Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JPH0824240B2 - Electronic component recognition device - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JPH0824240B2 - Electronic component recognition device - Google Patents

Electronic component recognition device

Info

Publication number
JPH0824240B2
JPH0824240B2 JP60223284A JP22328485A JPH0824240B2 JP H0824240 B2 JPH0824240 B2 JP H0824240B2 JP 60223284 A JP60223284 A JP 60223284A JP 22328485 A JP22328485 A JP 22328485A JP H0824240 B2 JPH0824240 B2 JP H0824240B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
component
data
characteristic
chip
electronic component
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP60223284A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS6281796A (en
Inventor
官二 猿田
憲幸 武本
新哉 宮坂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP60223284A priority Critical patent/JPH0824240B2/en
Publication of JPS6281796A publication Critical patent/JPS6281796A/en
Publication of JPH0824240B2 publication Critical patent/JPH0824240B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、電子部品の認識装置に関し、特に、プリ
ント基板上に設置されたチップ部品とか、半導体チップ
部品,IC,LSIパッケージ,抵抗器,コンデンサ等の部品
を効率よく認識することができるような電子部品の認識
装置に関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an electronic component recognition device, and more particularly to a chip component installed on a printed circuit board, a semiconductor chip component, an IC, an LSI package, a resistor, The present invention relates to an electronic component recognition device capable of efficiently recognizing components such as capacitors.

[従来の技術] 電子部品を認識するシステムとしては、部品全体に所
定の光を照射して、部品の全体的な映像をイメージセン
サ等により採取して、この映像を画像解析して認識する
ものや、超音波等を使用して認識するものがある。
[Prior Art] As a system for recognizing electronic parts, a part of the whole part is irradiated with predetermined light, an entire image of the part is sampled by an image sensor or the like, and the image is analyzed and recognized. There are also those that are recognized using ultrasonic waves or the like.

[解決しようとする問題点] 従来の部品の全体的な映像をイメージセンサ等により
採取して画像解析するものにあっては、データの処理量
が多く、部品の種類が多くなると、膨大なデータ処理を
要求されて、処理が遅くなり、十分な認識ができないと
いう欠点がある。
[Problems to be Solved] In a conventional one that collects an entire image of a part with an image sensor or the like and analyzes the image, a large amount of data is processed, and if the number of parts is large, a huge amount of data is generated. There is a drawback in that the processing is required, the processing becomes slow, and sufficient recognition cannot be performed.

また、超音波等によりセンスするものにあっても、部
品の種類によっては、解像度が落ち十分な認識ができ
ず、誤認識率が大きくなり、しかも特殊な処理を必要と
する。
Further, even in the case of sensing by ultrasonic waves or the like, depending on the type of component, the resolution is lowered and sufficient recognition cannot be performed, the erroneous recognition rate increases, and special processing is required.

[発明の目的] この発明は、このような従来技術の問題点等にかんが
みてなされたものであって、このような問題点等を解決
するとともに、そのデータ処理量が少なく、効率的に部
品の有無又はその種別等を認識できる電子部品の認識装
置を提供することを目的とする。
[Object of the Invention] The present invention has been made in view of the problems and the like of the prior art. The problems and the like are solved, and the data processing amount thereof is small, and the parts can be efficiently used. An object of the present invention is to provide an electronic component recognition device capable of recognizing the presence or absence or the type thereof.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

このような目的を達成するためのこの発明の電子部品
の認識装置の特徴は、電子部品を載置する基板と、前記
電子部品の外形のうちの第1の特徴部分に前記基板側に
影を作る方向から光ファイバを通して光線を照射する第
1の光源と、前記外形のうちの第2の特徴部分に前記基
板側に影を作る方向から光ファイバを通して光線を照射
する第2の光源と、第1及び第2の特徴部分についての
映像を採取してこれらに対応する映像信号を発生する撮
像部と、プロセッサ及び第1、第2の特徴部分に対応し
てこれらの基準となる特徴外形線のデータを記憶したメ
モリとを有し前記撮像部から前記映像信号を受け、前記
プロセッサの処理に従って第1及び第2の特徴部分につ
いての特徴外形線のデータをそれぞれ生成しかつ生成し
たそれぞれのデータを前記基準となる特徴外形線のデー
タとそれぞれ比較して前記電子部品の種類又は位置又は
向きのうち少なくとも1つを判定するデータ処理部とを
備えるものである。
The feature of the electronic component recognition device of the present invention for achieving such an object is that a substrate on which an electronic component is mounted and a first characteristic portion of the outer shape of the electronic component are shaded on the substrate side. A first light source for irradiating a light beam through an optical fiber from a forming direction; a second light source for irradiating a light beam through an optical fiber from a direction for forming a shadow on the second characteristic portion of the outer shape on the substrate side; An image pickup unit that collects images of the first and second characteristic portions and generates a video signal corresponding to the images, and a processor and a characteristic outline that serves as a reference for the first and second characteristic portions. A memory for storing data, receives the video signal from the imaging unit, generates data of characteristic outlines of the first and second characteristic portions in accordance with the processing of the processor, and generates the generated data. In which and a determining data processing unit at least one of the electronic components of the type or position or orientation by comparing each data feature outline serving as the reference.

〔作用〕[Action]

このように構成することにより、部品を特徴付ける複
数の外形線データにより、電子部品の認識ができ、その
データ処理量が低減できるとともに、少ないデータであ
っても、特徴点データ処理が可能となり、対象電子部品
の種類が多くなってもその認識が確実にできる。
With such a configuration, the electronic parts can be recognized by the plurality of outline data that characterize the parts, the data processing amount can be reduced, and the feature point data processing can be performed even with a small amount of data. Even if the number of types of electronic components increases, the recognition can be surely performed.

しかも、部品の種類によっては、その形状が特定の形
である関係から、複数の特徴外形箇所の位置関係から部
品の基板に対する取り付け位置又はその角度のずれをは
じめとして、その中心点の位置等を演算することも可能
であって、その正確な位置測定ができる。
In addition, depending on the type of part, the shape of the part is a specific shape. It is also possible to calculate and to accurately measure its position.

したがって、多種多様な部品を単時間に認識可能であ
って、正確で効率的な認識処理が行える。
Therefore, various types of parts can be recognized in a single time, and accurate and efficient recognition processing can be performed.

[実施例] 以下、この発明の一実施例について図面を用いて詳細
に説明する。
[Embodiment] An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第1図(a)は、この発明の電子部品の認識装置をチ
ップ部品の認識装置に対して適用した場合の一実施例の
チップ部品の部品検出光学系の詳細図、第1図(b)
は、その対物光学系先端部の構造の下側から見た平面
図、第2図は、チップ部品の認識装置の概要図、第3図
(a),(b)は、それぞれその第1図(b)における
I−I部分の断面図及びこれに対応する下側から見た平
面図、第4図は、その画像認識装置の機能ブロック図、
第5図(a)〜(c)乃至第8図(a)〜(c)は、そ
れぞれその境界線の認識と光線照射との関係を説明する
説明図、第9図(a)〜(e)は、それぞれその特徴外
形線の認識と光線照射との関係を説明する説明図であ
る。
FIG. 1 (a) is a detailed view of a component detecting optical system for a chip component of an embodiment in which the electronic component recognizing device of the present invention is applied to a chip component recognizing device, FIG. 1 (b).
Is a plan view seen from the lower side of the structure of the tip of the objective optical system, FIG. 2 is a schematic view of a chip component recognizing device, and FIGS. 3 (a) and 3 (b) are respectively FIG. FIG. 4 is a functional block diagram of the image recognition device, and FIG. 4 is a cross-sectional view of a portion I-I in FIG.
FIGS. 5 (a) to (c) to 8 (a) to (c) are explanatory views for explaining the relationship between the recognition of the boundary line and the light irradiation, and FIGS. 9 (a) to 9 (e). 6A and 6B are explanatory diagrams for explaining the relationship between the recognition of the characteristic outline and the irradiation of light rays.

