JPH0812146B2 - 粉末度測定機 - Google Patents
粉末度測定機Info
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- JPH0812146B2 JPH0812146B2 JP3108473A JP10847391A JPH0812146B2 JP H0812146 B2 JPH0812146 B2 JP H0812146B2 JP 3108473 A JP3108473 A JP 3108473A JP 10847391 A JP10847391 A JP 10847391A JP H0812146 B2 JPH0812146 B2 JP H0812146B2
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Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は粉体、例えばセメント
の品質の安定化に必要なセメントの粉末度を連続的にか
つ自動的に測定するための粉末度測定機に関するもので
ある。
の品質の安定化に必要なセメントの粉末度を連続的にか
つ自動的に測定するための粉末度測定機に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】従来この種のセメントの粉末度測定機は
分散状態で流動中のセメント粉末群にレーザ光を照射し
て、その際生ずる各粉末からの散乱光をレンズで集光
し、その焦点を含む面上に現出する各粉末度に対応する
回析像を電気信号に変換し、これを演算して粉末度を測
定するものである。
分散状態で流動中のセメント粉末群にレーザ光を照射し
て、その際生ずる各粉末からの散乱光をレンズで集光
し、その焦点を含む面上に現出する各粉末度に対応する
回析像を電気信号に変換し、これを演算して粉末度を測
定するものである。
【0003】従ってレーザ光を照射する際、分散したセ
メント粉末群を構成する各セメント粉末の中に凝集及び
偏析しているものが混在していると、その凝集及び偏析
しているセメント粉末を含むセメント粉末群の粉末度を
測定することになり、正確な粉末度を測定することが不
可能になる。
メント粉末群を構成する各セメント粉末の中に凝集及び
偏析しているものが混在していると、その凝集及び偏析
しているセメント粉末を含むセメント粉末群の粉末度を
測定することになり、正確な粉末度を測定することが不
可能になる。
【0004】
【発明が解決しようとする発明の課題】この発明の目的
は、上述のレーザ光を照射する際、分散したセメント粉
末群を構成する各セメント粉末の中に、それらが互いに
凝集及び偏析しているものがないようにすることであ
る。そしてその結果正確な粉末度を測定できるようにす
ることである。
は、上述のレーザ光を照射する際、分散したセメント粉
末群を構成する各セメント粉末の中に、それらが互いに
凝集及び偏析しているものがないようにすることであ
る。そしてその結果正確な粉末度を測定できるようにす
ることである。
【0005】他の目的は凝集及び偏析したセメント粉末
を互いに分離及び混合した後、それをレーザ光を照射す
る位置まで輸送する間に、再び凝集及び偏析することを
防止することである。
を互いに分離及び混合した後、それをレーザ光を照射す
る位置まで輸送する間に、再び凝集及び偏析することを
防止することである。
【0006】又他の目的はセメント製造装置における最
終工程のセメント粉末の排出口から採取された測定用セ
メント試料をそこから離間した位置に据付けられている
粉末度測定機まで輸送する間に、該セメント試料凝集及
び偏析するのを防止することである。
終工程のセメント粉末の排出口から採取された測定用セ
メント試料をそこから離間した位置に据付けられている
粉末度測定機まで輸送する間に、該セメント試料凝集及
び偏析するのを防止することである。
【0007】この発明は、レーザ光と交差する測定管の
上流側に逆円錐形の混合ホッパを介して測定試料供給管
を結合した粉末度測定機に於いて;該混合ホッパの円錐
面に沿って、前記測定試料供給管と斜めに対向する衝突
