JPH088436B2 - Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method - Google Patents
Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting methodInfo
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- JPH088436B2 JPH088436B2 JP1103210A JP10321089A JPH088436B2 JP H088436 B2 JPH088436 B2 JP H088436B2 JP 1103210 A JP1103210 A JP 1103210A JP 10321089 A JP10321089 A JP 10321089A JP H088436 B2 JPH088436 B2 JP H088436B2
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- transfer head
- electronic component
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Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は電子部品実装装置および電子部品実装方法に
関し、移載ヘッドのノズルに吸着されて基板に移送搭載
されるチップの4隅のエッジ部を同時に観察して、この
チップの位置ずれを検出するようにしたものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic component mounting apparatus and an electronic component mounting method, and relates to an edge part at four corners of a chip that is sucked by a nozzle of a transfer head and transferred to a substrate. Are simultaneously observed to detect the positional deviation of this chip.
(従来の技術) QFP,コンデンサチップ,抵抗チップなどの電子部品
(以下チップという)の実装装置はは、トレイ,テープ
フィーダ,チューブフィーダなどのチップ供給部のチッ
プを移載ヘッドのノズルに吸着して、位置決め部に位置
決めされた基板に移送搭載するようになっている。この
場合、ノズルに吸着されたチップは、XYθ方向の位置ず
れを有しており、この位置ずれを補正したうえで、基板
に移送搭載される。(Prior Art) A mounting device for electronic parts (hereinafter referred to as a chip) such as a QFP, a capacitor chip, a resistance chip, etc. sucks a chip of a chip supply unit such as a tray, a tape feeder, or a tube feeder to a nozzle of a transfer head. Then, the substrate is transferred and mounted on the substrate positioned by the positioning unit. In this case, the chip sucked by the nozzle has a positional shift in the XYθ directions, and after being corrected, the chip is transferred and mounted on the substrate.
第7図は従来のチップ(QFP)Pの位置ずれ観察手段
を示すものであって、100はノズル、101はカメラであ
る。チップ供給部のチップPを吸着したノズル100は、
このチップPをカメラ101の上方に移送し、そのXYθ方
向の位置ずれを観察する。そしてXY方向の位置ずれは、
ノズル100のXY方向のストロークを加減することにより
補正し、またθ方向(回転方向)の位置ずれは、モータ
によりノズル100を軸心を中心に回転させることにより
補正する。FIG. 7 shows a conventional position shift observing means for a chip (QFP) P, in which 100 is a nozzle and 101 is a camera. The nozzle 100 that has adsorbed the chip P of the chip supply unit is
The chip P is transferred above the camera 101, and its positional deviation in the XYθ directions is observed. And the displacement in the XY direction is
It is corrected by adjusting the stroke of the nozzle 100 in the XY direction, and the positional deviation in the θ direction (rotational direction) is corrected by rotating the nozzle 100 around the axis center by a motor.
ところで、例えば4方向に多数本のリードLを有する
QFP等は、きわめて高い実装精度が要求されるものであ
り、したがってカメラ101の倍率を上げて、4隅のエッ
ジ部を観察することにより、正確に位置ずれを検出する
ことが望ましい。しかしながら倍率を上げると、カメラ
101の視野はそれだけ小さくなり、4隅のエッジ部を同
時に観察することは困難となる。このため、従来、チッ
プPをカメラ101の上方へ移送したならば、ノズル100と
カメラ101を相対的にXY方向に移動させることにより、
4隅のエッジ部e1〜e4をカメラ101の視野aに入れて観
察していた(第6図参照)。By the way, for example, a large number of leads L are provided in four directions.
Since QFP and the like require extremely high mounting accuracy, it is desirable to accurately detect the positional deviation by increasing the magnification of the camera 101 and observing the edge portions at the four corners. However, if you increase the magnification, the camera
The field of view of 101 becomes so small that it becomes difficult to simultaneously observe the four corners. Therefore, conventionally, if the chip P is transferred above the camera 101, the nozzle 100 and the camera 101 are relatively moved in the XY directions.
The edges e1 to e4 at the four corners were placed in the visual field a of the camera 101 for observation (see FIG. 6).
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上記のようにノズル100とカメラ101を
XY方向に移動させながら各エッジ部e1〜e4を順に観察す
る手段は、移載ヘッド若しくはカメラ101の移動と停止
を繰り返さねばならないことから、かなりの観察時間を
要し、ひいてはチップPの実装速度があがらない問題が
あった。(Problems to be Solved by the Invention) However, as described above, the nozzle 100 and the camera 101 are connected to each other.
The means for sequentially observing the edge portions e1 to e4 while moving in the XY directions requires a considerable observation time because the transfer head or the camera 101 must be repeatedly moved and stopped, and thus the mounting speed of the chip P. There was a problem that did not go up.
そこで本発明は、チップの4隅のエッジ部を一括して
観察できる手段を備えた電子部品実装装置および電子部
品実装方法を提供することを目的とする。Therefore, an object of the present invention is to provide an electronic component mounting apparatus and an electronic component mounting method provided with means for collectively observing edge portions at four corners of a chip.
(課題を解決するための手段) このために本発明は、チップ供給部と、基板の位置決
め部と、チップ供給部のチップをノズルにチャックして
位置決め部の基板に移送搭載する移載ヘッドとを備えた
電子部品実装装置において、上記移載ヘッドの移送路の
下方に、上記ノズルにチャックされたチップに上方から
照射された光を4方向に屈折させる光学素子を設けると
ともに、この光学素子の4側方に、この4方向に屈折さ
れた光が入射することにより、チップの4隅のエッジ部
を観察する4個のカメラを設けたものである。To this end, the present invention provides a chip supply unit, a substrate positioning unit, and a transfer head that chucks a chip of the chip supply unit to a nozzle and transfers and mounts the chip on the substrate of the positioning unit. In an electronic component mounting apparatus including: an optical element for refracting light radiated from above to a chip chucked by the nozzle from four directions is provided below a transfer path of the transfer head; Four cameras are provided on the four sides to observe the edge portions at the four corners of the chip when the light refracted in the four directions is incident.
(作用) 上記構成において、ノズルにチャックされたチップに
上方から照射された光は、光学素子により4方向に屈折
し、この4方向の屈折光をそれぞれカメラにより観察す
ることにより、チップの4隅のエッジ部を一括して観察
して、その位置ずれを検出する。(Operation) In the above configuration, the light radiated onto the chip chucked by the nozzle from above is refracted in four directions by the optical element, and the refracted light in the four directions is observed by the camera, respectively. The edge portions of are observed together and the positional deviation is detected.
(実施例1) 次に、図面を参照しながら本発明の実施例を説明す
る。Example 1 Next, an example of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は電子部品実装装置の全体図であって、1は本
体ボックス、2はその上部に設けられた駆動部ボックス
である。本体ケース1の上面には、基板3をクランプし
て位置決めする位置決め部4が設けられている。5,6は
基板3をこの位置決め部4に搬入したまま搬出するコン
ベヤである。位置決め部4の手前側には、トレイから成
るチップ供給部7が設けられている。10は駆動部ボック
ス2に垂設された移載ヘッドであって、駆動部ボックス
2に内蔵されたXY方向移動装置に駆動されて、チップ供
給部7と基板3の間を往復動し、チップ供給部7のチッ
プをノズル9に吸着して基板3に移送搭載する。8はモ
ニター用カメラである。11はトレイ7と基板3の間の移
載ヘッド10の移送路に設けられたチップの位置ずれ検出
用光学素子であり、次に第2図と第3図を参照しなが
ら、その詳細を説明する。FIG. 1 is an overall view of an electronic component mounting apparatus, in which 1 is a main body box, and 2 is a drive unit box provided on the upper part thereof. A positioning portion 4 for clamping and positioning the substrate 3 is provided on the upper surface of the body case 1. Reference numerals 5 and 6 are conveyors that carry out the substrate 3 with the substrate 3 carried into the positioning portion 4. On the front side of the positioning unit 4, a chip supply unit 7 including a tray is provided. Reference numeral 10 denotes a transfer head vertically mounted on the drive unit box 2, which is driven by an XY direction moving device incorporated in the drive unit box 2 to reciprocate between the chip supply unit 7 and the substrate 3, The chip of the supply unit 7 is adsorbed by the nozzle 9 and transferred and mounted on the substrate 3. Reference numeral 8 is a monitor camera. Reference numeral 11 denotes an optical element for detecting the positional deviation of the chip, which is provided in the transfer path of the transfer head 10 between the tray 7 and the substrate 3, and its details will be described below with reference to FIGS. 2 and 3. To do.
光学素子11は、4個のプリズム11a〜11dを一体的に形
成して構成されており、各プリズム11a〜11dは、上方か
ら照射された光を外方へ屈折させる。各プリズム11a〜1
1dの下部4側方には、屈折された光が入射するカメラ13
a〜13dが設けられており、光学素子11に照射された光を
それぞれ各プリズム11a〜11dにより4方向へ屈折させる
ことにより、チップPの4隅のエッジ部を一括して観察
する。このチップPは4方向に多数本のリードLを有す
るQFPであり、各リードLを基板3に塗布されたボンド
に正確に合致させて搭載する為に、高い実装精度が要求
される。第3図において、12は移載ヘッド10の下部に設
けられたリング状の光源である。The optical element 11 is configured by integrally forming four prisms 11a to 11d, and each prism 11a to 11d refracts light emitted from above to the outside. Each prism 11a-1
A camera 13 in which refracted light is incident on the lower 4 side of 1d
a to 13d are provided, and the light irradiated to the optical element 11 is refracted in four directions by the prisms 11a to 11d, respectively, so that the edge portions at the four corners of the chip P are collectively observed. This chip P is a QFP having a large number of leads L in four directions, and high mounting accuracy is required in order to mount each lead L so as to exactly match the bond applied to the substrate 3. In FIG. 3, reference numeral 12 is a ring-shaped light source provided below the transfer head 10.
本発明は上記のような構成より成り、次に動作の説明
を行う。The present invention is configured as described above, and the operation will be described next.
コンベヤ5により、基板3が位置決め部4に搬入され
て位置決めされると、移載ヘッド10はXY方向の移動を開
始する。移載ヘッド10は、まずチップ供給部7の上方に
移動し、ノズル9は昇降してチップPを吸着してテイク
アップし、光学素子11の上方へ向って移動する。そして
光学素子11の上方の観察ステージで停止し、この観察ス
テージでチップPに光を照射して、チップPのエッジ部
e1〜e4を観察する(第6図参照)。この場合、上述のよ
うに、チップPのエッジ部e1〜e4に照射された光は、プ
リズム11a〜11dにより4方向に屈折して、各カメラ13a
〜13dに入射するので、4隅のエッジ部e1〜e4を一括し
て観察し、周知画像処理手段により、チップPのXYθ方
向の位置ずれを検出する。When the substrate 3 is carried into the positioning unit 4 and positioned by the conveyor 5, the transfer head 10 starts moving in the XY directions. The transfer head 10 first moves above the chip supply unit 7, and the nozzle 9 moves up and down to adsorb the chip P and take it up, and moves to above the optical element 11. Then, the observation stage above the optical element 11 is stopped, and the chip P is irradiated with light at this observation stage, and the edge portion of the chip P is
Observe e1 to e4 (see FIG. 6). In this case, as described above, the light radiated on the edge portions e1 to e4 of the chip P is refracted in four directions by the prisms 11a to 11d, and each of the cameras 13a.
.. 13d, the edge portions e1 to e4 at the four corners are collectively observed, and the position shift of the chip P in the XY.theta. Direction is detected by the well-known image processing means.
XYθ方向の位置ずれのうち、XY方向の位置ずれは、移
載ヘッド10のXY方向ストロークを加減することにより補
正される。またθ方向の位置は、移載ヘッド10に内蔵さ
れたモータにより、ノズル9をθ方向に回転させること
により補正する。このようにしてXYθ方向の位置ずれを
補正するとともに、移載ヘッド10は位置決め部4に位置
決めされた基板3の上方へ移動し、チップPを基板3に
搭載する。Of the positional deviations in the XYθ directions, the positional deviations in the XY directions are corrected by adjusting the stroke of the transfer head 10 in the XY directions. The position in the θ direction is corrected by rotating the nozzle 9 in the θ direction by the motor built in the transfer head 10. In this way, the displacement in the XYθ directions is corrected, and the transfer head 10 moves above the substrate 3 positioned by the positioning unit 4 to mount the chip P on the substrate 3.
(実施例2) 第4図及び第5図において、14は光学素子である。こ
の光学素子14は斜上方に光を反射させる4個のミラー部
14a〜14dを4角錘形に形成して構成されており、各ミラ
ー部14a〜14dの斜上方には、カメラ13a〜13dがそれぞれ
設けられている。したがってこのものも、チップPをこ
の光学素子14の上方へ移送し、上方から光を照射するこ
とにより光をカメラ13a〜13d側へ屈折させて、チップP
の4隅のエッジ部e1〜e4を一括して観察できる。(Example 2) In FIGS. 4 and 5, 14 is an optical element. This optical element 14 has four mirror parts that reflect light obliquely upward.
14a to 14d are formed in a quadrangular pyramid shape, and cameras 13a to 13d are provided obliquely above the respective mirror portions 14a to 14d. Therefore, also in this device, the chip P is transferred above the optical element 14, and the light is irradiated from above to refract the light toward the cameras 13a to 13d, and the chip P
Edges e1 to e4 at the four corners can be collectively observed.
(発明の効果) 本発明によれば、ノズルにチャックされたチップの4
隅のエッジ部を一括して観察することができ、したがっ
て従来手段よりも観察に要する時間を大巾に短縮でき、
ひいてはチップの実装速度を上げることができる。特に
本発明は、要求される実装精度が高い為に、カメラの倍
率を上げてチップの4隅のエッジ部を精密に観察せねば
ならないQFPの位置ずれ観察手段として、その長所を発
揮する。(Effects of the Invention) According to the present invention, 4 of chips chucked to the nozzle
It is possible to observe the edge portions of the corners collectively, and therefore the time required for observation can be greatly shortened compared to the conventional method,
As a result, the chip mounting speed can be increased. In particular, the present invention exerts its advantage as a QFP position deviation observing means in which the magnification of the camera must be increased and the edge portions at the four corners of the chip must be precisely observed because the required mounting accuracy is high.
図は本発明の実施例を示すものであって、第1図は電子
部品実装装置の斜視図、第2図及び第3図は観察中の斜
視図及び側面図、第4図及び第5図は他の実施例の観察
中の斜視図及び側面図、第6図はカメラの視野の平面
図、第7図は従来装置の斜視図である。 3……基板 4……位置決め部 7……チップ供給部 9……ノズル 10……移載ヘッド 11,14……光学素子 12……光源部 13a〜13d……カメラFIG. 1 shows an embodiment of the present invention. FIG. 1 is a perspective view of an electronic component mounting apparatus, FIGS. 2 and 3 are perspective views and side views during observation, and FIGS. Is a perspective view and a side view during observation of another embodiment, FIG. 6 is a plan view of the field of view of the camera, and FIG. 7 is a perspective view of a conventional apparatus. 3 ... Substrate 4 ... Positioning part 7 ... Chip supply part 9 ... Nozzle 10 ... Transfer head 11,14 ... Optical element 12 ... Light source part 13a to 13d ... Camera
Claims (2)
ップをノズルにチャックして位置決め部の基板に移送搭
載する移載ヘッドとを備えた電子部品実装装置におい
て、移載ヘッドの移送路の下方に、チップに上方から照
射された光を4方向に屈折させる光学素子を設けるとと
もに、この光学素子の4側方に、この4方向に屈折され
た光が入射することにより、チップの4隅のエッジ部を
一括して観察する4個のカメラを設けたことを特徴とす
る電子部品実装装置。1. A transfer path of a transfer head in an electronic component mounting apparatus comprising a chip supply unit, a substrate positioning unit, and a transfer head for chucking a chip onto a nozzle and transferring and mounting the chip on the substrate of the positioning unit. An optical element for refracting the light emitted from above to the chip in four directions is provided below the chip, and the light refracted in the four directions is incident on four sides of the optical element. An electronic component mounting apparatus, which is provided with four cameras for collectively observing corner edge portions.
せてノズルによりチップをチャックしてテイクアップす
る工程と、移載ヘッドによりチップを観察ステージへ移
送する工程と、この観察ステージにおいてチップへ向っ
て上方から光を照射し、照射された光を光学素子により
4方向に屈折させて光学素子の4側方に設けられた4個
のカメラに入射させることにより、チップの4隅のエッ
ジ部の画像を一括して入手する工程と、入手された画像
に基いてチップの位置補正を行ったうえで、移載ヘッド
によりチップを基板に搭載する工程と、を含むことを特
徴とする電子部品実装方法。2. A step of moving a transfer head above a chip supply section to chuck the chip by a nozzle to take it up, a step of transferring the chip to an observation stage by the transfer head, and the chip in this observation stage. By irradiating light from above toward the light, refracting the radiated light in four directions by the optical element and making it incident on four cameras provided on four sides of the optical element, the four corners of the chip are edged. Electronic device characterized by including a step of collectively obtaining a partial image and a step of correcting the position of the chip based on the obtained image and then mounting the chip on the substrate by the transfer head. Parts mounting method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1103210A JPH088436B2 (en) | 1989-04-20 | 1989-04-20 | Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1103210A JPH088436B2 (en) | 1989-04-20 | 1989-04-20 | Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02280400A JPH02280400A (en) | 1990-11-16 |
| JPH088436B2 true JPH088436B2 (en) | 1996-01-29 |
Family
ID=14348146
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1103210A Expired - Lifetime JPH088436B2 (en) | 1989-04-20 | 1989-04-20 | Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH088436B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2933109B2 (en) * | 1992-02-24 | 1999-08-09 | 松下電工株式会社 | Component mounting method and device |
| JP2633147B2 (en) * | 1992-07-23 | 1997-07-23 | 松下電工株式会社 | Component mounting method |
-
1989
- 1989-04-20 JP JP1103210A patent/JPH088436B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02280400A (en) | 1990-11-16 |
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