例文 (1件) |
OSF-4の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1件
When the anisotropic etching is applied, OSF (oxidation-induced stacking faults) of OSF density 2×10^4 pieces/cm^2 or more and the OSF length 2 μm or more is made to exist on the rear surface of the Si substrate 1.例文帳に追加
異方性エッチングを行う際、Si基板1の裏面に、OSF(酸化誘起積層欠陥)をOSF密度2×10^4個/cm^2以上、かつOSF長さを2μm以上で存在させておく。 - 特許庁
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