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JPH0828412B2 - Wafer transfer device - Google Patents
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JPH0828412B2 - Wafer transfer device - Google Patents

Wafer transfer device

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JPH0828412B2
JPH0828412B2 JP61146632A JP14663286A JPH0828412B2 JP H0828412 B2 JPH0828412 B2 JP H0828412B2 JP 61146632 A JP61146632 A JP 61146632A JP 14663286 A JP14663286 A JP 14663286A JP H0828412 B2 JPH0828412 B2 JP H0828412B2
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wafer
wafer transfer
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wheels
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圭一 古垣
ゆう司 前田
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Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明はイオン注入装置のような半導体製造装置内で
使用されるウエハ搬送装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Object of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention relates to a wafer transfer apparatus used in a semiconductor manufacturing apparatus such as an ion implantation apparatus.

(従来の技術) イオン注入装置には、周知のように、ウエハを大気中
から予備真空室を介して真空処理室に搬入し、イオン注
入後にウエハを再び予備真空室を介して大気中に搬出す
るウエハ搬送装置が設けられている。
(Prior Art) As is well known, an ion implantation apparatus carries a wafer from the atmosphere into the vacuum processing chamber through a preliminary vacuum chamber, and after the ion implantation, carries the wafer back into the atmosphere through the preliminary vacuum chamber. A wafer transfer device is provided.

この種のウエハ搬送装置としては、従来からウエハの
自重を利用する装置が知られている。このウエハ搬送装
置は、大気中から予備真空室を介して真空処理室に至る
ウエハの傾斜案内機構と、この真空処理室から別の予備
真空室を介して大気中に至る別の傾斜案内機構とを有
し、ウエハの自重を利用してウエハを傾斜案内機構によ
り順次下方に移動させ、イオン注入処理を行うものであ
る。
As this type of wafer transfer apparatus, an apparatus that utilizes the weight of a wafer has been conventionally known. This wafer transfer device includes an inclination guide mechanism for a wafer from the atmosphere to a vacuum processing chamber via a preliminary vacuum chamber, and another inclination guide mechanism to extend from the vacuum processing chamber to the atmosphere via another preliminary vacuum chamber. The tilting guide mechanism sequentially moves the wafer downward using the self-weight of the wafer to perform the ion implantation process.

このウエハ搬送装置はウエハの自重を利用するので駆
動装置が不要であるという利点を有するが、その反面ホ
トレジスト層を設けたウエハの場合には搬送途中でひっ
かかりが生じて作業の中断が生じたり搬送の高速化が困
難であるという難点があった。
This wafer transfer device uses the weight of the wafer itself and therefore has the advantage of not requiring a drive device, but on the other hand, in the case of a wafer provided with a photoresist layer, it may be caught during the transfer and the work may be interrupted or transferred. However, it was difficult to increase the speed.

またストッパによりウエハを停止させる際に、ウエハ
端部に付着したレジスト層やウエハ端部が破壊してパー
ティクル(塵)を発生するという問題もあった。
There is also a problem that when the wafer is stopped by the stopper, the resist layer attached to the wafer edge and the wafer edge are broken to generate particles (dust).

さらに従来の装置ではウエハ・カセットから順にイオ
ン注入装置部に搬入されたウエハは、イオン注入後別の
ウエハ・カセットに収納されるため、ウエハ管理上種々
の不都合が生じていた。
Further, in the conventional apparatus, since the wafers sequentially loaded from the wafer cassette into the ion implantation apparatus section are stored in another wafer cassette after the ion implantation, various problems occur in wafer management.

(発明が解決しようとする問題点) 上述したように、従来のウエハ搬送装置では、ウエハ
の搬入・搬出の円滑性を欠き、かつ高速化が難しく、さ
らにパーティクルが発生するという問題があった。
(Problems to be Solved by the Invention) As described above, in the conventional wafer transfer apparatus, there is a problem in that the smoothness of loading and unloading of wafers is lacking, speeding up is difficult, and particles are generated.

本発明はこのような従来の難点を解消すべくなされた
もので、ウエハの搬入・搬出を円滑にかつ高速で行うこ
とができ、パーティクルの発生がなく、さらにウエハを
両方向に搬送可能なウエハ搬送装置を提供することを目
的とする。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned conventional problems, and wafers can be loaded and unloaded smoothly and at high speed, particles are not generated, and wafers can be transported in both directions. The purpose is to provide a device.

[発明の構成] (問題点を解決するための手段) すなわち本発明のウエハ搬送装置は、半導体装置内に
配設されたセラミックスからなるガイドレールと、この
ガイドレール上を走行するフッ素樹脂からなる車輪を備
えた案内車と、この案内車に装着されたウエハ保持装置
と、前記案内車を駆動する駆動装置とを有することを特
徴としている。なお上記のガイドレールおよび車輪は、
それぞれ互いに接触する面がセラミックスおよびフッ素
樹脂で形成されていればよく、したがって金属との複合
体も使用可能である。
[Structure of the Invention] (Means for Solving Problems) That is, the wafer transfer apparatus of the present invention comprises a guide rail made of ceramics arranged in the semiconductor device and a fluororesin running on the guide rail. It is characterized in that it has a guide wheel provided with wheels, a wafer holding device mounted on the guide wheel, and a drive device for driving the guide wheel. The above guide rails and wheels are
It suffices that the surfaces contacting each other are made of ceramics and fluororesin, and therefore a composite with a metal can also be used.

(作用) 本発明のウエハ搬送装置は、ウエハ保持装置が案内車
に装着されてガイドレール上を走行するので円滑にかつ
高速で左右両方向にウエハの搬送を行うことができる。
また上記のガイドレールが耐摩耗性があり、高剛性のセ
ラミックスからなり、搬送車の車輪が潤滑性の高い弾性
のあるフッ素樹脂からなるので摩耗によるパーティクル
の発生は極めて少くなる。
(Operation) In the wafer transfer device of the present invention, the wafer holding device is mounted on the guide wheel and travels on the guide rails, so that the wafer can be transferred in the left and right directions smoothly and at high speed.
Further, since the guide rails are made of wear-resistant and high-rigidity ceramics and the wheels of the carrier are made of fluorine resin having high lubricity and elasticity, generation of particles due to wear is extremely small.

(実施例) 以下本発明の実施例を図面を参照して説明する。(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図ないし第3図において、ウエハ搬送装置1は、
上下に平行配置された一対のセラミックス製ガイドレー
ル2、3と、これらのガイドレール2、3をテフロンの
ようなフッ素樹脂製の車輪4a、4b、4c、5a、5b、5cで挟
持するようにして装架された案内車6と、この案内車6
の上部に固定されたウエハ保持装置7、8とから構成さ
れている。なお上記のガイドレール2、3および車輪3
a、…、3b、…は、それぞれ互いに接触する面がセラミ
ックスおよびフッ素樹脂で形成されていればよい。した
がってガイドレール2、3として金属との接合体や金属
上へセラミックスを溶射したものも使用可能である。ま
た車輪3a、…、3b、…も、フッ素樹脂による成形品の他
金属製の車輪の外周へフッ素樹脂をコーティングしたも
のも使用可能である。
1 to 3, the wafer transfer device 1 is
A pair of ceramic guide rails 2 and 3 arranged in parallel vertically and these guide rails 2 and 3 are sandwiched between wheels 4a, 4b, 4c, 5a, 5b and 5c made of fluororesin such as Teflon. Guide car 6 mounted on
Wafer holding devices 7 and 8 fixed to the upper part of the. The guide rails 2 and 3 and the wheels 3 described above
The surfaces of a, ..., 3b, ... That contact each other may be formed of ceramics and fluororesin. Therefore, as the guide rails 2 and 3, it is possible to use a bonded body with a metal or a body in which ceramics are sprayed on the metal. Further, as the wheels 3a, ..., 3b, ..., it is possible to use a molded product made of a fluororesin and a metal wheel whose outer periphery is coated with the fluororesin.

案内車6は、それぞれガイドレール2、3に沿って張
り出した水平腕9a、10aの両端に上向きの垂直腕9b、9
c、10b、10cと水平腕9a、10aの中央に下向きの垂直腕9
d、10dを有する独立した2組の支持部材9、10と、上記
各垂直腕の先端に回転自在に軸支された車輪4a、…、5
a、…等から構成されている。
The guide wheel 6 has vertical arms 9b and 9 pointing upwards at both ends of horizontal arms 9a and 10a that extend along the guide rails 2 and 3, respectively.
c, 10b, 10c and vertical arm 9 pointing downwards in the center of horizontal arm 9a, 10a
Two independent sets of support members 9 and 10 having d and 10d, and wheels 4a, ..., 5 rotatably supported by the tips of the vertical arms.
It consists of a, ...

そしてウエハ保持装置7は、一方の支持部材9の上向
きの垂直腕9bの先端に水平に固設された把持爪7aと他方
の支持部材10のこれと隣接する上向きの垂直腕10bの先
端に固設された上向きの把持爪7bとから構成されてい
る。
The wafer holding device 7 is fixed to the tip of an upward vertical arm 9b of one support member 9 fixed horizontally to the tip of an upward vertical arm 10b of the other support member 10 adjacent thereto. It is composed of an upward gripping claw 7b provided.

またウエハ保持装置8は、一方の支持部材9の上向き
の垂直腕9cの先端に水平に固設された把持爪8aと他方の
支持部材10のこれと隣接する上向きの垂直腕10cの先端
に固設された上向きの把持爪8bとから構成されている。
把持爪7a、7bおよび8a、8bは第4図に示すようにそれぞ
れ断面L字状または逆L字状をなしており、L字状また
は逆L字状の水平部でウエハの自重を支持し、かつ垂直
部でウエハを把持するようになっている。L字の垂直部
にはウエハを把持する際のガイドとして20°〜70°の面
取を施している。
Further, the wafer holding device 8 has a holding claw 8a horizontally fixed to the tip of an upward vertical arm 9c of one support member 9 and a tip of an upward vertical arm 10c adjacent to this of the other support member 10. It is composed of an upward grip claw 8b provided.
As shown in FIG. 4, the gripping claws 7a, 7b and 8a, 8b respectively have an L-shaped or inverted L-shaped cross section, and the horizontal portion of the L-shaped or inverted L-shaped supports the weight of the wafer. In addition, the vertical portion holds the wafer. The L-shaped vertical portion is chamfered at 20 ° to 70 ° as a guide for gripping the wafer.

また、パーティクルの発生を抑えるため把持爪にフッ
素樹脂等のコーティングを行なうことも可能である。
Further, in order to suppress the generation of particles, it is possible to coat the grip claws with fluororesin or the like.

そして上述した支持部材9、10は、車輪4a、…、5a、
…等に案内されて、図示を省略した駆動装置によりガイ
ドレール2、3上を同期して往復動し、ガイドレール
2、3の両端近傍で後から進行する支持部材が前を進行
する支持部材よりわずかに早く、例えば図示を省略した
ストッパに阻止されて停止し把持爪間の間隔をわずかに
広げウエハの把持あるいは解除動作を行う。
The support members 9 and 10 described above have the wheels 4a, ..., 5a,
... and the like, and a reciprocating motion is performed synchronously on the guide rails 2 and 3 by a drive device (not shown), and a supporting member that advances from the rear in the vicinity of both ends of the guide rails 2 and 3 advances to the front. Slightly earlier, for example, it is stopped by a stopper (not shown) and stopped to slightly widen the gap between the gripping claws to perform a wafer gripping or releasing operation.

第5図は、この実施例のウエハ搬送装置をイオン注入
装置11のインプラントチャンバー12内に配設した例を示
すものである。
FIG. 5 shows an example in which the wafer transfer apparatus of this embodiment is arranged in the implant chamber 12 of the ion implantation apparatus 11.

同図において、ウエハ保持装置の支持部材9、10は、
それぞれ同期して動作する駆動手段例えばステッピング
モータあるいはブラシレスDCモータ等によりベルト等を
介して図示を省略したガイドレール上を往復動される。
In the figure, the supporting members 9 and 10 of the wafer holding device are
Each of them is reciprocally moved on a guide rail (not shown) via a belt or the like by a driving means such as a stepping motor or a brushless DC motor which operates in synchronization with each other.