板を配置し、前記測定試料供給管内に、前記衝突板と斜
めに対向する方向にエジェクタノズルを設け、該混合ホ
ッパの頂部に前記測定管と結合する連通管を設け、前記
混合ホッパの頂部の周囲に混合流ノズルを臨ませて配設
したすること、により前記目的を達成しようとするもの
である。
上流側に逆円錐形の混合ホッパを介して測定試料供給管
を結合した粉末度測定機に於いて;該混合ホッパの円錐
面に沿って、前記測定試料供給管と斜めに対向する衝突
板を配置し、前記測定試料供給管内に、前記衝突板と斜
めに対向する方向にエジェクタノズルを設け、該混合ホ
ッパの頂部に前記測定管と結合する連通管を設け、前記
混合ホッパの頂部の周囲に混合流ノズルを臨ませて配設
したすること、により前記目的を達成しようとするもの
である。
【0008】
【作用】粉末の測定試料を測定試料供給管の出口より逆
円錐形の粉末混合ホッパの円錐内面に沿って斜めに配置
する衝突板に衝突し、該粉末の中で凝集及び偏析したも
のを互いに分散及び混合する。
円錐形の粉末混合ホッパの円錐内面に沿って斜めに配置
する衝突板に衝突し、該粉末の中で凝集及び偏析したも
のを互いに分散及び混合する。
【0009】この衝突板の面に対して斜めに反撥させて
その衝突板の面を常時露出させておくと共に、逆円錐形
の混合ホッパの頂部に導入する。
その衝突板の面を常時露出させておくと共に、逆円錐形
の混合ホッパの頂部に導入する。
【0010】この導入されたセメント粉末に頂部の周囲
に臨ませた混合流ノズルから噴出する気流を作用させて
混合流を起こさせ、この状態のセメント粉末を連通管を
経てその細管の他の測定管(測定ダクト)内に送り込
む。
に臨ませた混合流ノズルから噴出する気流を作用させて
混合流を起こさせ、この状態のセメント粉末を連通管を
経てその細管の他の測定管(測定ダクト)内に送り込
む。
【0011】この測定ダクト内をその上流側から下流側
に向けて流動し、そしてこの流動中セメント粒子にレー
ザ光を照射し、その際の散乱光を電気信号に変換して粉
末度を測定する。
に向けて流動し、そしてこの流動中セメント粒子にレー
ザ光を照射し、その際の散乱光を電気信号に変換して粉
末度を測定する。
【0012】
【実施例】測定管1とレーザ光2を互いに交差するよう
に設け、該測定管1におけるレーザ光2より上流側に逆
円錐形の混合ホッパ3を介して試料供給管4を接続す
る。
に設け、該測定管1におけるレーザ光2より上流側に逆
円錐形の混合ホッパ3を介して試料供給管4を接続す
る。
【0013】混合ホッパ3の円錐面3aであって、測定
試料供給管4の出口側の延長線4e上に衝突板5を斜め
に配置する。尚円錐面3aが衝突板5を兼ねるものであ
っても良い。
試料供給管4の出口側の延長線4e上に衝突板5を斜め
に配置する。尚円錐面3aが衝突板5を兼ねるものであ
っても良い。
【0014】該逆円錐形の混合ホッパ3の頂部6の外側
に、連通管7の一端を連通し、その連通管7の他端を前
記測定管1の上流側に接続する。
に、連通管7の一端を連通し、その連通管7の他端を前
記測定管1の上流側に接続する。
【0015】試料供給管4内に衝突板5と斜めに対向す
るようにエジェクタノズル23を設けると共に、逆円錐
形の混合ホッパ3の頂部6の内側にエジェクタノズル8
を前記連通管7の一端に向けて配置し、さらに該頂部6
の周囲に混合流ノズル10を外側から内側に向けて臨ま
せる。これらエジェクタノズル23、8及び混合流ノズ
ル10を設置することで、分散状態を良好にすることが
できる。又、連通管7は試料供給管4よりも細管とする
ことで分散効果を上げることも可能である。
るようにエジェクタノズル23を設けると共に、逆円錐
形の混合ホッパ3の頂部6の内側にエジェクタノズル8
を前記連通管7の一端に向けて配置し、さらに該頂部6
の周囲に混合流ノズル10を外側から内側に向けて臨ま
せる。これらエジェクタノズル23、8及び混合流ノズ
ル10を設置することで、分散状態を良好にすることが
できる。又、連通管7は試料供給管4よりも細管とする
ことで分散効果を上げることも可能である。
【0016】セメント製造工程における最終製品である
セメント粉末の一部を図示してないが試料として連続的
