JPH0820308B2 - Optical variable wavelength filter device - Google Patents
Optical variable wavelength filter deviceInfo
- Publication number
- JPH0820308B2 JPH0820308B2 JP1110699A JP11069989A JPH0820308B2 JP H0820308 B2 JPH0820308 B2 JP H0820308B2 JP 1110699 A JP1110699 A JP 1110699A JP 11069989 A JP11069989 A JP 11069989A JP H0820308 B2 JPH0820308 B2 JP H0820308B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- slit
- wavelength
- passing
- slits
- piezoelectric actuator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 16
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 31
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 8
- 102100025490 Slit homolog 1 protein Human genes 0.000 description 6
- 101710123186 Slit homolog 1 protein Proteins 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、例えば回折格子等によって回折された光の
うち、ある特定の波長の光を選択して通過されるべく、
通過光の中心波長と通過波長帯域幅が可変設定できる光
可変波長フィルタ装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial application] The present invention is designed to select and pass light having a specific wavelength from light diffracted by, for example, a diffraction grating.
The present invention relates to an optical variable wavelength filter device capable of variably setting a central wavelength of passing light and a passing wavelength bandwidth.
[従来の技術] 例えば従来より回折格子等により回折された光から特
定の波長を選択して通過させる際に、通過光の中心波長
および通過波長帯域幅を可変設定する装置として第7図
に示すような光可変波長フィルタ装置が知られている。[Prior Art] FIG. 7 shows an apparatus for variably setting a central wavelength and a passing wavelength bandwidth of passing light when a specific wavelength is selected and passed from light diffracted by a diffraction grating or the like. Such an optical variable wavelength filter device is known.
この装置はスリット20,20各々が独立して駆動できる
ように、マイクロメータヘッド23,24を備えた微動台21,
22にスリット20,20を取り付け、微動台21,22が、基台25
に対してスリット20,20同士が対向するように配置され
たもので、スリット20,20を通過する光の中心波長およ
び通過波長帯域幅を可変する場合には、例えば白色光源
と光スペクトラムアナライザを用い、常に通過光の状態
を測定しながらマイクロメータヘッド23,24のツマミ23
a,24aを手動により回転させて微動台21,22を移動制御す
ることで対応していた。This device has a fine movement table 21, equipped with micrometer heads 23, 24, so that each of the slits 20, 20 can be driven independently.
The slits 20 and 20 are attached to 22 and the fine movement tables 21 and 22 are
In contrast, the slits 20 and 20 are arranged so as to face each other.When the central wavelength and the passing wavelength bandwidth of the light passing through the slits 20 and 20 are variable, for example, a white light source and an optical spectrum analyzer are used. Use the knob 23 of the micrometer head 23, 24 while always measuring the state of the passing light.
This has been dealt with by manually rotating a and 24a to control the movement of fine movement tables 21 and 22.
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上述した従来の装置では、通過光の中
心波長および通過波長帯域幅の設定は、白色光源、光ス
ペクトラムアナライザ等の他の装置を併用して通過光の
状態を使用者が常に監視しなければならないため、調整
の設定作業に手間と時間を要し効率的でなかった。ま
た、調整を行なった後に振動等の外部変動の影響に対し
て設定値を維持することが困難であり、調整後における
設定値の信頼性に欠けるという問題があった。[Problems to be Solved by the Invention] However, in the above-described conventional device, the central wavelength and the passing wavelength bandwidth of the passing light are set by using other devices such as a white light source and an optical spectrum analyzer in combination. Since the user must constantly monitor the condition, it takes time and effort to set the adjustment, which is not efficient. Further, it is difficult to maintain the set value against the influence of external fluctuation such as vibration after the adjustment, and there is a problem that the set value after the adjustment lacks reliability.
そこで、本発明は上述した問題点に鑑みてなされたも
のであって、その目的は、極めて簡単な操作により調整
に手間がかかることなく短時間で設定を行なえ、調整後
の外部変動に影響されることなく所望の通過光が得られ
る光可変波長フィルタ装置を提供することにある。Therefore, the present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and the purpose thereof is to be able to perform setting in a short time without requiring time and effort for adjustment by an extremely simple operation, and to be affected by external fluctuation after adjustment. An object of the present invention is to provide an optical variable wavelength filter device that can obtain a desired passing light without causing any change.
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するため、本発明による光可変波長フ
ィルタ装置は、入射光を分光し、該分光された光を選択
通過させる一対のスリット1a,1bを備えた光可変波長フ
ィルタ装置において、 通過光の中心波長、通過波長帯域幅を決めるための設
定値を入力する設定部2と、 一端に支点Fを有して対称に配置されるL字状のフレ
ーム12の延長上に取り付けられたレバー11と、前記支点
を中心に前記レバーを開閉作動させるための圧電アクチ
ュエータ10と、前記スリットの一方が取り付いて前記レ
バーの他端に設けられ、前記圧電アクチュエータの動作
量に応じて前記スリットの間隔を可変するように変位す
る板バネ13とを含む駆動機構7a,7bを備えた前記一対の
スリットを各々駆動するための駆動部6と、 前記板バネに設けられて前記スリットの変位量を検出
する変位量検出部15と、 該変位量検出部の出力と前記設定値とを比較し、この
比較による偏差を相殺するように前記圧電アクチュエー
タを駆動して前記駆動部の変位量を補正制御する制御部
5とを備えたことを特徴としている。[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, a variable wavelength filter device according to the present invention includes a pair of slits 1a and 1b for separating incident light and selectively passing the separated light. In the optical variable wavelength filter device, a setting unit 2 for inputting a set value for determining a central wavelength of passing light and a passing wavelength bandwidth, and an L-shaped frame 12 symmetrically arranged with a fulcrum F at one end A lever 11 mounted on an extension of the piezoelectric actuator 10, a piezoelectric actuator 10 for opening and closing the lever about the fulcrum, one of the slits is attached to the other end of the lever, the operation of the piezoelectric actuator A drive unit 6 for driving each of the pair of slits, which includes a drive mechanism 7a, 7b including a leaf spring 13 that is displaced so as to change the distance between the slits according to the amount, and a leaf spring 13 provided on the leaf spring. The displacement amount detection unit 15 for detecting the displacement amount of the slit is compared with the output of the displacement amount detection unit and the set value, and the piezoelectric actuator is driven so as to cancel the deviation due to this comparison. And a control unit 5 for correcting and controlling the displacement amount of the drive unit.
[作用] 入射光を分光し、該分光された光を選択通過させる際
に、設定部2により通過光の中心波長、通過波長帯域幅
を決めるための設定値が入力されると、一端に支点Fを
有して対称配置されたフレーム12上のレバー11は、圧電
アクチュエータ10によりフレーム12の支点Fを中心とし
て先端が開閉する。そして、このレバー11の開閉に応じ
て板バネ13が撓んで変位することによりスリット1a,1b
の間隔が変化する。その際、板バネ13に設けられた変位
量検出部15によりスリット1a,1bの変位量が検出され、
制御部5はこの検出値と設定部2による設定値との偏差
が相殺されるように圧電アクチュエータ10を駆動して駆
動部6の変位量を自己補正制御する。この結果、所望の
中心波長、通過波長帯域幅に調整された通過光が得られ
る。[Operation] When the incident light is split and the split light is selectively passed, when the set value for determining the center wavelength and the pass wavelength bandwidth of the pass light is input by the setting unit 2, a fulcrum is provided at one end. The lever 11 on the frame 12 symmetrically arranged with F is opened and closed by the piezoelectric actuator 10 about the fulcrum F of the frame 12. The leaf springs 13 are bent and displaced in response to the opening / closing of the lever 11 so that the slits 1a, 1b
The interval of changes. At that time, the displacement amount detection unit 15 provided in the leaf spring 13 detects the displacement amount of the slits 1a, 1b,
The control unit 5 drives the piezoelectric actuator 10 so as to cancel the deviation between the detected value and the set value by the setting unit 2 and controls the displacement amount of the drive unit 6 by self-correction. As a result, passing light adjusted to a desired center wavelength and passing wavelength bandwidth can be obtained.
[実施例] 第1図は本発明による光可変波長フィルタ装置の全体
構成の一実施例を示すブロック構成図である。[Embodiment] FIG. 1 is a block configuration diagram showing an embodiment of the overall configuration of an optical variable wavelength filter device according to the present invention.
この実施例による光可変波長フィルタ装置は、2枚の
スリット1の開閉機構に圧電アクチュエータを備えた変
位拡大機構を用い、各スリット1を独立して開閉制御し
ており、設定部2、表示部3、記憶部4、制御部5、駆
動部6を備えて構成されている。The optical variable wavelength filter device according to this embodiment uses a displacement magnifying mechanism having a piezoelectric actuator for the opening / closing mechanism of the two slits 1, and controls the opening / closing of each slit 1 independently. 3, a storage unit 4, a control unit 5, and a drive unit 6 are provided.
設定部2は通過光の中心波長および通過波長帯域幅を
決定するべく、波長設定信号として中心波長および通過
波長帯域幅の数値設定を行なっており、この入力による
データは制御部5に出力される。さらに詳述すると、こ
の設定部2は第2図に示すように中心波長と通過波長帯
域幅の何れかの設定を行なうために別々に設けられた2
個の設定スイッチ2a,2bと、この設定スイッチ2a,2bが押
動操作された後に回転操作することによって設定値が増
減するエンコーダノブ2cとを備えており、エンコーダノ
ブ2cは1ノッチ回転させることで1nm可変され、そのと
きの設定値は中心波長および通過波長帯域幅の設定値を
別々に表示する表示部3に写し出されるようになってい
る。The setting unit 2 numerically sets the center wavelength and the passing wavelength bandwidth as a wavelength setting signal in order to determine the center wavelength and the passing wavelength bandwidth of the passing light, and the data by this input is output to the control unit 5. . More specifically, as shown in FIG. 2, the setting unit 2 is provided separately for setting either the center wavelength or the pass wavelength bandwidth.
It is equipped with a plurality of setting switches 2a, 2b and an encoder knob 2c whose setting value is increased / decreased by rotating the setting switches 2a, 2b after being pushed and operated, and the encoder knob 2c is rotated by one notch. 1 nm, and the set value at that time is displayed on the display unit 3 which separately displays the set values of the center wavelength and the passing wavelength bandwidth.
記憶部4は上スリットデータ記憶手段4aと下スリット
データ記憶手段4bから構成されており、各記憶手段4a,4
bには図に示すように上下スリット1a,1bの各々の波長に
対する歪値を示すデータが記憶されている。The storage unit 4 is composed of upper slit data storage means 4a and lower slit data storage means 4b, and each storage means 4a, 4
In b, as shown in the drawing, data indicating the distortion value for each wavelength of the upper and lower slits 1a and 1b is stored.
制御部5は波長演算手段5a、上スリット歪値演算手段
5b、下スリット歪値演算手段5cと上スリット制御部6aお
よび下スリット制御部6bを備えて構成されている。The control unit 5 includes a wavelength calculation unit 5a and an upper slit strain value calculation unit.
5b, a lower slit distortion value calculation means 5c, an upper slit control section 6a and a lower slit control section 6b.
波長演算手段5aは設定部2の設定操作により入力され
る中心波長および通過波長帯域幅のデータに基づいて上
スリット1aおよび下スリット1b各々における波長の演算
を行なっている。The wavelength calculator 5a calculates the wavelength in each of the upper slit 1a and the lower slit 1b based on the data of the center wavelength and the passing wavelength bandwidth input by the setting operation of the setting unit 2.
上スリット歪値演算手段5bおよび下スリット歪値演算
手段5cは波長演算手段5aによって演算された各スリット
1a,1bの波長に対応する歪値の演算を行なっており、こ
の演算による各歪値データは各スリット1a,1bの駆動部
6に出力される。The upper slit strain value calculation means 5b and the lower slit strain value calculation means 5c are each slit calculated by the wavelength calculation means 5a.
The distortion values corresponding to the wavelengths of 1a and 1b are calculated, and each distortion value data by this calculation is output to the drive unit 6 of each slit 1a and 1b.
駆動部6は各スリット1a,1bに対応してこれら一対の
スリットを各々独立に駆動する2組の駆動機構としての
変位拡大機構7を有し、上スリット制御部6aおよび下ス
リット制御部6bは増幅器8と比較器9から構成され、各
スリット歪値演算手段5b,5cによって演算された歪値
と、後に詳述する変位拡大機構7における各スリット1
a,1bの後述する歪ゲージ15が検出する歪値とを比較して
その偏差を演算し、この偏差が相殺されるように各スリ
ット1a,1bにおける後述する圧電アクチュエータ10の印
加電圧を各々独立して調整し駆動制御を行なっている。The drive unit 6 has a displacement magnifying mechanism 7 as two sets of drive mechanisms that independently drive the pair of slits corresponding to the slits 1a and 1b, and the upper slit control unit 6a and the lower slit control unit 6b are A distortion value which is composed of an amplifier 8 and a comparator 9 and is calculated by each slit distortion value calculating means 5b, 5c, and each slit 1 in the displacement magnifying mechanism 7 which will be described in detail later.
a, 1b is compared with a strain value detected by a later-described strain gauge 15 to calculate the deviation, and the applied voltage of the piezoelectric actuator 10 described below in each slit 1a, 1b is independently set so that this deviation is offset. Is adjusted and drive control is performed.
変位拡大機構7は上下のスリット1a,1bに対応して上
スリット変位拡大機構7aおよび下スリット変位拡大機構
7bを備えており、各変位拡大機構7a,7bは同一部品によ
って構成されるもので対向配置されている。さらに詳述
すると、各変位拡大機構7a,7bは圧電アクチュエータ10
の変位量をてこの原理により拡大するもので、第3図に
示すように略L字状をなす2つのレバー11,11を備えた
フレーム12が圧電アクチュエータ10の一端10aに当接し
た状態で圧電アクチュエータ10の周囲を覆うように配設
されている。各レバー11,11の先端には圧電アクチュエ
ータ10の変位量が伝達されて拡大変位する板バネ13が固
設されている。また、板バネ13には取り付け部14が設け
られており、この取り付け部14には例えばガラス板に金
属反射膜の蒸着されたスリット1(1a,1b)が取り付け
られている。また、板バネ13の表裏面には変位量検出部
をなす4枚の歪ゲージ15が接着固定されている。これら
歪ゲージ15のうち板バネ13の表面に接着固定された歪ゲ
ージは、圧電アクチュエータ10に電圧が印加されて板バ
ネ13の曲率が大きく変位した時に抵抗値が減少し、板バ
ネ13の裏面に接着固定された他の歪ゲージは、逆に抵抗
値が増加しており、これら4枚の歪ゲージ15で等価回路
を構成すると第4図に示すようになり、板バネ13の曲率
の変化に伴って歪ゲージ15からの出力電圧が変化してい
る。これにより、スリット1の変位量に対応して歪ゲー
ジ15から電圧が出力されることになる。The displacement magnifying mechanism 7 is an upper slit displacement magnifying mechanism 7a and a lower slit displacement magnifying mechanism corresponding to the upper and lower slits 1a and 1b.
7b, the displacement magnifying mechanisms 7a, 7b are composed of the same component and are arranged opposite to each other. More specifically, each displacement magnifying mechanism 7a, 7b is a piezoelectric actuator 10.
The amount of displacement of the piezoelectric actuator 10 is magnified by the principle of leverage, and as shown in FIG. 3, the frame 12 including the two levers 11, 11 having a substantially L shape is in contact with the one end 10a of the piezoelectric actuator 10. It is arranged so as to cover the periphery of the piezoelectric actuator 10. A leaf spring 13 is fixedly mounted on the tip of each lever 11, 11 so that the amount of displacement of the piezoelectric actuator 10 is transmitted and the displacement is expanded. Further, the leaf spring 13 is provided with a mounting portion 14, and the mounting portion 14 is mounted with a slit 1 (1a, 1b) having a metal reflection film deposited on a glass plate, for example. Further, on the front and back surfaces of the leaf spring 13, four strain gauges 15 forming a displacement amount detecting portion are adhered and fixed. Among these strain gauges 15, the strain gauge adhered and fixed to the surface of the leaf spring 13 has a resistance value which is reduced when a voltage is applied to the piezoelectric actuator 10 and the curvature of the leaf spring 13 is largely displaced. On the other hand, the resistance value of the other strain gauge fixed to the adhesive is increased, and when the equivalent circuit is constructed with these four strain gauges 15, it becomes as shown in FIG. 4, and the curvature of the leaf spring 13 changes. The output voltage from the strain gauge 15 changes accordingly. As a result, a voltage is output from the strain gauge 15 corresponding to the amount of displacement of the slit 1.
従って、以上説明した各変位拡大機構7a,7bは、各ス
リット制御部6a,6bからの信号に基づいて各々独立して
駆動され、圧電アクチュエータ10が動作していない状態
からリード線16に直流電圧が印加されると、圧電アクチ
ュエータ10が図中矢印E方向に伸び、フレーム12のてこ
の原理によって図中点Fを支点として2つのレバー11,1
1が互いに接近して板バネ13の曲率が大きく変位し、こ
れによりスリット1が図中矢印G方向に移動する。そし
て、このスリット1の変位量に伴って歪ゲージ15から制
御部5に対して歪値が出力される。Therefore, the displacement magnifying mechanisms 7a and 7b described above are driven independently based on the signals from the slit control units 6a and 6b, and the DC voltage is applied to the lead wire 16 from the state where the piezoelectric actuator 10 is not operating. When the voltage is applied, the piezoelectric actuator 10 extends in the direction of arrow E in the figure, and the two levers 11, 1 with the point F in the figure as a fulcrum by the lever principle of the frame 12.
1 move closer to each other and the curvature of the leaf spring 13 is largely displaced, whereby the slit 1 moves in the direction of arrow G in the figure. A strain value is output from the strain gauge 15 to the control unit 5 in accordance with the amount of displacement of the slit 1.
次に、上記のように構成される光可変波長フィルタ装
置の動作について説明する。Next, the operation of the optical variable wavelength filter device configured as described above will be described.
まず、設定部2の何れかの設定スイッチ2a,2bが押動
操作されエンコーダノブ2cにより中心波長あるいは通過
波長帯域幅が設定されると、波長演算手段5aはこの設定
データに基づいて上スリット1aおよび下スリット1bの波
長を演算する。次に、演算した各波長データに基づき各
々のデータに対応する歪値を各スリットデータ記憶手段
4a,4bから読み出す。この読み出された各歪み値データ
は、対応する変位拡大機構7a,7bに設けられた歪ゲージ1
5が検出する歪値と比較されてその各々の偏差が演算さ
れる。そして、各偏差を相殺するように各々対応する圧
電アクチュエータ10の印加電圧が調整されその駆動が制
御される。First, when one of the setting switches 2a and 2b of the setting unit 2 is pushed and the center wavelength or the passing wavelength bandwidth is set by the encoder knob 2c, the wavelength calculation means 5a causes the upper slit 1a to be set based on this setting data. And the wavelength of the lower slit 1b is calculated. Next, based on the calculated wavelength data, the strain values corresponding to the respective data are stored in the respective slit data storage means.
Read from 4a and 4b. The respective strain value data read out are the strain gauges 1 provided in the corresponding displacement magnifying mechanisms 7a and 7b.
The respective deviations are calculated by comparing with the distortion value detected by 5. Then, the applied voltage of the corresponding piezoelectric actuator 10 is adjusted so as to cancel each deviation, and the drive thereof is controlled.
以上の制御によって上スリット1aの下スリット1bとで
回折光が選択通過される。By the above control, the diffracted light is selectively passed through the upper slit 1a and the lower slit 1b.
ここで、回折光は上スリット1a側に波長の短い光が、
また、下スリット1b側に波長の長い光が上下方向に分散
しているため、上スリット1aは回折光の短波長側をカッ
トし、下スリット1bは回折光の長波長側をカットしてい
る。Here, the diffracted light is light with a short wavelength on the side of the upper slit 1a,
Further, since long wavelength light is vertically dispersed on the lower slit 1b side, the upper slit 1a cuts the short wavelength side of the diffracted light and the lower slit 1b cuts the long wavelength side of the diffracted light. .
そして、この時、第5図に示すように各スリット1a,1
bを互いに逆方向に移動制御すると、各スリット1a,1bは
中心位置(図中一点鎖線にて示す)を中心として開閉さ
れスリット幅lが可変し、通過光の中心波長は変化せず
に通過波長帯域幅のみが可変される。At this time, as shown in FIG. 5, each slit 1a, 1
When b is controlled to move in the opposite direction, each slit 1a, 1b is opened / closed around the center position (shown by the one-dot chain line in the figure) to change slit width l, and the central wavelength of the passing light passes without changing. Only the wavelength bandwidth is variable.
また、第6図に示すように各スリット1a,1bを互いに
同じ方向に移動制御すると、各スリット1a,1bはスリッ
ト幅lは変化せずにスリット中心位置のみが可変され、
通過光の通過波長帯域幅は変化せずに中心波長のみが可
変する。Further, as shown in FIG. 6, when the respective slits 1a and 1b are controlled to move in the same direction, the slit width 1 of each of the slits 1a and 1b does not change, and only the slit center position is changed.
Only the center wavelength is variable without changing the passing wavelength bandwidth of the passing light.
このように、上述した通過光の中心波長および通過波
長帯域幅の設定は、設定部2における設定スイッチ2a,2
bの押動操作およびエンコーダノブ2cの回転調整による
極めて簡単なスイッチ操作によって行なわれ、その設定
値は瞬時にして表示部3に表示されるので、表示部3に
写し出された数値を目視してエンコーダノブ2cを回転調
整するだけで所望の中心波長、通過波長帯域幅による通
過光を得ることができる。In this way, the setting of the center wavelength and the passing wavelength bandwidth of the passing light described above is performed by the setting switches 2a, 2 in the setting unit 2.
It is performed by an extremely simple switch operation by pushing the b button and adjusting the rotation of the encoder knob 2c, and the set value is instantly displayed on the display unit 3. Therefore, visually check the numerical value displayed on the display unit 3. Only by rotating and adjusting the encoder knob 2c, it is possible to obtain passing light having a desired center wavelength and passing wavelength bandwidth.
また、上述した実施例では、上下のスリット1a,1bの
移動制御に圧電アクチュエータ10を備えた変位拡大機構
7を用いているので、機構が簡単であるとともに、装置
をコンパクトにしかも安価に構成することができる。さ
らに、上下のスリット1a,1bは各々独立して移動制御さ
れるので、上述した第5図および第6図に示す動作を組
み合わせることによってスリット幅lおよびスリット中
心位置を可変することができ、通過する光の中心波長と
通過波長帯域幅を任意に可変制御することができる。Further, in the above-described embodiment, since the displacement magnifying mechanism 7 including the piezoelectric actuator 10 is used to control the movement of the upper and lower slits 1a and 1b, the mechanism is simple and the device is compact and inexpensive. be able to. Furthermore, since the upper and lower slits 1a and 1b are independently controlled to move, the slit width 1 and the slit center position can be changed by combining the operations shown in FIG. 5 and FIG. It is possible to arbitrarily variably control the center wavelength and the passing wavelength bandwidth of the light to be emitted.
ところで、上述した実施例における設定部2の設定ス
イッチ2a,2bは、設定される通過光の中心波長、通過波
長帯域幅毎に別々に設けられたものについて説明した
が、1つのスイッチで兼用して切換えるようにしてもよ
く、また、中心波長および通過波長帯域幅の設定はどち
らを先に行なってもよい。By the way, the setting switches 2a and 2b of the setting unit 2 in the above-described embodiment have been described as being separately provided for each of the center wavelength and the passing wavelength bandwidth of the set passing light, but one switch is also used. Alternatively, the center wavelength and the passing wavelength bandwidth may be set first.
[発明の効果] 以上説明したように、本発明の光可変波長フィルタ装
置によれば、従来のように白色光源、光スペクトラムア
ナライザ等の他の装置を併用せずに、極めて簡単な操作
により調整に手間をかけることなく短時間で通過光の中
心波長および通過波長帯域幅の設定を行なうことができ
る。また、駆動機構の変位量を検出して駆動部の変位量
を自己補正しているので、従来のように調整後の外部変
動に影響されることなく所望の通過光が得ることができ
る。[Advantages of the Invention] As described above, according to the optical variable wavelength filter device of the present invention, adjustment is performed by an extremely simple operation without using other devices such as a white light source and an optical spectrum analyzer as in the related art. It is possible to set the central wavelength of the passing light and the passing wavelength bandwidth in a short time without taking time and effort. Further, since the displacement amount of the drive mechanism is detected and the displacement amount of the drive unit is self-corrected, desired passing light can be obtained without being affected by external fluctuation after adjustment as in the conventional case.
第1図は本発明による光可変波長フィルタ装置の全体構
成の一実施例を示すブロック構成図、第2図は同装置の
外観を示す斜視図、第3図は同装置におけるスリットの
開閉機構を示す斜視図、第4図は同装置における歪ゲー
ジの等価回路図、第5図は同装置において通過光の波長
帯域を可変する場合のスリットの動作を示す図、第6図
は同装置において通過光の中心波長を可変する場合のス
リットの動作を示す図、第7図は従来の光可変波長フィ
ルタ装置の一例を示す図である。 1……スリット、1a……上スリット、下スリット、2…
…設定部、5……制御部、6……駆動部、7(7a,7b)
……変位拡大機構、10……圧電アクチュエータ、15……
歪ゲージ(変位量検出部)。FIG. 1 is a block configuration diagram showing an embodiment of the overall configuration of an optical variable wavelength filter device according to the present invention, FIG. 2 is a perspective view showing the appearance of the device, and FIG. 3 is a slit opening / closing mechanism in the device. FIG. 4 is a perspective view showing the equivalent circuit diagram of a strain gauge in the same device, FIG. 5 is a diagram showing the operation of the slit when the wavelength band of passing light is changed in the same device, and FIG. FIG. 7 is a diagram showing the operation of the slit when the central wavelength of light is varied, and FIG. 7 is a diagram showing an example of a conventional optical variable wavelength filter device. 1 ... slit, 1a ... upper slit, lower slit, 2 ...
… Setting section, 5 …… Control section, 6 …… Drive section, 7 (7a, 7b)
…… Displacement magnifying mechanism, 10 …… Piezoelectric actuator, 15 ……
Strain gauge (displacement detector).
Claims (1)
過させる一対のスリット(1a,1b)を備えた光可変波長
フィルタ装置において、 通過光の中心波長、通過波長帯域幅を決めるための設定
値を入力する設定部(2)と、 一端に支点(F)を有して対称に配置されるL字状のフ
レーム(12)の延長上に取り付けられたレバー(11)
と、前記支点を中心に前記レバーを開閉作動させるため
の圧電アクチュエータ(10)と、前記スリットの一方が
取り付いて前記レバーの他端に設けられ、前記圧電アク
チュエータの動作量に応じて前記スリットの間隔を可変
するように変位する板バネ(13)とを含む駆動機構(7
a,7b)を備えた前記一対のスリットを各々駆動するため
の駆動部(6)と、 前記板バネに設けられて前記スリットの変位量を検出す
る変位量検出部(15)と、 該変位量検出部の出力と前記設定値とを比較し、この比
較による偏差を相殺するように前記圧電アクチュエータ
を駆動して前記駆動部の変位量を補正制御する制御部
(5)とを備えたことを特徴とする光可変波長フィルタ
装置。1. A variable optical wavelength filter device having a pair of slits (1a, 1b) for separating incident light and selectively passing the separated light, and determining a central wavelength and a passing wavelength bandwidth of the passing light. Setting section (2) for inputting the set value for the lever, and a lever (11) mounted on an extension of an L-shaped frame (12) symmetrically arranged with a fulcrum (F) at one end.
A piezoelectric actuator (10) for opening and closing the lever about the fulcrum, and one of the slits is attached to the other end of the lever, and the slit of the slit is provided in accordance with the operation amount of the piezoelectric actuator. A drive mechanism (7) including a leaf spring (13) that is displaced so as to change the distance.
and a drive unit (6) for driving the pair of slits, a displacement amount detection unit (15) provided in the leaf spring for detecting the displacement amount of the slit, and And a control unit (5) for comparing the output of the amount detection unit with the set value and driving the piezoelectric actuator so as to cancel the deviation due to the comparison and correcting and controlling the displacement amount of the drive unit. An optical variable wavelength filter device characterized by:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1110699A JPH0820308B2 (en) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | Optical variable wavelength filter device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1110699A JPH0820308B2 (en) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | Optical variable wavelength filter device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02287227A JPH02287227A (en) | 1990-11-27 |
| JPH0820308B2 true JPH0820308B2 (en) | 1996-03-04 |
Family
ID=14542212
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1110699A Expired - Lifetime JPH0820308B2 (en) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | Optical variable wavelength filter device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0820308B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2874635B2 (en) * | 1996-03-28 | 1999-03-24 | 日本電気株式会社 | Piezoelectric actuator displacement control method and device |
| JP2023138018A (en) * | 2022-03-18 | 2023-09-29 | 日本電気株式会社 | Light source device, method for controlling light source device, and control program of light source device |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6486027A (en) * | 1987-06-12 | 1989-03-30 | Shimadzu Corp | Slit width control mechanism for spectrophotometer |
-
1989
- 1989-04-28 JP JP1110699A patent/JPH0820308B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02287227A (en) | 1990-11-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0231113A (en) | Interferometer sensor and use of the same in interferometer device | |
| US2408512A (en) | Device for forming slits | |
| JPS63124928A (en) | Stress measuring device for driving belt | |
| US4062120A (en) | Digital electronic micrometer | |
| EP0280375B1 (en) | Continuously variable microdiaphragm | |
| JPH0820308B2 (en) | Optical variable wavelength filter device | |
| JPS6222087B2 (en) | ||
| US2546450A (en) | Photometric comparator instrument | |
| US4017162A (en) | Adjustable slit mechanism | |
| CH401517A (en) | Balance with taring device | |
| US3063043A (en) | Recorder scale expansion system | |
| JPH02287226A (en) | Variable slit apparatus | |
| US2497756A (en) | Torque measuring wrench | |
| US2942927A (en) | Straight-line recording and indicating instrument | |
| US5465495A (en) | Lens shape measuring instrument | |
| JP3471477B2 (en) | Variable slit device for X-ray equipment | |
| US1070392A (en) | Pressure-gage. | |
| JP3107332B2 (en) | Tilt measuring device | |
| US3701589A (en) | Variable width slit mechanism for use in a scanning monochromator | |
| US3825704A (en) | Microswitch device actuatable at two preset values of a measurable variable | |
| CA1104369A (en) | Abbe refractometer | |
| US4488051A (en) | Apparatus for sensing linear and rotational position between a screw element and a threaded member | |
| US907521A (en) | Timepiece-regulator. | |
| US3522856A (en) | Precision balance with preweighing | |
| US3128328A (en) | Devices for measuring and recording extinction coefficients |