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JPH0834184B2 - Electrode of plasma CVD device - Google Patents
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JPH0834184B2 - Electrode of plasma CVD device - Google Patents

Electrode of plasma CVD device

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JPH0834184B2
JPH0834184B2 JP62017797A JP1779787A JPH0834184B2 JP H0834184 B2 JPH0834184 B2 JP H0834184B2 JP 62017797 A JP62017797 A JP 62017797A JP 1779787 A JP1779787 A JP 1779787A JP H0834184 B2 JPH0834184 B2 JP H0834184B2
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plasma cvd
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は基板に薄膜を形成するプラズマCVD装置に係
り、特に薄膜製造工程の効率化を向上できるように工夫
したプラズマCVD装置の電極に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a plasma CVD apparatus for forming a thin film on a substrate, and more particularly to an electrode of the plasma CVD apparatus devised so as to improve the efficiency of the thin film manufacturing process.

従来の技術 プラズマCVD装置は、チャンバ内にそれぞれ配設した
高周波電極と基板ホルダとから成る電極対に高周波電力
を供給するとともに、生成ガスをチャンバ内に導入する
ことにより、電極対の間隙にプラズマ放電を生じせしめ
て、基板ホルダに載置してある基板に薄膜を形成する装
置である。
2. Description of the Related Art A plasma CVD apparatus supplies high-frequency power to an electrode pair consisting of a high-frequency electrode and a substrate holder respectively arranged in the chamber and introduces a generated gas into the chamber so that a plasma is generated in the gap between the electrode pair. It is an apparatus that causes a discharge to form a thin film on a substrate placed on a substrate holder.

さらに詳しく説明すると、高周波電極における基板対
向面以外の部分は、導体のシールド枠体に略包囲されて
いて、このシールド枠体を基板ホルダと同電位にするこ
とにより、プラズマを電極対の間隙方向にだけ形成する
ようにしていた。
More specifically, the portion of the high-frequency electrode other than the substrate facing surface is substantially surrounded by the shield frame body of the conductor, and by setting this shield frame body to the same potential as the substrate holder, plasma is generated in the gap direction of the electrode pair. I was only trying to form.

ところで光学的及び電気的に同一特性を有する基板を
製造するには、薄膜に関してその膜厚を均一にしなけれ
ばならない。これには基板の面方向にわたる高周波電界
の安定、つまりプラズマ密度の均一を必要とするが、こ
れを行うことは困難であるので、電極対の間隙において
平行電界が形成される面中央部に基板を配置することに
より、薄膜の均一化を図るようにしていた。
By the way, in order to manufacture a substrate having the same optical and electrical characteristics, the film thickness of the thin film must be uniform. This requires stabilization of the high-frequency electric field across the surface of the substrate, that is, uniform plasma density, but it is difficult to do so. Was arranged so that the thin film could be made uniform.

発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上記従来の方式では以下述べるような
問題がある。つまり薄膜製造工程の効率向上の見地から
電極対面積に対する基板の有効面積又は高周波電力の供
給量をより大きくしたいという要求があるが、前者の場
合には上述したように薄膜の均一という観点からの制限
を受ける。即ちチャンバ自体を大型化する以外には基板
の有効面積を大きくすることができない。後者の場合に
は間隙の開面からプラズマが発散して上述した平行電界
が乱れ薄膜の不均一ということにつながる。さらにプラ
ズマの活性種が基板以外、例えばプラズマ状態を観察す
るのぞき窓等に付着し汚れるという不都合もある。従っ
て従来のプラズマCVD装置の電極では、薄膜製造工程の
効率を現状以上に向上させるというのは困難である。
Problems to be Solved by the Invention However, the above-mentioned conventional methods have the following problems. That is, from the viewpoint of improving the efficiency of the thin film manufacturing process, there is a demand to increase the effective area of the substrate or the supply amount of high-frequency power with respect to the electrode pair area, but in the case of the former, from the viewpoint of uniform thin film as described above. Be restricted. That is, the effective area of the substrate cannot be increased except for increasing the size of the chamber itself. In the latter case, plasma diverges from the open surface of the gap and the above-mentioned parallel electric field is disturbed, leading to non-uniformity of the thin film. Further, there is a disadvantage that the active species of the plasma adhere to and are contaminated with other than the substrate, for example, the observation window for observing the plasma state. Therefore, it is difficult to improve the efficiency of the thin film manufacturing process with the electrodes of the conventional plasma CVD apparatus more than the current level.

本発明は上記事情に鑑みて創案されたものであって、
薄膜製造工程の効率化を図ることができるプラズマCVD
装置の電極を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances,
Plasma CVD that can improve efficiency of thin film manufacturing process
It is intended to provide an electrode for a device.

問題点を解決するための手段 本発明に係るプラズマCVD装置の電極構造は、基板ホ
ルダと同一電位にしてあり、高周波電極の側面側を包囲
するシールド枠体と、これと対をなす突起枠又は溝枠で
あって、基板ホルダの基板周囲近傍に設けてある枠部
と、電極対の間隙の開面を包囲すべく、基板ホルダ又は
シールド枠を移動させてシールド枠体と枠体とを近接さ
せる近接移動手段とを有している。この近接移動手段と
はシリンダ等により行うものである。
Means for Solving the Problems The electrode structure of the plasma CVD apparatus according to the present invention has the same potential as that of the substrate holder and surrounds the side surface of the high frequency electrode with a shield frame, and a projecting frame or a pair of shield frames. The groove frame, which is provided in the vicinity of the substrate periphery of the substrate holder and the substrate holder or the shield frame is moved so as to surround the open surface of the gap between the electrode pair, and the shield frame body and the frame body are brought close to each other. And a proximity moving means for moving. The proximity moving means is a means such as a cylinder.

作用 枠部とシールド枠体とを近接移動手段により近接させ
て、電極対における間隙の開面を包囲した状態におい
て、プラズマ放電を生じせしめた場合には、包囲してい
る枠部及びシールド枠体は基板ホルダと同一電位にして
いることに伴うシールド効果により、発生したプラズマ
は電極対の間隙に閉じ込められることになる。
When the frame portion and the shield frame body are brought close to each other by the proximity moving means to enclose the open surface of the gap in the electrode pair and plasma discharge is caused, the surrounding frame portion and the shield frame body The generated plasma is confined in the gap between the electrode pair due to the shield effect of keeping the same potential as that of the substrate holder.

実施例 第1図は本発明に係るプラズマCVD装置の電極の一実
施例を示すチャンバの簡略断面図であり、第1図(a)
はシールド枠体と枠部とが近接している状態での簡略断
面図、第1図(b)はシールド枠体と枠部とが近接して
いない状態での簡略断面図である。
Example FIG. 1 is a schematic sectional view of a chamber showing an example of an electrode of a plasma CVD apparatus according to the present invention, and FIG.
Is a simplified cross-sectional view when the shield frame body and the frame portion are close to each other, and FIG. 1B is a simplified cross-sectional view when the shield frame body and the frame portion are not close to each other.