に採取し、これを上記試料供給管4を経て混合ホッパ3
内に矢印A1方向に供給する。
セメント粉末の一部を図示してないが試料として連続的
に採取し、これを上記試料供給管4を経て混合ホッパ3
内に矢印A1方向に供給する。
【0017】この混合ホッパ3内に供給されるセメント
粉末の試料は、一般に粉粒11と凝集粒12とからなっ
ており、これらは、円錐面3aにおける試料供給管4の
出口側の延長線4e上に設けられている衝突板5に対し
て傾斜角θをもって斜めに衝突する。
粉末の試料は、一般に粉粒11と凝集粒12とからなっ
ており、これらは、円錐面3aにおける試料供給管4の
出口側の延長線4e上に設けられている衝突板5に対し
て傾斜角θをもって斜めに衝突する。
【0018】この際、凝集粒12は分散されて多数の粉
粒11となり、衝突板5の傾斜面に沿って円錐面3aの
頂部6に向って矢印A2方向に直ちに流動し、次に続く
凝集粒12の流れを衝突板5に直接衝突することを妨げ
ないようにしておく。
粒11となり、衝突板5の傾斜面に沿って円錐面3aの
頂部6に向って矢印A2方向に直ちに流動し、次に続く
凝集粒12の流れを衝突板5に直接衝突することを妨げ
ないようにしておく。
【0019】円錐面3aの頂部6に流入した粉粒11を
混合流ノズル10から噴出する空気によって混合流状態
にすることによって粉粒11の分散状態を一層良好にす
る。
混合流ノズル10から噴出する空気によって混合流状態
にすることによって粉粒11の分散状態を一層良好にす
る。
【0020】この混合流状態の粉粒11をエジェクタノ
ズル8から連通管7の一端部に向けて噴出する空気流で
連通管7内に吸引し、測定管1の上流側に移動する。
ズル8から連通管7の一端部に向けて噴出する空気流で
連通管7内に吸引し、測定管1の上流側に移動する。
【0021】測定管1の上流側に移動された粉流11に
エジェクタノズル13、14、15から空気を噴出して
拡散し、測定管1内をその下流に向かって流動し、この
流れを横切ってレーザ発生源17からのレーザ光2を照
射し、その際の散乱光を図示してないレンズで集光し
て、フオトデイテクタ18で受け、これを電気信号に変
換して粒度分布を測定するものである。
エジェクタノズル13、14、15から空気を噴出して
拡散し、測定管1内をその下流に向かって流動し、この
流れを横切ってレーザ発生源17からのレーザ光2を照
射し、その際の散乱光を図示してないレンズで集光し
て、フオトデイテクタ18で受け、これを電気信号に変
換して粒度分布を測定するものである。
【0022】以上図1及び図2に基づいて本発明の実施
例を説明したが、本発明はこれに限定されるものでな
く、本発明の要旨の範囲内において部分的構成の変更及
び付加を行って実施することも可能である。
例を説明したが、本発明はこれに限定されるものでな
く、本発明の要旨の範囲内において部分的構成の変更及
び付加を行って実施することも可能である。
【0023】例えば逆円錐形の混合ホッパ3の形状を必
要に応じて椀形にすることも可能である。又図1、図2
に示す試料供給管4は一つの混合ホッパ3に対して複数
本結合しているので、本発明のセメント粉末度測定機1
台で複数のセメント製造装置から製造されるセメントの
粉末度を測定する際好都合であるが、その反面各セメン
ト製造装置から本測定機までの経路が長くなって凝集粒
の生ずる割合が増加するおそれがあるので、この場合は
各セメント製造装置毎に本発明の測定機を夫々接続する
ことも可能である。
要に応じて椀形にすることも可能である。又図1、図2
に示す試料供給管4は一つの混合ホッパ3に対して複数
本結合しているので、本発明のセメント粉末度測定機1
台で複数のセメント製造装置から製造されるセメントの
粉末度を測定する際好都合であるが、その反面各セメン
ト製造装置から本測定機までの経路が長くなって凝集粒
の生ずる割合が増加するおそれがあるので、この場合は
各セメント製造装置毎に本発明の測定機を夫々接続する
ことも可能である。
【0024】図3及び図4はこの場合の実施例を示し、
各セメント製造装置におけるセメント粉末の排出管20
を横切って供給装置の一例としてダブルスクリュウコン
ベア21、22を設け、該排出管20内を流下するセメ
ント粉末の一部分をこのダブルスクリュウコンベアで捕
えてこれを矢印A4方向に移送して排出管20の外に排
出し、前記試料供給管4に導入する。
各セメント製造装置におけるセメント粉末の排出管20
を横切って供給装置の一例としてダブルスクリュウコン
ベア21、22を設け、該排出管20内を流下するセメ
ント粉末の一部分をこのダブルスクリュウコンベアで捕
えてこれを矢印A4方向に移送して排出管20の外に排
出し、前記試料供給管4に導入する。
【0025】試料供給管4内のセメント粉末はエジェク
タノズル23から噴出する空気で吸引されて、混合ホッ
パ3内に導入され、図1及び図2の実施例と同様に衝突
板5に衝突して、凝集粒12が分散及び混合し、頂点6
部分に流れ込み、ここで混合流ノズル10から噴出する
空気で混合流を形成し、その状態で測定管1に導入す
る。
タノズル23から噴出する空気で吸引されて、混合ホッ
パ3内に導入され、図1及び図2の実施例と同様に衝突
板5に衝突して、凝集粒12が分散及び混合し、頂点6
部分に流れ込み、ここで混合流ノズル10から噴出する
空気で混合流を形成し、その状態で測定管1に導入す
る。
【0026】ここでレーザ発生源17からのレーザ光2
を照射して、セメント粉末の粒度に相当する散乱光を図
示していないレンズで集光して、フオトデイデクタ18
で受け、これを電気信号に変換してその粉末度を測定す
るものである。
を照射して、セメント粉末の粒度に相当する散乱光を図
示していないレンズで集光して、フオトデイデクタ18
で受け、これを電気信号に変換してその粉末度を測定す
るものである。
【0027】粉末度測定が終了してレーザ光2の位置よ
り下流に流動した試料はフアン24から風力A24で排
出管20におけるダブルスクリュウコンベア21、22
の位置より下流側を流れるセメント粉末中へ再び戻され
る。
り下流に流動した試料はフアン24から風力A24で排
出管20におけるダブルスクリュウコンベア21、22
の位置より下流側を流れるセメント粉末中へ再び戻され
る。
【0028】上記の実施例のセメントの粉末度測定機を
用いて或るセメント製造装置から排出されるセメント粉
末の粉末度を測定したところ、30μm以上の粉末の残
量が22.8%あった。これを図5で示すと垂直線25
になる。
用いて或るセメント製造装置から排出されるセメント粉
末の粉末度を測定したところ、30μm以上の粉末の残
量が22.8%あった。これを図5で示すと垂直線25
になる。
【0029】次に同じセメント粉末を標準篩で長時間か
けて、手動的に測定したところ30μm以上の粉末の残
量が、22.5%であった。これを図5で示すと水平線
24になる。
けて、手動的に測定したところ30μm以上の粉末の残
量が、22.5%であった。これを図5で示すと水平線
24になる。
【0030】従って図5における垂直線25と水平線2
6の交点Pは同一のセメント粉末の粒度が本発明で測定
すると22.8%であり、標準篩で測定すると22.5
%であり、本発明による測定が標準篩で測定した値に極
めて近いことがわかる。
6の交点Pは同一のセメント粉末の粒度が本発明で測定
すると22.8%であり、標準篩で測定すると22.5
%であり、本発明による測定が標準篩で測定した値に極
めて近いことがわかる。
【0031】上述と同様の方法で他のセント製造装置か
ら排出されるセメント粉末について30μm以上の粒子
の残度を測定したところ、白点で示す交点p(1、2、
3〜n)が得られ、これらの交点が、本発明による測定
値と標準篩による測定値が等しい点の集まりを示す斜線
26上に集中しており、このことから、本発明の測定機
を用いて各種セメント粉末の粒度を測定した場合は何れ
の場合でも、標準篩に測定した値とほとんど同様である
ことがわかる。
ら排出されるセメント粉末について30μm以上の粒子
の残度を測定したところ、白点で示す交点p(1、2、
3〜n)が得られ、これらの交点が、本発明による測定
値と標準篩による測定値が等しい点の集まりを示す斜線
26上に集中しており、このことから、本発明の測定機
を用いて各種セメント粉末の粒度を測定した場合は何れ
の場合でも、標準篩に測定した値とほとんど同様である
ことがわかる。
【0032】これに対して前記従来の測定機、即ち、本
発明による円錐面に沿って設けた衝突板及び円錐形の頂
点部分に混合流発生装置を臨ませることを欠如している
測定機を用いて、上述と同様のセメント粉末について3
0μm以上の粒子の残度を測定したところ、図5中黒点
で示すQ(1、2、3〜n)が記録され、これらの位置
が前述の斜線26上の位置から大きく離れている。
発明による円錐面に沿って設けた衝突板及び円錐形の頂
点部分に混合流発生装置を臨ませることを欠如している
測定機を用いて、上述と同様のセメント粉末について3
0μm以上の粒子の残度を測定したところ、図5中黒点
で示すQ(1、2、3〜n)が記録され、これらの位置
が前述の斜線26上の位置から大きく離れている。
【0033】このことから、標準篩で測定した値と大き
くずれていて、正確な粒度を示していないことがわか
る。
くずれていて、正確な粒度を示していないことがわか
る。
【0034】
【発明の効果】この発明は、以上の様に構成したので、
次の如き顕著な効果を奏する。 (1)混合ホッパの円錐面に沿って、前記測定試料供給
管と斜めに対向する衝突板を配設し、前記測定試料供給
管内に前記衝突板と斜めに対向するエジェクタノズルを
設けたので、試料供給管内の粉末試料はエジェクタノズ
ルから噴出する空気で吸引されて混合ホッパ内に導入さ
れ、衝突板に斜めに衝突して凝集粒が分散及び混合し、
混合ホッパの頂部に向って直ちに流動し、次に続く凝集
粒の流れを衝突板に直接衝突することを妨げない。 (2)混合ホッパの頂部の周囲に混合流ノズルを臨ませ
て配設したので、混合流ノズルから噴出する空気によっ
て混合流状態になり、粉末試料の分散状態が良好とな
る。 (3)粉末試料が良く分散及び混合された直後にレーザ
光を照射して測定することができ、測定位置まで移送す
る間で再び凝集及び偏析することがない。そのため、正
確な粉末度を測定することができる。 (4)測定試料供給管の上流側を、粉末の製品排出管内
に配置せる供給装置の出口と結合すると、その排出管か
ら本発明の供給管まで試料を移送する間に粉末試料の凝
集及び偏析する現象を少なくすることが可能である。な
お、この発明はセメント粉末の粒度分布測定に限らず、
炭カル、トナー等の各種粉体に適用できることはいうま
でもない。
次の如き顕著な効果を奏する。 (1)混合ホッパの円錐面に沿って、前記測定試料供給
管と斜めに対向する衝突板を配設し、前記測定試料供給
管内に前記衝突板と斜めに対向するエジェクタノズルを
設けたので、試料供給管内の粉末試料はエジェクタノズ
ルから噴出する空気で吸引されて混合ホッパ内に導入さ
れ、衝突板に斜めに衝突して凝集粒が分散及び混合し、
混合ホッパの頂部に向って直ちに流動し、次に続く凝集
粒の流れを衝突板に直接衝突することを妨げない。 (2)混合ホッパの頂部の周囲に混合流ノズルを臨ませ
て配設したので、混合流ノズルから噴出する空気によっ
て混合流状態になり、粉末試料の分散状態が良好とな
る。 (3)粉末試料が良く分散及び混合された直後にレーザ
光を照射して測定することができ、測定位置まで移送す
る間で再び凝集及び偏析することがない。そのため、正
確な粉末度を測定することができる。 (4)測定試料供給管の上流側を、粉末の製品排出管内
に配置せる供給装置の出口と結合すると、その排出管か
ら本発明の供給管まで試料を移送する間に粉末試料の凝
集及び偏析する現象を少なくすることが可能である。な
お、この発明はセメント粉末の粒度分布測定に限らず、
炭カル、トナー等の各種粉体に適用できることはいうま
でもない。
【図1】本発明の実施例を示す縦断面図である。
【図2】図1の一部分の平面図である。
【図3】本発明の他の実施例の縦断面図である。
【図4】図3の一部分を切断した右側面図である。
【図5】本発明で測定した粉末度と、標準篩で測定した
場合の粉末度(%)の比較を示す図表である。
場合の粉末度(%)の比較を示す図表である。
1 測定管 2 レーザ光 3 混合ホッパ 4 試料供給管 5 衝突板 6 頂点 7 連通管 8 エジェクタノズル 10 混合流ノズル
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G01N 15/02 Z 21/53 Z
