回避させる手段とを含むこと
を特徴とする磁気記録再生装置。