第2図において、20は、部品検出光学系であり、21
は、その固体撮像カメラ、22は、その下に配置された対
物光学系であり、さらにその下には、X−Yテーブル23
が配置されていて、プリント基板25がX−Yテーブル23
上に設置されている。
In FIG. 2, 20 is a component detection optical system, and 21
Is a solid-state image pickup camera, 22 is an objective optical system arranged below the solid-state image pickup camera, and an XY table 23 is further below.
And the printed circuit board 25 is located on the XY table 23.
It is installed on top.

そして、そこに搭載されたチップ部品の認識は、固体
撮像カメラ21から得られる画像データを画像処理装置24
にて処理することで行われ、その位置測定は、同様に画
像処理装置24にて画像データを演算処理するとともに、
X−Yテーブル23から得た位置データに基づき行われ
る。
Then, in order to recognize the chip components mounted therein, the image data obtained from the solid-state imaging camera 21 is used as the image processing device 24.
The position measurement is performed by processing the image data in the image processing device 24 in the same manner.
This is performed based on the position data obtained from the XY table 23.

対物光学系22は、第1図(a)に見るように、固体撮
像カメラ21が固定された円筒状のハウジング1を有して
いて、その内部には、上から鏡筒2が配置され、その下
にレンズ3,そして光学フィルタ4が順次固定されてい
る。
As shown in FIG. 1 (a), the objective optical system 22 has a cylindrical housing 1 to which a solid-state image pickup camera 21 is fixed, and inside thereof, a lens barrel 2 is arranged from above, The lens 3 and the optical filter 4 are sequentially fixed under the lens.

なお、これらハウジング1,鏡筒2,レンズ3,光学フィル
タ4の各中心は、固体撮像カメラ21の光軸に一致するよ
うにセッテングされている。そしてハウジング1の先端
部には、ファイバ固定リング12が挿着されていて、この
ファイバ固定リング12は、部品からの反射光を通過させ
る開口空間部12bを有している。ここにこのファイバ固
定リング12の先端部がX−Yテーブル23上に置かれたプ
リント基板25の表面からほぼ10mm前後の位置に位置付け
られるように、対物光学系22自体は、そのハウジング1
を支持するアーム(図示せず)により保持されている。
The centers of the housing 1, the lens barrel 2, the lens 3, and the optical filter 4 are set so as to coincide with the optical axis of the solid-state imaging camera 21. A fiber fixing ring 12 is inserted and attached to the tip of the housing 1, and the fiber fixing ring 12 has an opening space 12b that allows reflected light from the components to pass therethrough. The objective optical system 22 itself has its housing 1 so that the tip of the fiber fixing ring 12 is positioned approximately 10 mm from the surface of the printed circuit board 25 placed on the XY table 23.
Is held by an arm (not shown) that supports the.

さて、第1図(b)に見るように、X−Yテーブル23
に臨むハウジング1の先端側には、6個の光ファイバが
特定方向に光線を照射する投光器として設けられてい
る。すなわち、第1の光ファイバケーブル5,第2の光フ
ァイバケーブル6とがそれぞれ斜めの位置に配置され、
第3及び第4の光ファイバケーブル7,8がそれぞれX−
Yテーブル23に対して左右に、そして第5及び第6の光
ファイバケーブル9,10がそれぞれX−Yテーブル23に対
して前後に設けられている。
Now, as shown in FIG. 1 (b), the XY table 23
On the front end side of the housing 1 facing the front, six optical fibers are provided as a light projector that irradiates a light beam in a specific direction. That is, the first optical fiber cable 5 and the second optical fiber cable 6 are arranged at diagonal positions,
The third and fourth optical fiber cables 7 and 8 are respectively X-
The Y-table 23 is provided on the left and right sides, and the fifth and sixth optical fiber cables 9 and 10 are provided on the front and rear sides of the XY table 23, respectively.

ここに、第3,第4,第5,第6の各光ファイバケーブル7,
8,9,10は、その先端側がそれぞれ平面から見て90°間隔
に配置され、第1,第2の光ファイバケーブル5,6は、そ
の先端側がそれぞれ第3,第4,第5,第6の各光ファイバケ
ーブル7,8,9,10と同様に平面から見て45°の角度をなし
て配置されている。
Here, the third, fourth, fifth, and sixth optical fiber cables 7,
8, 9 and 10 are arranged such that their tip sides are arranged at 90 ° intervals when viewed from the plane, and the tip sides of the first and second optical fiber cables 5 and 6 are the 3rd, 4th, 5th and 5th, respectively. Like the optical fiber cables 7, 8, 9 and 10 of 6, the optical fiber cables are arranged at an angle of 45 ° when viewed from the plane.

これら光ファイバケーブル5,6の先端側は、第3図
(a)及び(b)に見るようにハウジング1の貫通孔1
a,1aに固定板1b,1bを介して固定され、その光ファイバ5
a,6aがそれぞれファイバ固定リング12の貫通孔12a,12a
により特定の傾斜角度(例えば50°〜60°の範囲)に保
持されている。
As shown in FIGS. 3 (a) and 3 (b), the tip end side of these optical fiber cables 5 and 6 has a through hole 1 in the housing 1.
It is fixed to a, 1a via fixing plates 1b, 1b, and its optical fiber 5
a and 6a are through holes 12a and 12a of the fiber fixing ring 12, respectively.
Is held at a specific inclination angle (for example, in the range of 50 ° to 60 °).

しかも、第1及び第2の光ファイバケーブル5,6の先
端側で突出している光ファイバ5a,6aは、その先端部が
他の光ファイバケーブル(その取り付け傾斜角は後述す
るごとく20°〜25°程度)に比べて大きな傾斜角度(前
記50°〜60°)に取り付けられ、第3図(a)及び
(b)に見るように他の光ファイバケーブルよりもその
先端部が少し長く突出している。その結果、プリント基
板25上の認識対象となる部品の対角線上の角に十分に光
線が照射されることになる。
In addition, the optical fibers 5a and 6a protruding on the tip side of the first and second optical fiber cables 5 and 6 have other optical fiber cables (the mounting inclination angle thereof is 20 ° to 25 ° as described later) at the tip portions thereof. The optical fiber cable is attached at a larger inclination angle (50 ° to 60 °) than that of other optical fiber cables, and its tip portion projects a little longer than other optical fiber cables, as shown in FIGS. 3 (a) and 3 (b). There is. As a result, light rays are sufficiently irradiated to the diagonal corners of the component to be recognized on the printed circuit board 25.

一方、その他の第3,第4,第5,第6の各光ファイバケー
ブル7,8,9,10は、第1図(a)に見るように水平より少
し傾斜した状態(例えば20°〜25°程度)で同様に光フ
ァイバケーブルの先端がハウジング1の貫通孔1a,1a,・
・・に固定板1b,1b,を介して固定され、その光ファイバ
7a,8a,9a,10aがそれぞれファイバ固定リング12の貫通孔
12a,12aにより特定の角度(前記20°〜25°の範囲)に
保持されている。
On the other hand, the other third, fourth, fifth, and sixth optical fiber cables 7,8,9,10 are in a state of being slightly inclined (for example, 20 ° ~ 20 °) as shown in FIG. 1 (a). At about 25 °), the tip of the optical fiber cable is also the through hole 1a, 1a, ...
..Fixed by fixing plates 1b, 1b to the optical fiber
7a, 8a, 9a, and 10a are through holes of the fiber fixing ring 12, respectively.
It is held at a specific angle (the range of 20 ° to 25 °) by 12a and 12a.

