「Final inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

ILLUMINATION DEVICE AND FINAL APPEARANCE INSPECTION EQUIPMENT FOR PRINTED WIRING BOARD例文帳に追加

照明装置及びプリント配線板最終外観検査装置 - 特許庁

The final inspection station Sn reads and records the label of the inspection indicating slip, and outputs an inspection result slip 250.例文帳に追加

最終検査ステーションＳｎでは、検査指示票のラベルを読み取り記録するとともに検査結果票２５０を出力する。 - 特許庁

The final process contains a complete vehicle inspection process 44 and the additional repair process 46.例文帳に追加

最終工程は完検工程４４と加修工程４６を含む。 - 特許庁

DEFECT EXTRACTION METHOD AND PRINTED WIRING BOARD FINAL APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥抽出手法及びプリント配線板最終外観検査装置 - 特許庁

An inspection unit 15 inspects at least the flaw in a final inspection region excepting the non-inspection region, which is specified by the control unit 14, from the semiconductor pattern using the pattern image acquired by the acquisition unit 11 and outputs final inspection results showing the flaw in the final inspection region.例文帳に追加

検査部１５は、取得部１１が取得したパターン画像を用いて、半導体パターンから制御部１４にて特定された非検査領域を除いた最終検査領域内の欠陥を少なくとも検査し、その最終検査領域内の欠陥を示す最終検査結果を出力する。 - 特許庁

The flight crew makes the final decision whether the inspection is required or not. 例文帳に追加

その航空機搭乗員が検査が必要かどうかの最終判断をくだす。 - Weblio Email例文集

Implementation of the final inspection in government laboratory on the sample detected any reaction,例文帳に追加

反応があったサンプルについては、政府検査所で最終的な検査を実施。 - 経済産業省

If the collation result is OK, it is discriminated whether the circuit is on the final inspection point or not in S13, and when the circuit is not on the final inspection point, the next circuit checking is performed.例文帳に追加

この照合結果がＯＫの場合、Ｓ１３で当該回路が最終検査ポイントか否かを判別し、最終検査ポイントでない場合は次の回路のチェックを行う。 - 特許庁

Final defect distributions on each substrate are sorted into defect-distribution patterns P1 and P2 by using final defect-distribution information in a final inspection process 10g.例文帳に追加

最終検査工程１０ｇにおける最終欠陥分布情報を用いて、各基板上の最終欠陥分布を欠陥分布パターンＰ１、Ｐ２毎に分類する。 - 特許庁

It is thus possible to automate visual inspection of the wafer 2 to final defect classification, eliminate the need for inspection by visual observation (review), and substantially shortening the time required for inspection.例文帳に追加

このため、ウェハ２の外観検査を最終的な欠陥分類に至るまで自動化でき、目視検査（レビュー）が不要となり、検査時間を大幅に短縮できる。 - 特許庁

(d) The financial institution shall be informed that the final views of the inspection department/bureau will be presented in the inspection results notice, and that even after the completion of on-the-spot inspection, the inspection itself will continue until the inspection results notice is given. 例文帳に追加

ニ．検査部局としての最終的な見解は検査結果通知により示される旨、及び立入検査は終了しても検査自体は検査結果通知まで継続する旨を被検査金融機関に伝達し、今後の手続について説明を行う。 - 金融庁

Final inspection is carried out by a light and a camera head (200) fitted on the third modules.例文帳に追加

第３のモジュール上に装着されたライト及びカメラヘッド（２００）により、最終的な検査が行われる。 - 特許庁

To securely detect a defect of an electronic component module used for a portable telephone, a GPS receiver, etc., at its final inspection stage (electric inspection).例文帳に追加

携帯電話やＧＰＳ受信機などに用いられる電子部品モジュールにおいて、その不良を最終的な検査工程（電気検査）において確実に検出する。 - 特許庁

After performing processing of inspection (primary) 5, modification 6, color tone correction 7, inspection (secondary) 8, and final adjustment 9 to the digital orthophoto, result completion 10 is achieved.例文帳に追加

