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JPH0830695B2 - Liquid chromatograph / mass spectrometer - Google Patents
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JPH0830695B2 - Liquid chromatograph / mass spectrometer - Google Patents

Liquid chromatograph / mass spectrometer

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JPH0830695B2
JPH0830695B2 JP63332977A JP33297788A JPH0830695B2 JP H0830695 B2 JPH0830695 B2 JP H0830695B2 JP 63332977 A JP63332977 A JP 63332977A JP 33297788 A JP33297788 A JP 33297788A JP H0830695 B2 JPH0830695 B2 JP H0830695B2
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JP
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ion
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mass
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、液体クロマトグラフ・質量分析装置(LC-M
S)に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial field of application) The present invention relates to a liquid chromatograph / mass spectrometer (LC-M).
S).

(従来の技術) 飛行時間型質量分析法は、印加電圧とイオンの電荷に
より与えられるエネルギーにより、イオンを同時に加速
させた時に、質量が大きいほど加速される速度が小さ
く、検出器に到達するまでにかかる時間が長くなるとい
うことを利用して、イオンが検出器に到達する時間によ
ってその質量の分析を行うもので、従って、イオンを同
時に、かつ、パルス的に(断続して)加速する必要があ
るが、このようなパルスイオン化法が可能な方式として
レーザ照射イオン化法が用いられている。しかし、レー
ザイオン化方式ではイオン化できる試料が限定されると
いう問題がある。
(Prior Art) Time-of-flight mass spectrometry is based on the energy provided by the applied voltage and the charge of the ions, and when the ions are simultaneously accelerated, the larger the mass, the smaller the acceleration speed, Is used to analyze the mass of an ion by the time it takes for the ion to reach the detector. Therefore, it is necessary to accelerate the ions simultaneously and in a pulsed manner (intermittently). However, the laser irradiation ionization method is used as a method capable of such pulse ionization method. However, the laser ionization method has a problem that a sample that can be ionized is limited.

一方、LC-MSにおいて、試料(流出溶液)をイオン化
する方法として、流出溶液を気化させた後、フィラメン
トから放出される電子を試料ガス分子に衝突させる電子
衝撃イオン化法、電圧を印加した電極先端に形成される
コロナ放電によりイオン化させるディスチャージイオン
化法などもあるが、しかし、このようなイオン化法では
連続的にイオン化が行われるので、飛行時間型質量分析
法に適用することは困難であった。
On the other hand, in LC-MS, as a method of ionizing the sample (outflow solution), after the outflow solution is vaporized, an electron impact ionization method in which electrons emitted from the filament collide with sample gas molecules, a voltage applied electrode tip There is also a discharge ionization method in which ionization is performed by a corona discharge formed in 1. However, since such an ionization method continuously performs ionization, it was difficult to apply it to time-of-flight mass spectrometry.

加えて、色々なイオン化手段を選択可能にしようとす
ると、それらイオン化手段によるイオン生成空間を共通
にする必要があって、選択できるイオン化法が限定さ
れ、構造的にも複雑になるという問題もあった。
In addition, when trying to make various ionizing means selectable, it is necessary to make the ion generation space by these ionizing means common, which limits the ionization methods that can be selected, and there is also the problem that the structure becomes complicated. It was

(発明が解決しようとする課題) そこで本発明は、飛行時間型質量分析装置で、構造的
にも複雑になることがなく、レーザイオン化法以外のイ
オン化法も適用可能にして、分析可能な試料範囲を拡大
することを目的とする。
(Problems to be Solved by the Invention) Therefore, the present invention is a time-of-flight mass spectrometer that does not become structurally complicated, and enables ionization methods other than the laser ionization method to be applied to analyze samples. The purpose is to extend the range.

