KR20120135722A - Light emitting device - Google Patents
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Abstract
실시 예에 따른 발광소자는, 기판, 상기 기판 상에 배치된 제1 반도체층, 상기 제1 반도체층 상에 배치되며, 제2 반도체층, 제3 반도체층 및 제2, 3 반도체층 사이에 활성층을 포함하는 발광구조물, 상기 제1 반도체층 상에 배치되며, 상기 발광구조물과 분리된 제4 반도체층, 상기 발광구조물과 상기 제4 반도체층 사이에 배치된 패시베이션, 상기 제1, 2 반도체층 상에 배치된 제1 전극 및 상기 패시베이션 및 상기 제3, 4 반도체층 상에 배치된 제2 전극을 포함할 수 있다.The light emitting device according to the embodiment includes a substrate, a first semiconductor layer disposed on the substrate, the first semiconductor layer, and an active layer between the second semiconductor layer, the third semiconductor layer, and the second and third semiconductor layers. A light emitting structure comprising a, a fourth semiconductor layer disposed on the first semiconductor layer, and separated from the light emitting structure, a passivation disposed between the light emitting structure and the fourth semiconductor layer, on the first and second semiconductor layers It may include a first electrode disposed in the and the second electrode disposed on the passivation and the third, fourth semiconductor layer.
Description
실시 예는 ESD에 대한 내성을 가지면서 발광면적 확보가 달성되는 발광소자에 관한 것이다.The embodiment relates to a light emitting device having a resistance to ESD and achieving a light emitting area.
발광소자의 대표적인 예로, LED(Light Emitting Diode; 발광 다이오드)는 화합물 반도체의 특성을 이용해 전기 신호를 적외선, 가시광선 또는 빛의 형태로 변환시키는 소자로, 가정용 가전제품, 리모콘, 전광판, 표시기, 각종 자동화 기기 등에 사용되고, 점차 LED의 사용 영역이 넓어지고 있는 추세이다.As a typical example of a light emitting device, a light emitting diode (LED) is a device for converting an electric signal into an infrared ray, a visible ray, or a light using the characteristics of a compound semiconductor, and is used for various devices such as household appliances, remote controllers, Automation equipment, and the like, and the use area of LEDs is gradually widening.
보통, 소형화된 LED는 PCB(Printed Circuit Board) 기판에 직접 장착하기 위해서 표면실장소자(Surface Mount Device)형으로 만들어지고 있고, 이에 따라 표시소자로 사용되고 있는 LED 램프도 표면실장소자 형으로 개발되고 있다. 이러한 표면실장소자는 기존의 단순한 점등 램프를 대체할 수 있으며, 이것은 다양한 칼라를 내는 점등표시기용, 문자표시기 및 영상표시기 등으로 사용된다.In general, miniaturized LEDs are made of a surface mounting device for mounting directly on a PCB (Printed Circuit Board) substrate, and an LED lamp used as a display device is also being developed as a surface mounting device type . Such a surface mount device can replace a conventional simple lighting lamp, which is used for a lighting indicator for various colors, a character indicator, an image indicator, and the like.
이와 같이 LED의 사용 영역이 넓어지면서, 생활에 사용되는 전등, 구조 신호용 전등 등에 요구되는 휘도가 높이지는 바, LED의 발광휘도를 증가시키는 것이 중요하다.As the use area of the LED is widened as described above, it is important to increase the luminance of the LED as the brightness required for a lamp used in daily life and a lamp for a structural signal is increased.
한편, 발광소자를 TV, MNT, 일반 조명장치 등에 적용하기 위해서는 일정 수준 이상의 ESD(Electrostatic Discharge) 내성이 요구된다.Meanwhile, in order to apply the light emitting device to a TV, an MNT, or a general lighting device, a certain level of electrostatic discharge (ESD) resistance is required.
ESD(Electrostatic Discharge)는 통상 전자 장치가 충전된 물체에 접촉할 때 발생하는 수천 볼트, 또는 그 이상의 정전기 방전이며 발광소자는 물론, 발광소자에 전원을 제공하는 전원장치, 및 기타 다양한 전자장치에 손상을 가할 수 있다. Electrostatic Discharge (ESD) is an electrostatic discharge, typically thousands of volts or more, that occurs when an electronic device comes in contact with a charged object and damages the light emitting device, as well as the power supply that supplies the light emitting device, and various other electronic devices. Can be added.
통상, 발광소자를 백라이트와 같은 장치에 적용할 경우, 발광소자의 패키지(pakage) 일 측에 제너 다이오드를 추가하고, 제너 다이오드를 이용하여 발광소자가 ESD에 내성을 가지도록 한다.In general, when the light emitting device is applied to a device such as a backlight, a zener diode is added to one side of a package of the light emitting device, and the light emitting device is resistant to ESD using the zener diode.
그러나, 패키지에 제너 다이오드를 추가하여 질화물 발광소자가 ESD에 대한 내성을 가지도록 할 때, 제너 다이오드는 패키지 내에서 발광소자와 이웃하게 되므로 발광소자의 광도에 영향을 끼치게 되며, 흑체(black body)로서 작용하여 발광소자에서 방출되는 빛의 일부를 흡수하여 발광소자의 광도를 감소시킨다. 이에 더하여 제너 다이오드가 패키지에 수납됨으로써 전체 패키지의 제조 단가를 증가시키는 측면도 간과할 수 없다.However, when a Zener diode is added to the package to make the nitride light emitting device resistant to ESD, the Zener diode is adjacent to the light emitting device in the package and thus affects the brightness of the light emitting device. It acts as a absorbing part of the light emitted from the light emitting device to reduce the brightness of the light emitting device. In addition, since the Zener diode is housed in the package, the aspect of increasing the manufacturing cost of the entire package cannot be overlooked.
실시 예는 ESD 에 대한 내성을 가지면서 발광면적 확보가 달성되는 발광소자를 제공한다.The embodiment provides a light emitting device having a resistance to ESD and achieving a light emitting area.
실시 예에 따른 발광소자는, 기판, 상기 기판 상에 배치된 제1 반도체층, 상기 제1 반도체층 상에 배치되며, 제2 반도체층, 제3 반도체층 및 제2, 3 반도체층 사이에 활성층을 포함하는 발광구조물, 상기 제1 반도체층 상에 배치되며, 상기 발광구조물과 분리된 제4 반도체층, 상기 발광구조물과 상기 제4 반도체층 사이에 배치된 패시베이션, 상기 제1, 2 반도체층 상에 배치된 제1 전극 및 상기 패시베이션 및 상기 제3, 4 반도체층 상에 배치된 제2 전극을 포함할 수 있다.The light emitting device according to the embodiment includes a substrate, a first semiconductor layer disposed on the substrate, the first semiconductor layer, and an active layer between the second semiconductor layer, the third semiconductor layer, and the second and third semiconductor layers. A light emitting structure comprising a, a fourth semiconductor layer disposed on the first semiconductor layer, and separated from the light emitting structure, a passivation disposed between the light emitting structure and the fourth semiconductor layer, on the first and second semiconductor layers It may include a first electrode disposed in the and the second electrode disposed on the passivation and the third, fourth semiconductor layer.
실시 예에 따른 발광소자는, 기판, 상기 기판 상에 배치된 제1 반도체층, 상기 제1 반도체층 상에 배치되며, 제2 반도체층, 제3 반도체층 및 제2, 3 반도체층 사이에 활성층을 포함하는 발광구조물, 상기 제1 반도체층 상에 배치되며, 상기 발광구조물과 분리되며 상기 발광구조물 내부에 위치한 제4 반도체층, 상기 발광구조물과 상기 제4 반도체층 사이에 배치된 패시베이션, 상기 제1, 2 반도체층 상에 배치된 제1 전극 및 상기 패시베이션 및 상기 제3, 4 반도체층 상에 배치된 제2 전극을 포함할 수 있다.The light emitting device according to the embodiment includes a substrate, a first semiconductor layer disposed on the substrate, the first semiconductor layer, and an active layer between the second semiconductor layer, the third semiconductor layer, and the second and third semiconductor layers. A light emitting structure comprising: a fourth semiconductor layer disposed on the first semiconductor layer and separated from the light emitting structure and positioned inside the light emitting structure; a passivation disposed between the light emitting structure and the fourth semiconductor layer; The semiconductor device may include a first electrode disposed on the first and second semiconductor layers, and a second electrode disposed on the passivation and the third and fourth semiconductor layers.
실시예에 따른 발광소자는 ESD 에 대한 내성을 가짐으로써, ESD 에 의한 파손이 방지되고 신뢰성이 개선될 수 있다. The light emitting device according to the embodiment has resistance to ESD, thereby preventing damage caused by ESD and improving reliability.
또한, 발광소자가 실장되는 발광소자 패키지는 별도의 ESD 소자가 필요하지 않게 되어 발광소자 패키지의 발광 효율이 개선될 수 있다. In addition, the light emitting device package in which the light emitting device is mounted may not require a separate ESD device, thereby improving light emission efficiency of the light emitting device package.
도 1은 실시 예에 따른 발광소자를 나타내는 단면도이다.
도 2는 도 1에 나타낸 발광소자에 순방향 전류가 인가되었을 때 동작을 나타낸 동작도이다.
도 3은 도 1에 나타낸 발광소자에 역방향 전류가 인가되었을 때 동작을 나타낸 동작도이다.
도 4는 실시 예에 따른 발광소자를 나타내는 단면도이다.
도 5는 도 4에 나타낸 발광소자에 순방향 전류가 인가되었을 때 동작을 나타낸 동작도이다.
도 6은 도 4에 나타낸 발광소자에 역방향 전류가 인가되었을 때 동작을 나타낸 동작도이다.
도 7은 실시 예에 따른 발광소자를 포함한 발광소자 패키지를 나타낸 사시도이다.
도 8은 실시 예에 따른 발광소자를 포함한 발광소자 패키지의 단면을 도시한 단면도이다.
도 9는 실시 예에 따른 발광소자를 포함하는 조명 시스템을 도시한 사시도이다.
도 10은 도 9의 조명 시스템의 A-A`단면을 도시한 단면도이다.
도 11은 실시 예에 따른 발광소자를 포함하는 액정표시장치의 분해 사시도이다.
도 12는 실시예에 따른 발광소자를 포함하는 액정표시장치의 분해 사시도이다.1 is a cross-sectional view showing a light emitting device according to an embodiment.
FIG. 2 is a diagram illustrating an operation when a forward current is applied to the light emitting device shown in FIG. 1.
3 is an operation diagram illustrating an operation when a reverse current is applied to the light emitting device shown in FIG. 1.
4 is a cross-sectional view illustrating a light emitting device according to an embodiment.
FIG. 5 is an operation diagram illustrating an operation when a forward current is applied to the light emitting device shown in FIG. 4.
6 is an operation diagram illustrating an operation when a reverse current is applied to the light emitting device shown in FIG. 4.
7 is a perspective view showing a light emitting device package including a light emitting device according to the embodiment.
8 is a cross-sectional view illustrating a cross section of a light emitting device package including a light emitting device according to the embodiment.
9 is a perspective view illustrating a lighting system including a light emitting device according to the embodiment.
10 is a cross-sectional view taken along the line AA ′ of the lighting system of FIG. 9.
11 is an exploded perspective view of a liquid crystal display including the light emitting device according to the embodiment.
12 is an exploded perspective view of a liquid crystal display including the light emitting device according to the embodiment.
실시 예에 대한 설명에 앞서, 본 명세서에서 언급하는 각 층(막), 영역, 패턴, 또는 구조물들의 기판, 각 층(막) 영역, 패드, 또는 패턴들의 "위(on)", "아래(under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, "위(on)"와, "아래(under)"는 직접(directly)", 또는 "다른 층을 개재하여(indirectly)" 형성되는 모든것을 포함한다. 또한, 각 층의 위, 또는 아래에 대한 기준은 도면을 기준으로 설명한다.Prior to the description of the embodiments, the substrate, each layer region, pad, or pattern of each layer (film), region, pattern, or structure referred to herein is "on", "below ( "on" and "under" include all that is formed "directly" or "indirectly" through other layers. In addition, the criteria for the top or bottom of each layer will be described with reference to the drawings.
도면에서, 각 층의 두께나 크기는 설명의 편의, 및 명확성을 위하여 과장되거나, 생략되거나, 또는 개략적으로 도시되었다. 따라서, 각 구성요소의 크기는 실제 크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다.In the drawings, the thickness or size of each layer is exaggerated, omitted, or schematically illustrated for convenience and clarity of description. Thus, the size of each component does not fully reflect its actual size.
또한, 본 명세서에서 발광소자의 구조를 설명하는 과정에서 언급하는 각도와 방향은 도면에 기재된 것을 기준으로 한다. 명세서에서 발광소자를 이루는 구조에 대한 설명에서, 각도에 대한 기준점과 위치관계를 명확히 언급하지 않은 경우, 관련 도면을 참조하도록 한다.In addition, the angle and direction mentioned in the process of describing the structure of the light emitting device herein are based on those described in the drawings. In the description of the structure of the light emitting device in the specification, reference points and positional relationship with respect to angles are not explicitly referred to, refer to the related drawings.
도 1은 실시 예에 따른 발광소자를 나타내는 단면도이다.1 is a cross-sectional view showing a light emitting device according to an embodiment.
도 1을 참조하면, 발광소자(100)는 기판(110), 발광구조물(115) 및 제1, 2 전극(180, 190)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1, the
여기서, 발광소자(100)는 복수의 화합물 반도체층 예컨대, 3족-5족 원소의 화합물 반도체층을 이용한 LED를 포함하며, LED는 청색, 녹색, 또는 적색 등과 같은 광을 방출하는 유색 LED이거나 UV LED일 수 있다. LED의 방출 광은 실시예의 기술적 범위 내에서 다양한 반도체를 이용하여 구현될 수 있다.Here, the
발광구조물(115)은 제2 반도체층(130), 제3 반도체층(150) 및 제2 반도체층(130)과 제3 반도체층(150) 사이에 형성되는 활성층(140)을 포함할 수 있다.The
또한, 발광구조물(115)은 기판(110)상에 형성될 수 있다.In addition, the
기판(110)은 사파이어(Al2O3)를 포함하는 투명한 재료를 이용하여 형성될 수 있으며, 사파이어 이외에, 기판(110)은 징크 옥사이드(zinc oxide, ZnO), 갈륨 나이트라이드(gallium nitride, GaN), 실리콘 카바이드(silicon carbide, SiC), 실리콘 및 알루미늄 나이트라이드(AlN)로 형성될 수 있다.The
이하, 실시 예에서는 사파이어(Al2O3)와 같은 절연 기판을 그 예로 설명하기로 한다.Hereinafter, in the embodiment, an insulating substrate such as sapphire (Al 2 O 3 ) will be described as an example.