ここに説明するプラズマCVD装置は、インライン式で
あって、チャンバ10内には生成ガス導入機構を有する高
周波電極20と基板ホルダ30とが互いに対向して配置して
ある。これらは電極対を構成する。高周波電極20はチャ
ンバ10に電気絶縁された状態で固定されており、基板ホ
ルダ30は基板32を載置した搬送台車であって、この下部
の四隅に取付けられている車輪31(奥側の2個が図示さ
れている)をチャンバ10の下部に配設してある2つのレ
ール16で規制させ図におい手前方向に移動可能にしてあ
る。またこれはレール16を介してチャンバ10と同電位に
なるようにしてある。さらにチャンバ10の側面には真空
排気系用の排気口13が設けてあり、高周波電極20と対向
した位置のチャンバ10の下面には、基板32を加熱する加
熱ユニット17が設けてある。そしてプラズマCVD装置を
動作させる時には、電極対に高周波電力が供給され、と
同時に高周波電極20の基板対向面に開設してあるガス導
入孔2121を介して生成ガスが供給されるようにしてあ
る。高周波電力を供給する電源は図示されていないが、
電源の基準電位側はチャンバ10及び基板ホルダ30に、一
方の出力電位側は高周波電極20に接続してある。
The plasma CVD apparatus described here is an in-line type, and a high frequency electrode 20 having a generated gas introduction mechanism and a substrate holder 30 are arranged in the chamber 10 so as to face each other. These form an electrode pair. The high-frequency electrode 20 is fixed to the chamber 10 in an electrically insulated state, and the substrate holder 30 is a carrier truck on which a substrate 32 is placed. (Individually shown) are regulated by two rails 16 arranged in the lower part of the chamber 10 so that they can be moved in the front direction in the drawing. Further, this is made to have the same potential as the chamber 10 via the rail 16. Further, an exhaust port 13 for a vacuum exhaust system is provided on the side surface of the chamber 10, and a heating unit 17 for heating a substrate 32 is provided on the lower surface of the chamber 10 facing the high frequency electrode 20. When the plasma CVD apparatus is operated, high frequency power is supplied to the electrode pair, and at the same time, the generated gas is supplied through the gas introduction hole 2121 formed in the substrate facing surface of the high frequency electrode 20. A power supply for supplying high frequency power is not shown,
The reference potential side of the power source is connected to the chamber 10 and the substrate holder 30, and one output potential side is connected to the high frequency electrode 20.

さらに詳しく説明すると高周波電極20は、上記電極板
211と下部電極板により区切られた2つの空間を有する
電極部21と、この上面中央部に溶接されている電極棒22
とを備えている。この電極棒22の内部には図示されてい
ないが生成ガス導入管が配設してある。そしてこれによ
り導かれた生成ガスは、電極部21の中央上部に開設して
あるガス取り入れ口113を通過後、上部電極板211、下部
電極板212にそれぞれ開設してあるガス導入孔2111、212
1を順次通過して間隙70に導入される。また生成ガスの
流量安定化を図るために、ガス導入孔2111、2121は互い
に位相のずれた位置関係にしてある。この高周波電極20
はチャンバ10に溶接されているシールド枠体40を介して
取付けられていて、チャンバ10の上部に開設してある開
口14にシールド枠体40の筒体部41を挿入して溶接し、そ
して電極棒22を真空シール15を介して筒体部41の内側に
挿入することにより、高周波電極20をチャンバ10に固定
するようにしてある。さらに真空シール15に関し絶縁体
のものを使用するようにして、チャンバ10と高周波電極
20とを互いに電気絶縁するようにしてある。シールド枠
体40の詳しいことについては後述する。
More specifically, the high frequency electrode 20 is the electrode plate
An electrode portion 21 having two spaces separated by 211 and a lower electrode plate, and an electrode rod 22 welded to the central portion of the upper surface of the electrode portion 21.
It has and. Although not shown, a generated gas introduction pipe is provided inside the electrode rod 22. Then, the generated gas guided thereby passes through the gas intake port 113 formed at the upper center of the electrode portion 21, and then the gas introduction holes 2111 and 212 formed in the upper electrode plate 211 and the lower electrode plate 212, respectively.
1 are sequentially passed and introduced into the gap 70. Further, in order to stabilize the flow rate of the generated gas, the gas introduction holes 2111 and 2121 have a positional relationship in which the phases are shifted from each other. This high frequency electrode 20
Is attached via a shield frame body 40 welded to the chamber 10, the cylindrical body portion 41 of the shield frame body 40 is inserted into the opening 14 formed in the upper portion of the chamber 10 and welded, and the electrode The high frequency electrode 20 is fixed to the chamber 10 by inserting the rod 22 inside the cylindrical body portion 41 via the vacuum seal 15. In addition, the vacuum seal 15 should be made of an insulating material so that the chamber 10 and the high frequency electrode
20 and 20 are electrically insulated from each other. Details of the shield frame body 40 will be described later.

ところでプラズマCVD装置は、基板ホルダ30を高周波
電極20の所定位置にまで搬送させ、この状態においてプ
ラズマ放電を行うものであるが、かかる発明は、この電
極対の間隙に発生したプラズマをこの空間に閉じ込める
ためになされたもので、以下このプラズマCVD装置の電
極について説明する。
By the way, the plasma CVD apparatus conveys the substrate holder 30 to a predetermined position of the high-frequency electrode 20 and performs plasma discharge in this state.However, according to the invention, the plasma generated in the gap between the electrode pair is discharged in this space. The electrode of this plasma CVD apparatus will be described below.

この基本構成は、高周波電極20において基板対向以外
を略包囲するシールド枠体40と、これと対を成す突起枠
であって、基板ホルダ30上の基板32周囲近傍に設けてあ
る枠部50と、間隙70の開面を包囲すべく、基板ホルダ30
を上下移動させ、シールド枠体40と枠部50とを近接させ
る近接移動手段としてのシリンダ60とからなる。シール
ド枠体40及び枠部50は共に導体である。
This basic configuration includes a shield frame 40 that substantially surrounds the high-frequency electrode 20 other than the substrate facing side, and a protruding frame that forms a pair with the shield frame 40, which is provided near the periphery of the substrate 32 on the substrate holder 30. , The substrate holder 30 so as to surround the open surface of the gap 70.
And a cylinder 60 as a proximity moving means for moving the shield frame body 40 and the frame portion 50 close to each other. Both the shield frame body 40 and the frame portion 50 are conductors.

シールド枠体40は、高周波電極20の電極部21を略包囲
する枠部50と、この中央上部に設けてあり、かつ電極棒
22を略包囲する円筒部41から成る。また必ずしも必要で
はないが、枠部50の先端部には溝421を刻設してある。
また上述したように互いに溶接されているシールド枠体
40とチャンバ10とは、基板ホルダ30と同電位となる。
The shield frame body 40 includes a frame portion 50 that substantially surrounds the electrode portion 21 of the high-frequency electrode 20, and an electrode rod that is provided in the upper center part of the frame portion 50.
It comprises a cylindrical portion 41 which substantially surrounds 22. Further, although not necessarily required, a groove 421 is carved in the tip of the frame 50.
Also, as described above, the shield frame body is welded to each other.
40 and the chamber 10 have the same potential as the substrate holder 30.

基板ホルダ30と同電位となる。 It has the same potential as the substrate holder 30.

枠部50は、溝421に挿入可能な形状をしてあり、枠部5
0の厚みは溝421の巾よりも小さくしてある。
The frame portion 50 has a shape that can be inserted into the groove 421, and the frame portion 5
The thickness of 0 is smaller than the width of the groove 421.