(課題を解決するための手段) 本発明は、液体クロマトグラフのカラムにベーパライ
ザを介して接続される試料イオン化室と、このイオン化
室よりイオン導入口を介して導入されたイオンを飛行時
間型質量分析法により質量分析する質量分析手段とより
なり、イオン化室内であってベーパライザが形成する噴
流の軸方向に沿って、かつ、その噴流を挟んでイオン導
入口の対向側に、試料にレーザを照射するレーザ照射手
段、試料をイオン化する電子を放射するフィラメント、
ディスチャージイオン化法により試料をイオン化するデ
ィスチャージ電極をこの順に並べて付設し、同じく噴流
を挟んでイオン導入口に対向した位置であってディスチ
ャージ電極部にリペラ電極を配置し、電子衝撃イオン化
法、ディスチャージイオン化法、レーザイオン化法の各
種イオン化法を選択して実施可能状態にする選択手段を
備えると共に、その印加電圧がパルス的にカットされる
イオンビーム偏向電極をイオン導入口と質量分析手段と
の間に配置したものである。
(Means for Solving the Problems) The present invention relates to a sample ionization chamber connected to a column of a liquid chromatograph via a vaporizer, and an ion introduced from the ionization chamber via an ion inlet to a time-of-flight mass. The sample is irradiated with a laser in the ionization chamber along the axial direction of the jet formed by the vaporizer and on the opposite side of the ion introduction port across the jet. Laser irradiation means, a filament that emits electrons that ionize the sample,
Discharge electrodes for ionizing the sample by the discharge ionization method are arranged in this order, and a repeller electrode is arranged in the discharge electrode section at a position facing the ion introduction port across the jet flow, and electron impact ionization method, discharge ionization method And a selection means for selecting various ionization methods of the laser ionization method so as to enable the ionization method, and arranging an ion beam deflection electrode whose applied voltage is cut in a pulsed manner between the ion introduction port and the mass analysis means. It was done.

(作用) 従って、ベーパライザにより形成される噴流に沿わせ
て並べた各種のイオン化手段でその噴流内にイオンを生
成させ、噴流によって生成されたイオンを所定の空間ま
で運ぶので、選択できるイオン化法も自由になり、各種
イオン化手段のイオン生成空間を共通にする必要がな
く、イオン化室の構造も簡単にできる。
(Operation) Therefore, various ionizing means arranged along the jet flow formed by the vaporizer generate ions in the jet flow and carry the ions generated by the jet flow to a predetermined space. It becomes free, and it is not necessary to share the ion generation space of various ionization means, and the structure of the ionization chamber can be simplified.

また、飛行時間型質量分析装置では、イオンを同時
に、かつ、パルス的に加速する必要があるが、レーザイ
オン化法以外のパルス的にイオン化することが難しい電
子衝撃イオン化法、ディスチャージイオン化法を実施す
る場合には、イオン導入口と質量分析手段との間に配置
されているイオンビーム偏向電極の印加電圧をごく短時
間カットし、イオン化室でイオン化されイオン導入口よ
りイオンビーム偏向電極間を通って質量分析空間に入射
するイオンビームをパルス変調するようにしている。
Further, in the time-of-flight mass spectrometer, it is necessary to accelerate ions simultaneously and in a pulsed manner, but an electron impact ionization method or a discharge ionization method other than the laser ionization method, which is difficult to be pulsed, is carried out. In this case, the voltage applied to the ion beam deflecting electrode disposed between the ion introducing port and the mass spectrometric means is cut for a very short time, and ionized in the ionization chamber to pass through between the ion beam deflecting electrodes from the ion introducing port. The ion beam incident on the mass analysis space is pulse-modulated.

(実施例) 図面に本発明の一実施例を示す。(Embodiment) An embodiment of the present invention is shown in the drawings.

Iはイオン化室で、1はLCから流出してくる試料溶液
を加熱気化するベーパライザで、内径の異なるものを用
いることにより、摩擦によるイオン化も合わせ行うサー
モスプレーイオン化用プローブと交換可能である。2は
イオン化室内Iであってベーパライザ1が形成する噴流
の軸方向に沿って、かつ、その噴流を挟んでイオン導入
口6の対向側に付設されたレーザ銃で、レーザ光を窓3
を透過してベーパライザ1から出てくる試料溶液に集中
的に照射することにより、試料溶液を気化すると共にイ
オン化するか、気化された試料をイオン化する。レーザ
光の照射位置はできるだけベーパライザ出口近傍がよ
い。
I is an ionization chamber, and 1 is a vaporizer for heating and evaporating the sample solution flowing out from the LC, which can be replaced with a thermospray ionization probe that also performs ionization by friction by using different vaporizers. Reference numeral 2 denotes a laser gun attached to the ionization chamber I along the axial direction of the jet flow formed by the vaporizer 1 and on the opposite side of the ion introduction port 6 with the jet flow interposed therebetween.
By concentrically irradiating the sample solution that has passed through the column and exited from the vaporizer 1, the sample solution is vaporized and ionized, or the vaporized sample is ionized. The irradiation position of the laser light is preferably near the exit of the vaporizer.

4、5は同じくイオン化室内Iであってベーパライザ
1が形成する噴流の軸方向に沿って、かつ、その噴流を
挟んでイオン導入口6の対向側に付設されたフィラメン
ト及びディスチャージ電極で、フィラメント4はイオン
化室Iに対し負電圧が印加され、電子を気化された試料
に衝突させてイオン化する。また、ディスチャージ電極
5はコロナ放電により試料をイオン化させる。Rは噴流
を挟んでイオン導入口6に対向した位置であってディス
チャージ電極5部に配置されたリペラ電極で、イオンを
イオン導入口6より質量分析手段側へ押出す。7はイオ
ン化室Iでイオン化されイオン導入口6を通して押出さ
れたイオンを飛行時間型質量分析器M内に導入するイオ
ン導入収束レンズ系、8はイオンビーム偏向電極で、通
常は電圧を印加して導入されたイオンを偏向して質量分
析器Mにイオンが入射しないようにしておき、分析を行
う時だけ、ごく短時間電圧をカットして質量分析器Mに
イオンを導入するようにしている。9はイオンを加速さ
せる加速電極、10はイオンを検出する検出器である。
Similarly, reference numerals 4 and 5 are a filament and a discharge electrode attached to the ionization chamber I along the axial direction of the jet formed by the vaporizer 1 and on the opposite side of the ion introduction port 6 across the jet. Is applied with a negative voltage to the ionization chamber I, causing electrons to collide with the vaporized sample to be ionized. Further, the discharge electrode 5 ionizes the sample by corona discharge. R is a repeller electrode located at the position of the discharge electrode 5 facing the ion introducing port 6 with the jet flow interposed therebetween, and pushes out the ions from the ion introducing port 6 toward the mass spectrometric means. Reference numeral 7 is an iontophoresis focusing lens system for introducing ions ionized in the ionization chamber I and extruded through the ion introduction port 6 into the time-of-flight mass spectrometer M. Reference numeral 8 is an ion beam deflection electrode, which is usually applied with a voltage. The introduced ions are deflected so that the ions do not enter the mass analyzer M, and the voltage is cut for a very short time to introduce the ions into the mass analyzer M only when the analysis is performed. Reference numeral 9 is an accelerating electrode for accelerating the ions, and 10 is a detector for detecting the ions.

次に測定動作について説明する。レーザ光のみでイオ
ン化する時はレーザ光をパルス的にベーパライザ1の出
射開口付近に照射し、ベーパライザ1から流出する試料
溶液をイオン化する。レーザ光によりイオン化されたイ
オンはリペラ電極Rによりイオン化室Iからイオン導入
口6を通して押出され、イオン導入収束レンズ系7によ
りイオンビーム偏向電極8間を通過し、加速電極9で加
速されて質量分析空間に入射される。
Next, the measurement operation will be described. When only the laser beam is used for ionization, the laser beam is irradiated in a pulsed manner in the vicinity of the exit opening of the vaporizer 1 to ionize the sample solution flowing out from the vaporizer 1. Ions ionized by the laser light are extruded from the ionization chamber I by the repeller electrode R through the ion introduction port 6, pass between the ion beam deflection electrodes 8 by the ion introduction converging lens system 7, and are accelerated by the acceleration electrode 9 to be subjected to mass spectrometry. It is incident on the space.

質量数m、電荷Z、印加電圧Vとすると、イオンが加
速される速度vは、 となり、V/mの大きいイオンから順に検出器10で検出さ
れることとなり、検出時間によって質量分析が行われ
る。
Assuming that the mass number is m, the charge is Z, and the applied voltage is V, the velocity v at which the ions are accelerated is Therefore, the ions having the highest V / m are detected in order by the detector 10, and the mass spectrometry is performed according to the detection time.

ベーパライザ1、フィラメント4及びディスチャージ
電極5を用いて試料をイオン化する時は、イオン化が連
続的に行われるので、イオンビーム偏向電極8の印加電
圧をパルス的にカットし、イオン化されたイオンをパル
ス変調して質量分析器Mに短時間の間だけ入射させる。
When the sample is ionized by using the vaporizer 1, the filament 4 and the discharge electrode 5, the ionization is continuously performed. Therefore, the voltage applied to the ion beam deflection electrode 8 is pulse-cut, and the ionized ion is pulse-modulated. Then, it is incident on the mass spectrometer M for a short time.

(発明の効果) 試料により夫々適したイオン化法があるが、本発明に
よれば、多種のイオン化法を選択でき、従って、試料の
種類の制限なしに高感度の飛行時間型質量分析法を利用
することができ、質量分析の測定精度及び感度が向上し
た。
(Effects of the Invention) Although there are ionization methods suitable for each sample, according to the present invention, various ionization methods can be selected. Therefore, a highly sensitive time-of-flight mass spectrometric method can be used without limitation on the type of sample. It is possible to improve the measurement accuracy and sensitivity of mass spectrometry.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

図は本発明の一実施例の構成図である。 I……イオン化室、M……飛行時間型質量分析器、R…
…リペラ電極、1……ベーパライザ、2……レーザ銃、
3……窓、4……フィラメント、5……ディスチャージ
電極、6……イオン導入口、7……イオン導入収束レン
ズ系、8……偏向電極、9……加速電極、10……検出器
The figure is a block diagram of an embodiment of the present invention. I ... Ionization chamber, M ... Time-of-flight mass spectrometer, R ...
... repeller electrode, 1 ... vaporizer, 2 ... laser gun,
3 ... Window, 4 ... Filament, 5 ... Discharge electrode, 6 ... Ion introducing port, 7 ... Ion introducing converging lens system, 8 ... Deflection electrode, 9 ... Accelerating electrode, 10 ... Detector

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】液体クロマトグラフのカラムにベーパライ
ザを介して接続される試料イオン化室と、このイオン化
室よりイオン導入口を介して導入されたイオンを飛行時
間型質量分析法により質量分析する質量分析手段とより
なり、前記試料イオン化室内であって前記ベーパライザ
が形成する噴流の軸方向に沿って、かつ、その噴流を挟
んで前記イオン導入口の対向側に、試料にレーザを照射
するレーザ照射手段、試料をイオン化する電子を放射す
るフィラメント、ディスチャージイオン化法により試料
をイオン化するディスチャージ電極をこの順に並べて付
設し、同じく前記噴流を挟んで前記イオン導入口に対向
した位置であって前記ディスチャージ電極部にリペラ電
極を配置し、電子衝撃イオン化法、ディスチャージイオ
ン化法、レーザイオン化法の各種イオン化法を選択して
動作可能状態にする選択手段を備えると共に、前記イオ
ン導入口と前記質量分析手段との間にその印加電圧がパ
ルス的にカットされるイオンビーム偏向電極を配置した
ことを特徴とする液体クロマトグラフ・質量分析装置。
1. A sample ionization chamber connected to a column of a liquid chromatograph via a vaporizer, and a mass spectrometry for mass-analyzing ions introduced from this ionization chamber through an ion introducing port by time-of-flight mass spectrometry. Means for irradiating the sample with laser along the axial direction of the jet formed by the vaporizer in the sample ionization chamber and on the opposite side of the ion introduction port across the jet. , A filament that emits electrons that ionize the sample, and a discharge electrode that ionizes the sample by the discharge ionization method are arranged side by side in this order, and also at the position facing the ion introduction port across the jet flow and at the discharge electrode portion. A repeller electrode is placed, and electron impact ionization method, discharge ionization method, laser An ion beam deflecting electrode whose applied voltage is cut in a pulsed manner between the ion introducing port and the mass spectrometric means. A liquid chromatograph / mass spectrometer characterized by being arranged.
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001033605A2 (en) * 1999-10-29 2001-05-10 Rijksuniversiteit Groningen Atmospheric pressure photoionization (appi): a new ionization method for liquid chromatography-mass spectrometry
WO2005104181A1 (en) * 2004-03-30 2005-11-03 Yamanashi Tlo Co., Ltd. Ionizing method and device for mass analysis
US7034291B1 (en) * 2004-10-22 2006-04-25 Agilent Technologies, Inc. Multimode ionization mode separator
JP4958258B2 (en) 2006-03-17 2012-06-20 株式会社リガク Gas analyzer
JP4825028B2 (en) * 2006-03-17 2011-11-30 浜松ホトニクス株式会社 Ionizer
JP2008209293A (en) * 2007-02-27 2008-09-11 Hitachi High-Tech Science Systems Corp Liquid chromatograph mass spectrometer
JP2010014539A (en) * 2008-07-03 2010-01-21 Tokyo Metropolitan Univ Liquid sample ionization method, mass spectrometry, and devices thereof
JP6103764B2 (en) * 2013-05-14 2017-03-29 国立大学法人福井大学 Mass analysis method and apparatus for sample solution

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58175250A (en) * 1982-04-07 1983-10-14 Hitachi Ltd Composite ion source
JPS61195554A (en) * 1985-02-22 1986-08-29 Shimadzu Corp Time of flight type mass spectrometer

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