この実施例において、例えば5図の右側の真空予備室
から導入されたウエハW1を中央のプラテン13上に移送す
るとともにプラテン13上にあるウエハW2を左側に移送す
る場合には、支持部材9、10は、それぞれ左あるいは右
方向に僅かだけ移動して把持爪8a、8b、7a、7bでウエハ
W1、W2を挟持する。次に支持部材9、10は、左方向に移
動し、それぞれ右および左方向に僅かだけ移動して把持
爪8a、8b、7a、7bで挟持していたウエハW1、W2を解放す
る。このときのウエハW2の位置を破線で示す。逆の場合
(左および中央位置にあるウエハをそれぞれ中央および
右側位置に移す場合)には上記と逆の動作が行われて、
左および中央位置にあるウエハをそれぞれ中央および右
側位置に移される。
In this embodiment, for example, when the wafer W 1 introduced from the vacuum preparatory chamber on the right side of FIG. 5 is transferred to the central platen 13 and the wafer W 2 on the platen 13 is transferred to the left side, 9 and 10 are slightly moved to the left or right, respectively, and are held by the gripping claws 8a, 8b, 7a and 7b.
Holds W 1 and W 2 . Next, the support members 9 and 10 move to the left and slightly to the right and left respectively to release the wafers W 1 and W 2 held by the gripping claws 8a, 8b, 7a and 7b. The position of the wafer W 2 at this time is shown by a broken line. In the opposite case (when the wafers at the left and center positions are moved to the center and right positions, respectively), the reverse operation is performed,
Wafers in the left and center positions are moved to the center and right positions, respectively.

[発明の効果] 以上説明したように本発明のウエハ搬送装置は、ウエ
ハ保持装置が案内車に装着されてガイドレール上を走行
するので円滑にかつ高速で左右両方向にウエハの搬送を
行うことができ、また上記のガイドレールと搬送車の車
輪がそれぞれ耐摩耗性のセラミックスと潤滑性の高いフ
ッ素樹脂からなるので摩耗によるパーティクルの発生は
極めて少くなる。
EFFECTS OF THE INVENTION As described above, in the wafer transfer device of the present invention, the wafer holding device is mounted on the guide wheel and travels on the guide rails, so that the wafer can be transferred smoothly and at high speed in both left and right directions. Moreover, since the guide rail and the wheels of the carrier are made of wear-resistant ceramics and fluorocarbon resin having high lubricity, the generation of particles due to wear is extremely small.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の一実施例の正面図、第2図はその平面
図、第3図は第1図のIII-III線に沿う側断面図、第4
図は第2図のIV-IV線に沿う把持爪の断面図、第5図は
この実施例をイオン注入装置のインプラントチャンバー
内に配設した状態を概略的に示す平面図である。 1……ウエハ搬送装置、2、3……セラミックス製ガイ
ドレール、4a、4b、4c、5a、5b、5c2、3……フッ素樹
脂製の車輪、6……案内車、7、8……ウエハ保持装
置、9、10……支持部材、11……イオン注入装置、12…
…インプラントチャンバー、13……プラテン
1 is a front view of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view thereof, FIG. 3 is a side sectional view taken along line III-III of FIG. 1, and FIG.
FIG. 5 is a sectional view of the gripping claw taken along the line IV-IV in FIG. 2, and FIG. 5 is a plan view schematically showing a state in which this embodiment is arranged in the implant chamber of the ion implantation apparatus. 1 ... Wafer transfer device 2, 3 ... Ceramic guide rails, 4a, 4b, 4c, 5a, 5b, 5c2, 3 ... Fluorine resin wheels, 6 ... Guide wheel, 7, 8 ... Wafer Holding device, 9, 10 ... Supporting member, 11 ... Ion implantation device, 12 ...
… Implant chamber, 13 …… Platen

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/265 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Internal reference number FI technical indication H01L 21/265

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】半導体製造装置内に配設されたセラミック
スからなるガイドレールと、このガイドレール上を走行
するセラミックス又は合成樹脂からなる車輪を備えた案
内車と、この案内車に装着されたウエハ保持装置と、前
記案内車を駆動する駆動装置とを有することを特徴とす
るウエハ搬送装置。
1. A guide rail made of ceramics arranged in a semiconductor manufacturing apparatus, a guide wheel equipped with wheels made of ceramics or synthetic resin and running on the guide rail, and a wafer mounted on the guide wheel. A wafer transfer device comprising a holding device and a drive device for driving the guide wheel.
【請求項2】半導体製造装置がイオン注入装置である特
許請求の範囲第1項記載のウエハ搬送装置。
2. The wafer transfer apparatus according to claim 1, wherein the semiconductor manufacturing apparatus is an ion implantation apparatus.
JP61146632A 1986-06-23 1986-06-23 Wafer transfer device Expired - Fee Related JPH0828412B2 (en)

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