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JPH0833344B2 - Densitometer - Google Patents
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JPH0833344B2 - Densitometer - Google Patents

Densitometer

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Publication number
JPH0833344B2
JPH0833344B2 JP20350986A JP20350986A JPH0833344B2 JP H0833344 B2 JPH0833344 B2 JP H0833344B2 JP 20350986 A JP20350986 A JP 20350986A JP 20350986 A JP20350986 A JP 20350986A JP H0833344 B2 JPH0833344 B2 JP H0833344B2
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JP
Japan
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light source
laser
spectroscope
densitometer
light
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健次 中村
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Shimadzu Corp
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59Transmissivity
    • G01N21/5907Densitometers
    • G01N21/5911Densitometers of the scanning type

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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は薄層プレート(TLC)や電気泳動ゲルの定量
測定に用いられ、光源からの光を分光器を経て試料プレ
ートに照射し、試料プレート上に分離された物質を定量
測定するデンシトメータに関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial field of application) The present invention is used for quantitative measurement of thin layer plates (TLC) and electrophoretic gels, and irradiates a sample plate with light from a light source through a spectroscope to obtain a sample. The present invention relates to a densitometer for quantitatively measuring substances separated on a plate.

(従来の技術) デンシトメータには光源として連続波長の連続光源を
用い分光器によって分光して試料に光照射を行なうシス
テムと、光源としてレーザを用いるシステムとがある。
(Prior Art) Densitometers include a system in which a continuous light source having a continuous wavelength is used as a light source and a sample is irradiated with light by a spectroscope, and a system in which a laser is used as a light source.

分解器と連続光源を用いるシステムは、 (1)任意の波長を測定光として使用でき、あらゆる場
合に使用できる、 (2)発色試薬による発色という前処理を省略できる、
というような長所をもつ反面、 (1)エネルギーの高い光源を得ることが難かしい、 (2)通常の分光器では迷光があるため、吸光度3.0以
上については測光値の直線性がない、などという短所を
もつ。
A system using a decomposer and a continuous light source can (1) use any wavelength as measurement light and can be used in any case. (2) pretreatment of coloring with a coloring reagent can be omitted.
Although it has such advantages, (1) it is difficult to obtain a light source with high energy, (2) normal spectroscope has stray light, and there is no linearity in the photometric value when the absorbance is 3.0 or more. It has disadvantages.

一方、レーザを光源として使用するデンシトメータ
は、 (1)エネルギーの高い光を得ることができる、 (2)単色性の高い光を得ることができるため吸光度5.
0以上の測定も可能である、という長所をもつ反面、 (1)試料を前処理によって着色し、特定の波長の光を
吸収するようにしなければならない、 (2)サンプル照射光を任意の形状にすることが難かし
い、などという短所をもつ。
On the other hand, a densitometer using a laser as a light source (1) can obtain light with high energy, and (2) can obtain light with high monochromaticity.
On the other hand, it has the advantage that it can measure 0 or more. (1) The sample must be colored by pretreatment so that it absorbs light of a specific wavelength. (2) Sample irradiation light of any shape. It is difficult to do so.

このように、分光器を用いたデンシトメータは汎用機
としての性格をもっているのに対し、レーザ光源を用い
たデンシトメータは特定物質に対する専用機としての性
格をもっているといえる。
Thus, it can be said that a densitometer using a spectroscope has a character as a general-purpose machine, whereas a densitometer using a laser light source has a character as a dedicated machine for a specific substance.

従来は連続光源と分光器を用いたデンシトメータと、
レーザを用いたデンシトメータとは互いに独立に存在し
ている。
Conventionally, a densitometer using a continuous light source and a spectroscope,
The densitometer using a laser exists independently of each other.

(発明が解決しようとする問題点) 試料プレートによっては連続光源と分光器を用いたデ
ンシトメータを使用する方が便利な場合もあり、逆にレ
ーザを用いたデンシトメータを使用する方が便利な場合
もある。しかしながら、従来は、汎用機としての性格と
専用機としての性格をともに備えたデンシトメータは存
在しないので、2種類の装置を用意しておく必要があ
る。
(Problems to be solved by the invention) Depending on the sample plate, it may be more convenient to use a densitometer using a continuous light source and a spectroscope, and conversely, it may be more convenient to use a densitometer using a laser. is there. However, conventionally, since there is no densitometer having both the characteristics of a general-purpose machine and the characteristics of a dedicated machine, it is necessary to prepare two types of devices.

本発明は、一台のデンシトメータで、連続光源と分光
器を用いた波長可変の汎用機としての性格と、レーザ光
源を用いた専用機としての性格とをともに達成すること
を目的とするものである。
The present invention, with one densitometer, is intended to achieve both the characteristics as a wavelength tunable general-purpose machine using a continuous light source and a spectroscope, and the characteristics as a dedicated machine using a laser light source. is there.

(問題点を解決するための手段) 本発明のデンシトメータでは、光源室に連続光源とレ
ーザとを備えるとともに、光源室にさらに連続光源選択
用の球面鏡とレーザ選択用の平面鏡とを切換え可能に備
え、分光器には分光素子を光路に着脱可能に備え、か
つ、分光器の出口スリットをレーザ光束より十分広い幅
に広げうる可変のものとした。
(Means for Solving Problems) In the densitometer of the present invention, the light source chamber is provided with a continuous light source and a laser, and the light source chamber is further provided with a spherical mirror for continuous light source selection and a plane mirror for laser selection so as to be switchable. In the spectroscope, a spectroscopic element is detachably attached to the optical path, and the exit slit of the spectroscope is variable so that it can be widened sufficiently wider than the laser beam.

(実施例) 図は本発明の一実施例の光学系を表わすものである。(Embodiment) The figure shows an optical system according to an embodiment of the present invention.

2は光源室であり、タングステンランプや重水素ラン
プなどの連続光源4と、レーザ6とが備えられている。
光源室2にはまた、光源切換え機構8が設けられ、光源
切換え機構8上に球面鏡10と平面鏡12が取りつけられて
いる。光源切換え機構8は回転して球面鏡10又は平面鏡
12を光源選択位置に移動させる。連続光源4を使用する
ときは、球面鏡10によって連続光源4の光を分光器14の
入口スリット16に集光させ、レーザ6を使用するときは
図のように平面鏡12でレーザ光を分光器の入口スリット
16に入射させる。
A light source chamber 2 is provided with a continuous light source 4 such as a tungsten lamp or a deuterium lamp and a laser 6.
A light source switching mechanism 8 is also provided in the light source chamber 2, and a spherical mirror 10 and a plane mirror 12 are mounted on the light source switching mechanism 8. The light source switching mechanism 8 rotates to rotate the spherical mirror 10 or the plane mirror.
Move 12 to the light source selection position. When the continuous light source 4 is used, the light from the continuous light source 4 is focused on the entrance slit 16 of the spectroscope 14 by the spherical mirror 10, and when the laser 6 is used, the laser light is reflected by the plane mirror 12 as shown in the figure. Entrance slit
Inject into 16.

分光器14では回折格子18と平面鏡20が切換え機構22に
よって切換えることができるようになっている。入口ス
リット16から入射した光は集光鏡24を経て回折格子18又
は平面鏡20に入射され、出口スリット26から出射する。
連続光源4を使用する場合は回折格子18を用いて分光器
を構成するが、レーザ6を使用する場合は平面鏡20を用
いて全エネルギーを使用する。レーザ光は高い平行性を
もっているが、現実には多少のビームの広がりをもって
いるため、長い光路を通すと大きな光束になってしま
う。そのため、分光器14の集光鏡24により入口スリット
16の位置の像を出口スリット26に結像するようにする。
In the spectroscope 14, the diffraction grating 18 and the plane mirror 20 can be switched by a switching mechanism 22. The light that has entered from the entrance slit 16 enters the diffraction grating 18 or the plane mirror 20 through the condenser mirror 24, and exits from the exit slit 26.
When the continuous light source 4 is used, the diffraction grating 18 is used to configure the spectroscope, while when the laser 6 is used, the plane mirror 20 is used to use all energy. Laser light has a high degree of parallelism, but in reality it has a slight spread of the beam, so it becomes a large light beam if it passes through a long optical path. Therefore, the entrance slit is made by the condenser mirror 24 of the spectroscope 14.
The image at the position of 16 is formed on the exit slit 26.

出口スリット26はその幅が可変であり、レーザ光を使
用する場合はその光束よりも十分広い幅を広げることに
よって、レーザ光の全エネルギーを使用する。
The width of the exit slit 26 is variable, and when using laser light, the entire energy of the laser light is used by expanding the width sufficiently wider than the light flux.

28は集光鏡であり、分光器の出口スリット26の像を試
料プレート30上に結像する。出口スリット26と集光鏡28
の間にはハーフミラー32が設けられている。出口スリッ
ト26を出た光の一部はハーフミラー32でモニター検出器
34に入射され、時間的エネルギー変動を補正する信号と
して利用される。
A condenser mirror 28 forms an image of the exit slit 26 of the spectroscope on the sample plate 30. Exit slit 26 and condensing mirror 28
A half mirror 32 is provided between them. A part of the light exiting the exit slit 26 is monitored by the half mirror 32.
It is incident on 34 and is used as a signal to correct temporal energy fluctuations.

試料プレート30に入射された光は、測定モードにより
反射光検出器36又は透過光検出器38により検出される。
The light incident on the sample plate 30 is detected by the reflected light detector 36 or the transmitted light detector 38 depending on the measurement mode.

上記の実施例は分光器に回折格子を用いた例を示して
いるが、回折格子を用いないフィルタ分光方式の場合に
も適用することができる。その場合、連続光源を用いる
ときは分光器で測定光がフィルタを透過するようにフィ
ルタを所定の位置に設置し、レーザを使用するときは測
定光がフィルタを透過しないようにフィルタを所定の位
置から除去するようにすればよい。
The above embodiment shows an example in which a diffraction grating is used for the spectroscope, but it can also be applied to the case of a filter spectroscopy method that does not use a diffraction grating. In that case, when using a continuous light source, install the filter at a predetermined position so that the measurement light passes through the filter with a spectroscope, and when using a laser, set the filter at the predetermined position so that the measurement light does not pass through the filter. Should be removed from.

(発明の効果) 本発明によれば、光源室に連続光源とレーザとを備え
て両光源を切り換えて使用できるようにし、連続光源を
使用する場合には分光器で分光素子を使用し、レーザを
使用する場合には分光器で分光素子を使用せずに全エネ
ルギーを使用するようにし、かつ、分光器の出口スリッ
トをレーザ光束より十分広い幅に広げるようにした。そ
の結果、連続光源を使用した汎用性に富む分光方式と、
レーザ光源を用いた専用性を同時に実現することができ
る。そして、測光方式やデータ処理は全く従来の汎用機
の機能と同じものを使用することができる。
According to the present invention, a continuous light source and a laser are provided in a light source chamber so that both light sources can be switched and used. When the continuous light source is used, a spectroscopic element is used in a spectroscope, and a laser is used. In case of using, the total energy is used in the spectroscope without using the spectroscopic element, and the exit slit of the spectroscope is widened sufficiently wider than the laser beam. As a result, a versatile spectroscopic method using a continuous light source,
Dedicatedness using a laser light source can be realized at the same time. The same photometric method and data processing as those of the conventional general-purpose machine can be used.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

図は本発明の一実施例の光学系を示す概略図である。 2……光源室、 4……連続光源、 6……レーザ、 8……切換え機構、 10……球面鏡、 12……平面鏡、 14……分光器、 18……回折格子、 20……平面鏡、 22……切換え機構、 26……出口スリット。 FIG. 1 is a schematic diagram showing an optical system according to an embodiment of the present invention. 2 ... Light source room, 4 ... Continuous light source, 6 ... Laser, 8 ... Switching mechanism, 10 ... Spherical mirror, 12 ... Plane mirror, 14 ... Spectroscope, 18 ... Diffraction grating, 20 ... Plane mirror, 22 …… Switching mechanism, 26 …… Exit slit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】光源室の光源からの光を分光器に経て試料
プレートに照射し、試料プレート上に分離された物質を
定量測定するデンシトメータにおいて、前記光源室に連
続光源とレーザとを備えるとともに、光源室にさらに連
続光源選択用の球面鏡とレーザ選択用の平面鏡とを切換
え可能に備え、前記分光器には分光素子を光路に着脱可
能に備え、かつ、前記分光器の出口スリットをレーザ光
束より十分広い幅に広げうる可変のものとしたデンシト
メータ。
1. A densitometer for quantitatively measuring a substance separated on a sample plate by irradiating a sample plate with light from a light source in the light source chamber, the continuous light source and a laser being provided in the light source chamber. In the light source chamber, a spherical mirror for continuous light source selection and a plane mirror for laser selection are switchably provided, a spectroscopic element is detachably provided in an optical path in the spectroscope, and an exit slit of the spectroscope is provided with a laser beam. A variable densitometer that can be expanded to a sufficiently wider width.
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US6927859B2 (en) * 2001-03-08 2005-08-09 The Hong Kong Polytechnic University Microdensitometer system with micrometer resolution for reading radiochromic films
JP3958134B2 (en) * 2002-07-12 2007-08-15 キヤノン株式会社 measuring device
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