「"cross section observation"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a sample holder for cross-section observation with easy mounting of a sample and capable of avoiding view escape even if the sample is inclined.例文帳に追加

試料の装着が容易であり、試料を傾斜させても、視野逃げを回避することができる断面観察用の試料ホルダを提供する。 - 特許庁

To provide a sample analysis device equipped with a focusing ion beam machining/observation apparatus capable of carrying out superb cross-section observation of a sample in a short time.例文帳に追加

短時間で良好な試料の断面観察を行うことが可能な収束イオンビーム加工観察装置を備える試料解析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a cross-section observation scanning electron microscope for allowing the bright view of an observed cross section.例文帳に追加

本発明は断面観察用走査電子顕微鏡に関し、観察断面が明るく見えるような断面観察用走査電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a cross section processing method by which the cross section of a sample with an organic substance formed on the surface can be obtained in proper precision, and to provide a manufacturing method of a cross section observation sample.例文帳に追加

表面に有機物が形成されている試料の断面を精度よく得ることができる断面加工方法及び断面観察試料の製造方法を提供する。 - 特許庁

In this cross section polishing method suitable for cross section observation near the outermost layer of the sample, after forming a metal deposition layer on the sample surface, a metal plating layer is formed, and then cross section polishing is performed.例文帳に追加

試料の最表層近傍の断面観察に適した断面研磨方法であって、試料表面に金属蒸着層を形成した後金属めっき層を形成し、しかる後、断面研磨を行う。 - 特許庁

The highly oriented graphite layered sheet is obtained from a polyimide film having ≤20 ppm/°C coefficient of linear expansion in the range of 20-200°C, has a graphite layered structure by cross-section observation with a SEM and has 1-50 μm thickness.例文帳に追加

２０〜２００℃における線膨張係数が２０ｐｐｍ／℃以下であるポリイミドフィルムから得られ、ＳＥＭによる断面観察によってグラファイト層状構造を有し、厚みが１〜５０μｍである高配向グラファイト層状シ−ト物。 - 特許庁

In the protrusion 5, a plurality of foams 3 with the maximum diameter acquired by cross-section observation in a range of 50-300 μm are formed and a large number of fine holes 4 with the maximum diameter in a range of 1 to 10 μm are formed between the foams 3.例文帳に追加

凸部５には、断面観察における最大径が５０μｍ〜３００μｍの範囲の複数の気泡３が形成されており、気泡３の間に最大径が１μｍ〜１０μｍの範囲の多数の細孔４が形成されている。 - 特許庁

To provide a method that has a means for easily and rapidly removing a machining damage layer, remaining on the observation surface of a sample for cross-section observation and prepares the sample, capable of precisely executing a two-dimensional carrier distribution measurement.例文帳に追加

断面観察用試料の観察面に残存する加工ダメージ層を簡単かつ迅速に除去する手段を備え、２次元キャリア分布測定を精度よく実施することが可能な断面観察用試料を作製する方法を提供すること。 - 特許庁

The photosensitive resin composition has a sea-island structure comprising sea and island parts in which two phases different from each other in horizontal force are present in cross-section observation with a horizontal force microscope (LFM) and ≥60% of the island part has ≤4 μm2 average domain area.例文帳に追加

水平力顕微鏡（ＬＦＭ）で断面観察した場合、水平力の異なる相が二相存在する、海部分と島部分とからなる海島構造であり、前記島部分の６０％以上がドメイン平均面積を４μｍ^2以下とする感光性樹脂組成物。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a sample for cross-section observation by a scanning electron microscope that is appropriate to smooth cross-section formation of 10-100 μm order, does not require a skilled technique of a worker, has high processing position accuracy, and accurately forms a cross section at a desired specific position.例文帳に追加

１０μｍ〜１００μｍオーダーの平滑な断面形成に適し、作業者の熟練の技術を必要とせず、かつ加工位置精度に優れ、所望の特定位置に正確に断面を形成できる、走査電子顕微鏡による断面観察用サンプルの作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device of processing/observing a minute sample and a method of processing/observing a minute sample, which can execute cross section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method capable of executing cross-section observation and analysis of a wafer cross section from directions from a horizontal direction to a vertical direction without dividing a wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a solder joining quality inspecting method for securing a joining area and a joining strength of electrodes even when solder is joined to a flexible substrate with high flexibility and reducing a cycle time and a cost since a tension test and a cross section observation test in 100% inspections on a joined specimen and sampling inspection at every prescribed period become unnecessary, and to provide a solder joining apparatus.例文帳に追加

柔軟性が高いフレキシブル基板にはんだ接合を行う場合でも、電極どうしの接合面積や、接合強度を確保することができ、接合した試験体に対して行う全数検査における引張試験や断面観察試験や、一定期間ごとの抜き取り検査が不要となるため、サイクルタイムやコストを低減させることのできる、はんだ接合品質検査方法、及び、はんだ接合装置を提供する。 - 特許庁

With respect to an Al alloy member for open rack vaporizer provided with the Al-Zn sprayed coating on a surface of an Al alloy base material, pores existing near an interface of the base material and the sprayed coating, of the sprayed coating are impregnated with a filler including carbon so that a carbon of 0.3 mass% or more is detected as a result of cross-section observation by EPMA.例文帳に追加

Ａｌ合金基材の表面にＡｌ−Ｚｎ溶射皮膜が形成されているオープンラックベーパライザ用のＡｌ合金部材であって、この溶射皮膜は、少なくとも、基材と溶射皮膜との界面近傍に存在する気孔においては、ＥＰＭＡによる断面観察結果として、０．３質量％以上の炭素が検出されるように、炭素を含む充填剤によって含浸処理がなされていることを特徴とするＡｌ−Ｚｎ溶射皮膜含有Ａｌ合金部材である。 - 特許庁