JPH0827355B2 - 放射線受像装置 - Google Patents
放射線受像装置Info
- Publication number
- JPH0827355B2 JPH0827355B2 JP63045174A JP4517488A JPH0827355B2 JP H0827355 B2 JPH0827355 B2 JP H0827355B2 JP 63045174 A JP63045174 A JP 63045174A JP 4517488 A JP4517488 A JP 4517488A JP H0827355 B2 JPH0827355 B2 JP H0827355B2
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- Japan
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- radiation
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は医療分野および工業分野における放射線を利
用した放射線受像装置に関するものである。
用した放射線受像装置に関するものである。
従来の技術 従来の放射線受像装置の構成として、放射線に感応す
る小型半導体素子をアレイ状に並べ、各素子より出力さ
れる放射線量子のパルス数を画素濃度とし、このアレイ
を走査して２次元画像を得る方式が提案され、非常に高
感度でかつ高解像度の放射線画像を得られるようになっ
た（特開昭59−94046号公報，特開昭59−100885号公
報）。これらの方法は、放射線感応素子アレイからの一
定時間のパルスを計数してメモリに格納し、素子アレイ
を被写体に沿って連続的または段階的に送りながら、ま
た次の位置で同様の計数を行なうというようにして２次
元の放射線画像信号を得るというものである。
る小型半導体素子をアレイ状に並べ、各素子より出力さ
れる放射線量子のパルス数を画素濃度とし、このアレイ
を走査して２次元画像を得る方式が提案され、非常に高
感度でかつ高解像度の放射線画像を得られるようになっ
た（特開昭59−94046号公報，特開昭59−100885号公
報）。これらの方法は、放射線感応素子アレイからの一
定時間のパルスを計数してメモリに格納し、素子アレイ
を被写体に沿って連続的または段階的に送りながら、ま
た次の位置で同様の計数を行なうというようにして２次
元の放射線画像信号を得るというものである。
発明が解決しようとする課題 しかしながら上記のような方法では、放射線発生源の
放射線出力の時間的な変動を補正するために、一担メモ
リに格納された計数データを、後で演算補正処理を行な
う必要があり、その結果、処理に時間がかかるという課
題を有していた。
放射線出力の時間的な変動を補正するために、一担メモ
リに格納された計数データを、後で演算補正処理を行な
う必要があり、その結果、処理に時間がかかるという課
題を有していた。
本発明はかかる点に鑑み、放射線源の時間的変動の補
正をデータの取込みと同時に実現できるようにし、その
後の演算処理を不要にし、処理時間を短縮することので
きる放射線受像装置を提供することを目的とする。
正をデータの取込みと同時に実現できるようにし、その
後の演算処理を不要にし、処理時間を短縮することので
きる放射線受像装置を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段 上記目的を達成するために本発明の放射線受像装置
は、放射線に感応する小型放射線感応素子を直線または
曲線弧状に１列に配設した放射線感応素子アレイと、放
射線源からの放射線が被写体を透過せずに照射される位
置に設けられた放射線源モニタ用の放射線感応素子と、
前記モニタ用放射線感応素子の出力パルス数のカウント
を開始すると同時に前記放射線感応素子アレイの各素子
の出力パルス数のカウントを開始し、前記モニタ用放射
線感応素子からのパルス数が所定の数になったときの前
記素子アレイの各素子からのパルスのカウント数を画素
濃度として検知する手段とを備えたものである。
は、放射線に感応する小型放射線感応素子を直線または
曲線弧状に１列に配設した放射線感応素子アレイと、放
射線源からの放射線が被写体を透過せずに照射される位
置に設けられた放射線源モニタ用の放射線感応素子と、
前記モニタ用放射線感応素子の出力パルス数のカウント
を開始すると同時に前記放射線感応素子アレイの各素子
の出力パルス数のカウントを開始し、前記モニタ用放射
線感応素子からのパルス数が所定の数になったときの前
記素子アレイの各素子からのパルスのカウント数を画素
濃度として検知する手段とを備えたものである。
作 用 本発明は前記した構成により、放射線感応素子アレイ
の各素子からの出力パルスと、モニタ用素子からの出力
パルスとのカウントを同時に開始し、モニタ用素子から
のパルス数が所定の数になったときの素子アレイの各素
子からのカウント数を画素濃度として検知し、素子アレ
イを段階的または連続的に隣接位置に移送し、同様の処
理を繰返して２次元画面の濃度信号を得る。
の各素子からの出力パルスと、モニタ用素子からの出力
パルスとのカウントを同時に開始し、モニタ用素子から
のパルス数が所定の数になったときの素子アレイの各素
子からのカウント数を画素濃度として検知し、素子アレ
イを段階的または連続的に隣接位置に移送し、同様の処
理を繰返して２次元画面の濃度信号を得る。
実施例 以下、本発明の実施例を図面を参照しながら説明す
る。第２図は本発明の一実施例における放射線受像装置
の撮像部の一例を示すものであり、同図ａは撮像部の正
面図、同図ｂは側面図である。第２図において、１はｘ
線発生管、30は寝台であり、寝台30の上に被写体２が載
せられる。３はＸ線センサアレイであり、その一番側端
の素子をモニタ用センサ20として用いる。Ｘ線発生管１
より出力されたＸ線はスリット４で薄い扇状のＸ線ビー
ムに整形されてセンサアレイ３及びモニタ用センサ20に
照射され、それらのセンサからのデータが回路ユニット
31内の回路により処理される。また、センサアレイ３及
びモニタ用センサ20の配設された回路ユニット31は、ガ
イドレール32に沿って移動するようになっており、例え
ば同図ａの手前から奥行き方向に向かって移動し、同図
ｂでは左から右に向かって移動する。そして、ガイドレ
ール32上を回路ユニット31が段階的或いは連続的に隣の
位置に移動する度に位置検出パルスが出力されるように
なっている。
る。第２図は本発明の一実施例における放射線受像装置
の撮像部の一例を示すものであり、同図ａは撮像部の正
面図、同図ｂは側面図である。第２図において、１はｘ
線発生管、30は寝台であり、寝台30の上に被写体２が載
せられる。３はＸ線センサアレイであり、その一番側端
の素子をモニタ用センサ20として用いる。Ｘ線発生管１
より出力されたＸ線はスリット４で薄い扇状のＸ線ビー
ムに整形されてセンサアレイ３及びモニタ用センサ20に
照射され、それらのセンサからのデータが回路ユニット
31内の回路により処理される。また、センサアレイ３及
びモニタ用センサ20の配設された回路ユニット31は、ガ
イドレール32に沿って移動するようになっており、例え
ば同図ａの手前から奥行き方向に向かって移動し、同図
ｂでは左から右に向かって移動する。そして、ガイドレ
ール32上を回路ユニット31が段階的或いは連続的に隣の
位置に移動する度に位置検出パルスが出力されるように
なっている。
第１図は本発明の一実施例における放射線受像装置の
処理回路部の一例を示すものであり、この回路の一部、
例えば、表示装置10,X線制御装置11,機構制御装置12以
外の回路が、第２図の回路ユニット31の内部に設けられ
ている。以下、第１図の回路の構成と動作を説明する。
処理回路部の一例を示すものであり、この回路の一部、
例えば、表示装置10,X線制御装置11,機構制御装置12以
外の回路が、第２図の回路ユニット31の内部に設けられ
ている。以下、第１図の回路の構成と動作を説明する。
センサアレイ３の各素子の出力は、各素子毎に増幅器
５で増幅され、それぞれゲート回路６を通ってカウンタ
７に入力される。このゲート回路６は、フリップフロッ
プ27の出力によりクロック制御され、入力信号の通過、
阻止のタイミングが規制されている。例えば、フリップ
フロップ27の出力がHighレベルであれば入力信号を通過
させ、Lowレベルであれば阻止するように制御される。
従って、センサアレイ３からのパルス出力信号は、フリ
ップフロップ27の出力がHighレベルのときのみカウンタ
７に加えられ、パルス数がカウントされる。一方、モニ
タ用センサ20からのパルス出力信号は増幅器21で増幅さ
れ、ゲート回路22を通って、カウンタ23に入力される。
そしてこのカウンタ23のカウント値は比較器24でレジス
タ25の値と比較される。そして、カウンタ23のカウント
値がレジスタ25の値に等しくなったら、比較器４からフ
リップフロップ27のＲ入力にパルスが入力され、フリッ
プフロップ27がリセットされ、このフリップフロップの
出力がLowレベルになる。即ち、フリップフロップ27
は、位置検出パルス26がＳ入力に入力されることにより
セットされゲート６ないしゲート22を開き、カウンタ23
のカウント数がレジスタ25に設定された値になるとリセ
ットされ、ゲート６ないしゲート22を閉じる。その結
果、ゲート６は常にモニタ用センサ20から一定個数のパ
ルスが出力されるだけの時間だけ開いていることにな
り、Ｘ線管から照射されるＸ線の強さが時間的に変動し
ても、常にそれを実質的に補正するように動作する。な
お、レジスタ25の値は処理装置９により設定制御され
る。
５で増幅され、それぞれゲート回路６を通ってカウンタ
７に入力される。このゲート回路６は、フリップフロッ
プ27の出力によりクロック制御され、入力信号の通過、
阻止のタイミングが規制されている。例えば、フリップ
フロップ27の出力がHighレベルであれば入力信号を通過
させ、Lowレベルであれば阻止するように制御される。
従って、センサアレイ３からのパルス出力信号は、フリ
ップフロップ27の出力がHighレベルのときのみカウンタ
７に加えられ、パルス数がカウントされる。一方、モニ
タ用センサ20からのパルス出力信号は増幅器21で増幅さ
れ、ゲート回路22を通って、カウンタ23に入力される。
そしてこのカウンタ23のカウント値は比較器24でレジス
タ25の値と比較される。そして、カウンタ23のカウント
値がレジスタ25の値に等しくなったら、比較器４からフ
リップフロップ27のＲ入力にパルスが入力され、フリッ
プフロップ27がリセットされ、このフリップフロップの
出力がLowレベルになる。即ち、フリップフロップ27
は、位置検出パルス26がＳ入力に入力されることにより
セットされゲート６ないしゲート22を開き、カウンタ23
のカウント数がレジスタ25に設定された値になるとリセ
ットされ、ゲート６ないしゲート22を閉じる。その結
果、ゲート６は常にモニタ用センサ20から一定個数のパ
ルスが出力されるだけの時間だけ開いていることにな
り、Ｘ線管から照射されるＸ線の強さが時間的に変動し
ても、常にそれを実質的に補正するように動作する。な
お、レジスタ25の値は処理装置９により設定制御され
る。
カウンタ７によりカウントされた値は、ゲート６が閉
じた後でラッチ８によりラッチされ、それぞれのデータ
は処理装置９に１ライン分の撮像データとして入力され
る。同様のことを回路ユニット31を移送させながら繰返
して２次元画面の撮像データが得られたら、処理装置９
では、例えばフィルタリング処理，変倍処理，階調変換
処理等の処理を行なってから表示装置10により表示す
る。
じた後でラッチ８によりラッチされ、それぞれのデータ
は処理装置９に１ライン分の撮像データとして入力され
る。同様のことを回路ユニット31を移送させながら繰返
して２次元画面の撮像データが得られたら、処理装置９
では、例えばフィルタリング処理，変倍処理，階調変換
処理等の処理を行なってから表示装置10により表示す
る。
なお、第１図において11はＸ線の照射量等を制御する
ためのＸ線制御回路であり、12は第２図で示されるよう
な機構全体の動作を制御するための機構制御回路であ
り、どちらも処理装置９からの指令を受けて動作する。
ためのＸ線制御回路であり、12は第２図で示されるよう
な機構全体の動作を制御するための機構制御回路であ
り、どちらも処理装置９からの指令を受けて動作する。
以上の説明においては通常のＸ線画像を得る場合の例
を示したが、例えばエネルギーサブトラクションの画像
を得る場合にも適用可能である。
を示したが、例えばエネルギーサブトラクションの画像
を得る場合にも適用可能である。
エネルギーサブトラクションとは、被写体の放射線吸
収係数の違いを利用するもので、被写体を透過した放射
線をエネルギーの高いものとエネルギーの低いものとに
分けて差分をとることにより、被写体の構成物質の情報
など、放射線画像としての、より高度な画像情報を得る
ことができるものである。
収係数の違いを利用するもので、被写体を透過した放射
線をエネルギーの高いものとエネルギーの低いものとに
分けて差分をとることにより、被写体の構成物質の情報
など、放射線画像としての、より高度な画像情報を得る
ことができるものである。
その場合には例えば第３図のような回路構成にすれば
良い。即ちゲート６の出力を波高弁別回路28により高エ
ネルギーのパルスと低エネルギーのパルスとに分けてカ
ウンタ７に入力するようにすれば良く、その他は第１図
に示したものと同様である。
良い。即ちゲート６の出力を波高弁別回路28により高エ
ネルギーのパルスと低エネルギーのパルスとに分けてカ
ウンタ７に入力するようにすれば良く、その他は第１図
に示したものと同様である。
なお、第３図においてはゲート６でゲートされたパル
スが波高弁別回路28に加えられているが、増幅器５の出
力を波高弁別回路28で高エネルギーのパルスと低エネル
ギーのパルスとに分けてからゲート６でゲートしてカウ
ンタ７に印加しても良い。
スが波高弁別回路28に加えられているが、増幅器５の出
力を波高弁別回路28で高エネルギーのパルスと低エネル
ギーのパルスとに分けてからゲート６でゲートしてカウ
ンタ７に印加しても良い。
以上のように本実施例においては、センサアレイの一
番側端の素子をモニタ用センサとして用いこのモニタ用
センサに検出されるパルス出力をカウントし、このカウ
ント値が一定となるタイミングで順次回路ユニットを移
送することにより、常に一定量の入射が実現した時点で
の回路ユニットの移送がなされ、Ｘ線源の出力のゆらぎ
だけでなく、機構の誤差等によるＸ線ビームとセンサア
レイとのずれについても同様に補正することができる。
また、モニタ用センサとセンサアレイの各素子との特性
のばらつきを小さくすることができるという効果も有す
る。
番側端の素子をモニタ用センサとして用いこのモニタ用
センサに検出されるパルス出力をカウントし、このカウ
ント値が一定となるタイミングで順次回路ユニットを移
送することにより、常に一定量の入射が実現した時点で
の回路ユニットの移送がなされ、Ｘ線源の出力のゆらぎ
だけでなく、機構の誤差等によるＸ線ビームとセンサア
レイとのずれについても同様に補正することができる。
また、モニタ用センサとセンサアレイの各素子との特性
のばらつきを小さくすることができるという効果も有す
る。
なお、本実施例においては、センサアレイの一番側端
の素子をモニタ用センサとして用いたが、モニタ用セン
サは、センサアレイの一部を使わなくも良いし、その設
置場所も被写体に妨害されなければ任意に配置され得る
ものである。
の素子をモニタ用センサとして用いたが、モニタ用セン
サは、センサアレイの一部を使わなくも良いし、その設
置場所も被写体に妨害されなければ任意に配置され得る
ものである。
発明の効果 本発明によればモニタ用感応素子への一定量の放射線
入射をもって素子アレイを移送させるようにしたため
に、放射線発生源の出力の時間的な変動をデータの取込
みと同時に行なうことができるので、処理時間を大幅に
短縮することができ、その実用的効果は大きい。
入射をもって素子アレイを移送させるようにしたため
に、放射線発生源の出力の時間的な変動をデータの取込
みと同時に行なうことができるので、処理時間を大幅に
短縮することができ、その実用的効果は大きい。
第１図は本発明における一実施例の放射線受像装置の処
理回路のブロック図、第２図a,bは同実施例の撮像部の
構成を示す正面図および側面図、第３図は本発明の他の
実施例の放射線受像装置の処理回路のブロック図であ
る。 １……Ｘ線発生管、２……被写体、３……センサアレ
イ、４……スリット、6,22……ゲート、7,23……カウン
タ、９……処理装置、20……モニタ用センサ、24……比
較器、25……レジスタ、27……フリップフロップ。
理回路のブロック図、第２図a,bは同実施例の撮像部の
構成を示す正面図および側面図、第３図は本発明の他の
実施例の放射線受像装置の処理回路のブロック図であ
る。 １……Ｘ線発生管、２……被写体、３……センサアレ
イ、４……スリット、6,22……ゲート、7,23……カウン
タ、９……処理装置、20……モニタ用センサ、24……比
較器、25……レジスタ、27……フリップフロップ。
Claims (1)
- 【請求項１】放射線源からの放射線に感応する小型放射
線感応素子を直線または曲線弧状に１列に配設した放射
線感応素子アレイと、前記放射線源からの放射線が被写
体を透過せずに照射される位置に設けられた放射線源モ
ニタ用放射線感応素子と、前記モニタ用放射線感応素子
の出力パルス数のカウントを開始すると同時に前記放射
線感応素子アレイの各素子からの出力パルス数のカウン
トを開始するカウンタと、前記モニタ用放射線感応素子
の出力パルス数のカウント値が所定数になったときの前
記放射線感応素子アレイの各素子からのパルスのカウン
ト数を画素濃度として検知する画像処理手段とを備え、
前記放射線感応素子アレイを段階的または連続的に隣接
位置に移送しながら二次元画面濃度信号を得るように構
成したことを特徴とする放射線受像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63045174A JPH0827355B2 (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 放射線受像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63045174A JPH0827355B2 (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 放射線受像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01219586A JPH01219586A (ja) | 1989-09-01 |
| JPH0827355B2 true JPH0827355B2 (ja) | 1996-03-21 |
Family
ID=12711904
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63045174A Expired - Fee Related JPH0827355B2 (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 放射線受像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0827355B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7332724B2 (en) * | 2005-07-26 | 2008-02-19 | General Electric Company | Method and apparatus for acquiring radiation data |
-
1988
- 1988-02-26 JP JP63045174A patent/JPH0827355B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01219586A (ja) | 1989-09-01 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |