JPH0798226B2 - Semiconductor lead bending method - Google Patents
Semiconductor lead bending methodInfo
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- JPH0798226B2 JPH0798226B2 JP61156029A JP15602986A JPH0798226B2 JP H0798226 B2 JPH0798226 B2 JP H0798226B2 JP 61156029 A JP61156029 A JP 61156029A JP 15602986 A JP15602986 A JP 15602986A JP H0798226 B2 JPH0798226 B2 JP H0798226B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、樹脂モールドされた半導体の外部リードの曲
げ加工法に関するものである。The present invention relates to a method of bending an external lead of a resin-molded semiconductor.
従来の半導体パッケージの製造方法及び半導体パッケー
ジの製造工程における半導体のリード曲げ加工法の概要
を第5図ないし第9図に基づき説明する。An outline of a conventional semiconductor package manufacturing method and a semiconductor lead bending method in a semiconductor package manufacturing process will be described with reference to FIGS.
第5図は半導体パッケージの製造工程図、第6図は半導
体パッケージの初期の製造工程でパターン打抜きされた
リードフレームの平面図を示すもので、半導体パッケー
ジの製造は、先ず第5図の製造工程に示すように、リー
ドフレーム素材(例えば2%Sn−Cu合金の金属薄板)を
プレスにより所定のパターンに打抜加工して第6図に示
す如きリードフレーム1を得る。リードフレーム1は、
外部リード2,内部リード3,タブ4,ダム5からなり、第6
図の2点鎖線で囲った範囲が後工程でモールドされるモ
ールド範囲である。そして、モールド工程前にリードフ
レーム1のタブ4上に別工程で製造された半導体ペレッ
ト(図示省略)を搭載し接着して、半導体ペレットと内
部リード3とを接続し、その後、半導体樹脂封止用の注
型金具によってリードフレーム1のモールド範囲をモー
ルドする。第7図は、モールド工程後の状態を示す斜視
図であり、同図に示すようにモールド樹脂により、タブ
4上の半導体ペレット,内部リード3がモールド部7内
に樹脂封止される。そして、半導体樹脂封止用注型金具
からはみ出たモールド樹脂のダムばり6と、リードフレ
ーム1のダムを切除した後に、外部リード2を下方へ曲
げ加工し、以上の製造工程を経て、第8図(a)の半導
体パッケージ断面図に示すような半導体パッケージ8が
得られる。FIG. 5 is a manufacturing process diagram of the semiconductor package, and FIG. 6 is a plan view of a lead frame punched with a pattern in the initial manufacturing process of the semiconductor package. As shown in FIG. 6, a lead frame material (for example, a thin metal plate of 2% Sn-Cu alloy) is punched into a predetermined pattern by a press to obtain a lead frame 1 as shown in FIG. The lead frame 1 is
External lead 2, internal lead 3, tab 4, dam 5
A range surrounded by a chain double-dashed line in the figure is a mold range to be molded in a later step. Then, before the molding step, a semiconductor pellet (not shown) manufactured in a separate step is mounted and adhered on the tab 4 of the lead frame 1 to connect the semiconductor pellet and the internal lead 3, and then the semiconductor resin encapsulation. The molding range of the lead frame 1 is molded by a casting metal fitting for. FIG. 7 is a perspective view showing a state after the molding step. As shown in FIG. 7, the semiconductor pellet on the tab 4 and the inner lead 3 are resin-sealed in the molding portion 7 by the molding resin. Then, after cutting the dam burr 6 of the mold resin and the dam of the lead frame 1 protruding from the casting mold for semiconductor resin encapsulation, the outer lead 2 is bent downward, and through the above manufacturing process, A semiconductor package 8 as shown in the semiconductor package sectional view of FIG.
ところで、このようなリード曲げ加工時に、外部リード
2を機械的に拘束しない状態で曲げ加工を行なうと、曲
げ加工力が内部リード3及びモールド部7へ伝達し、そ
の結果、第8図(b)に示すようにモールド部7と内部
リード3の上面との界面に引張応力が作用して剥離が生
じ、ひいては内部リード3とモールド部7との間に隙間
9が発生することもあった。隙間9は、その間隔δが数
μm〜数10μm,奥行きl1が数100μm程度であるが、こ
のよな隙間9が生じると、隙間9に外部から水分が侵入
し半導体パッケージの内部配線に腐食,断線が生じて故
障の原因となる。By the way, in such a lead bending process, if the bending process is performed without mechanically restraining the outer lead 2, the bending force is transmitted to the inner lead 3 and the molding portion 7, and as a result, as shown in FIG. ), Tensile stress acts on the interface between the mold portion 7 and the upper surface of the inner lead 3 to cause peeling, and eventually a gap 9 may be generated between the inner lead 3 and the mold portion 7. The gap 9 has a gap δ of several μm to several tens of μm and a depth l 1 of several hundred μm. When such a gap 9 is generated, moisture enters from the outside into the gap 9 and corrodes the internal wiring of the semiconductor package. ∙ Disconnection may occur and cause malfunction.
そこで、従来は半導体パッケージの隙間発生の防止を図
るために、例えば特公昭49−49107号公報等に示すよう
に、リード曲げ加工時に曲げ加工を行なう外部リード近
辺を上下方向より機械的に拘束する等の対策を講じてい
た。Therefore, conventionally, in order to prevent the occurrence of a gap in the semiconductor package, as shown in, for example, Japanese Patent Publication No. 49-49107, mechanically restraining the vicinity of the external lead to be bent at the time of bending the lead from above and below. I was taking measures such as.
第9図は、このような隙間発生防止を図るための従来の
リード曲げ加工の局部断面図を示すものであり、既述し
た第8図(b)と同一部分には同一符号が付してある。
すなわち、2は外部リード,3は内部リード,7はモールド
部であり、従来は、リードげ加工時に、外部リード2の
リード曲げ部位を、上面拘束治具10と下面拘束治具11と
により機械的に拘束し、上下方向から拘束力Pを負荷し
た状態で外部リード2に下向きの曲げ加工力(リード曲
げ荷重)を加えることにより、曲げ加工力が内部リード
3及びモールド部7に伝達するのを防止して、内部リー
ド3とモールド7との界面に隙間が発生するのを防止し
ていた。FIG. 9 shows a local sectional view of a conventional lead bending process for preventing the occurrence of such a gap. The same parts as those in FIG. 8 (b) described above are designated by the same reference numerals. is there.
That is, 2 is an external lead, 3 is an internal lead, and 7 is a mold part. Conventionally, during lead bending, the lead bending portion of the external lead 2 is machined by the upper surface restraint jig 10 and the lower surface restraint jig 11. The bending force is applied to the external lead 2 in a downward direction (lead bending load) while the binding force P is applied from above and below and the bending force is transmitted to the internal lead 3 and the molding portion 7. To prevent the occurrence of a gap at the interface between the inner lead 3 and the mold 7.
このようなリード曲げ加工法においては、リード部材2
の材質,形状,寸法等によってリード曲げ加工に必要な
リード曲げ荷重が異なるため、リード曲げ荷重の大きさ
に応じて拘束治具10,11に加える機械的拘束力Pも変え
る必要がある。しかしながら、この種の拘束力Pの大き
さには限度があり、拘束力Pが大きくなりすぎると外部
リード2の拘束部位に損傷が生じる場合があった。特
に、モールド内部7へ曲げ加工力が伝達するのを防止す
る力は、拘束治具10,11のリード押さえ幅l2(第9図参
照)と拘束力Pの積により決定されるので、リード曲げ
加工時にリード押さえ幅l2の値を小さく設定しようとす
る場合には、その分拘束力Pを反比例して大きくしなけ
ればならず、その結果、リード2の拘束面に加わる面圧
が限界値を超え、リード2に降伏応力が生じてリード2
に損傷が生じ、大きな曲げ荷重を必要とするリード曲げ
加工を精度良く行ない得ない問題を有していた。In such a lead bending method, the lead member 2
Since the lead bending load required for the lead bending process differs depending on the material, shape, size, etc. of the above, it is necessary to change the mechanical restraining force P applied to the restraining jigs 10, 11 according to the magnitude of the lead bending load. However, there is a limit to the magnitude of this type of restraint force P, and if the restraint force P becomes too large, the restraint site of the external lead 2 may be damaged. In particular, the force that prevents the bending process force from being transmitted to the inside of the mold 7 is determined by the product of the lead pressing width l 2 (see FIG. 9) of the restraint jigs 10 and 11 and the restraint force P. When the value of the lead pressing width l 2 is set to be small during bending, the restraining force P must be increased in inverse proportion to that, and as a result, the surface pressure applied to the restraining surface of the lead 2 is limited. Value is exceeded, yield stress occurs in lead 2 and lead 2
There is a problem in that lead bending that requires a large bending load cannot be performed with high accuracy.
本発明は、上記した従来技術の問題点を解消しつつ、リ
ード曲げ加工時にモールド部と内部リードとの界面に隙
間が生じるのを有効に防止し得るリード曲げ加工法を提
供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a lead bending method capable of effectively preventing the formation of a gap at the interface between a mold portion and an internal lead during lead bending while solving the above-mentioned problems of the prior art.
上記目的は、半導体のモールド部から突出する外部リー
ドを曲げ加工するリード曲げ加工を、下型の支持部に外
部リードを載置して半導体を下型で保持し、上型を下降
させて上型の押え面とモールド部の上面との間に僅かな
ギャップを保った状態で下型の支持部より外側の外部リ
ードの部分に下型方向の曲げ荷重を加え、この曲げ荷重
を加えることにより変位するモールド部の上面を上型の
押え面に当接させてモールド部の変位を拘束し、これに
より外部リードのモールド部から突出する部分の曲げモ
ーメントを支持部で支持される部分の曲げモーメントと
比べて十分に小さく維持した状態で外部リードを曲げる
ことにより前記外部リードを所定の形状に成形すること
により達成される。The purpose of the above is to perform a lead bending process for bending an external lead protruding from the mold part of a semiconductor by placing the external lead on the support part of the lower mold to hold the semiconductor in the lower mold and lowering the upper mold to raise the upper mold. With a slight gap maintained between the die pressing surface and the upper surface of the mold part, apply a bending load in the direction of the lower mold to the external lead parts outside the support part of the lower mold, and apply this bending load. The upper surface of the displacing mold part is brought into contact with the pressing surface of the upper mold to restrain the displacement of the mold part, whereby the bending moment of the part of the external lead protruding from the mold part is the bending moment of the part supported by the supporting part. This is achieved by bending the outer leads while keeping them sufficiently small compared with the above, to form the outer leads into a predetermined shape.
本発明のリード曲げ加工法の作用を第1図(a),
(b)に基づき説明する。第1図(a)は、本発明のリ
ード曲げ加工法の原理図であり、図中、2は半導体の外
部リード、3は内部リード、7はモールド部、12はリー
ド下面拘束点、13はモールド部上面拘束治具、PMはリー
ド曲げ荷重である。The operation of the lead bending method of the present invention is shown in FIG.
A description will be given based on (b). FIG. 1 (a) is a principle diagram of the lead bending method of the present invention. In the figure, 2 is an external lead of a semiconductor, 3 is an internal lead, 7 is a mold portion, 12 is a lead lower surface restraint point, and 13 is Mold top restraint jig, P M is lead bending load.
しかして、半導体の外部リード2の下部をリード下面拘
束点12で支持し、モールド部7の上面をモールド部上面
拘束治具13で押さえて、モールド部7の上方向への変位
を拘束しながらリード曲げ加工を行なう。外部リード2
の曲げ変形が進むにつれてモールド部7の持ち上がろう
とする力が大きくなるが、モールド部7は上方向への変
位が拘束されているため、モールド部7は上に持ち上が
ることなく一定状態に保たれる。この時の外部リード2
及びモールド部7内部の曲げモーメント分布を第1図
(b)に示す。すなわち、第1図(b)に示すようにリ
ード曲げ荷重PMを加えることにより、外部リード2には
リード2を曲げるための負の曲げモーメントM1が発生す
るが、モールド部7の内部には、モールド部の上方向の
変位を拘束する力が作用するため、負の曲げモーメント
が発生せずモーメントはほとんど零に近く、モールド部
7の端部14近傍でのリードに発生するモーメントもほぼ
零となる。従って、半導体のリードは、モールド端部近
傍で変形することなく、そのためモールド部7と内部リ
ード3との間に隙間が発生しない。Then, the lower part of the semiconductor outer lead 2 is supported by the lead lower surface restraint point 12, and the upper surface of the mold portion 7 is pressed by the mold portion upper surface restraint jig 13 while restraining the upward displacement of the mold portion 7. Perform lead bending. External lead 2
As the bending deformation of the mold progresses, the force to lift the mold part 7 increases, but since the upward displacement of the mold part 7 is restricted, the mold part 7 does not lift up and is kept in a constant state. Be drunk External lead 2 at this time
The bending moment distribution inside the mold part 7 is shown in FIG. 1 (b). That is, as shown in FIG. 1 (b), when a lead bending load P M is applied, a negative bending moment M 1 for bending the lead 2 is generated in the outer lead 2, but inside the mold part 7. Is a force that restrains the upward displacement of the mold portion, so that a negative bending moment is not generated, the moment is almost zero, and the moment generated in the lead near the end 14 of the mold portion 7 is almost the same. It becomes zero. Therefore, the semiconductor leads are not deformed near the ends of the mold, so that no gap is generated between the mold part 7 and the inner leads 3.
本発明の一実施例を第2図ないし第4図に基づき説明す
る。An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
第2図は本発明に係るリードフレーム曲げ加工法を実施
するためのリード曲げ加工装置の正面図であり、曲げ加
工前の状態を示し、第3図は上記リード曲げ加工装置の
曲げ加工後の状態を示す正面図、第4図は第1図のA部
を拡大して評わす一部省略斜視図である。FIG. 2 is a front view of a lead bending apparatus for carrying out the lead frame bending method according to the present invention, showing a state before bending, and FIG. 3 shows a state after bending of the lead bending apparatus. FIG. 4 is a front view showing the state, and FIG. 4 is a partially omitted perspective view in which the portion A of FIG. 1 is enlarged and evaluated.
第2図において、20は半導体パッケージ8を曲げ加工時
にセットする下型で、下型20には半導体パッケージ8の
モールド部7を収容する収容溝21が設けられ、収納溝21
の両側縁には外部リード2の曲げ点下面側を支持する下
面支持部22が穿設されている。In FIG. 2, reference numeral 20 is a lower die for setting the semiconductor package 8 during bending, and the lower die 20 is provided with an accommodation groove 21 for accommodating the mold portion 7 of the semiconductor package 8.
A lower surface support portion 22 for supporting the lower surface side of the bending point of the outer lead 2 is formed on both side edges of the.
23は半導体パッケージ8のモールド部7の上方向の変位
を拘束する上型であり、上型23はエアシリンダ24の押圧
力によってモールド部7の上方向の変位を拘束するもの
である。上型23は、第4図に示すように、半導体パッケ
ージ8のモールド部7上面を押さえて拘束する押さえ面
25を有する。また押さえ面25の側縁に凹部26,凸部27が
櫛歯状に複数配設され、エアシリンダ24の作用により上
型23が最下点に到る時に、凹部26が外部リード2の上面
に位置し、且つ凸部27が下型20の支持部22の上面に当接
するようにしてある。そして、この凸部27が支持部22に
当接した時に、モールド部7の上面と上型23の押さえ面
25との間には僅かな隙間が保てるように設定して、エア
シリンダ24の力がリード曲げ加工前にモールド部7に直
接作用しないようにしてある。Reference numeral 23 is an upper die for restraining the upward displacement of the mold portion 7 of the semiconductor package 8. The upper die 23 is for restraining the upward displacement of the mold portion 7 by the pressing force of the air cylinder 24. As shown in FIG. 4, the upper die 23 is a pressing surface that presses and restrains the upper surface of the mold portion 7 of the semiconductor package 8.
Having 25. Further, a plurality of concave portions 26 and convex portions 27 are arranged on the side edge of the pressing surface 25 in a comb-teeth shape, and when the upper die 23 reaches the lowest point by the action of the air cylinder 24, the concave portion 26 is the upper surface of the external lead 2. And the convex portion 27 is in contact with the upper surface of the support portion 22 of the lower die 20. When the convex portion 27 contacts the support portion 22, the upper surface of the mold portion 7 and the pressing surface of the upper die 23 are pressed.
It is set so that a slight gap can be maintained between the mold 25 and 25, so that the force of the air cylinder 24 does not directly act on the mold portion 7 before the lead bending process.
28は、外部リード2に曲げ荷重(垂直荷重)を加える曲
げローラ機構であり、曲げローラ機構28は一対のローラ
部材28a,28bが上型23及び下型20の左右両側面に沿って
上下往復動するように接着され、ローラ部材28a,28bの
下降力によりリード曲げ荷重PMが生じる。Reference numeral 28 denotes a bending roller mechanism that applies a bending load (vertical load) to the outer lead 2. In the bending roller mechanism 28, a pair of roller members 28a and 28b reciprocate up and down along the left and right side surfaces of the upper mold 23 and the lower mold 20. The lead bending load P M is generated by the movably adhered members and the downward force of the roller members 28a and 28b.
次に、本実施例のリード曲げ加工装置を用いてリード曲
げ加工の工程を説明する。Next, a lead bending process using the lead bending apparatus of this embodiment will be described.
リード曲げ加工を行なう場合には、先ず、下型20上に半
導体パッケージ8をセットし、外部リード2の曲げ点下
面側を支持部22に位置させる。次いで、エアシリンダ24
により上型23を下げる。上型23が最下点まで下がると、
上型23の凸部27が下型20の支持部22に当接し、押さえ面
25が半導体パッケージのモールド部7の上に僅かな隙間
を保持して位置する。この時のエアシリンダ24に加える
圧力は、この後のリード曲げ加工においてモールド部7
から作用する力によって上型23が持ち上げられない程度
に充分に大きくする。このようにしてエアシリンダ24に
圧力を加えた状態で曲げローラ機構28を矢印B方向に下
降させると、外部リード2にリード曲げ荷重PMが加わ
り、外部リード2に曲げ変形が生じる。曲げ変形が進む
と、モールド部7は、押さえ面25とモールド部7との間
の僅かな隙間分だけ若干持ち上がり、モールド部7上面
は上型22の押さえ面25と接する。更に、リード曲げ変形
が進むとモールド部7の上方向に持ち上がろうとする力
は大きくなり、押さえ面に加わる上方向の圧力は上昇す
るが、エアシリンダ24には前述したようにモールド部7
の上方向の変位を拘束する充分な圧力が加わっているた
め、上型23が持ち上がることはない。リード曲げ加工後
の状態を第3図に示す。しかして、本実施例のリード曲
げ加工によれば、発明の〔作用〕の項でも既述したよう
に、モールド部7の内部には、エアシリンダ24からの加
圧力によってモールド部7の上方向の変位を拘束する力
が作用するため、負の曲げモーメントが発生せず、その
ためモールド部7内部までリードの曲げ変形が及ぶのを
防止し、内部リードとモールド部の界面に隙間が生じる
のを防止することができる。更に本実施例によれば、従
来のように外部リードに拘束治具によって大きな機械的
拘束力を与える必要性がなくなり、モールド部上面の変
位拘束力だけで適正なリード曲げ加工が行ない得るの
で、外部リードに降伏応力が生じることなく、リード損
傷の発生を防止できる。更に、本実施例によれば、モー
ルド部7に与える力は、リード曲げ加工時にモールド部
7が持ち上がらないようにする拘束力であれば良く、そ
の設定拘束力に厳密性を要求されないので、リード曲げ
加工制御を簡単に行ない得る。When performing the lead bending process, first, the semiconductor package 8 is set on the lower die 20, and the lower surface side of the bending point of the external lead 2 is positioned on the support portion 22. Next, the air cylinder 24
To lower the upper mold 23. When the upper mold 23 goes down to the lowest point,
The convex portion 27 of the upper die 23 comes into contact with the support portion 22 of the lower die 20, and the pressing surface
25 is positioned above the mold portion 7 of the semiconductor package with a slight gap. The pressure applied to the air cylinder 24 at this time is the same as that of the mold portion 7 in the subsequent lead bending process.
It is made large enough so that the upper mold 23 cannot be lifted by the force acting from. When the bending roller mechanism 28 is lowered in the direction of the arrow B with the pressure applied to the air cylinder 24 in this manner, the lead bending load P M is applied to the outer lead 2 and the outer lead 2 is bent and deformed. As the bending deformation progresses, the mold portion 7 is slightly lifted by a small gap between the pressing surface 25 and the mold portion 7, and the upper surface of the mold portion 7 contacts the pressing surface 25 of the upper die 22. Further, as the lead bending deformation progresses, the force that tries to lift the mold part 7 upward increases, and the upward pressure applied to the pressing surface rises.
Since sufficient pressure is applied to restrain the displacement in the upward direction, the upper mold 23 does not lift. The state after lead bending is shown in FIG. Therefore, according to the lead bending process of the present embodiment, as already described in the [Operation] section of the invention, the pressure applied from the air cylinder 24 causes the mold portion 7 to move upward in the mold portion 7 in the upward direction. Since a force that restrains the displacement of the lead acts, a negative bending moment is not generated, which prevents the lead from bending and deforming to the inside of the mold portion 7, and prevents a gap from being formed at the interface between the inner lead and the mold portion. Can be prevented. Furthermore, according to this embodiment, it is not necessary to apply a large mechanical restraint force to the external lead by the restraint jig as in the conventional case, and proper lead bending can be performed only by the displacement restraint force on the upper surface of the mold portion. It is possible to prevent lead damage without causing a yield stress on the outer leads. Further, according to the present embodiment, the force applied to the mold portion 7 may be any restraining force that prevents the mold portion 7 from being lifted during lead bending processing, and the set restraining force does not require strictness. Bending control can be easily performed.
以上のように本発明によれば、リード曲げ加工時に、モ
ールド部内部までリードの曲げ変形が及ばないようにし
て、モールド部と内部リードとの界面に隙間が生じるの
を防止し、且つ曲げ加工時にリードに損傷が生じるよう
な不具合を解消することができる。As described above, according to the present invention, at the time of bending a lead, the bending deformation of the lead is prevented from reaching the inside of the mold portion, thereby preventing a gap from being generated at the interface between the mold portion and the internal lead, and performing the bending work. It is possible to eliminate the problem that leads are sometimes damaged.
第1図(a),(b)は本発明のリード曲げ加工法の原
理を示した模式図、第2図は本発明のリード曲げ加工法
に使用するリード曲げ加工装置の要部正面図、第3図は
第2図のリード曲げ加工装置の曲げ加工後の状態を表わ
す要部正面図、第4図は第2図のA部を拡大して表わす
部分斜視図、第5図は半導体パッケージの製造工程図、
第6図は本発明のリード曲げ加工に使用するリードフレ
ームの一部省略平面図、第7図は製造工程時の半導体パ
ッケージの状態を表わす一部省略斜視図、第8図
(a),(b)及び第9図は従来のリード曲げ加工法に
よりリード曲げ加工を行なった後の半導体パッケージの
要部断面図である。 2……外部リード 3……内部リード 7……モールド部 8……半導体パッケージ 12……下面支持点 13……モールド部上面拘束治具 PM……リード曲げ荷重。1 (a) and 1 (b) are schematic views showing the principle of the lead bending method of the present invention, and FIG. 2 is a front view of the main parts of a lead bending apparatus used in the lead bending method of the present invention. 3 is a front view of a main part of the lead bending apparatus shown in FIG. 2 after bending, FIG. 4 is a partial perspective view showing an enlarged part A of FIG. 2, and FIG. 5 is a semiconductor package. Manufacturing process diagram of
FIG. 6 is a partially omitted plan view of a lead frame used in the lead bending process of the present invention, FIG. 7 is a partially omitted perspective view showing a state of a semiconductor package during a manufacturing process, and FIGS. b) and FIG. 9 are cross-sectional views of the main part of the semiconductor package after the lead bending is performed by the conventional lead bending method. 2 …… External lead 3 …… Internal lead 7 …… Mold part 8 …… Semiconductor package 12 …… Surface support point 13 …… Mold part top restraint jig P M …… Lead bending load.
フロントページの続き (72)発明者 上野 恵尉 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 (72)発明者 村上 元 東京都小平市上水本町1450番地 株式会社 日立製作所武蔵工場内 (56)参考文献 実公 昭55−7291(JP,Y1)Front Page Continuation (72) Inventor Kei Ueno, 292 Yoshida-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa, Ltd., Production Engineering Research Laboratory, Hitachi, Ltd. Musashi Factory (56) References
Claims (1)
ドを曲げ加工するリード曲げ加工法であって、 下型の支持部に前記外部リードを載置して前記半導体を
前記下型で保持し、 上型を下降させて前記上型の押え面と前記モールド部の
上面との間に僅かなギャップを保った状態で前記下型の
支持部より外側の前記外部リードの部分に前記下型方向
の曲げ荷重を加え、 該曲げ荷重を加えることにより変位する前記モールド部
の前記上面を前記上型の押え面に当接させて前記モール
ド部の変位を拘束し、 該変位を拘束することにより前記外部リードの前記モー
ルド部から突出する部分の曲げモーメントを前記支持部
で支持される部分の曲げモーメントと比べて十分に小さ
く維持した状態で前記外部リードを曲げることにより前
記外部リードを所定の形状に成形する ことを特徴とする半導体のリード曲げ加工法。1. A lead bending method for bending an external lead protruding from a mold part of a semiconductor, wherein the external lead is mounted on a support part of a lower die, and the semiconductor is held by the lower die. The upper die is lowered to maintain a small gap between the pressing surface of the upper die and the upper surface of the mold portion, and the outer lead portion outside the support portion of the lower die is arranged in the lower die direction. A bending load is applied, and the upper surface of the mold portion, which is displaced by applying the bending load, is brought into contact with the pressing surface of the upper mold to restrain the displacement of the mold portion, and the displacement is restrained so that the external By bending the outer lead while keeping the bending moment of the portion of the lead projecting from the mold portion sufficiently smaller than the bending moment of the portion supported by the support portion, the outer lead is located. A lead bending method for semiconductors, characterized by forming into a fixed shape.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61156029A JPH0798226B2 (en) | 1986-07-04 | 1986-07-04 | Semiconductor lead bending method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61156029A JPH0798226B2 (en) | 1986-07-04 | 1986-07-04 | Semiconductor lead bending method |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8198684A Division JP2820127B2 (en) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | Semiconductor lead bending method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6313623A JPS6313623A (en) | 1988-01-20 |
| JPH0798226B2 true JPH0798226B2 (en) | 1995-10-25 |
Family
ID=15618752
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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|---|---|
| JP (1) | JPH0798226B2 (en) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5754232Y2 (en) * | 1978-06-29 | 1982-11-24 |
-
1986
- 1986-07-04 JP JP61156029A patent/JPH0798226B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6313623A (en) | 1988-01-20 |
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