기판(110) 상에는 요철 패턴 또는 광 추출 구조가 형성될 수 있으며, 이러한 형상은 렌즈 형상, 기둥 형상, 뿔 형상 등으로 형성될 수 있으며, 이에 한정하지 않는다.An uneven pattern or light extraction structure may be formed on the
기판(110)의 두께는 100~400㎛ 범위에서 형성될 수 있으며, 이에 한정을 두지 않는다. The thickness of the
기판(110) 상에는 버퍼층(111)이 형성될 수 있으며, 버퍼층(111)은 기판(110)과 제1 반도체층(120) 사이의 격자 부정합을 완화시킬 수 있다. The
버퍼층(111)은 저온 분위기에서 형성할 수 있으며, GaN, InN, AlN, AlInN, InGaN, AlGaN, 및 InAlGaN 과 같은 재질 중 선택할 수 있다.The
버퍼층(111) 상에는 제1 반도체층(120)이 형성될 수 있으며, 제1 반도체층(120)은 p형 및 n형 반도체층 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The
즉, 제1 반도체층(120)은 n형 반도체층인 경우, InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료, 예를 들어 GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN 등에서 선택될 수 있으며, Si, Ge, Sn 등의 n형 도펀트가 도핑될 수 있다.That is, the
또한, 제1 반도체층(120)은 p형 반도체층인 경우, InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료, 예를 들어 GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN 등에서 선택될 수 있으며, Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등의 p형 도펀트가 도핑될 수 있다. In addition, the
실시 예에서, 제1 반도체층(120)은 제3 반도체층(150)과 동일한 특성을 가지는 것으로 설명하며, 제1 반도체층(120)의 두께는 10㎚ 내지 1mm 일 수 있으며, 이에 한정을 두지 않는다.In an embodiment, the
실시 예에서 제1 반도체층(120)은 p형 반도체층으로 이루어진 것으로 설명하지만, n형 반도체층을 포함할 수 있으며, 이에 한정을 두지 않는다.In an embodiment, the
제1 반도체층(120) 상에는 제2 반도체층(130)이 형성될 수 있다.The
이때, 제2 반도체층(130)은 n형 반도체층이며, InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료, 예를 들어 GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN 등에서 선택될 수 있으며, Si, Ge, Sn 등의 n형 도펀트가 도핑될 수 있다.At this time, the
제2 반도체층(130) 상에는 활성층(140)이 형성될 수 있다. 활성층(140)은 전자와 정공이 재결합되는 영역으로, 전자와 정공이 재결합함에 따라 낮은 에너지 준위로 천이하며, 그에 상응하는 파장을 갖는 빛을 생성할 수 있다.The
활성층(140)은 예를 들어, InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 가지는 반도체 재료를 포함하여 형성할 수 있으며, 단일 양자 우물 구조 또는 다중 양자 우물 구조(MQW: Multi Quantum Well)로 형성될 수 있다. 또한, 양자선(Quantum wire)구조 또는 양자점(Quantum dot)구조를 포함할 수도 있다.The
활성층(140)의 위 또는/및 아래에는 클래드층(미도시)이 형성될 수 있으며, 상기 클래드층은 GaN계 반도체로 형성되거나, 활성층(140)과 밴드 갭이 다른 물질로 형성될 수 있다. A clad layer (not shown) may be formed on or under the
제3 반도체층(150)은 활성층(140)으로 캐리어(Carrier)를 주입할 수 있다. 제3 반도체층(150)은 예를 들어, p형 반도체층으로 구현될 수 있는데, p형 반도체층은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료, 예를 들어 GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN 등에서 선택될 수 있으며, Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등의 p형 도펀트가 도핑될 수 있다.The
또한, 제2, 3 반도체층(130, 150) 내의 도펀트 도핑 농도는 균일 또는 불균일하게 형성될 수 있으며, 복수의 반도체층의 구조는 다양하게 형성될 수 있으며, 이에 한정을 두지 않는다.In addition, the dopant doping concentrations in the second and third semiconductor layers 130 and 150 may be uniformly or non-uniformly formed, and the structure of the plurality of semiconductor layers may be variously formed, without being limited thereto.
이때, 제3 반도체층(150)은 제1 반도체층(120)과 동일한 도펀트 도핑 농도를 가질 수 있으며, 제1 반도체층(120)의 두께와 동일하거나, 또는 크게 형성될 수 있으며, 이에 한정을 두지 않는다.In this case, the
그리고, 제1 반도체층(120) 상에는 발광구조물(115)의 측면에 이격된 제4 반도체층(160)이 형성될 수 있다.In addition, a
제4 반도체층(160)은 제2 반도체층(120)과 동일한 n형 반도체층이며, 제2 반도체층(120)의 두께와 동일하거나, 또는 작게 형성될 수 있다.The
즉, 제4 반도체층(160)은 발광구조물(115)과 상이하게 발광하지 않으며, 제1 반도체층(160)과 함께 ESD에 의해 발광구조물(115) 또는 발광소자(100)를 보호하기 위한 제너 다이오드 특성을 가질 수 있다.That is, the
제1, 4 반도체층(120, 160)에 대한 자세한 설명은 후술하기로 한다.Detailed description of the first and fourth semiconductor layers 120 and 160 will be described later.
상술한 제1 반도체층(120), 제2, 3 반도체층(130, 150), 활성층(130) 및 제4 반도체층(160)은 예를 들어, 유기금속 화학 증착법(MOCVD; Metal Organic Chemical Vapor Deposition), 화학 증착법(CVD; Chemical Vapor Deposition), 플라즈마 화학 증착법(PECVD; Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition), 분자선 성장법(MBE; Molecular Beam Epitaxy), 수소화물 기상 성장법(HVPE; Hydride Vapor Phase Epitaxy), 스퍼터링(Sputtering) 등의 방법을 이용하여 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The
발광구조물(115)과 제4 반도체층(160) 사이에는 패시베이션(170)이 형성될 수 있다.The
패시베이션(170)은 제2, 3 반도체층(130, 150) 및 활성층(140)의 측면, 제1 반도체층(120)의 상면 일부분 및 제4 반도체층(160)의 측면에 배치될 수 있으며, 이에 한정을 두지 않는다.The
여기서, 패시베이션(170)은 제2, 3 반도체층(130, 150) 및 활성층(140)과 제4 반도체층(160)을 절연시킬 수 있다.The
제1 반도체층(120)의 상부 일부분 및 제2 반도체층(130)의 측면 일부분에는 제1 전극(180)이 형성될 수 있으며, 제3, 4 반도체층(150, 160) 상에는 제2 전극(190)이 형성될 수 있다.The
여기서, 제1, 2 전극(180, 190)은 제2, 3 반도체층(130, 150)으로 전원을 공급할 수 있다.Here, the first and
그리고, 제1, 2 전극(180, 190)은 제2, 3 반도체층(130, 150)과 오믹 접촉되어 발광구조물(115)에 전원이 원활히 공급되도록 한다. 제1, 2 전극(180, 190)은 투광성 전도층과 금속을 선택적으로 사용할 수 있으며, 예를 들어, ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), AZO(aluminum zinc oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), IrOx, RuOx, RuOx/ITO, 니켈(Ni), 백금(Pt), 루테늄(Ru), 이리듐(Ir), 로듐(Rh), 탄탈(Ta), 몰리브덴(Mo), 티탄(Ti), 은(Ag), 텅스텐(W), 구리(Cu), 크롬(Cr), 팔라듐(Pd), 바나듐(V), 코발트(Co), 니오브(Nb), 지르코늄(Zr), Ni/IrOx/Au, 또는 Ni/IrOx/Au/ITO , 탄소나노튜브을 중 적어도 하나를 이용하여 단층 또는 다층으로 형성할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The first and
여기서, 제1 전극(180)은 제2 반도체층(130)의 상부 영역을 제거하여 단차가 형성된 부분에 형성되어, 제1 반도체층(120)과 접촉할 수 있다.Here, the
즉, 제1 전극(180)은 제2 반도체층(130) 상에 형성될 수 있다. 제1 전극(180)이 형성되는 위치는 제한이 없고, 발광소자(100)의 크기 등을 고려하여 복수 개가 형성될 수도 있지만, 제3 반도체층(150)과 활성층(140)의 일부 영역이 제거되고, 제2 반도체층(130)의 일부가 노출되며, 노출된 제2 반도체층(130) 상면에 제1 전극(180)이 형성될 수 있다. That is, the
제2 반도체층(130)의 상부 영역을 제거하는 방법은 제한이 없으나 습식 식각, 건식 식각 등의 방법이 사용될 수 있다.The method of removing the upper region of the
도 2는 도 1에 나타낸 발광소자에 순방향 전류가 인가되었을 때 동작을 나타낸 동작도이고, 도 3은 도 1에 나타낸 발광소자에 역방향 전류가 인가되었을 때 동작을 나타낸 동작도이다.2 is an operation diagram showing an operation when a forward current is applied to the light emitting device shown in Figure 1, Figure 3 is an operation diagram showing an operation when a reverse current is applied to the light emitting device shown in FIG.
도 2를 참조하면, 발광소자(100)는 제2 전극(190)으로 정극성 전압(v1)이 공급되고, 제1 전극(180)으로 부극성 전압(v2)이 공급될 수 있다.Referring to FIG. 2, the
이때, 발광구조물(115)의 제3 반도체층(150) 및 제4 반도체층(160)으로 정극성 전압(v1)이 공급되며, 제2 반도체층(130) 및 제1 반도체층(120)으로 부극성 전압(v2)이 공급된다.In this case, the positive voltage v1 is supplied to the
여기서, 제3 반도체층(150)은 정극성 전압(v1)에 의해 정공을 활성층(140)으로 제공하며, 제2 반도체층(130)은 부극성 전압(v2)에 의해 전자를 활성층(140)으로 제공할 수 있다.Here, the
따라서, 활성층(140)은 상술한 바와 같이 정공과 전자를 재결합하여 빛을 발생시킬 수 있다.Therefore, the
또한, 제4 반도체층(160)은 제3 반도체층(150)과 다른 n형 반도체층이므로, 정극성 전압(v1)이 공급되는 경우 정공을 제공할 수 없게 되며, 제1 반도체층(120)은 제2 반도체층(130)과 다른 p형 반도체층이므로 부극성 전압(v2)이 공급되는 경우 전자를 제공할 수 없으며, 제1, 4 반도체층(120, 160)의 저항은 제2, 3 반도체층(130, 150)의 저항보다 크게 형성될 수 있다.In addition, since the
따라서, 제1, 4 반도체층(120, 160)은 발광구조물(115)에서의 발광에 대한 영향을 줄 수 없으며, 정극성 전압(v1) 및 부극성 전압(v2)이 공급되지 않을 수 있다.Therefore, the first and fourth semiconductor layers 120 and 160 may not influence the light emission from the
도 3을 참조하면, 발광소자(100)는 제2 전극(190)으로 부극성 전압(v2)이 공급되고, 제1 전극(180)으로 정극성 전압(v1)이 공급될 수 있다.Referring to FIG. 3, in the
즉, 도 3은 발광소자(100)로 역전압(ESD)이 발생된 것을 나타낸 것으로 설명한다.That is, FIG. 3 illustrates that the reverse voltage ESD is generated in the
이때, 발광구조물(115)의 제3 반도체층(150) 및 제4 반도체층(160)으로 부극성 전압(v2)이 공급되며, 제2 반도체층(130) 및 제1 반도체층(120)으로 정극성 전압(v1)이 공급된다.In this case, the negative voltage v2 is supplied to the
여기서, 제2, 3 반도체층(130, 150) 각각은 정극성 전압(v1) 및 부극성 전압(v2)이 공급되면, 저항이 증가하게 됨으로써 전류 패스가 형성되지 않게 된다.Herein, when the positive voltage v1 and the negative voltage v2 are supplied to each of the second and third semiconductor layers 130 and 150, the resistance is increased to prevent the current path from being formed.
이때, 제1 반도체층(120)은 제1 전극(180)으로부터 공급된 정극성 전압(v1)에 의해 정공을 형성할 수 있으며, 제4 반도체층(160)은 제2 전극(190)으로부터 공급된 부극성 전압(v2)에 의해 전자를 형성할 수 있다.In this case, the
다시 말하면, 제1, 4 반도체층(120, 160) 사이에는 전류 패스가 형성됨으로써, 역전압(ESD)에 의해 발광구조물(115)의 파손을 방지할 수 있도록 할 수 있다.In other words, since a current path is formed between the first and fourth semiconductor layers 120 and 160, damage to the
도 4는 실시 예에 따른 발광소자를 나타내는 단면도이다.4 is a cross-sectional view illustrating a light emitting device according to an embodiment.
도 4는 도 1과 중복되는 구성에 대한 설명을 생략하거나, 또는 간략하게 설명한다.FIG. 4 omits or briefly describes a configuration that overlaps with FIG. 1.
도 4를 참조하면, 발광소자(200)는 제2 반도체층(230), 제3 반도체층(250) 및 제2, 3 반도체층(230, 250) 사이에 활성층(240)을 포함하는 발광구조물(215) 및 발광구조물(215)이 둘레를 감싸도록 배치된 제4 반도체층(260)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 4, the light emitting device 200 includes a light emitting structure including an
도 4에 나타낸 기판(210), 버퍼층(211) 및 제1 반도체층(220)은 도 1에서 설명한 바 설명을 생략한다.The
발광구조물(215)의 내측의 적어도 일 영역을 제거하여 제1 반도체층(220)의 적어도 일 영역을 노출시킨 후, 노툴된 제1 반도체층(220) 상에 제4 반도체층(260)이 형성될 수 있다. 한편, 발광구조물(215)을 제거하는 방법은 상술한 바와 같이 소정의 식각 공정이 사용될 수 있다.After at least one region of the inside of the
제4 반도체층(260)의 둘레 및 발광구조물(215)의 내측면에는 패시베이션(270)이 형성될 수 있으며, 패시베이션(270)은 제2 반도체층(230), 활성층(240), 및 제3 반도체층(250)과 제4 반도체층(260)을 전기적으로 절연시킬 수 있다.The
여기서, 제1 반도체층(220)은 p형 반도체층, 제2 반도체층(230)은 n형 반도체층, 제3 반도체층(250)은 p형 반도체층 및 제4 반도체층(260)은 n 형 반도체층일 수 있으며, 이에 한정을 두지 않는다.Here, the
이때, 패시베이션(270) 상에 배치되며, 제3, 4 반도체층(250, 260)과 전기적으로 연결되는 제2 전극(290)이 형성될 수 있으며, 제1, 2 반도체층(220, 230)과 전기적으로 연결되는 제1 전극(280)이 형성될 수 있다.In this case, a
도 4에 나타낸 발광소자(200)는 도 1에 나타낸 발광소자(100)과 동일하게 동작할 수 있다.The light emitting device 200 illustrated in FIG. 4 may operate in the same manner as the
도 5는 도 4에 나타낸 발광소자에 순방향 전류가 인가되었을 때 동작을 나타낸 동작도이고, 도 6은 도 4에 나타낸 발광소자에 역방향 전류가 인가되었을 때 동작을 나타낸 동작도이다.5 is an operation diagram showing an operation when a forward current is applied to the light emitting device shown in Figure 4, Figure 6 is an operation diagram showing an operation when a reverse current is applied to the light emitting device shown in FIG.
도 5를 참조하면, 발광소자(200)는 제2 전극(290)으로 정극성 전압(v1)이 공급되고, 제1 전극(280)으로 부극성 전압(v2)이 공급될 수 있다.Referring to FIG. 5, the light emitting device 200 may be supplied with the positive voltage v1 to the
이때, 발광구조물(215)의 제3 반도체층(250) 및 제4 반도체층(260)으로 정극성 전압(v1)이 공급되며, 제2 반도체층(230) 및 제1 반도체층(220)으로 부극성 전압(v2)이 공급된다.In this case, the positive voltage v1 is supplied to the
여기서, 제3 반도체층(250)은 정극성 전압(v1)에 의해 정공을 활성층(240)으로 제공하며, 제2 반도체층(230)은 부극성 전압(v2)에 의해 전자를 활성층(240)으로 제공할 수 있다.Here, the
따라서, 활성층(240)은 상술한 바와 같이 정공과 전자를 재결합하여 빛을 발생시킬 수 있다.Therefore, the
한편, 제1, 4 반도체층(220, 260)은 발광구조물(215)에서의 발광에 대해 영향을 줄 수 없으며, 정극성 전압(v1) 및 부극성 전압(v2)이 공급되지 않을 수 있다.Meanwhile, the first and fourth semiconductor layers 220 and 260 may not affect light emission from the
도 6을 참조하면, 발광소자(200)는 제2 전극(290)으로 부극성 전압(v2)이 공급되고, 제1 전극(280)으로 정극성 전압(v1)이 공급될 수 있다.Referring to FIG. 6, in the light emitting device 200, the negative voltage v2 may be supplied to the
즉, 도 6은 발광소자(200)로 역전압(ESD)이 발생된 것을 나타낸 것으로 설명한다.That is, FIG. 6 illustrates that the reverse voltage ESD is generated in the light emitting device 200.
이때, 발광구조물(215)의 제3 반도체층(250) 및 제4 반도체층(260)으로 부극성 전압(v2)이 공급되며, 제2 반도체층(230) 및 제1 반도체층(220)으로 정극성 전압(v1)이 공급된다.In this case, the negative voltage v2 is supplied to the
여기서, 제2, 3 반도체층(230, 250) 각각은 정극성 전압(v1) 및 부극성 전압(v2)이 공급되면, 저항이 증가하게 됨으로써 전류 패스가 형성되지 않게 된다.Herein, when the positive voltage v1 and the negative voltage v2 are supplied to each of the second and third semiconductor layers 230 and 250, the resistance is increased to prevent the current path from being formed.
이때, 제1 반도체층(220)은 제1 전극(280)으로부터 공급된 정극성 전압(v1)에 의해 정공을 형성할 수 있으며, 제4 반도체층(260)은 제2 전극(290)으로부터 공급된 부극성 전압(v2)에 의해 전자를 형성할 수 있다.In this case, the
다시 말하면, 제1, 4 반도체층(220, 260) 사이에는 전류 패스가 형성됨으로써, 역전압(ESD)에 의해 상기 발광구조물(215)의 파손을 방지할 수 있도록 할 수 있다.In other words, since a current path is formed between the first and fourth semiconductor layers 220 and 260, damage to the
도 7은 실시 예에 따른 발광소자를 포함한 발광소자 패키지를 나타낸 사시도이고, 도 8은 실시 예에 따른 발광소자를 포함한 발광소자 패키지의 단면을 도시한 단면도이다.7 is a perspective view illustrating a light emitting device package including a light emitting device according to an embodiment, and FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating a cross section of a light emitting device package including a light emitting device according to an embodiment.