これら第1〜第6の光ファイバケーブル5,6,7,8,9,10
は、第1図(a)の第4の光ファイバケーブル8に代表
されるように、それぞれハウジング1の側面に設けられ
たファイバ固定金具11にゴムリング11aを介してその中
間部が固定されて、その後端側は、これら光ファイバケ
ーブル5,6,7,8,9,10に対応してストロボ光源13,13,・・
・(1つのみ図示,他は省略)に接続されている。
These first to sixth optical fiber cables 5,6,7,8,9,10
As typified by the fourth optical fiber cable 8 in FIG. 1 (a), the middle portion is fixed to the fiber fixing metal fittings 11 provided on the side surface of the housing 1 via the rubber ring 11a. , The rear end side corresponds to these optical fiber cables 5,6,7,8,9,10 and strobe light source 13,13, ...
・ (Only one is shown, the others are omitted).

ここで、固体撮像カメラ21には、2次元イメージセン
サ(X−Yイメージセンサ)と増幅回路とが内蔵されて
いて、対物光学系22から得た映像をアナログ信号として
発生して、これを画像処理装置24のA/D変換器30へと送
出する。
Here, the solid-state imaging camera 21 has a two-dimensional image sensor (XY image sensor) and an amplifier circuit built therein, generates an image obtained from the objective optical system 22 as an analog signal, and forms an image of this image. It is sent to the A / D converter 30 of the processing device 24.

一方、画像処理装置24は、固体撮像カメラ21からの画
像信号を受けるA/D変換器30とこのA/D変換器30からのデ
ータを一時的に記憶する画像データバッファ31とを有し
ていて、画像データバッファ31のデータは、バス32を介
してマイクロプロセッサ(MPU)33の制御のもとに、メ
モリ34に転送される。そしてメモリ34に記憶された後述
する所定のプログラムに従ってこれら画像データに対し
所定の処理がなされる。
On the other hand, the image processing device 24 has an A / D converter 30 that receives an image signal from the solid-state imaging camera 21, and an image data buffer 31 that temporarily stores the data from the A / D converter 30. Then, the data in the image data buffer 31 is transferred to the memory 34 via the bus 32 under the control of the microprocessor (MPU) 33. Then, a predetermined process is performed on these image data according to a predetermined program, which will be described later, stored in the memory 34.

ここで、メモリ34の認識プログラム領域35には、被認
識対象であるチップ部品を大きく分けて次の5つの状態
のチップ部品として個別に認識する各プログラムが記憶
されている。
Here, in the recognition program area 35 of the memory 34, there are stored respective programs for roughly recognizing the chip parts to be recognized and individually recognizing the chip parts in the following five states.

(1)全体が明るい色の角型チップ部品の認識プログラ
ム35a。
(1) A recognition program 35a for square chip parts that is entirely bright.

(2)全体が暗い色の角型チップ部品の認識プログラム
35b。
(2) Recognition program for rectangular chip parts that are entirely dark
35b.

(3)電極部分が明るく、その他の部分が暗い角型チッ
プ部品の認識プログラム35c。
(3) A recognition program 35c for rectangular chip parts where the electrode part is bright and the other parts are dark.

(4)トランジスタ等のリード部を持つ角型チップ部品
の認識プログラム35d。
(4) Recognition program 35d for rectangular chip parts that have leads such as transistors.

(5)円筒型チップ部品の認識プログラム35e。そし
て、これらプログラムの1つを起動し、プリント基板25
における部品のデータ及びその位置データを含む、検査
順序を規定した検査処理プログラム34aがメモリ34に記
憶されている。
(5) Cylindrical chip component recognition program 35e. Then start one of these programs and
The memory 34 stores an inspection processing program 34a that defines the inspection order and includes the data of the parts and the position data thereof.

ここで、この検査処理プログラム34aと5つの各プロ
グラムは、チップ部品の認識の処理順序を規定してお
り、プログラムに対する各種のデータ領域36及び各種の
テーブル領域37をアクセスして、チップ部品の形態,位
置,向き,境界線データに対応する境界線特徴パラメー
タデータ等のデータを得て、後述する所定の処理を実行
して行く。
Here, the inspection processing program 34a and each of the five programs define the processing order of chip component recognition, and access various data areas 36 and various table areas 37 for the program to access the chip component form. , Position, orientation, and boundary line characteristic parameter data corresponding to the boundary line data are obtained, and a predetermined process described later is executed.

また、画像処理装置24は、キーボード40及びX−Yス
テージ23を駆動制御するX−Yステージ駆動回路41、ス
トロボ駆動回路42、画面メモリ43、そしてCRTディスプ
レイ44とを有していて、キーボード40と、ストロボ駆動
回路42及びX−Yステージ23とは、それぞれインターフ
ェイス回路38,39,バス32とを介してMPU33に接続され、M
PU33は、所定のデータを画面メモリ43に転送して所定の
情報をCRTディスプレイ44に送出して表示する制御を行
う。
The image processing device 24 also has an XY stage drive circuit 41 for driving and controlling the keyboard 40 and the XY stage 23, a strobe drive circuit 42, a screen memory 43, and a CRT display 44. The flash drive circuit 42 and the XY stage 23 are connected to the MPU 33 via interface circuits 38 and 39 and the bus 32, respectively,
The PU 33 transfers predetermined data to the screen memory 43 and sends predetermined information to the CRT display 44 for display.

以上のような構成よりなる画像処理装置24は、第4図
に見るように、基板位置決め処理手段51とストロボ駆動
手段52、画像データ読込み手段53、ウインド処理手段5
4、境界線位置検出手段55、部品種別判定手段56、部品
の位置と方向演算手段57等の機能手段をそのMPU33とメ
モリ34に記憶された各種プログラムとにより実現する。
As shown in FIG. 4, the image processing device 24 having the above-mentioned configuration has a substrate positioning processing means 51, a strobe driving means 52, an image data reading means 53, and a window processing means 5.
4, functional units such as the boundary line position detection unit 55, the component type determination unit 56, the component position and direction calculation unit 57 are realized by the MPU 33 and various programs stored in the memory 34.

ここで、基板位置決め処理手段51は、検査処理プログ
ラム34aにおいて実現されるものであって、データ記憶
領域36a(各種データ領域36の一部)をアクセスしてプ
リント基板位置及び部品の形態情報を得る。ここに形態
情報は、前記5つの認識状態(前記5つの認識プログラ
ムに対応する)に対応する5つの形態識別情報及びその
部品の取り付け向きからなる情報である。
Here, the board positioning processing means 51 is realized by the inspection processing program 34a, and accesses the data storage area 36a (a part of various data areas 36) to obtain the printed board position and the form information of the parts. . Here, the morphological information is information including five morphological identification information corresponding to the five recognition states (corresponding to the five recognizing programs) and a mounting direction of the component.

また、ウインド処理手段54は、前記5つの状態のチッ
プ部品を個別に認識するために、前記5つの認識プログ
ラムに対応して検出された画像データに対して後述する
ウインド処理を行う。
Further, the window processing means 54 performs window processing, which will be described later, on the image data detected corresponding to the five recognition programs in order to individually recognize the chip components in the five states.

さらに、境界線位置検出手段55は、メモリ34の境界線
特徴パラメータテーブル37a(各種て対テーブル領域37
の一部)の領域を参照して、その特徴パラメータからウ
インド内の境界線の位置を算出する。そして部品種別判
定手段56は、部品種別テーブル37b(各種テーブル領域3
7の一部)を参照してその部品の種別を判定するもので
ある。
Further, the boundary line position detection means 55 includes a boundary line characteristic parameter table 37a (various pair table area 37) of the memory 34.
(Part of), the position of the boundary line in the window is calculated from the characteristic parameter. Then, the component type determination means 56 uses the component type table 37b (various table areas 3
(Part of 7), the type of the part is determined.

一方、部品の位置と方向演算手段57は、前記部品種別
判定手段56からの種別データと前記境界線位置検出手段
55のデータから部品種別対応のサイズテーブル37c(各
種テーブル領域37の一部)を参照して、種別に対応する
部品サイズを得て、その部品のプリント基板25に対する
取り付け位置と角度のデータを演算する。
On the other hand, the position and direction calculation means 57 of the component is composed of the type data from the component type determination means 56 and the boundary position detection means.
The size table 37c (a part of various table areas 37) corresponding to the part type is obtained from the data of 55, the part size corresponding to the type is obtained, and the data of the mounting position and angle of the part with respect to the printed circuit board 25 is calculated. To do.

なお、ウインド処理手段54と境界線位置検出手段55、
部品種別手段56、そして部品の位置と方向演算手段と
は、前記(1)〜(5)の5つの状態のチップ部品を個
別に認識する5つのプログラムの1つを起動することで
それぞれ実現されるものである。
Incidentally, the window processing means 54 and the boundary line position detecting means 55,
The component classification unit 56 and the component position and direction calculation unit are realized by activating one of five programs for individually recognizing the chip components in the five states (1) to (5). It is something.

さて、画像処理装置24は、ある検査対象チップ部品が
対物光学系22の真下に来た時点でチップ部品の前記5つ
の形態識別情報及び向きによって決められたストロボ光
源13を駆動する。そして対応する光ファイバの先端から
所定の方向に光線を照射して、固体撮像カメラ21から画
像データを採取する。なお、固体撮像カメラ21による画
像データの採取は、1回又は2回行われ、画像処理装置
24により1回又は2回の画像データ処理が行われる。
By the way, the image processing device 24 drives the strobe light source 13 determined by the above-mentioned five form identification information and the direction of the chip component when a certain chip component to be inspected comes directly under the objective optical system 22. Then, a light beam is emitted in a predetermined direction from the tip of the corresponding optical fiber, and image data is collected from the solid-state imaging camera 21. The image data is collected by the solid-state imaging camera 21 once or twice.
According to 24, the image data processing is performed once or twice.

次に、あるチップ部品の取り付け位置において画像デ
ータを得た画像処理装置24は、その位置に対応するチッ
プ部品に対して前記(1)〜(5)の認識形態の1つに
応じて前記5つのプログラム35a〜35dのうちから選択さ
れたそのチップ部品に対応する所定の認識プログラムを
起動して、X−Yステージ23の位置データとに基づき、
プリント基板25上のチップ部品の有無及び種別の認識を
行い、さらにチップ部品の種別・位置・向き等に対応し
た各種のプログラム及びデータに従って、チップ部品の
位置や傾き等の測定を実行して行く。
Next, the image processing device 24, which has obtained the image data at the mounting position of a certain chip component, executes the above-mentioned 5 according to one of the recognition modes (1) to (5) for the chip component corresponding to the position. Based on the position data of the XY stage 23, a predetermined recognition program corresponding to the chip part selected from the three programs 35a to 35d is activated.
The presence and type of the chip component on the printed circuit board 25 is recognized, and the position and inclination of the chip component are measured according to various programs and data corresponding to the type, position, orientation, etc. of the chip component. .

このようにしてあるチップ部品の認識及び検査が終了
すると、画像処理装置24は、メモリ34のプリント基板25
に関する部品のデータを参照して、次のチップ部品位置
が対象光学系22の真下に来るように、X−Yステージ23
を順次駆動して行く。そして再び次の検査対象チップ部
品が対物光学系22の真下に来た時点でチップ部品の識別
形態及び向きによって決められらストロボ光源13が同様
に駆動されて、対応する光ファイバの先端から所定の方
向に光線が照射されることになる。次に前記と同様なチ
ップ部品の認識処理と位置等の測定処理がなされる。
When the recognition and inspection of the chip component thus completed are completed, the image processing device 24 causes the printed circuit board 25 of the memory 34 to
XY stage 23 so that the next chip component position is directly below the target optical system 22 by referring to the component data regarding
Drive one by one. Then, when the next chip part to be inspected again comes directly under the objective optical system 22, the strobe light source 13 is similarly driven as determined by the identification form and orientation of the chip part, and a predetermined distance from the tip of the corresponding optical fiber. A light beam will be emitted in the direction. Next, the same chip component recognition process and position measurement process as described above are performed.

ここで、以上の処理を実行する場合の画像処理装置24
の各手段の動作を具体的に説明すると、まず、キーボー
ド40からの指令信号に応じて、画像処理装置24は、その
MPU33を動作させて、前記検査プログラム34a等を起動す
る。この検査処理プログラム34aの起動により、基板位
置決め処理手段51がメモリ34のプリント基板部品位置及
び形態情報を得て、プリント基板部品位置情報に基づい
て、X−Yステージ駆動回路41を介してX−Yステージ
23を制御して、プリント基板25上の第1のチップ部品を
対物光学系22の真下に位置付け、かつその位置データを
メモリ34上の所定領域に格納する。
Here, the image processing device 24 for executing the above processing
To specifically describe the operation of each means, first, the image processing device 24, in response to a command signal from the keyboard 40,
The MPU 33 is operated to start the inspection program 34a and the like. When the inspection processing program 34a is activated, the board positioning processing means 51 obtains the printed board component position and form information of the memory 34, and based on the printed board component position information, the X-Y stage drive circuit 41 drives the X- Y stage
By controlling 23, the first chip component on the printed circuit board 25 is positioned directly below the objective optical system 22, and the position data is stored in a predetermined area on the memory 34.

この位置決め完了において基板位置決め処理手段51
は、前記チップ部品の形態データに従って、ストロボ駆
動手段52を駆動して、特定の方向のストロボ光源13を発
光させて、それに対応する光ファイバから光線を所定の
シーケンスに従って照射させ、プリント基板25上のチッ
プ部品の画像データを固体撮像カメラ21より取り込ん
で、そのデータを画像データバッファ31に記憶する。次
に、これら画像データを画像データ読込み手段53が読込
み、メモリ34の特定領域に記憶する。
Upon completion of this positioning, the board positioning processing means 51
According to the morphological data of the chip component, the strobe drive means 52 is driven to cause the strobe light source 13 in a specific direction to emit light, and a light beam is emitted from a corresponding optical fiber in a predetermined sequence. The image data of the chip component is captured by the solid-state imaging camera 21, and the data is stored in the image data buffer 31. Next, the image data reading means 53 reads these image data and stores them in a specific area of the memory 34.

