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JPH081448B2 - Alan dispersion measuring instrument - Google Patents
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JPH081448B2 - Alan dispersion measuring instrument - Google Patents

Alan dispersion measuring instrument

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JPH081448B2
JPH081448B2 JP2051416A JP5141690A JPH081448B2 JP H081448 B2 JPH081448 B2 JP H081448B2 JP 2051416 A JP2051416 A JP 2051416A JP 5141690 A JP5141690 A JP 5141690A JP H081448 B2 JPH081448 B2 JP H081448B2
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  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、アラン分散の測定器(アラン分散測定器又
はアラン分散測定装置ともいう。)に係る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial field of use] The present invention relates to an Alan dispersion measuring device (also referred to as an Alan dispersion measuring device or an Alan dispersion measuring device).

このアラン分散の測定器は、発振器のもつごくわずか
な周波数揺らぎを高精度に測定する装置であり、通信計
測分野においてはマイクロ波によるヘテロダイン通信装
置あるいは測距用マイクロ波発振器の周波数安定度評価
装置に、また光計測分野においては高安定なレーザ光源
の周波数安定度評価装置として利用される。さらに、つ
ぎの世代の通信方式として研究が進められている光ヘテ
ロダイン通信用レーザ光源の周波数安定度の評価にも用
いられる。
This Alan dispersion measuring device is a device that measures very small frequency fluctuations of an oscillator with high accuracy.In the field of telecommunication measurement, it is a frequency stability evaluation device for a heterodyne communication device using microwaves or a microwave oscillator for distance measurement. Moreover, in the field of optical measurement, it is used as a highly stable frequency stability evaluation device for laser light sources. Further, it is also used for evaluation of frequency stability of a laser light source for optical heterodyne communication, which is being studied as a communication system of the next generation.

〔従来の技術〕 アラン分散は、発振器の周波数安定度を表す一つの指
標であり、一般に次のように定義される。
[Prior Art] Alan dispersion is one index representing the frequency stability of an oscillator, and is generally defined as follows.

第4図に示すように、まず時間的に周波数が変化して
いる信号源において、その周波数のτ時間平均値
順次得る。連続する2個の周波数のτ時間の平均値
についての標本標準偏差の2乗は、 となるが、アラン分散はこれをN個の平均値に対し
計算を行ない、それらを平均したもので、 で表される。ここで、τは信号源のτ時間における公
称周波数である。
As shown in FIG. 4, first, in a signal source whose frequency changes temporally, τ time average value k of the frequency is sequentially obtained. Average value of τ time of two consecutive frequencies 1
When the square of the sample standard deviation of about 2, However, the Alan variance is obtained by calculating this for N average values k and averaging them. It is represented by. Where τ is the nominal frequency of the source at τ time.

一般に周波数安定度を表すにはσ(τ)すなわち、
(2)式の平方根が用いられている。アラン分散は、
(2)式に示されるように、平均された周波数データ数
Nと積分時間τの二つの変数の関数で表され、さらに定
義として測定の空き時間、すなわち第4図でk
k+1の積分領域の境界部分の時間がゼロであることが
要求されている。
Generally, to express frequency stability, σ (τ), that is,
The square root of equation (2) is used. Alan dispersion is
As shown in the equation (2), it is expressed by a function of two variables of the averaged frequency data number N and the integration time τ, and as a definition, the measurement idle time, that is, k in FIG.
The time at the boundary of the k + 1 integration region is required to be zero.

第5図は、従来のアラン分散測定器の構成を示す一実
施例で、入力信号Saは波形整形機能を有する検出器1に
より矩形波信号Sbに変換される。この信号Sbを周波数カ
ウンタ部2で計数し、メモリ3に一旦データを蓄えた
後、データ処理部4でアラン分散値を計算する方法が用
いられている。
FIG. 5 is an embodiment showing a configuration of a conventional Alan dispersion measuring instrument, in which an input signal Sa is converted into a rectangular wave signal Sb by a detector 1 having a waveform shaping function. A method is used in which the signal Sb is counted by the frequency counter unit 2, data is temporarily stored in the memory 3, and then the Allan variance value is calculated by the data processing unit 4.

さらに詳しく述べると、前記検出器1を通して矩形化
された矩形波信号Sbは前記周波数カウンタ部2内のカウ
ンタ5に入力され、立上り信号数が計数・累積される。
このカウンタ5に累積された立上り信号数の計数値f
は計数タイミング信号発生器6において設定された周期
τ秒のラッチ信号Scにより、τ秒毎にラッチ回路7に送
られる。
More specifically, the rectangular wave signal Sb that has been rectangularized through the detector 1 is input to the counter 5 in the frequency counter unit 2, and the number of rising signals is counted and accumulated.
Count value f c of the number of rising signals accumulated in this counter 5
Is sent to the latch circuit 7 every τ seconds by the latch signal Sc having the period τ seconds set in the counting timing signal generator 6.

ここで、立上り信号の度数を計数する前記カウンタ5
は前記ラッチ信号Scとは無関係に、前記矩形波信号Sbの
立上り信号の度数を計数し続けており、従って時間τの
計数と次の時間τの計数との間には、アラン分散の定義
どおり、空き時間は発生しない方法がとられている。
Here, the counter 5 for counting the frequency of the rising signal
Continuously counts the frequency of the rising signal of the rectangular wave signal Sb regardless of the latch signal Sc, and therefore, between the counting of the time τ and the counting of the next time τ, the Alan variance is defined. , A method that does not cause free time is taken.

しかしながら、第6図に示すように、この立上り信号
を計数する場合、設定時間τの計数開始時あるいは計数
終了時のタイミングのずれにより、1カウントの数え落
し、あるいは、数え過ぎによる±1の丸め誤差が発生す
ることは避けられない構成になっていた。
However, as shown in FIG. 6, when this rising signal is counted, one count is missed due to a timing difference at the start or end of counting of the set time τ, or a rounding error of ± 1 due to over-counting. It was inevitable that the occurrence of.

この丸め誤差により、アラン分散の測定器の安定度測
定限界が決定され、その値は、 となる。ここでfLは1秒間の入力信号Saの公称周波数で
ある。例えば、fLが5MHzの周波数入力の場合、τ=1秒
の積分時間では2×10-7のアラン分散平方根以下の安定
度は測定不能となる。
This rounding error determines the stability measurement limit of the Alan dispersion measuring instrument, and its value is Becomes Where f L is the nominal frequency of the input signal Sa for 1 second. For example, when f L is a frequency input of 5 MHz, the stability below the Alan variance square root of 2 × 10 −7 cannot be measured in the integration time of τ = 1 second.

アラン分散測定装置に関する文献としては、次のもの
が知られている。
The followings are known as documents relating to the Alan dispersion measuring device.

(1)「レーザ周波数安定度の実時間測定装置」椎尾、
大津、田幸:電子通信学会技術研究報告OQE80−52(198
0) (2)「レーザ周波数安定度の実時間測定装置の試作」
椎尾、大津、田幸:電子通信学会論文誌VOL.J64−C NO.
3(1981)PP.204〜208 (3)「周波数オフセットロックシステムの性能評価」
加藤、久保木、大津:レーザ・原子発振器の周波数制御
と応用、第2回シンポジウム予稿(1987) 〔発明が解決しようとする課題〕 本発明は、従来技術において発生する±1カウントの
丸め誤差を低減することを課題とし、この丸め誤差によ
り制限されていた周波数安定度測定限界を改善したアラ
ン分散の測定器を実現することを目的としている。
(1) "Real-time measuring device of laser frequency stability" Shiio,
Otsu, Tayuki: IEICE Technical Report OQE80-52 (198
0) (2) "Prototype of real-time measuring device for laser frequency stability"
Shiio, Otsu, Tayuki: IEICE Transactions VOL.J64-C NO.
3 (1981) PP.204-208 (3) "Performance evaluation of frequency offset lock system"
Kato, Kubogi, Otsu: Frequency Control and Application of Laser / Atomic Oscillator, 2nd Symposium Proposal (1987) [Problems to be Solved by the Invention] The present invention reduces the rounding error of ± 1 count generated in the prior art. It is an object of the present invention to provide a measuring device for Alan dispersion that improves the frequency stability measurement limit that is limited by the rounding error.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本発明では、上記課題に対して次の技術手段を用いて
解決している。
The present invention solves the above problems by using the following technical means.

従来の技術は、第5図に示すように、入力信号Saを波
形整形機能を有する検出器1に通して矩形波信号Sbに変
換し、この矩形波信号Sbの立上りをカウンタ5により計
数していたのに対し、 本発明のアラン分散の測定器は、例えば、第2図に示
すように、入力信号Saの周波数fLよりも十分高い周波数
fRの電気信号を出力する発振器8の出力信号の立上りを
カウンタ5で計数し、その計数値を、矩形波に整形され
た前記入力信号Saの波数を計数してその計数値が所定数
nに達したとき計数タイミング信号発生器6から出力さ
れるラッチ信号Scによって、ラッチ回路7にラッチす
る。該ラッチ回路7にラッチした前記カウンタ5の計数
値を、該ラッチ回路7のラッチデータの更新毎にメモリ
3に記憶する。一方、前記ラッチ信号Scを測定データ数
計数器9で計数し、その計数値が所定のアラン分散を算
出するのに必要な数Mに達したとき、前記測定データ数
計数器9からデータ処理開始信号Sdを発生する。このデ
ータ処理開始信号Sdによって、メモリ3に記憶された計
数値をもとにしてデータ処理部4がアラン分散値を計算
するようにしている。前記所定数n,Mについては後述す
る。
According to the conventional technique, as shown in FIG. 5, an input signal Sa is passed through a detector 1 having a waveform shaping function to be converted into a rectangular wave signal Sb, and the rising edge of the rectangular wave signal Sb is counted by a counter 5. On the other hand, as shown in FIG. 2, the Alan dispersion measuring device of the present invention has a frequency sufficiently higher than the frequency f L of the input signal Sa.
The rising edge of the output signal of the oscillator 8 that outputs the electric signal of f R is counted by the counter 5, and the counted value is counted as the wave number of the input signal Sa shaped into a rectangular wave. Latch signal Sc is output from the count timing signal generator 6 when the value reaches the value of (1). The count value of the counter 5 latched in the latch circuit 7 is stored in the memory 3 every time the latch data of the latch circuit 7 is updated. On the other hand, when the latch signal Sc is counted by the measurement data number counter 9 and the count value reaches the number M necessary for calculating the predetermined Allan variance, the measurement data number counter 9 starts data processing. Generate signal Sd. By the data processing start signal Sd, the data processing unit 4 calculates the Allan variance value based on the count value stored in the memory 3. The predetermined numbers n and M will be described later.

このような方式により、前記入力信号Saの周波数安定
度を測定した場合、該入力信号Saの公称周波数fLの逆数
すなわち、入力信号Saの周期を積分時間τとして測定し
ていることになり、測定すべき入力信号Saの周波数揺ら
ぎは、この積分時間τの揺らぎとして前記発振器8の出
力信号を計数することで測定される。この際に発生する
丸め誤差は、前記カウンタ5により計数された該発振器
8の計数値に含まれる±1カウントであるが、この誤差
は前記入力信号Saの周波数fLに対する丸め誤差Eに換算
すると、 E=fL/fR ……(4) となる。
By such a method, when the frequency stability of the input signal Sa is measured, the reciprocal of the nominal frequency f L of the input signal Sa, that is, the period of the input signal Sa is measured as the integration time τ, The frequency fluctuation of the input signal Sa to be measured is measured by counting the output signal of the oscillator 8 as the fluctuation of the integration time τ. The rounding error generated at this time is ± 1 count included in the count value of the oscillator 8 counted by the counter 5, and when this error is converted into the rounding error E with respect to the frequency f L of the input signal Sa, E = F L / f R (4)

したがって、(4)式で得られる丸め誤差に制限され
る本発明のアラン分散の測定器の安定度測定限界は、 となる。例えば、前記発振器8の出力周波数fRを100MHz
に設定した場合、その安定度測定限界はτ=1秒の場合
で1×10-8の安定度が得られる。この値は、従来技術に
おけるfL=5MHzの場合の安定度測定限界2×10-7に比べ
1桁程度向上したものとなっている。
Therefore, the stability measurement limit of the Alan dispersion measuring instrument of the present invention, which is limited to the rounding error obtained by the equation (4), is Becomes For example, if the output frequency f R of the oscillator 8 is 100 MHz
When set to, the stability measurement limit is 1 × 10 −8 when τ = 1 second. This value is an order of magnitude higher than the stability measurement limit of 2 × 10 −7 when f L = 5 MHz in the conventional technique.

〔実施例〕〔Example〕

第1図に示す構成図は、本発明のアラン分散の測定器
に係る基本的な第1の実施例であり、第2図は本発明に
よる第2の実施例の構成図である。
The block diagram shown in FIG. 1 is a basic first embodiment relating to the Alan dispersion measuring device of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram of the second embodiment according to the present invention.

入力信号Saを波形整形機能を有する検出器1で検知
し、入力信号Saと同じ周波数fLの繰返し周波数を持つ矩
形波信号Sbに変換する。また、入力信号Saの周波数fL
り十分高い発振周波数fRの電気信号が、発振器8から入
力信号Saとは独立して出力される。
The input signal Sa is detected by the detector 1 having a waveform shaping function, and converted into a rectangular wave signal Sb having the same repetition frequency f L as the input signal Sa. Further, an electric signal having an oscillation frequency f R that is sufficiently higher than the frequency f L of the input signal Sa is output from the oscillator 8 independently of the input signal Sa.

カウンタ5は、この入力信号Saを常に計数・累積し続
けており、この計数値は計数タイミング信号発生器6の
出力信号であるラッチ信号Scによりラッチ回路7にラッ
チされる。この計数タイミング信号発生器6からのラッ
チ信号Scの出力タイミングは、入力信号Saを検出器1で
波形整形した矩形波信号Sbの立ち上がりを計数タイミン
グ信号発生器6で計数し、入力信号Saの周期の整数倍の
時間に対応し、かつ、設定されたアラン分散を測定する
積分時間τのうち最小時間単位τminに対応するn計数
毎にラッチ信号Scを出力する。
The counter 5 constantly counts and accumulates this input signal Sa, and this count value is latched in the latch circuit 7 by the latch signal Sc which is the output signal of the count timing signal generator 6. The output timing of the latch signal Sc from the counting timing signal generator 6 is such that the rising edge of the rectangular wave signal Sb obtained by shaping the waveform of the input signal Sa by the detector 1 is counted by the counting timing signal generator 6 and the cycle of the input signal Sa is calculated. The latch signal Sc is output for each n count corresponding to the minimum time unit τ min of the set integration time τ for measuring the set Alan variance.

すなわち、入力信号Saの周波数fLが5MHzで最小積分時
間τminを1/1000秒から測定しようとする場合、入力信
号Saが波形変換された矩形波信号Sbの5000波数の計数で
1/1000秒の時間範囲となるためnは5000となる。前記ラ
ッチ回路7にラッチされた前記カウンタ5の計数値は、
ラッチが更新される毎にメモリ3に記憶される。
That is, when the frequency f L of the input signal Sa is 5 MHz and the minimum integration time τ min is to be measured from 1/1000 seconds, the input signal Sa is counted in the number of 5000 waves of the rectangular wave signal Sb whose waveform is converted.
Since the time range is 1/1000 seconds, n is 5000. The count value of the counter 5 latched by the latch circuit 7 is
Each time the latch is updated, it is stored in the memory 3.

このラッチ回路7による計数値のラッチと、その記憶
の動作は、前記ラッチ信号Scを計数する測定データ数計
数器9の計数値が、M(アラン分散を測定する最大積分
時間τmaxが,最小積分時間τminを何回集めて構成でき
るか、また何回の最大積分時間τmaxの測定によりアラ
ン分散を算出するかで決定される)の値に等しくなるま
で続けられる。したがって、Mは である。
The latching of the count value by the latch circuit 7 and the operation of storing the count value are such that the count value of the measurement data number counter 9 for counting the latch signal Sc is M (the maximum integration time τ max for measuring the Allan variance is minimum). It is determined by how many times the integration time τ min can be collected and configured, and how many times the maximum integration time τ max is measured to calculate the Alan variance). Therefore, M is Is.

すなわち、τminが1/100秒で、τmaxが10秒であり、
τmaxの測定回路が10回である場合のMの値は10,000で
ある。このMにラッチ信号Scの計数値が等しくなったと
き、前記測定データ数計数器9はデータ処理部4にデー
タ処理開始信号Sdを出力する。データ処理開始信号Sd受
領したデータ処理部4は、前記メモリ3に記憶されてい
る計数値のデータを基にアラン分散の算出を行う。この
算出はτminからτmaxまでの所定のτ値に対して行わ
れ、該メモリ3に記憶されている計数値は前記カウンタ
5の累積値であるため、あらかじめ1つの累積計数値か
らその直前のτminで計数した累積値を引き、実際にτ
minの時間で計数した値Dに変換する。所定のτ値の間
の計数値はτ/τmin個のD値の和であるから、この和
によりτ時間の計数値を算出し、τ時間のアラン分散の
計算に必要なτ時間におけるN個の計数値データを作成
する。
That is, τ min is 1/100 second and τ max is 10 second,
When the measurement circuit of τ max is 10 times, the value of M is 10,000. When the count value of the latch signal Sc becomes equal to M, the measurement data number counter 9 outputs the data processing start signal Sd to the data processing unit 4. The data processing unit 4, which has received the data processing start signal Sd, calculates the Allan variance based on the count value data stored in the memory 3. This calculation is performed for a predetermined τ value from τ min to τ max , and since the count value stored in the memory 3 is the cumulative value of the counter 5, one cumulative count value immediately before is calculated. Subtract the cumulative value counted in τ min of
Convert to the value D counted in the time of min . Since the count value between the given τ values is the sum of τ / τ min D values, the count value of τ time is calculated from this sum, and N in τ time necessary for calculating the Allan variance of τ time is calculated. Create individual count data.

このようにして算出したτ時間の計数値は、前記発振
器8の計数値であるから、前記入力信号Saと該発振器8
の周波数比であるfL/fRの係数を各τ時間の計数値に乗
算して、入力信号のτ時間における周波数計数値を算
出した後(2)式を使ってアラン分散値を算出して測定
する。
Since the count value of τ time calculated in this way is the count value of the oscillator 8, the input signal Sa and the oscillator 8 are counted.
The coefficient of f L / f R , which is the frequency ratio of, is multiplied by the count value at each τ time to calculate the frequency count value at the τ time of the input signal, and then the Alan variance value is calculated using equation (2). To measure.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

第3図に、入力信号5MHz時における、従来技術と本発
明によるアラン分散の測定器の周波数安定度測定限界の
比較を示す。第3図において、aが従来技術による測定
限界を示す直線で,bが本発明による発振器の周波数を10
0MHzに設定した場合の測定限界を示す直線である。図に
示されているように従来技術における±1カウントの丸
め誤差に起因する安定度限界を、本発明の丸め誤差を低
減する手法を用いることにより、1桁程度向上させるこ
とができた。この限界は、発振器の周波数を高めること
によりさらに改善することが可能である。
FIG. 3 shows a comparison of the frequency stability measurement limits of the Alan dispersion measuring instrument according to the prior art and the present invention when the input signal is 5 MHz. In FIG. 3, a is a straight line showing the measurement limit according to the prior art, and b is the frequency of the oscillator according to the present invention.
It is a straight line showing the measurement limit when set to 0 MHz. As shown in the figure, the stability limit due to the rounding error of ± 1 count in the prior art could be improved by about one digit by using the method for reducing the rounding error of the present invention. This limit can be further improved by increasing the frequency of the oscillator.

また、本発明と従来技術のアラン分散測定器を組み合
わせることにより安定度の非常に悪い発振器から高い精
度の発振器までの安定度が測定できるダイナミックレン
ジの広いアラン分散測定器を実現できる。
Further, by combining the present invention with the prior art Allan dispersion measuring instrument, it is possible to realize an Allan dispersion measuring instrument having a wide dynamic range capable of measuring the stability from an oscillator with extremely poor stability to an oscillator with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の第1の実施例の構成図、第2図は本発
明の第2の実施例の構成図、第3図は周波数安定度測定
限界について従来技術と本発明の比較を示す図、第4図
は時間的に周波数が変化する信号を示す図、第5図は従
来技術によるアラン分散測定器の構成を示す図、第6図
は従来技術によるアラン分散測定器の丸め誤差を説明す
る図である。 図中、1は検出器、2は周波数カウンタ部、3はメモ
リ、4はデータ処理部、5はカウンタ、6は計数タイミ
ング信号発生器、7はラッチ回路、8は発振器、9は測
定データ数計数器、Saは入力信号、Sbは矩形波信号、Sc
はラッチ信号、Sdはデータ処理開始信号、aは従来技術
による周波数安定度測定限界を示す直線、bは本発明に
よる周波数安定度測定限界を示す直線をそれぞれ示す。
FIG. 1 is a block diagram of the first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a block diagram of the second embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a comparison of the prior art and the present invention regarding frequency stability measurement limits. FIG. 4, FIG. 4 is a diagram showing a signal whose frequency changes with time, FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a conventional Alan dispersion measuring instrument, and FIG. 6 is a diagram showing a rounding error of a conventional Alan dispersion measuring instrument. It is a figure explaining. In the figure, 1 is a detector, 2 is a frequency counter unit, 3 is a memory, 4 is a data processing unit, 5 is a counter, 6 is a count timing signal generator, 7 is a latch circuit, 8 is an oscillator, and 9 is the number of measured data. Counter, Sa is input signal, Sb is rectangular wave signal, Sc
Is a latch signal, Sd is a data processing start signal, a is a straight line showing the frequency stability measurement limit according to the prior art, and b is a straight line showing the frequency stability measurement limit according to the present invention.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】周波数の揺らぎを持つ入力信号を受領し波
形整形して2値の電気信号を出力する検出器(1)と、 該検出器の出力信号のパルス周期よりも短い周期の周波
数信号を出力する発振器(8)と、 該発振器の出力信号を計数するカウンタ(5)と、 前記検出器の出力信号を計数し、その計数値が所定の数
nに達したときラッチ信号Scを発生する計数タイミング
信号発生器(6)と、 該ラッチ信号Scにより前記カウンタの出力信号をラッチ
するラッチ回路(7)と、 該ラッチ回路にラッチされた前記カウンタの計数値をラ
ッチ回路の更新毎に記憶するメモリ(3)と、 前記ラッチ信号Scを計数し、その計数値が所定のアラン
分散算出必要数Mに達したときデータ処理開始信号Sdを
出力する測定データ数計数器(9)と、 該データ処理開始信号Sdを受領し前記メモリに記憶され
たデータを処理して、前記周波数の揺らぎを持つ入力信
号のアラン分散値を計算するデータ処理部(4)とを備
え、 前記入力信号の周波数の揺らぎを1波数以内の誤差で測
定するアラン分散の測定器。
1. A detector (1) for receiving an input signal having frequency fluctuations, shaping the waveform and outputting a binary electric signal, and a frequency signal having a period shorter than the pulse period of the output signal of the detector. An oscillator (8) that outputs a signal, a counter (5) that counts an output signal of the oscillator, and a latch signal Sc when the output signal of the detector is counted and the count value reaches a predetermined number n. Counting timing signal generator (6), a latch circuit (7) for latching the output signal of the counter by the latch signal Sc, and the count value of the counter latched by the latch circuit every time the latch circuit is updated. A memory (3) for storing, and a measurement data number counter (9) for counting the latch signal Sc and outputting a data processing start signal Sd when the count value reaches a predetermined required Alan variance calculation number M, Open the data processing A data processing unit (4) for receiving the signal Sd, processing the data stored in the memory, and calculating the Allan variance value of the input signal having the frequency fluctuation, and measuring the frequency fluctuation of the input signal. Alan dispersion measuring instrument that measures within one wave number.
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JP4593993B2 (en) * 2004-07-22 2010-12-08 アンリツ株式会社 Frequency stability measuring device
CN116559529A (en) * 2023-05-11 2023-08-08 东南大学 A high-precision frequency measurement method and system based on edge detection

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57127860A (en) * 1981-01-31 1982-08-09 Nec Home Electronics Ltd Measuring apparatus for input signal frequency in computer system

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