도 7 및 도 8을 참조하면, 발광소자 패키지(300)는 캐비티가 형성된 몸체(310), 몸체(310)에 실장된 제1 및 제2 전극(340, 350) 제1 및 제2 전극과 전기적으로 연결되는 발광소자(320) 및 캐비티에 형성되는 봉지재(330)를 포함할 수 있고, 봉지재(330)는 형광체(340)를 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 7 and 8, the light emitting
몸체(310)는 폴리프탈아미드(PPA:Polyphthalamide)와 같은 수지 재질, 실리콘(Si), 알루미늄(Al), 알루미늄 나이트라이드(AlN), 액정폴리머(PSG, photo sensitive glass), 폴리아미드9T(PA9T), 신지오택틱폴리스티렌(SPS), 금속 재질, 사파이어(Al2O3), 베릴륨 옥사이드(BeO), 인쇄회로기판(PCB, Printed Circuit Board), 세라믹 중 적어도 하나로 형성될 수 있다. 몸체(310)는 사출 성형, 에칭 공정 등에 의해 형성될 수 있으나 이에 대해 한정하지는 않는다.The
몸체(310)의 내측면은 경사면이 형성될 수 있다. 이러한 경사면의 각도에 따라 발광소자(320)에서 방출되는 광의 반사각이 달라질 수 있으며, 이에 따라 외부로 방출되는 광의 지향각을 조절할 수 있다. The inner surface of the
몸체(310)에 형성되는 캐비티를 위에서 바라본 형상은 원형, 사각형, 다각형, 타원형 등의 형상일 수 있으며, 특히 모서리가 곡선인 형상일 수도 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The shape of the cavity formed in the
봉지재(330)는 캐비티에 충진될 수 있으며, 형광체(미도시)를 포함할 수 있다. 봉지재(330)는 투명한 실리콘, 에폭시, 및 기타 수지 재질로 형성될 수 있으며, 캐비티 내에 충진한 후, 이를 자외선 또는 열 경화하는 방식으로 형성될 수 있다. The
형광체(미도시)는 발광소자(320)에서 방출되는 광의 파장에 따라 종류가 선택되어 발광소자 패키지(300)가 백색광을 구현하도록 할 수 있다.The phosphor (not shown) may be selected according to the wavelength of the light emitted from the
봉지재(330)에 포함되어 있는 형광체(미도시)는 발광소자(320)에서 방출되는 광의 파장에 따라 청색 발광 형광체, 청록색 발광 형광체, 녹색 발광 형광체, 황녹색 발광 형광체, 황색 발광 형광체, 황적색 발광 형광체, 오렌지색 발광 형광체, 및 적색 발광 형광체중 하나가 적용될 수 있다. The fluorescent material (not shown) included in the
즉, 형광체(미도시)는 발광소자(320)에서 방출되는 제1 빛을 가지는 광에 의해 여기 되어 제2 빛을 생성할 수 있다. 예를 들어, 발광소자(320)가 청색 발광 다이오드이고 형광체(미도시)가 황색 형광체인 경우, 황색 형광체는 청색 빛에 의해 여기되어 황색 빛을 방출할 수 있으며, 청색 발광 다이오드에서 발생한 청색 빛 및 청색 빛에 의해 여기 되어 발생한 황색 빛이 혼색됨에 따라 발광소자 패키지(300)는 백색 빛을 제공할 수 있다. That is, the phosphor (not shown) may be excited by the light having the first light emitted from the
이와 유사하게, 발광소자(320)가 녹색 발광 다이오드인 경우는 magenta 형광체 또는 청색과 적색의 형광체(미도시)를 혼용하는 경우, 발광소자(320)가 적색 발광 다이오드인 경우는 Cyan형광체 또는 청색과 녹색 형광체를 혼용하는 경우를 예로 들 수 있다.Similarly, when the
이러한 형광체(미도시)는 YAG계, TAG계, 황화물계, 실리케이트계, 알루미네이트계, 질화물계, 카바이드계, 니트리도실리케이트계, 붕산염계, 불화물계, 인산염계 등의 공지된 것일 수 있다.Such phosphors (not shown) may be known such as YAG-based, TAG-based, sulfide-based, silicate-based, aluminate-based, nitride-based, carbide-based, nitridosilicate-based, borate-based, fluoride-based, and phosphate-based compounds.
한편, 몸체(310)에는 제1 전극(340) 및 제2 전극(350)이 실장될 수 있다. 제1 전극(340) 및 제2 전극(350)은 발광소자(320)와 전기적으로 연결되어 발광소자(320)에 전원을 공급할 수 있다.Meanwhile, the
제1 전극(340) 및 제2 전극(350)은 서로 전기적으로 분리되며, 발광소자(320)에서 발생된 빛을 반사시켜 광 효율을 증가시킬 수 있고, 또한 발광소자(320)에서 발생된 열을 외부로 배출시킬 수 있다.The
도 8에는 발광소자(320)가 제1 전극(350) 상에 실장되었으나, 이에 한정되지 않으며, 발광소자(320)와 제1 전극(340) 및 제2 전극(350)은 와이어 본딩(wire bonding) 방식, 플립 칩(flip chip) 방식 또는 다이 본딩 방식 중 어느 하나에 의해 전기적으로 연결될 수도 있다.Although the
이러한 제1 전극(340) 및 제2 전극(350)은 금속 재질, 예를 들어, 티타늄(Ti), 구리(Cu), 니켈(Ni), 금(Au), 크롬(Cr), 탄탈늄(Ta), 백금(Pt), 주석(Sn), 은(Ag), 인(P), 알루미늄(Al), 인듐(In), 팔라듐(Pd), 코발트(Co), 실리콘(Si), 게르마늄(Ge), 하프늄(Hf), 루테늄(Ru), 철(Fe) 중에서 하나 이상의 물질 또는 합금을 포함할 수 있다. 또한, 제1 전극(340) 및 제2 전극(350)은 단층 또는 다층 구조를 가지도록 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The
발광소자(320)는 제1 전극(340) 상에 실장되며, 예를 들어, 적색, 녹색, 청색, 백색 등의 빛을 방출하는 발광 소자 또는 자외선을 방출하는 UV(Ultra Violet) 발광 소자일 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다. 또한, 발광 소자(320)는 한 개 이상 실장될 수 있다.The
또한, 발광소자(320)는 그 전기 단자들이 모두 상부 면에 형성된 수평형 타입(Horizontal type)이거나, 또는 상, 하부 면에 형성된 수직형 타입(Vertical type), 또는 플립 칩 모두에 적용 가능하다.In addition, the
한편, 실시 예에 따른 발광소자(320)는 제1 내지 제4 반도체층(미도시)을 포함하여, ESD 에 대한 내성을 가질 수 있으므로, 신뢰성이 향상되며, 아울러 별도의 제너 소자(미도시)가 발광소자 패키지(300) 내에 실장되는 것이 회피되어 발광소자 패키지(300)의 발광 효율이 향상될 수 있다.Meanwhile, the
실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는 복수 개가 기판 상에 어레이되며, 발광소자 패키지(300)의 광 경로 상에 광학 부재인 도광판, 프리즘 시트, 확산 시트 등이 배치될 수 있다.A plurality of light emitting device packages 300 according to the embodiment may be arranged on a substrate, and a light guide plate, a prism sheet, a diffusion sheet, or the like, which is an optical member, may be disposed on an optical path of the light emitting
이러한 발광소자 패키지(300), 기판, 광학 부재는 라이트 유닛으로 기능할 수 있다. 또 다른 실시 예는 상술한 실시 예들에 기재된 발광소자(100) 또는 발광소자 패키지(300)를 포함하는 표시 장치, 지시 장치, 조명 시스템으로 구현될 수 있으며, 예를 들어, 조명 시스템은 램프, 가로등을 포함할 수 있다. The light emitting
도 9는 실시 예에 따른 발광소자를 포함하는 조명 시스템을 도시한 사시도이고, 도 10은 도 9의 조명 시스템의 D-D`단면을 도시한 단면도이다.9 is a perspective view illustrating a lighting system including a light emitting device according to an embodiment, and FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating a D-D ′ section of the lighting system of FIG. 9.
즉, 도 10은 도 9의 조명 시스템(400)을 길이방향(Z)과 높이방향(X)의 면으로 자르고, 수평방향(Y)으로 바라본 단면도이다.That is, FIG. 10 is a cross-sectional view of the
도 9 및 도 10을 참조하면, 조명 시스템(400)은 몸체(410), 몸체(410)와 체결되는 커버(430) 및 몸체(410)의 양단에 위치하는 마감캡(450)을 포함할 수 있다.9 and 10, the
몸체(410)의 하부면에는 발광소자 모듈(440)이 체결되며, 몸체(410)는 발광소자 패키지(444)에서 발생한 열이 몸체(410)의 상부면을 통해 외부로 방출할 수 있도록 전도성 및 열발산 효과가 우수한 금속재질로 형성될 수 있고, 이에 한정하지 아니한다.The lower surface of the
특히, 실시예에 따른 발광소자 패키지(444)는 발광소자(미도시)를 포함하며, 발광소자(미도시)는 제1 내지 제4 반도체층(미도시)을 포함하여, ESD 에 대한 내성을 가질 수 있으므로, 신뢰성이 향상되며, 아울러 별도의 제너 소자(미도시)가 발광소자 패키지(444) 내에 실장되는 것이 회피되어 발광소자 패키지(444), 및 조명 시스템(400)의 발광 효율이 향상될 수 있다.In particular, the light emitting
발광소자 패키지(444)는 기판(442) 상에 다색, 다열로 실장되어 모듈을 이룰 수 있으며, 동일한 간격으로 실장되거나 또는 필요에 따라서 다양한 이격 거리를 가지고 실장될 수 있어 밝기 등을 조절할 수 있다. 이러한 기판(442)으로 MCPCB(Metal Core PCB) 또는 FR4 재질의 PCB 를 사용할 수 있다.The light emitting
커버(430)는 몸체(410)의 하부면을 감싸도록 원형의 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않음은 물론이다.The
커버(430)는 내부의 발광소자 모듈(440)을 외부의 이물질 등으로부터 보호한다. 또한, 커버(430)는 발광소자 패키지(444)에서 발생한 광의 눈부심을 방지하고, 외부로 광을 균일하게 방출할 수 있도록 확산입자를 포함할 수 있으며, 또한 커버(430)의 내면 및 외면 중 적어도 어느 한 면에는 프리즘 패턴 등이 형성될 수 있다. 또한 커버(430)의 내면 및 외면 중 적어도 어느 한 면에는 형광체가 도포될 수도 있다. The
한편, 발광소자 패키지(444)에서 발생하는 광은 커버(430)를 통해 외부로 방출되므로, 커버(430)는 광투과율이 우수하여야 하며, 발광소자 패키지(444)에서 발생하는 열에 견딜 수 있도록 충분한 내열성을 구비하고 있어야 하는 바, 커버(430)는 폴리에틸렌 테레프탈레이트(Polyethylen?Terephthalate;?PET), 폴리카보네이트(Polycarbonate;?PC), 또는 폴리메틸 메타크릴레이트(Polymethyl Methacrylate; PMMA) 등을 포함하는 재질로 형성될 수 있다.On the other hand, since the light generated from the light emitting
마감캡(450)은 몸체(410)의 양단에 위치하며 전원장치(미도시)를 밀폐하는 용도로 사용될 수 있다. 또한 마감캡(450)에는 전원 핀(452)이 형성되어 있어, 실시예에 따른 조명 시스템(400)은 기존의 형광등을 제거한 단자에 별도의 장치 없이 곧바로 사용할 수 있게 된다.
도 11은 실시 예에 따른 발광소자를 포함하는 액정표시장치의 분해 사시도이다.11 is an exploded perspective view of a liquid crystal display including the light emitting device according to the embodiment.
도 11은 에지-라이트 방식으로, 액정 표시 장치(500)는 액정표시패널(510)과 액정표시패널(510)로 빛을 제공하기 위한 백라이트 유닛(570)을 포함할 수 있다.11 is an edge-light method, the
액정표시패널(510)은 백라이트 유닛(570)으로부터 제공되는 광을 이용하여 화상을 표시할 수 있다. 액정표시패널(510)은 액정을 사이에 두고 서로 대향하는 컬러 필터 기판(512) 및 박막 트랜지스터 기판(514)을 포함할 수 있다.The liquid
컬러 필터 기판(512)은 액정표시패널(510)을 통해 디스플레이되는 화상의 색을 구현할 수 있다.The
박막 트랜지스터 기판(514)은 구동 필름(517)을 통해 다수의 회로부품이 실장되는 인쇄회로기판(518)과 전기적으로 접속되어 있다. 박막 트랜지스터 기판(514)은 인쇄회로기판(518)으로부터 제공되는 구동 신호에 응답하여 인쇄회로기판(518)으로부터 제공되는 구동 전압을 액정에 인가할 수 있다.The thin
박막 트랜지스터 기판(514)은 유리나 플라스틱 등과 같은 투명한 재질의 다른 기판상에 박막으로 형성된 박막 트랜지스터 및 화소 전극을 포함할 수 있다. The thin
백라이트 유닛(570)은 빛을 출력하는 발광소자 모듈(520), 발광소자 모듈(520)로부터 제공되는 빛을 면광원 형태로 변경시켜 액정표시패널(510)로 제공하는 도광판(530), 도광판(530)으로부터 제공된 빛의 휘도 분포를 균일하게 하고 수직 입사성을 향상시키는 다수의 필름(550, 566, 564) 및 도광판(530)의 후방으로 방출되는 빛을 도광판(530)으로 반사시키는 반사 시트(540)로 구성된다.The
발광소자 모듈(520)은 복수의 발광소자 패키지(524)와 복수의 발광소자 패키지(524)가 실장되어 모듈을 이룰 수 있도록 PCB기판(522)을 포함할 수 있다.The light emitting
특히, 실시예에 따른 발광소자 패키지(524)는 발광소자(미도시)를 포함하며, 발광소자(미도시)는 제1 내지 제4 반도체층(미도시)을 포함하여, ESD 에 대한 내성을 가질 수 있으므로, 신뢰성이 향상되며, 아울러 별도의 제너 소자(미도시)가 발광소자 패키지(524) 내에 실장되는 것이 회피되어 발광소자 패키지(524), 및 백라이트 유닛(570)의 발광 효율이 향상될 수 있다.In particular, the light emitting
한편, 백라이트유닛(570)은 도광판(530)으로부터 입사되는 빛을 액정 표시 패널(510) 방향으로 확산시키는 확산필름(566)과, 확산된 빛을 집광하여 수직 입사성을 향상시키는 프리즘필름(550)으로 구성될 수 있으며, 프리즘필름(550)를 보호하기 위한 보호필름(564)을 포함할 수 있다.Meanwhile, the
도 12는 실시예에 따른 발광소자를 포함하는 액정표시장치의 분해 사시도이다. 다만, 도 11에서 도시하고 설명한 부분에 대해서는 반복하여 상세히 설명하지 않는다.12 is an exploded perspective view of a liquid crystal display including the light emitting device according to the embodiment. However, the parts shown and described in FIG. 11 will not be repeatedly described in detail.