次に、ウインド処理手段54が起動されて前記画像デー
タをメモリ34から読出して、これに対してウインド処理
が実行される。ウインド処理手段54は、基板位置決め処
理手段51から得たチップ部品の前記(1)〜(5)の認
識種別の1つに対応する形態に対応して、得た画像デー
タに対して後述する第5図(a)〜(c)乃至第8図
(a)〜(c)及び第9図(a)〜(e)に示すような
ウインド処理の1つを行い、特定の箇所の画像データの
みを抽出する。
Then, the window processing means 54 is activated to read the image data from the memory 34, and the window processing is executed on the image data. The window processing means 54 corresponds to the form corresponding to one of the recognition types (1) to (5) of the chip parts obtained from the board positioning processing means 51, and will be described later with respect to the obtained image data. 5 (a) to (c) to 8 (a) to (c) and 9 (a) to (e) shown in FIG. To extract.

次に、各ウインドに対応するこれらの画像データは、
境界線位置検出手段55により、境界線パラメータデータ
に基づいて、その部品と基板との境界線の位置(エッジ
位置)データ,すなわち白黒が反転する位置を示す境界
線データ列又は特徴外形データ列として算出されて、部
品種別判定手段56に送出される。
Next, these image data corresponding to each window are
Based on the boundary line parameter data by the boundary line position detection means 55, as position (edge position) data of the boundary line between the component and the board, that is, as a boundary line data string or a characteristic outline data string indicating a position where black and white are reversed. It is calculated and sent to the component type determination means 56.

部品種別判定手段56は、各ウインドについてのこの境
界線位置データと、基板位置決め処理手段51から得られ
るストロボ発光シーケンスデータとからメモリ34の部品
種別テーブル37bを参照して、特定のチップ部品である
ことを判定する。そしてこのチップ部品のデータは、部
品種別判定手段56からCRTディスプレイ44に出力されて
表示され、又はメモリ34あるいは外部記憶装置に出力さ
れて記憶される。
The component type determining unit 56 refers to the boundary line position data for each window and the strobe light emission sequence data obtained from the substrate positioning processing unit 51, and refers to the component type table 37b of the memory 34 to identify a specific chip component. Determine that. The data of the chip component is output from the component type determining unit 56 to the CRT display 44 and displayed, or is output to the memory 34 or an external storage device and stored.

さらに、境界線位置検出手段55の境界線の位置データ
は、部品の位置と方向演算手段57に送出される。部品の
位置と方向演算手段57は、この位置データと、部品種別
判定手段56により決定された部品の種別の情報と基板位
置決め処理手段51から送出されたプリント基板25上の現
在位置の情報とその向きの情報(形態情報より)とに基
づき、メモリ34の部品の種別対応のサイズテーブル37c
を参照して、そのプリント基板25上における実際の取り
付け位置とその方向とを演算する。
Further, the boundary line position data of the boundary line position detecting means 55 is sent to the part position and direction calculating means 57. The position and direction calculation means 57 of the component, this position data, information of the type of component determined by the component type determination means 56, information of the current position on the printed circuit board 25 sent from the board positioning processing means 51 and its A size table 37c corresponding to the type of component in the memory 34 based on the orientation information (from the form information)
With reference to, the actual mounting position on the printed circuit board 25 and its direction are calculated.

このよにして算出したこれらのデータは、同様に、部
品の位置と方向演算手段57からCRTディスプレイ44に出
力されて表示され、又はメモリ34あるいは外部記憶装置
に出力されて記憶される。
These data thus calculated are similarly output from the component position and direction calculation means 57 to the CRT display 44 for display, or output to the memory 34 or an external storage device for storage.

以上のようにして部品の種別を認識して、その部品の
位置及び方向を測定する。そしてこれが完了すると、プ
リント基板25上の次の部品を認識し、測定するためにそ
の部品の位置と方向演算手段57は、基板位置決め処理手
段51を起動する。そして基板位置決め処理手段51により
次のチップ部品の位置が対物光学系22の真下に来るよう
にX−Yテーブル23を移動してプリント基板25が位置付
けられる。
As described above, the type of the component is recognized, and the position and direction of the component are measured. When this is completed, the position and direction calculation means 57 of the component activates the substrate positioning processing means 51 in order to recognize and measure the next component on the printed circuit board 25. Then, the board positioning processing means 51 moves the XY table 23 so that the position of the next chip component is directly below the objective optical system 22, and positions the printed board 25.

このようにして、画像処理装置24とX−Yテーブル23
とがお互いに同期を採りながら部品認識と検査を実行し
て行く。
In this way, the image processing device 24 and the XY table 23
And the parts perform recognition and inspection while synchronizing with each other.

なお、部品の認識のみを行う場合には、部品種別判定
手段56により基板位置決め処理手段51が起動されること
になる。また、特定のチップ部品を認識する場合には、
メモリ34の部品の形態情報を参照せずに、キーボード40
からの指定によりストロボ駆動手段52、ウインド処理手
段53、そして境界線位置検出手段55を起動して、対象と
なる認識処理をするために必要な認識プログラムを認識
プログラム35a〜35dの中から1つを前記指令に応じて選
択できるようにしてもよい。
When only recognizing the component, the component type determining means 56 activates the board positioning processing means 51. Also, when recognizing a specific chip component,
Without referring to the form information of the parts in the memory 34, the keyboard 40
From the recognition programs 35a to 35d, one of the recognition programs necessary for performing the target recognition processing is started by activating the strobe drive means 52, the window processing means 53, and the boundary line position detection means 55 by the designation from May be selected according to the command.

さらに、認識対象となるチップ部品が不特定の場合に
は、これら認識プログラムを順次起動してチップ部品の
対象認識を順次行うようにすることもできる。
Further, when the chip component to be recognized is unspecified, these recognition programs can be sequentially activated to sequentially perform the target recognition of the chip component.

次に、前記5つの認識プログラムに従って行われる画
像処理装置24の認識処理の仕方について説明する。
Next, a method of recognition processing of the image processing device 24 performed according to the five recognition programs will be described.

I:全体が明るい色のチップ部品(電極及び部品本体から
の反射が十分なもの)。
I: Chip parts that are bright in color as a whole (those that have sufficient reflection from the electrodes and part body).

全体が明るい色のチップ部品に対しては、第5図
(a),(b)に見るように、第1,第2の光ファイバ5,
6から斜めのストロボ光L1,L2が所定のタイミングで順
次照射されるようにして、チップ部品面、そしてその電
極部分からの反射とその周辺部に発生するこれらの光線
から生じる影の部分を、ウインド処理手段54によりウイ
ンド処理して、第5図(c)に見る関係でW1〜W6の検出
ウインド(検出領域)により、この影を含む反射部分の
映像を6箇所(複数点)で検出して、それぞれの境界線
データを得る。
As shown in FIGS. 5 (a) and 5 (b), for the chip components having a bright color as a whole, the first and second optical fibers 5,
The oblique strobe lights L 1 and L 2 are sequentially irradiated from the 6 at a predetermined timing, and the shadow part generated from the light reflected from the chip component surface and its electrode part and these rays generated in the peripheral part thereof. Is subjected to window processing by the window processing means 54, and the detection windows (detection areas) of W 1 to W 6 in the relationship shown in FIG. ) And obtain each boundary line data.

このようにして検出した各ウインドのデータは、メモ
リ34の特定領域に記憶されて、境界線位置検出手段55に
より読み出されて境界線の位置が求められて、各ウイン
ドからのこの境界線域データに基づいて、各部品チップ
の有無及び部品の種別とか、部品自体の認識が行われ、
さらに部品の位置と方向演算手段57によりその部品の位
置及び向き等が判定される。
The data of each window thus detected is stored in a specific area of the memory 34 and read by the boundary line position detection means 55 to obtain the position of the boundary line. Based on the data, the presence or absence of each component chip, the type of component, the component itself is recognized,
Furthermore, the position and orientation of the component is determined by the component position and direction calculation means 57.

II:電極部分を除き全体が暗い色のチップ(ただし、電
極のみが反射して光っているもの)。
II: A chip that is entirely dark except for the electrodes (however, only the electrodes reflect and shine).

前記と同様に、電極部分を除いて暗い色のチップ部品
に対しては、第6図(a),(b)に見るように、第1,
第2の光ファイバ5,6から斜めのストロボ光L1,L2が所
定のタイミングで順次照射されるようにして、チップ部
品の電極部分からの反射とその周辺部に発生するこれら
の光線から生じる影の部分を、ウインド処理手段54によ
りウインド処理して、第6図(c)に見るような関係で
W1〜W6の検出ウインド(検出領域)により、この影を含
む反射部分の映像を6箇所(複数点)で検出して、それ
ぞれの境界線のデータを得て、以下前記同様な処理が
実行される。
Similar to the above, for the dark-colored chip components except the electrode portion, as shown in FIGS. 6 (a) and 6 (b),
The oblique strobe lights L 1 and L 2 are sequentially emitted from the second optical fibers 5 and 6 at a predetermined timing, and are reflected from the electrode part of the chip component and from these light beams generated in the peripheral part thereof. The generated shadow portion is window-processed by the window processing means 54, and the relationship is as shown in FIG. 6 (c).
The detection windows (detection areas) of W 1 to W 6 detect the image of the reflection portion including this shadow at 6 points (a plurality of points) to obtain the data of each boundary line, and the same processing as described above is performed. To be executed.

ここに、W3〜W6のウインドの位置は、W1,W2のウイン
ドによる電極位置の計算結果から決定されるものであ
る。
Here, the window position of W 3 to W-6 is to be determined from the calculation results of the electrode position by the window of W 1, W 2.

III:全体が暗い色のチップ部品(プリント基板のボード
の色が明るい場合)。
III: Chip parts that are entirely dark (when the board color of the printed circuit board is light).

第7図(a),(b)に見るような全体が暗い色のチ
ップ部品に対しては、第1,第2の光ファイバ5,6から斜
めのストロボ光L1,L2が所定のタイミングで順次照射さ
れるようにして、チップ部品の電極部分からの反射(無
反射状態)とその周辺部に発生するこれらの光線から生
じる反射の部分を、ウインド処理手段54によりウインド
処理して、第7図(c)に見る関係でW1〜W6の検出ウイ
ンド(検出領域)により、ボード側からの反射部分を含
む映像を6箇所(複数点)で検出して、それぞれの境界
線のデータを得て、以下前記同様な処理が実行され
る。
As shown in FIGS. 7 (a) and 7 (b), the oblique strobe lights L 1 and L 2 from the first and second optical fibers 5 and 6 are given to the chip components whose colors are entirely dark. By sequentially irradiating at timing, the reflection processing (non-reflection state) from the electrode portion of the chip component and the reflection portion generated from these light rays generated in the peripheral portion are subjected to the window processing by the window processing means 54, the detection window of Figure 7 W in relation seen in (c) 1 to W-6 (detection area), by detecting the image including the reflected portion from the board side in six (multiple points) of the respective border After obtaining the data, the same processing as described above is executed.

IV:トランジスタ等のリード線のあるもの。IV: Those with lead wires such as transistors.

第8図(a),(c)に見るようなトランジスタ等の
ように左右乃至は上下方向にリード線があるチップ部品
に対しては、そのリード線方向に一致する方向の光ファ
イバ,例えば第3,第4の光ファイバ7,8からストロボ光L
3,L4が所定のタイミングで順次照射されるようにし
て、チップ部品の電極部分からの反射とその周辺部に発
生するこれらの光線から生じる影の部分を、ウインド処
理手段54によりウインド処理して、第8図(c)に見る
W7〜W9の検出ウインド(検出領域)により、リード線側
からの反射部分を含む映像をリード線に対応する3箇所
(複数点)で検出して、それぞれの境界線のデータを得
て、以下前記同様な処理が実行される。
For chip parts having lead wires in the left-right or up-down direction such as transistors as shown in FIGS. 8 (a) and 8 (c), an optical fiber in a direction coinciding with the lead wire direction, for example, Strobe light L from the third and fourth optical fibers 7 and 8
3 and L 4 are sequentially irradiated at a predetermined timing, and the shadow processing part 54 performs a window process on the reflection part from the electrode part of the chip component and the shadow part generated from these rays generated in the peripheral part. See Fig. 8 (c).
The detection window of W 7 to W-9 (detection area) is detected in positions 3 corresponding the image including the reflected portion from the lead wire side lead wire (s point), to obtain data of each boundary line Then, the same processing as described above is executed.

V:円形のチップ部品場合。V: For round chip parts.

第9図(a),(b)に見るような円形チップ部品の
場合には、その長手方向に一致するように左右乃至は上
下方向の光ファイバ,例えば第3,第4の光ファイバ7,8
からストロボ光L3,L4が所定のタイミングで順次照射さ
れるようにして、チップ部品の電極部分からの反射とそ
の周辺部に発生するこれらの光線から生じる影の部分
を、ウインド処理手段54によりウインド処理して、第9
図(c)に見る関係で映像波形Sを得て、第9図(d)
に見るようなウインドW10,W11(検出領域)により、そ
の上部角からの反射部分を含む映像を両端部分2箇所
(複数点)で検出して、それぞれの反射データを得て、
以下前記同様な処理が実行される。
In the case of a circular chip component as shown in FIGS. 9 (a) and 9 (b), right and left or up and down optical fibers, for example, third and fourth optical fibers 7, are arranged so as to coincide with the longitudinal direction. 8
The strobe lights L 3 and L 4 are successively emitted from the electrode part of the chip part and the shadow part generated from these rays generated in the peripheral part of the chip part, by the window processing means 54. Wind treatment by the 9th
The image waveform S is obtained in the relationship shown in FIG.
The windows W 10 and W 11 (detection area) as shown in Fig. 2 detect the image including the reflection part from the upper corner at two places (plural points) on both ends, and obtain each reflection data,
Thereafter, the same processing as described above is executed.

なお、このような部品における傾きは、第9図(e)
に見るように相互に位置をずらせたウインドW10,W
11(検出領域)によりその中心部の位置を算出して傾き
θを得るものである。
The inclination of such a component is shown in FIG. 9 (e).
The windows W 10 and W are displaced relative to each other as shown in
The position of the center is calculated from 11 (detection area) to obtain the inclination θ.

ところで、この実施例では、対物光学系の先端にユニ
ット化した状態で光ファイバの投光系を設け、対物光学
系と固体撮像カメラとを独立なユニットとしているの
で、カメラの光軸に対し、対物光学系の角度とか、距離
等の設定、そして光ファイバの対称位置セットが容易で
あるという利点がある。
By the way, in this embodiment, the projection system of the optical fiber is provided in a unitized state at the tip of the objective optical system, and the objective optical system and the solid-state imaging camera are independent units. There is an advantage that it is easy to set the angle of the objective optical system, the distance, etc., and the symmetrical position setting of the optical fiber.

以上説明してきたが、実施例では、第9図(a)〜
(e)を除いて、部品の境界線を中心にウインド処理し
ているが、対象は、境界線に限定されるものではなく、
部品の外形線一般に適用できることはもちろんであり、
部品は、チップ部品に限定されるものではない。
As described above, in the embodiment, FIG.
Except for (e), the window processing is performed centering on the boundary line of the part, but the target is not limited to the boundary line,
Of course, it can be applied to the outline of parts in general,
The parts are not limited to chip parts.

また、部品の有無の認識,部品の種別の認識において
は、順次それぞれの特徴を検出するウインド処理を含め
た5つの認識プログラムを起動することにより、そのう
ちの1つで部品が認識できれば足りる。したがって、あ
らかじめウインド処理に関係する形態情報を必要とする
ものではない。
Further, in recognizing the presence / absence of a component and recognizing the type of a component, it is sufficient if one of the components can be recognized by activating five recognition programs including a window process for sequentially detecting each feature. Therefore, the form information related to the window processing is not required in advance.

実施例では、複数の光ファイバを配置しているが、こ
れは、1つの光ファイバをそれぞれの方向に移動して設
置して使用してもよいことはもちろんである。
In the embodiment, a plurality of optical fibers are arranged. However, it is needless to say that one optical fiber may be moved and installed in each direction.

また、特徴を検出するための認識形態の種類又はその
認識プログラムの種類は、実施例で挙げた5つに限定さ
れないことはもちろんである。
Further, it goes without saying that the types of recognition modes or the types of recognition programs for detecting the features are not limited to the five types described in the embodiments.

[発明の効果] 以上の説明から理解できるように、この発明にあって
は、所定の方向で部品の影を作る光線を照射して部品の
影と反射部分との特徴外形線を複数の箇所で採取し、採
取したこれら複数の外形線のデータの組合せにより部品
の有無又は部品の種類を判定するようにしているので、
部品を特徴付ける複数の外形線データにより、電子部品
の有無又はその種別の認識ができる。
[Effects of the Invention] As can be understood from the above description, in the present invention, a light beam that creates a shadow of a component in a predetermined direction is irradiated to form characteristic outlines of the shadow and the reflective portion of the component at a plurality of locations. The presence or absence of a component or the type of a component is determined based on the combination of the data of these plurality of outlines collected.
The presence or absence of an electronic component or its type can be recognized by a plurality of outline data that characterizes the component.

その結果、そのデータ処理量が低減できるとともに、
少ないデータであっても、特徴点データ処理が可能とな
り、対象電子部品が多くなってもその認識が確実にでき
る。
As a result, the amount of data processing can be reduced, and
The feature point data processing can be performed even with a small amount of data, and the recognition can be surely performed even if the number of target electronic components increases.

しかも、部品の種類によっては、その形状が特定の形
である関係から、複数の特徴外形箇所の位置関係から部
品の基板に対する取り付け位置又はその角度のずれをは
じめとして、その中心点の位置等を演算することも可能
であって、その正確な位置測定ができる。
In addition, depending on the type of part, the shape of the part is a specific shape. It is also possible to calculate and to accurately measure its position.

したがって、多種多様な部品を単時間に認識可能であ
って、正確で効率的な認識処理が行える。
Therefore, various types of parts can be recognized in a single time, and accurate and efficient recognition processing can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図(a)は、この発明の電子部品の認識装置をチッ
プ部品の認識装置に対して適用した場合の一実施例のチ
ップ部品の部品検出光学系の詳細図、第1図(b)は、
その対物光学系先端部の構造の下側から見た平面図、第
2図は、チップ部品の認識装置の概要図、第3図
(a),(b)は、それぞれその第1図(b)における
I−I部分の断面図及びこれに対応する平面図、第4図
は、その画像認識装置の機能ブロック図、第5図
(a),(b)及び(c)は、それぞれ明るいチップ部
品についてのその境界線の認識と光線照射との関係を説
明する説明図、第6図(a),(b)及び(c)は、そ
れぞれ電極部分を除いて暗いチップ部品についてのその
境界線の認識と光線照射との関係を説明する説明図、第
7図(a),(b)及び(c)は、それぞれ全体が暗い
チップ部品についてのその境界線の認識と光線照射との
関係を説明する説明図、第8図(a),(b)及び
(c)は、それぞれリード線部分を有するチップ部品に
ついてのその境界線の認識と光線照射との関係を説明す
る説明図、第9図(a),(b)及び(c)は、それぞ
れ円形のチップ部品についてのその外形線の認識と光線
照射との関係を説明する説明図、第9図(d)及び
(e)は、それぞれそのウインド処理についての説明図
である。 1……ハウジング、2……鏡筒、3……レンズ、4……
光学フィルタ、5〜10……光ファイバ、13……ストロボ
光源、12……ファイバ固定リング、12b……開口空間
部、20……部品検出光学系、21……固体撮像カメラ、22
……対物光学系、23……X−Yテーブル、24……画像デ
ータを画像処理装置、25……プリント基板。33……マイ
クロプロセッサ(MPU)、34……メモリ、51……基板位
置決め処理手段、52……ストロボ駆動手段、53……画像
データ読込み手段、54……ウインド処理手段、55……境
界線位置検出手段、56……部品種別判定手段、57……部
品の位置と方向演算手段。
FIG. 1 (a) is a detailed view of a component detecting optical system for a chip component of an embodiment in which the electronic component recognizing device of the present invention is applied to a chip component recognizing device, FIG. 1 (b). Is
A plan view of the tip of the objective optical system viewed from below, FIG. 2 is a schematic view of a chip component recognition device, and FIGS. 3 (a) and 3 (b) are respectively FIG. 1 (b). 4) is a sectional view of the I-I portion in FIG. 4A and a plan view corresponding thereto, FIG. 4 is a functional block diagram of the image recognition apparatus, and FIGS. 5A, 5B and 5C are bright chips, respectively. FIGS. 6A, 6B, and 6C are explanatory views for explaining the relationship between the recognition of the boundary line of the component and the irradiation of light, and FIG. 6A, FIG. 6B, and FIG. FIGS. 7 (a), (b) and (c) for explaining the relationship between the recognition and the light irradiation, and FIG. 7A, FIG. The explanatory views for explaining and FIGS. 8 (a), (b) and (c) respectively show the lead wire portion. 9A, 9B, and 9C are explanatory views for explaining the relationship between the boundary line of the chip component to be processed and the light irradiation, and FIG. 9A, FIG. 9B, and FIG. And FIG. 9 (d) and FIG. 9 (e) are explanatory views of the window processing, respectively. 1 ... Housing, 2 ... Lens barrel, 3 ... Lens, 4 ...
Optical filter, 5-10 ... Optical fiber, 13 ... Strobe light source, 12 ... Fiber fixing ring, 12b ... Aperture space, 20 ... Component detection optical system, 21 ... Solid-state imaging camera, 22
…… Objective optical system, 23 …… XY table, 24 …… Image processing device for image data, 25 …… Printed circuit board. 33 ... Microprocessor (MPU), 34 ... Memory, 51 ... Substrate positioning processing means, 52 ... Strobe driving means, 53 ... Image data reading means, 54 ... Window processing means, 55 ... Boundary line position Detecting means 56 ... Parts type judging means 57 ... Parts position and direction calculating means.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭59−46179(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (56) References JP-A-59-46179 (JP, A)

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】電子部品を載置する基板と、前記電子部品
の外形のうちの第1の特徴部分に前記基板側に影を作る
方向から光ファイバを通して光線を照射する第1の光源
と、前記外形のうちの第2の特徴部分に前記基板側に影
を作る方向から光ファイバを通して光線を照射する第2
の光源と、第1及び第2の特徴部分についての映像を採
取してこれらに対応する映像信号を発生する撮像部と、
プロセッサ及び第1、第2の特徴部分に対応してこれら
の基準となる特徴外形線のデータを記憶したメモリとを
有し前記撮像部から前記映像信号を受け、前記プロセッ
サの処理に従って第1及び第2の特徴部分についての特
徴外形線のデータをそれぞれ生成しかつ生成したそれぞ
れのデータを前記基準となる特徴外形線のデータとそれ
ぞれ比較して前記電子部品の種類又は位置又は向きのう
ち少なくとも1つを判定するデータ処理部とを備えるこ
とを特徴とする電子部品の認識装置。
1. A substrate on which an electronic component is placed, and a first light source for irradiating a light beam through an optical fiber from a direction in which a first characteristic portion of the outer shape of the electronic component is shaded on the substrate side, A second feature of irradiating a light beam through an optical fiber from a direction that casts a shadow on the second characteristic portion of the outer shape on the substrate side.
A light source, and an imaging unit that collects images of the first and second characteristic portions and generates image signals corresponding to these images.
A processor and a memory that stores data of characteristic reference outlines corresponding to the first and second characteristic portions, and receives the video signal from the image pickup unit; At least one of the type, position, or orientation of the electronic component is generated by generating data of the characteristic outline of the second characteristic portion and comparing the generated data with the data of the reference characteristic outline. And a data processing unit that determines one of the two.
【請求項2】前記第1及び第2の特徴部分についての特
徴外形線のデータは、前記撮像部からの前記映像信号に
基づき第1及び第2の特徴部分についてあらかじめ設け
られたウインドの範囲で抽出されて生成されることを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子部品の認識装
置。
2. The characteristic outline data for the first and second characteristic portions is within a range of windows provided in advance for the first and second characteristic portions based on the video signal from the imaging section. The electronic component recognition device according to claim 1, wherein the electronic component recognition device is extracted and generated.
【請求項3】前記電子部品は、チップ部品であって、前
記光線の照射方向は、3以上の複数の方向であり、前記
第1及び第2の特徴部分は、前記チップ部品に設けられ
た電極等の部品構成部材を含む部分であり、前記特徴外
形線のデータは、前記部品構成部材の境界線のデータを
含むものであり、前記複数の方向のうちの特定の方向と
採取したそれに対応する前記特徴外形線のデータの組合
わせによりチップ部品の有無又は部品の種類を判定し、
そのチップ部品の位置を算出することを特徴とする特許
請求の範囲第1項又は第2項記載の電子部品の認識装
置。
3. The electronic component is a chip component, and the irradiation direction of the light beam is a plurality of directions of 3 or more, and the first and second characteristic portions are provided in the chip component. A portion including a component component member such as an electrode, the data of the characteristic outline includes data of a boundary line of the component component member, and corresponds to a specific direction of the plurality of directions and the sampled direction. The presence or absence of a chip component or the type of component is determined by a combination of the data of the characteristic outlines that
The device for recognizing an electronic component according to claim 1, wherein the position of the chip component is calculated.
【請求項4】前記電子部品は、複数種類のチップ部品で
あって、前記光線の照射方向は、3以上の複数の方向で
あり、前記第1及び第2の特徴部分は、前記チップ部品
に設けられた電極等の部品構成部材を含む部分であり、
前記特徴外形線のデータは、前記部品構成部材の境界線
のデータを含むものであり、前記複数の方向のうちの特
定の方向が前記チップ部品の種別に対応して選択され、
この選択された照射方向に対応する前記特徴外形線のデ
ータの複数の組合わせによりチップ部品の有無又は部品
の種類を判定し、その取付けずれ量を算出することを特
徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項記載の電子部
品の認識装置。
4. The electronic component is a plurality of types of chip components, and the irradiation direction of the light rays is a plurality of directions of three or more, and the first and second characteristic portions are the chip components. A portion including a component component such as an electrode provided,
The data of the characteristic contour line includes data of a boundary line of the component component member, and a specific direction of the plurality of directions is selected corresponding to the type of the chip component,
The presence or absence of a chip component or the type of component is determined by a plurality of combinations of the data of the characteristic outline corresponding to the selected irradiation direction, and the mounting deviation amount is calculated. The electronic device recognition device according to claim 1 or 2.
【請求項5】前記光線の照射方向は、前記光ファイバの
設置位置により設定されるものであることを特徴とする
特許請求の範囲第1項から第4項のいずれか1項記載の
電子部品の認識装置。
5. The electronic component according to claim 1, wherein the irradiation direction of the light beam is set by the installation position of the optical fiber. Recognition device.
【請求項6】前記光源はストロボであり、前記光ファイ
バの設置位置は、装置に対して前後に一対、左右に一
対、そして前後、左右の中間位置に一対設けられ、前記
前後左右の一対のそれぞれの光ファイバは、同時に光線
を照射し、前記中間位置に設置された光ファイバはそれ
ぞれ独立に光線を照射することを特徴とする特許請求の
範囲第5項記載の電子部品の認識装置。
6. The light source is a strobe, and the optical fibers are installed at a pair of front and rear, a pair of left and right, and a pair of intermediate positions of front and rear, left and right with respect to the apparatus, and the pair of front and rear 6. The electronic component recognizing device according to claim 5, wherein each of the optical fibers simultaneously emits a light beam, and each of the optical fibers installed at the intermediate positions independently emits a light beam.
JP60223284A 1985-10-07 1985-10-07 Electronic component recognition device Expired - Lifetime JPH0824240B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60223284A JPH0824240B2 (en) 1985-10-07 1985-10-07 Electronic component recognition device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60223284A JPH0824240B2 (en) 1985-10-07 1985-10-07 Electronic component recognition device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6281796A JPS6281796A (en) 1987-04-15
JPH0824240B2 true JPH0824240B2 (en) 1996-03-06

Family

ID=16795716

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60223284A Expired - Lifetime JPH0824240B2 (en) 1985-10-07 1985-10-07 Electronic component recognition device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0824240B2 (en)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5946179A (en) * 1982-09-09 1984-03-15 株式会社日立製作所 Recognizer for chip part

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6281796A (en) 1987-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7026832B2 (en) Probe mark reading device and probe mark reading method
US5686994A (en) Appearance inspection apparatus and appearance inspection method of electronic components
US5566244A (en) Method of inspecting a workpiece surface including a picturing system with a shortened focal plane
JP2953736B2 (en) Solder shape inspection method
JPH07113966B2 (en) Two-dimensional image processing method and apparatus
JPH04105341A (en) Method and equipment for detecting bending and floating of lead of semiconductor device
JP2011158363A (en) Soldering inspection device for pga mounting substrate
JP2876507B2 (en) Wafer foreign matter inspection device
JP2605191B2 (en) Inspection method for electronic components
JP2577805B2 (en) Inspection method and apparatus for soldered part and method for inspecting electronic component mounting state
JPH0824240B2 (en) Electronic component recognition device
JPH0568880B2 (en)
US6289492B1 (en) Methods and apparatuses for defining a region on an elongated object
JP2603643B2 (en) Assembly method
JPH0663751B2 (en) Electronic component recognition method
JPH07119705B2 (en) Electronic component inspection device
JP3254873B2 (en) Package visual inspection device and visual inspection method
JP3162872B2 (en) Electronic component outline recognition apparatus and outline recognition method
JP2629798B2 (en) Board inspection equipment
JPH05296724A (en) Part recognition method
JP2630034B2 (en) Lead bending measuring device
JP2521156Y2 (en) Position measurement target
US20250216341A1 (en) Inspection apparatus and inspection method
JPH02232506A (en) Apparatus for checking aligning state of pins
JPH10275885A (en) Method and device for automatically checking positional data of j-lead