シリンダ60は、上記した所定位置にある基板ホルダ30
を支持するレール16の一部分を独立に上下移動させて、
枠部50をシールド枠体40の溝421に挿入する機構であ
り、レール16にそれぞれ3個ずつ計6個設けられている
(図ではその中央のものが示されている)。さらに詳し
く説明すると、このシリンダ60は、チャンバ10の外下部
に設けられている油圧シリンダで、そのロッド61はチャ
ンバ10に開設してある開孔18に真空シール62を介して摺
動するようになされている。次にシリンダ60の動作につ
いて簡単に説明する。第1図(a)は、プラズマ放電時
におけるシリンダ60の動作状態を示し、第1図(b)は
それ以外の通常時の動作状態を示している。つまりプラ
ズマ放電時には、枠部50をシリンダ60の溝421に完全に
挿入するのではなく、枠体40と溝421との間に隙間を開
けるようにしている。これはガス導入孔2121から取り入
れた生成ガスを排気口13へ逃がすためであって、これに
より電極対の間隙70には常に新鮮な生成ガスが供給され
るようにしてある。
The cylinder 60 is the substrate holder 30 in the above-mentioned predetermined position.
Independently moving up and down a part of the rail 16 that supports
This is a mechanism for inserting the frame portion 50 into the groove 421 of the shield frame body 40, and the rail 16 is provided with three pieces each, six pieces in total (the central one is shown in the figure). More specifically, the cylinder 60 is a hydraulic cylinder provided in the outer lower portion of the chamber 10, and its rod 61 slides through the vacuum seal 62 to the opening 18 formed in the chamber 10. Has been done. Next, the operation of the cylinder 60 will be briefly described. FIG. 1 (a) shows the operating state of the cylinder 60 during plasma discharge, and FIG. 1 (b) shows the other operating state during normal operation. That is, during plasma discharge, the frame 50 is not completely inserted into the groove 421 of the cylinder 60, but a gap is formed between the frame 40 and the groove 421. This is to allow the generated gas taken in through the gas introduction hole 2121 to escape to the exhaust port 13, whereby the fresh generated gas is always supplied to the gap 70 between the electrode pairs.

以上のように構成されたプラズマCVD装置の電極にお
いて、プラズマを閉じ込めることができる原理について
以下簡単に説明する。
The principle that plasma can be confined in the electrode of the plasma CVD apparatus configured as described above will be briefly described below.

第1図(a)に示すようにシールド枠体40と枠部50と
を近接させると、電極対における間隙70の開面はシール
ド枠体40及び枠部50により包囲されることになる。しか
もこの包囲している導体は、基板ホルダ30と同電位にし
てあるのての、この状態においてプラズマ放電を生じせ
しめると、そのシールド効果によりプラズマは間隙70に
閉じ込められることになる。
When the shield frame body 40 and the frame portion 50 are brought close to each other as shown in FIG. 1A, the open surface of the gap 70 in the electrode pair is surrounded by the shield frame body 40 and the frame portion 50. Moreover, since the surrounding conductor has the same potential as that of the substrate holder 30, when a plasma discharge is generated in this state, the plasma is confined in the gap 70 due to its shielding effect.

尚、本実施例において間隙70の開面を包囲する方法と
しては、シールド枠体40の端部に刻設してある溝421に
突起部である枠部50に挿入するという方法で説明した
が、これに限定することなく、例えばシールド枠体40と
枠部50との位置関係をずらせてそれぞれ配設し、そして
互いに近接させることにより間隙70の開面を包囲するよ
うにしても構わない。さらに近接移動手段に関しても、
基板ホルダ30側を移動させるのではなく、シールド枠体
40側を移動させる方法も勿論考えられる。この場合は、
基板支持型の基板ホルダが採用される他は、チャンバに
対する高周波電極及びシリンダ等の位置関係が変わるだ
けであり、同様の効果を得ることができる。
In the present embodiment, the method of surrounding the open surface of the gap 70 has been described by inserting the frame portion 50, which is the protrusion, into the groove 421 formed in the end portion of the shield frame body 40. However, without being limited to this, for example, the shield frame body 40 and the frame portion 50 may be arranged so as to be displaced from each other, and may be arranged close to each other so as to surround the open surface of the gap 70. Furthermore, regarding the means of proximity movement,
Instead of moving the board holder 30 side, shield frame body
Of course, a method of moving the 40 side can be considered. in this case,
Other than using the substrate-supporting substrate holder, the positional relationship of the high-frequency electrode, the cylinder, and the like with respect to the chamber is changed, and similar effects can be obtained.

発明の効果 本発明に係るプラズマCVD装置の電極は、プラズマCVD
装置を電極対に閉じ込めるように構成されているので、
高周波電力量を従来より大きくしても薄膜の不均一が生
じることはない。しかも既存の設備を大幅に変更するこ
となく、電極対に対する基板の有効面積を大きくするこ
とが可能であり、さらにプラズマの活性種がプラズマ状
態を観察するのぞき窓等に付着することが少ないので、
これを除去する目的でチャンバを開ける回数も低減する
ことができる。従って薄膜製造工程の効率化を図ること
ができるという効果を奏する。
EFFECT OF THE INVENTION The electrode of the plasma CVD device according to the present invention is a plasma CVD device.
Since it is configured to lock the device in a pair of electrodes,
Even if the amount of high-frequency power is increased more than before, the nonuniformity of the thin film does not occur. Moreover, it is possible to increase the effective area of the substrate with respect to the electrode pair without drastically changing the existing equipment, and moreover, active species of plasma are less likely to adhere to the observation window or the like for observing the plasma state.
The number of times the chamber is opened for the purpose of removing this can also be reduced. Therefore, there is an effect that the efficiency of the thin film manufacturing process can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明に係るプラズマCVD装置の電極の一実施
例を示すチャンバの簡略断面図であり、第1図(a)は
シールド枠体と枠部とが近接している状態での簡略断面
図、第1図(b)はシールド枠体と枠部とが近接してい
ない状態での簡略断面図である。 10……チャンバ、 20……高周波電極、 2121……ガス導入孔、 30……基板ホルダ、 32……基板、 40……シールド枠体、 50……枠部、 60……シリンダ、 70……間隙、
FIG. 1 is a simplified cross-sectional view of a chamber showing an embodiment of an electrode of a plasma CVD apparatus according to the present invention, and FIG. 1 (a) is a simplified view in a state where a shield frame body and a frame portion are close to each other. A cross-sectional view, FIG. 1 (b), is a simplified cross-sectional view in a state where the shield frame body and the frame portion are not close to each other. 10 ... Chamber, 20 ... High frequency electrode, 2121 ... Gas introduction hole, 30 ... Substrate holder, 32 ... Substrate, 40 ... Shield frame, 50 ... Frame part, 60 ... Cylinder, 70 ... gap,

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】基板が取り付けてある基板ボルダとこれに
対向する高周波電極からなる電極対はチャンバ内に配設
されており、前記電極対に高周波電力を供給する一方、
前記高周波電極の対向面に開設してあるガス導入孔を介
して生成ガスを導入することにより、前記電極対の間隙
にプラズマを生じせしめるプラズマCVD装置において、
前記基板ホルダと同一電位にしてあり、前記高周波電極
の側面側を包囲するシールド枠体と、これと対をなす突
起枠又は溝枠であって、前記基板ホルダの前記基板周囲
近傍に設けてある枠部と、前記隙間の開面を包囲すべ
く、前記基板ホルダ又は前記シールド枠を移動させて前
記シールド枠体と前記枠体を近接させる近接移動手段と
を具備することを特徴とするプラズマCVD装置の電極。
1. A substrate boulder to which a substrate is attached and an electrode pair composed of a high-frequency electrode facing the substrate boulder are arranged in a chamber, and high-frequency power is supplied to the electrode pair.
By introducing the generated gas through a gas introduction hole opened in the facing surface of the high-frequency electrode, in a plasma CVD apparatus for generating plasma in the gap between the electrode pair,
A shield frame body having the same potential as that of the substrate holder and surrounding the side surface side of the high-frequency electrode, and a projection frame or a groove frame paired with the shield frame body, which are provided in the vicinity of the substrate periphery of the substrate holder. Plasma CVD, comprising: a frame portion; and a proximity moving unit that moves the substrate holder or the shield frame to bring the shield frame body and the frame body close to each other so as to surround the open surface of the gap. Device electrodes.
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