도 12는 직하 방식으로, 액정 표시 장치(600)는 액정표시패널(610)과 액정표시패널(610)로 빛을 제공하기 위한 백라이트 유닛(670)을 포함할 수 있다.12 illustrates a direct method, the
액정표시패널(610)은 도 11에서 설명한 바와 동일하므로, 상세한 설명은 생략한다.Since the liquid
백라이트 유닛(670)은 복수의 발광소자 모듈(623), 반사시트(624), 발광소자 모듈(623)과 반사시트(624)가 수납되는 하부 섀시(630), 발광소자 모듈(623)의 상부에 배치되는 확산판(640) 및 다수의 광학필름(660)을 포함할 수 있다.The
발광소자 모듈(623) 복수의 발광소자 패키지(622)와 복수의 발광소자 패키지(622)가 실장되어 모듈을 이룰 수 있도록 PCB기판(621)을 포함할 수 있다.LED Module 623 A plurality of light emitting device packages 622 and a plurality of light emitting device packages 622 may be mounted to include a
특히, 실시예에 따른 발광소자 패키지(622)는 발광소자(미도시)를 포함하며, 발광소자(미도시)는 제1 내지 제4 반도체층(미도시)을 포함하여, ESD 에 대한 내성을 가질 수 있으므로, 신뢰성이 향상되며, 아울러 별도의 제너 소자(미도시)가 발광소자 패키지(622) 내에 실장되는 것이 회피되어 발광소자 패키지(622), 및 백라이트 유닛(670)의 발광 효율이 향상될 수 있다.In particular, the light emitting
반사 시트(624)는 발광소자 패키지(622)에서 발생한 빛을 액정표시패널(610)이 위치한 방향으로 반사시켜 빛의 이용 효율을 향상시킨다.The
한편, 발광소자 모듈(623)에서 발생한 빛은 확산판(640)에 입사하며, 확산판(640)의 상부에는 광학 필름(660)이 배치된다. 광학 필름(660)은 확산 필름(666), 프리즘필름(650) 및 보호필름(664)를 포함하여 구성된다.On the other hand, the light generated from the light emitting
이상에서 실시예들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 발명의 적어도 하나의 실시예에 포함되며, 반드시 하나의 실시예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.Features, structures, effects, and the like described in the above embodiments are included in at least one embodiment of the present invention, and are not necessarily limited to only one embodiment. Furthermore, the features, structures, effects, and the like illustrated in each embodiment may be combined or modified with respect to other embodiments by those skilled in the art to which the embodiments belong. Therefore, it should be understood that the present invention is not limited to these combinations and modifications.
또한, 이상에서 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.In addition, the above description has been made with reference to the embodiment, which is merely an example, and is not intended to limit the present invention. It will be appreciated that various modifications and applications are possible. For example, each component specifically shown in the embodiments can be modified and implemented. It is to be understood that all changes and modifications that come within the meaning and range of equivalency of the claims are therefore intended to be embraced therein.
Claims (9)
상기 기판 상에 배치된 제1 반도체층;
상기 제1 반도체층 상에 배치되며, 제2 반도체층, 제3 반도체층 및 제2, 3 반도체층 사이에 활성층을 포함하는 발광구조물;
상기 제1 반도체층 상에 배치되며, 상기 발광구조물과 분리된 제4 반도체층;
상기 발광구조물과 상기 제4 반도체층 사이에 배치된 패시베이션;
상기 제1, 2 반도체층 상에 배치된 제1 전극; 및
상기 패시베이션 및 상기 제3, 4 반도체층 상에 배치된 제2 전극;을 포함하는 발광소자.Board;
A first semiconductor layer disposed on the substrate;
A light emitting structure disposed on the first semiconductor layer and including an active layer between the second semiconductor layer, the third semiconductor layer, and the second and third semiconductor layers;
A fourth semiconductor layer disposed on the first semiconductor layer and separated from the light emitting structure;
Passivation disposed between the light emitting structure and the fourth semiconductor layer;
First electrodes disposed on the first and second semiconductor layers; And
And a second electrode disposed on the passivation and the third and fourth semiconductor layers.
상기 제1, 3 반도체층은,
p형 도펀트가 도핑되며,
상기 제2, 4 반도체층은,
n형 도펀트가 도핑된 발광소자.The method of claim 1,
The first and third semiconductor layers,
p-type dopant is doped,
The second and fourth semiconductor layers,
A light emitting device doped with an n-type dopant.
상기 제3 반도체층의 두께와 동일하거나,
또는 상기 제3 반도체층의 두께보다 작은 발광소자.The method of claim 1, wherein the thickness of the first semiconductor layer,
Is equal to the thickness of the third semiconductor layer,
Or a light emitting device smaller than the thickness of the third semiconductor layer.
상기 제2 반도체층의 두께와 동일하거나,
또는 상기 제2 반도체층의 두께보다 작은 발광소자.The thickness of the fourth semiconductor layer,
Is equal to the thickness of the second semiconductor layer,
Or a light emitting device smaller than the thickness of the second semiconductor layer.
상기 제1 반도체층의 폭보다 작은 발광소자.The method of claim 1, wherein the width of the second semiconductor layer,
A light emitting device smaller than the width of the first semiconductor layer.
단차가 형성된 발광소자.The method of claim 1, wherein the second semiconductor layer,
A light emitting device in which a step is formed.
상기 제1 반도체층의 상부 일부분에 배치되며, 상기 발광구조물 및 상기 제4 반도체층의 측면에 배치된 발광소자.The method of claim 1, wherein the passivation,
The light emitting device disposed on an upper portion of the first semiconductor layer and disposed on side surfaces of the light emitting structure and the fourth semiconductor layer.
상기 기판 상에 배치된 제1 반도체층;
상기 제1 반도체층 상에 배치되며, 제2 반도체층, 제3 반도체층 및 제2, 3 반도체층 사이에 활성층을 포함하는 발광구조물;
상기 제1 반도체층 상에 배치되며, 상기 발광구조물과 분리되며 상기 발광구조물 내부에 위치한 제4 반도체층;
상기 발광구조물과 상기 제4 반도체층 사이에 배치된 패시베이션;
상기 제1, 2 반도체층 상에 배치된 제1 전극; 및
상기 패시베이션 및 상기 제3, 4 반도체층 상에 배치된 제2 전극;을 포함하는 발광소자.Board;
A first semiconductor layer disposed on the substrate;
A light emitting structure disposed on the first semiconductor layer and including an active layer between the second semiconductor layer, the third semiconductor layer, and the second and third semiconductor layers;
A fourth semiconductor layer disposed on the first semiconductor layer and separated from the light emitting structure and positioned inside the light emitting structure;
Passivation disposed between the light emitting structure and the fourth semiconductor layer;
First electrodes disposed on the first and second semiconductor layers; And
And a second electrode disposed on the passivation and the third and fourth semiconductor layers.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020110054596A KR20120135722A (en) | 2011-06-07 | 2011-06-07 | Light emitting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020110054596A KR20120135722A (en) | 2011-06-07 | 2011-06-07 | Light emitting device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20120135722A true KR20120135722A (en) | 2012-12-17 |
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ID=47903373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020110054596A Ceased KR20120135722A (en) | 2011-06-07 | 2011-06-07 | Light emitting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20120135722A (en) |
-
2011
- 2011-06-07 KR KR1020110054596A patent/KR20120135722A/en not_active Ceased
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Legal Events
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Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20110607 |
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Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20160523 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20110607 Comment text: Patent Application |
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| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20170320 Patent event code: PE09021S01D |
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| PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20170929 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20170320 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |