JPH0813716B2 - Silica glass crucible for pulling silicon single crystal - Google Patents
Silica glass crucible for pulling silicon single crystalInfo
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- JPH0813716B2 JPH0813716B2 JP25407089A JP25407089A JPH0813716B2 JP H0813716 B2 JPH0813716 B2 JP H0813716B2 JP 25407089 A JP25407089 A JP 25407089A JP 25407089 A JP25407089 A JP 25407089A JP H0813716 B2 JPH0813716 B2 JP H0813716B2
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Description
【発明の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 本発明は、シリコン単結晶引上用のシリカガラスルツ
ボに関し、特に、内層及び外層を有するシリコン単結晶
引上用のシリカガラスルツボに関する。TECHNICAL FIELD The present invention relates to a silica glass crucible for pulling a silicon single crystal, and more particularly to a silica glass crucible for pulling a silicon single crystal having an inner layer and an outer layer.
(ロ) 従来の技術 シリコン単結晶をチョクラルスキー法により、シリコ
ン溶湯から引上げるに際し、シリコン溶湯を収容する容
器としてシリカガラスルツボが使用されている。このシ
リコン単結晶引上用のシリカガラスルツボは、従来、天
然に産出される水晶あるいは石英を粉砕し、次いで精製
して得た精製石英粉体を原料として、アーク加熱回転成
型法により製造されている。(B) Conventional Technology A silica glass crucible is used as a container for containing a molten silicon when pulling a silicon single crystal from the molten silicon by the Czochralski method. This silica glass crucible for pulling a silicon single crystal has been conventionally manufactured by an arc heating rotary molding method using a purified quartz powder obtained by crushing naturally occurring quartz or quartz and then refining it. There is.
シリコン単結晶は高純度であることを必要とするが、
チョクラルスキー法により製造されるシリコン単結晶に
おいては、シリコン単結晶の不純物量は、通常、原料の
多結晶シリコンからの不純物に比して、シリカガラスル
ツボからの不純物量が遥かに多いので、シリカガラスル
ツボの純度を高めることが、高純度シリコン単結晶の製
造上非常に重要となっており、シリカガラスルツボの高
純度化が行われている。Silicon single crystals require high purity,
In the silicon single crystal produced by the Czochralski method, the amount of impurities in the silicon single crystal is usually much higher than the amount of impurities in the raw material polycrystalline silicon because the amount of impurities in the silica glass crucible is much higher. Increasing the purity of the silica glass crucible is very important for the production of high-purity silicon single crystals, and the silica glass crucible has been highly purified.
(ハ) 発明が解決しようとする問題点 このようにシリカガラスルツボの精製は、天然産の石
英粉を精製することにより行われているが、石英粉の精
製には限度があり、希望する高純度のシリカガラスルツ
ボを得ることができない。そこで、成形されたシリカガ
ラスルツボに高温で電界を印加することにより、移動度
の大きいLi+イオン及びNa+イオンを除去してシリカガラ
スルツボを精製することが行われている。しかし、シリ
カガラスルツボについての電界精製にしても、除去でき
る不純物の種類には制約があり、例えば、アルミニウム
(Al)イオンやチタン(Ti)イオンの除去ができないと
いう点で問題がある。(C) Problems to be Solved by the Invention As described above, the silica glass crucible is refined by refining naturally occurring quartz powder. A pure silica glass crucible cannot be obtained. Therefore, by applying an electric field to the molded silica glass crucible at a high temperature, Li + ions and Na + ions having high mobility are removed to purify the silica glass crucible. However, even when electric field refining is performed on a silica glass crucible, there are restrictions on the types of impurities that can be removed, and there is a problem in that, for example, aluminum (Al) ions and titanium (Ti) ions cannot be removed.
このように、シリコン単結晶の一層の高純化の達成
は、天然石英を原料とするシリカガラスルツボを使用す
る限り最早これ以上を望み難い状況に至っている。As described above, the achievement of higher purification of the silicon single crystal has reached a situation in which it is no longer possible to expect further improvement as long as a silica glass crucible made of natural quartz is used.
そこで、ゾルゲル法により得られる高純度の合成シリ
カのゲル状粉体を原料とするシリカルツボの製造方法が
提案されている。Therefore, there has been proposed a method for producing a silica crucible using a gel-like powder of high-purity synthetic silica obtained by the sol-gel method as a raw material.
(ニ) 問題点を解決するための手段 本発明者らは、各種の合成シリカ粉体を用いてシリコ
ン単結晶引上用に提供すべきシリカガラスルツボの試作
を行うと共に、当該試作品を用いてシリコン単結晶引上
げを行うことにより、シリコン単結晶引上用シリカガラ
スルツボが高純度であること以外に、 (1) 使用温度即ち1450℃付近において熱変形しない
こと、 (2) シリコン単結晶引上時に、シリカガラスルツボ
内表面にシリコン溶湯接触部位では、結晶化が進行し
て、それが剥離し、シリコン単結晶成長を阻害すること
が有るから、これを防止するために結晶化を進行させな
いこと、 (3) シリコン単結晶引上時に、シリカガラスルツボ
が異常発泡しないことが必要であること、 を発見した。(D) Means for Solving the Problems The inventors of the present invention produced a silica glass crucible to be provided for pulling a silicon single crystal by using various kinds of synthetic silica powder, and used the prototype. By pulling the silicon single crystal, the silica glass crucible for pulling the silicon single crystal has high purity, and (1) does not undergo thermal deformation at the operating temperature, that is, near 1450 ° C. (2) pulls the silicon single crystal. At the time of the above, crystallization progresses at the molten metal contact site on the inner surface of the silica glass crucible, which may peel off and hinder the growth of the silicon single crystal.Therefore, crystallization is not proceeded to prevent this. (3) It was discovered that it is necessary that the silica glass crucible does not abnormally foam when pulling the silicon single crystal.
また、耐熱性に優れたシリカガラスルツボを得るに
は、使用する高温度において粘度の高いシリコンガラス
を原料として選択しなければならないが、一般にシリカ
ガラスの粘度は、シリカガラスの原料に由来する不純物
含有量やOH基含有量等により左右されるので、シリカガ
ラスの原料の如何が重要な問題となる。Further, in order to obtain a silica glass crucible excellent in heat resistance, it is necessary to select a high viscosity silicon glass as a raw material at a high temperature to be used, but generally the viscosity of silica glass is an impurity derived from the raw material of the silica glass. Since it depends on the content and the OH group content, the raw material of silica glass is an important issue.
そこで、本発明者らは、合成シリカ原料を溶融して製
造されたシリカガラスの場合、その粘度は、不純物含有
量及びOH含有量が同じであっても必ずしも一定しない
が、合成されたクリストバライト粉体を溶融して製造さ
れたシリカガラスについては、粘度が高く現れることを
見出した。しかし、合成クリストバライト粉体を溶融し
て製造されたシリカガラスルツボを使用してシリコン単
結晶を引き上げた場合、引き上げられたシリコン単結晶
には、高い頻度で格子に乱れが現れ、また、使用された
シリカガラスルツボの内表面には、異常に多くのクリス
トバライト微結晶が析出するのに対して、合成された非
晶質シリカ粉体を溶融して製造されたシリカガラスルツ
ボを使用してシリコン単結晶引上げを行った場合には、
シリカガラスルツボに変形を生じても、シリコン単結晶
に格子の乱れを生じることが極めて低く、ルツボ内表面
におけるクリストバライト結晶の析出が少ないことを発
見した。Therefore, the inventors of the present invention, in the case of silica glass produced by melting a synthetic silica raw material, its viscosity is not always constant even if the impurity content and the OH content are the same, but the synthesized cristobalite powder. It has been found that the silica glass produced by melting the body has a high viscosity. However, when a silicon single crystal is pulled using a silica glass crucible produced by melting synthetic cristobalite powder, the pulled silicon single crystal shows a disorder in the lattice at a high frequency and is also used. On the inner surface of the silica glass crucible, an unusually large number of cristobalite crystallites are deposited, whereas the silica glass crucible manufactured by melting the synthesized amorphous silica powder is used to produce silicon single crystals. If you pull the crystal,
It has been found that even if the silica glass crucible is deformed, the disorder of the lattice in the silicon single crystal is extremely low, and the precipitation of cristobalite crystals on the inner surface of the crucible is small.
本発明は、これらの発見にもとづいて、単結晶引上げ
時において、耐熱性及び機械的に優れた特性を有する内
層部及び外層部を備えたシリコン単結晶引上げ用シリカ
ガラスルツボを提供するものである。The present invention provides a silica glass crucible for pulling a silicon single crystal having an inner layer portion and an outer layer portion having heat resistance and mechanically excellent properties when pulling a single crystal based on these discoveries. .
即ち、本発明は、内層部及び外層部を有するシリコン
単結晶引上用のシリカガラスルツボにおいて、外層部は
合成クリストバライト粉体を溶融することによって形成
されており、また内層部は合成された非晶質シリカ粉体
を溶融することにより形成されていることを特徴とする
シリコン単結晶引上用シリカガラスルツボを要旨とす
る。That is, the present invention is a silica glass crucible for pulling a silicon single crystal having an inner layer portion and an outer layer portion, wherein the outer layer portion is formed by melting a synthetic cristobalite powder, and the inner layer portion is a non-synthetic material. The gist is a silica glass crucible for pulling up a silicon single crystal, which is formed by melting crystalline silica powder.
本発明において、シリコン単結晶引上用シリカガラス
ルツボは、外層部が合成クリストバライト粉体を溶融し
て製造される。このように外層部を合成クリストバライ
ト粉体を溶融して製造すると、シリコン単結晶引上げ時
に外層部のみを結晶構造に転移させることができるの
で、シリコン単結晶引上げ時における高温度において、
該ルツボ材料の粘度を高くすることができ、該ルツボの
熱変形を避けることができて好ましい。In the present invention, the silica glass crucible for pulling up a silicon single crystal is manufactured by melting the synthetic cristobalite powder in the outer layer portion. Thus, when the outer layer portion is manufactured by melting the synthetic cristobalite powder, only the outer layer portion can be transformed into the crystal structure when pulling the silicon single crystal, so at the high temperature when pulling the silicon single crystal,
This is preferable because the viscosity of the crucible material can be increased and thermal deformation of the crucible can be avoided.
本発明においては、シリコン単結晶引上用シリカガラ
スルツボは、内層部が合成された非晶質シリカ粉体を溶
融して製造される。このように内層部を合成された非晶
質シリカ粉体を溶融して製造すると、引き上げられたシ
リコン単結晶の汚染を少なくすることができるので好ま
しい。In the present invention, the silica glass crucible for pulling up a silicon single crystal is manufactured by melting the amorphous silica powder having the inner layer portion synthesized. It is preferable to melt and produce the amorphous silica powder in which the inner layer portion is synthesized as described above, since contamination of the pulled silicon single crystal can be reduced.
本発明において、シリコン単結晶引上げ用シリカガラ
スルツボは、その内層部を、シリコン単結晶引上げ時
に、クリストバライトが異常に発生しないようにすると
共に、シリカガラスが異常発泡しないように、合成非晶
質シリカ粉体のOH基含有量は50ppm(wt.)以下、好まし
くは30ppm以下に調製されるのが好ましい。In the present invention, the silica glass crucible for pulling a silicon single crystal has an inner layer portion that prevents cristobalite from abnormally occurring during pulling of a silicon single crystal, and prevents silica glass from abnormally foaming so that a synthetic amorphous silica is used. The OH group content of the powder is preferably adjusted to 50 ppm (wt.) Or less, preferably 30 ppm or less.
また、本発明において、シリコン単結晶引上げ用ルツ
ボの外層部を優れた耐熱性にするために、外層部を形成
する合成クリストバライト粉体の純度をアルカリ金属の
Na、K、Liの総含有量で1ppm以下、他の金属不純物の総
含有量で5ppm以下とする必要がある。というのは、高純
度に合成されたクリストバライト粉体を溶融して得たシ
リカガラスの場合は、他に溶融して得たシリカガラスに
比して、最も結晶構造へ転移し易くなり好ましいからで
ある。これに対して、アルカリ金属の総含有量が1ppm以
上及び他の金属不純物の総含有量が5ppm以上になると、
半導体物質を汚染するおそれが大きくなるので好ましく
ない。Further, in the present invention, in order to make the outer layer portion of the crucible for pulling a silicon single crystal excellent in heat resistance, the purity of the synthetic cristobalite powder forming the outer layer portion is set to that of the alkali metal
It is necessary that the total content of Na, K, and Li is 1 ppm or less and the total content of other metal impurities is 5 ppm or less. This is because in the case of silica glass obtained by melting cristobalite powder synthesized in high purity, it is more preferable than other silica glasses obtained by melting because it is most likely to transfer to a crystal structure. is there. On the other hand, when the total content of alkali metals is 1 ppm or more and the total content of other metal impurities is 5 ppm or more,
This is not preferable because the risk of contaminating the semiconductor material increases.
本発明で使用する合成されたクリストバライト粉体
は、例えば、金属アルコキシドまたは無機けい酸塩を原
料として、ゾルゲル法で製造した非晶質二酸化けい素を
加熱してβ−クリストバライトとし、次いでこのものを
冷却してα−クリストバライト粉体に転移させることに
よって製造することができる。The synthesized cristobalite powder used in the present invention is, for example, a metal alkoxide or an inorganic silicate as a raw material, and amorphous silicon dioxide produced by the sol-gel method is heated to β-cristobalite, and then this is obtained. It can be produced by cooling and transforming into α-cristobalite powder.
一方、本発明で使用する合成された非晶質シリカ粉体
は、上記ゾルゲル法で得た非晶質二酸化けい素を乾燥雰
囲気中で脱水加熱処理を行うことによって製造すること
ができる。On the other hand, the synthesized amorphous silica powder used in the present invention can be produced by subjecting the amorphous silicon dioxide obtained by the sol-gel method to dehydration heating treatment in a dry atmosphere.
本発明においては、このようにして製造された合成さ
れたクリストバライト粉体を回転するモールド内で、所
定形状に成形し、その上に、合成された非晶質シリカ粉
体を所定形状に成形した後、アーク加熱回転成型法によ
り溶融する。In the present invention, the synthesized cristobalite powder thus produced is molded into a predetermined shape in a rotating mold, and the synthesized amorphous silica powder is then molded into a predetermined shape. After that, it is melted by an arc heating rotary molding method.
(ホ) 作用 本発明のシリカガラスルツボは、外層部を高純度な合
成されたクリストバライト粉体を溶融することにより形
成したので、シリコン単結晶引上げ時に外層部のみすみ
やかに結晶構造に転移し、使用時の変形を、低減するこ
とができ、したがって、耐熱性に優れたルツボである。(E) Action Since the silica glass crucible of the present invention is formed by melting the high-purity synthesized cristobalite powder in the outer layer portion, only the outer layer portion is promptly transformed into a crystal structure when the silicon single crystal is pulled up, and used. This is a crucible that can reduce deformation over time and thus has excellent heat resistance.