Claims (4)
- 【請求項1】レーザ光と交差する測定管の上流側に逆円
錐形の混合ホッパを介して測定試料供給管を結合した粉
末度測定機に於いて; 該混合ホッパの円錐面に沿って、前記測定試料供給管と
斜めに対向する衝突板を配置し、前記測定試料供給管内に、前記衝突板と斜めに対向する
方向にエジェクタノズルを設け、 該混合ホッパの頂部に
前記測定管と結合する連通管を設け、前記混合ホッパの頂部の周囲に混合流ノズルを臨ませて
配設し たことを特徴とする粉末度測定機。 - 【請求項2】前記衝突板が、混合ホッパの円錐面である
ことを特徴とする請求項1記載の粉末度測定機。 - 【請求項3】前記連通管が、測定試料供給管より細管で
あることを特徴とする請求項1記載の粉末度測定機。 - 【請求項4】測定試料供給管の上流側を、粉末の製品排
出管内に配置せる供給装置の出口と結合したことを特徴
とする請求項1記載の粉末度測定機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3108473A JPH0812146B2 (ja) | 1991-04-12 | 1991-04-12 | 粉末度測定機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3108473A JPH0812146B2 (ja) | 1991-04-12 | 1991-04-12 | 粉末度測定機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05149864A JPH05149864A (ja) | 1993-06-15 |
| JPH0812146B2 true JPH0812146B2 (ja) | 1996-02-07 |
Family
ID=14485649
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3108473A Expired - Lifetime JPH0812146B2 (ja) | 1991-04-12 | 1991-04-12 | 粉末度測定機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0812146B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005103642A1 (ja) * | 2004-04-23 | 2005-11-03 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | 検体の分離と識別と分注方法とその装置及び解析装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3510363A1 (de) * | 1985-03-22 | 1986-09-25 | Basf Ag, 6700 Ludwigshafen | Messanordnung zur partikelgroessenanalyse |
| JPS63131051A (ja) * | 1986-11-20 | 1988-06-03 | Kansai Coke & Chem Co Ltd | 発塵強度測定用シユミレ−タ− |
-
1991
- 1991-04-12 JP JP3108473A patent/JPH0812146B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005103642A1 (ja) * | 2004-04-23 | 2005-11-03 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | 検体の分離と識別と分注方法とその装置及び解析装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05149864A (ja) | 1993-06-15 |
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