更に、内層部は、低OH基含有の合成された非晶質シリ
カ粉体を溶融することにより、形成したので、シリコン
単結晶引上げ時に発生するクリストバライト結晶を低減
できるばかりでなく、異常発泡等の問題も解決できた。Furthermore, since the inner layer portion is formed by melting the synthesized amorphous silica powder containing a low OH group, not only can the cristobalite crystals generated when pulling the silicon single crystal be reduced, but also abnormal foaming, etc. I was able to solve the problem.
本発明においては、アルカリ金属及び他の金属不純物
の総含有量が低い合成されたクリストバライト粉体を溶
融して外層部を形成し、内層部を合成された非晶質のシ
リカガラス粉体を溶融して形成されているので、処理す
べき半導体に悪影響を与えることがない。In the present invention, the synthesized cristobalite powder having a low total content of alkali metal and other metal impurities is melted to form the outer layer portion, and the inner layer portion is melted to the synthesized amorphous silica glass powder. Since it is formed as described above, it does not adversely affect the semiconductor to be processed.
(ヘ) 実施例 以下、本発明の実施例について例をあげて説明する
が、本発明は、以下の説明及び例示によって何等制限を
受けるものではない。(F) Examples Hereinafter, examples of the present invention will be described with reference to examples, but the present invention is not limited to the following description and examples.
実施例1及び比較例1 テトラエチルオルソシリケート(Si(OC2H5)4)と1%
酢酸水溶液とを混合し、加水分解及び縮重合して得たゲ
ル100Kgに0.5%NaOH水溶液を添加し、恒温層にて60℃の
条件で100時間放置しシリカガラス粉末を得た。これを
電気炉中で1200℃10時間加熱してβ−クリストバライト
化させ、次いで室温まで冷却してα−クリストバライト
粉末とした。この粉末を真空雰囲気の電気炉で1650℃5
時間加熱して、脱アルカリ処理を行った。Example 1 and Comparative Example 1 Tetraethyl orthosilicate (Si (OC 2 H 5) 4) 1%
A 0.5% aqueous solution of NaOH was added to 100 kg of the gel obtained by mixing with an aqueous solution of acetic acid and hydrolysis and polycondensation, and the mixture was allowed to stand in a constant temperature layer at 60 ° C. for 100 hours to obtain silica glass powder. This was heated in an electric furnace at 1200 ° C. for 10 hours to form β-cristobalite, and then cooled to room temperature to obtain α-cristobalite powder. This powder in an electric furnace in a vacuum atmosphere at 1650 ℃ 5
It was heated for an hour to carry out dealkalization treatment.
この粉末のアルカリ金属であるNa、K、Liの総含有量
は0.6ppm他の金属不純物の総含有量が3ppmであった。
(実施例1用サンプル) 真空雰囲気の電気炉での加熱条件1650℃1時間とし得
た粉末のアルカリ金属であるNa、K、Liの総含有量は1.
5ppm他の金属不純物の総含有量は20ppmであった。(比
較例1用サンプル) 実施例1用サンプル及び比較例1用サンプルを酸水素
火炎溶融法で溶融し、次いで成形を行ない、管状のシリ
カガラス体を得た。次いでシリカガラス体の表面層にク
リストバライト核を形成させる為に1350℃で6時間熱処
理した。The total content of alkali metals Na, K and Li in this powder was 0.6 ppm, and the total content of other metal impurities was 3 ppm.
(Sample for Example 1) The total content of alkali metal Na, K, and Li in the powder obtained by heating in an electric furnace in a vacuum atmosphere at 1650 ° C. for 1 hour was 1.
The total content of 5 ppm and other metal impurities was 20 ppm. (Sample for Comparative Example 1) The sample for Example 1 and the sample for Comparative Example 1 were melted by the oxyhydrogen flame melting method and then molded to obtain a tubular silica glass body. Then, heat treatment was performed at 1350 ° C. for 6 hours to form cristobalite nuclei on the surface layer of the silica glass body.
比較例2 アルカリ金属である、Na、K、Liの総含有量が1.5ppm
他の金属不純物の総含有量が20ppmである天然水晶粉を
酸水素火炎溶融法で溶融し、次いで成形を行い管状のシ
リカガラス体の表面層にクリストバライト核を形成させ
る為に1350℃で6時間熱処理した。Comparative Example 2 The total content of alkali metals Na, K and Li is 1.5 ppm.
Natural quartz powder with a total content of other metal impurities of 20 ppm is melted by the oxyhydrogen flame melting method and then molded to form cristobalite nuclei in the surface layer of the tubular silica glass body at 1350 ° C for 6 hours. Heat treated.
比較例3 原料に不純物を一定の割合で混入させた四塩化けい素
を原料して酸水素火炎中で加水分解し、シリカガラス体
を得、次いで成形を行ない管状とした。次いで、シリカ
ガラス体の表面にクリストバライト核を形成させる為に
1350℃で6時間熱処理した。Comparative Example 3 Silicon tetrachloride in which impurities were mixed at a constant ratio was used as a raw material and was hydrolyzed in an oxyhydrogen flame to obtain a silica glass body, which was then molded into a tubular shape. Next, to form cristobalite nuclei on the surface of the silica glass body
Heat treatment was performed at 1350 ° C. for 6 hours.
比較例4 高純度の四塩化けい素を原料として比較例3と同じ手
法でシリカガラス体を得同じ熱処理を行った。Comparative Example 4 A silica glass body was obtained by the same method as in Comparative Example 3 using high-purity silicon tetrachloride as a raw material, and the same heat treatment was performed.
実施例1並びに比較例1、2、3及び4で得たシリカ
ガラスのNa、K、Liの分析値及びその他の金属不純物の
分析値は表1に示されている。Table 1 shows the analytical values of Na, K, Li and the other metallic impurities of the silica glass obtained in Example 1 and Comparative Examples 1, 2, 3 and 4.
また、クリストバライト核の発生を確認する為に表面
の結晶化の状態を観察した。また、表面から100μmで
切り出し、偏光顕微鏡で観察し、クリストバライト核の
発生の有無を確認した。その結果を表2に示す。 In addition, the state of surface crystallization was observed in order to confirm the generation of cristobalite nuclei. Further, it was cut out from the surface at 100 μm and observed with a polarization microscope to confirm the presence or absence of cristobalite nucleation. The results are shown in Table 2.
また、実施例1並びに比較例1、2、3及び4につい
て1300℃での粘度を陥入法を用いて測定した。その結果
を表3に示す。 Further, the viscosity at 1300 ° C. of Example 1 and Comparative Examples 1, 2, 3 and 4 was measured by the invagination method. Table 3 shows the results.
次に本発明の、Na、K、Li含有量が実施例1と同様の
実施例2及びこれに対する比較例を次の表4に示す。 Next, Table 2 below shows Example 2 having the same Na, K, and Li contents as those of Example 1 of the present invention and comparative examples thereof.
次に本発明の、Na、K、Li含有量が実施例1と同様の
クリストバライト粉体及びNa、K、Li含有量は同じで、
OH基含有量が異なる非晶質合成シリカ粉体を用いて、内
層及び外層を構成し、ルツボを得た。これらのルツボを
使用して、シリコン単結晶引上げを行った結果を表4に
示す。Next, according to the present invention, the cristobalite powder having the same Na, K, and Li contents as in Example 1 and the Na, K, and Li contents are the same,
Crucibles were obtained by forming an inner layer and an outer layer using amorphous synthetic silica powders having different OH group contents. Table 4 shows the results of pulling a silicon single crystal using these crucibles.
上記表から明らかなように、実施例1のように高純度
のクリストバライト粉末を溶融したシリカガラスでは、
クリストバライト核への転移が速く、使用時に高い粘性
を示した。また、不純物の含有量も低いので、半導体プ
ロセスにおいて、半導体物質の特性に何ら悪影響を与え
ることがない。 As is clear from the above table, in the silica glass obtained by melting high-purity cristobalite powder as in Example 1,
It rapidly transferred to cristobalite nuclei and showed high viscosity when used. Moreover, since the content of impurities is low, the characteristics of the semiconductor material are not adversely affected in the semiconductor process.
(ト) 発明の効果 本発明は、シリカガラスルツボの外層部に微細な結晶
質のシリカの領域を存在させたので、Si単結晶引上げに
使用した場合、従来のシリカガラスルツボに比して、内
層部における発泡及び微細結晶発生状況並びにシリカガ
ラスルツボの変形等が少なくなり、また、引き上げられ
たSi単結晶における結晶の乱れの発生率が少なくなるな
どの点で優れた結果を得ることができる。(G) Effect of the Invention The present invention has a region of fine crystalline silica in the outer layer portion of the silica glass crucible. Therefore, when used for pulling Si single crystal, compared with a conventional silica glass crucible, It is possible to obtain excellent results in that the occurrence of foaming and fine crystals in the inner layer portion and the deformation of the silica glass crucible are reduced, and the occurrence rate of crystal disorder in the pulled Si single crystal is reduced. .
Claims (3)
引上用のシリカガラスルツボにおいて、外層部は合成ク
リストバライト粉体を溶融することによって形成されて
おり、また内層部は合成された非晶質シリカ粉体を溶融
することにより形成されていることを特徴とするシリコ
ン単結晶引上用シリカガラスルツボ。1. A silica glass crucible for pulling a silicon single crystal having an inner layer portion and an outer layer portion, wherein the outer layer portion is formed by melting a synthetic cristobalite powder, and the inner layer portion is a synthesized amorphous. A silica glass crucible for pulling up a silicon single crystal, which is formed by melting a high quality silica powder.
が50ppm以下、好ましくは30ppm以下であることを特徴と
する請求項1に記載のシリコン単結晶引上用シリカガラ
スルツボ。2. The silica glass crucible for pulling up a silicon single crystal according to claim 1, wherein the synthesized amorphous silica powder has an OH group content of 50 ppm or less, preferably 30 ppm or less.
ルカリ金属のNa、K、Liの総含有量が1ppm以下であり、
他の金属不純物の総含有量が5ppm以下であることを特徴
とする請求項1に記載のシリコン単結晶引上用シリカガ
ラスルツボ。3. The purity of the synthesized cristobalite is such that the total content of alkali metals Na, K and Li is 1 ppm or less,
The silica glass crucible for pulling up a silicon single crystal according to claim 1, wherein the total content of other metallic impurities is 5 ppm or less.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25407089A JPH0813716B2 (en) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | Silica glass crucible for pulling silicon single crystal |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25407089A JPH0813716B2 (en) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | Silica glass crucible for pulling silicon single crystal |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03115187A JPH03115187A (en) | 1991-05-16 |
| JPH0813716B2 true JPH0813716B2 (en) | 1996-02-14 |
Family
ID=17259805
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25407089A Expired - Lifetime JPH0813716B2 (en) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | Silica glass crucible for pulling silicon single crystal |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0813716B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5543326B2 (en) * | 2010-12-27 | 2014-07-09 | コバレントマテリアル株式会社 | Silica glass crucible for silicon single crystal pulling |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5849519B2 (en) | 2011-08-12 | 2016-01-27 | 富士電機株式会社 | Beverage extraction material crusher |
-
1989
- 1989-09-29 JP JP25407089A patent/JPH0813716B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
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| JP5849519B2 (en) | 2011-08-12 | 2016-01-27 | 富士電機株式会社 | Beverage extraction material crusher |
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|---|---|
| JPH03115187A (en) | 1991-05-16 |
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