デジタルオルソフォトに対して、検査（一次）５、修正６、色調補正７、検査（二次）８、最終調整９の処理を経て、成果品完成１０が得られる。 - 特許庁

(3) The final rating results shall be notified to the inspected financial institution as part of the inspection result report. 例文帳に追加

（３）最終的な評定結果は、検査結果通知の一部として、被検査金融機関に通知されるものとする。 - 金融庁

42. The financial institution being inspected would be notified of the final rating results as part of the inspection result report. 例文帳に追加

42．最終的な評定結果は、検査結果通知の一部として、被検査金融機関に通知されることとなる。 - 金融庁

To provide a defect inspection analysis system and a defect inspection analysis method capable of improving the efficiency of a series of inspection analysis processes, including the defect inspection of a wafer at the manufacturing of a semiconductor device and a final defect analysis result of a target portion, and to provide a management computer that uses the defect inspection analysis method.例文帳に追加

半導体装置製造時のウエハの欠陥検査や注目部の最終的な欠陥解析結果を含む一連の検査解析工程を高効率化することができる欠陥検査解析システム、欠陥検査解析方法及びこれに用いる管理コンピュータを提供する。 - 特許庁

A second inspection judgment M6 decides that the inspection is required when the final operation time of the respective plural sensors M0 is before the prescribed time for the respective sensors.例文帳に追加

第２の点検判定手段Ｍ６は、複数の感知器Ｍ０夫々の最終動作時刻が各感知器毎の所定時間以前であるとき点検要と判定する。 - 特許庁

To provide an improved manufacturing system for enhancing a yield of a final product, and an inspection device suitable therefor.例文帳に追加

最終製品の歩留まりを向上させるための改善された製造システム、及びそれに適した検査装置を提供すること。 - 特許庁

Koban that had passed final inspection were packed by the hundred ryo (currency unit) to make tsutsumi-kingin (a certain amount of gold coins and silver coins packed and sealed in a piece of Japanese paper) and delivered to kanjosho (financial office in the Edo bakufu). 例文帳に追加

最終検査に合格した小判は百両単位で包金銀とし勘定所に上納された。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide a lens inspection device and a lens inspection method for evaluating not only the performance of a lens single body but also the performance of the assembled state as an imaging device which is the final product.例文帳に追加

レンズ単体の性能評価だけでなく、最終製品である撮像装置として組み上げた状態の性能を評価するレンズ検査装置及びレンズ検査方法を得る。 - 特許庁

A visible light 2 is arranged in the inspection department of the billet grinder with the magnetic particle examination device and, after the reexamination and flaws maintenance are executed in series, the final examination through the visual inspection continues to be executed.例文帳に追加

磁粉探傷装置付ビレットグラインダーの検査部に可視光ライト２を設置し、前記再検査と疵手入れを連続して行った後、引き続いて目視検査による最終検査を行う。 - 特許庁

To provide an inspection information generation apparatus for executing the inspection of an inspection object apparatus as final merchandise configurations, and for generating information necessary for reproducing an operation procedure when any failure occurs.例文帳に追加

検査対象装置の検査を、最終商品形態のままで行うことができ、不具合発生時における操作手順の再現のために必要となる情報を生成することが可能な検査情報生成装置を提供する。 - 特許庁

The result of inspection is checked by a determination part 18 of the CPU 2 and then final confirmation is performed by a determination part 22 of the inspecting device 10.例文帳に追加

検査結果は、ＣＰＵ２の判定部１８でチェックし、その後、検査装置１０の判定部２２で最終的な確認を行う。 - 特許庁

The sorted final defect distributions and layer defect distributions obtained by each in-line inspection process 10a, 10e and 10f are compared, respectively, and the in-line inspection process 10e obtaining the layer defect distributions (such as 31b) similar to the final defect distributions (such as 26a) is specified.例文帳に追加

分類された最終欠陥分布と各インライン検査工程１０ａ、１０ｅ、１０ｆによって得られたレイヤ欠陥分布とをそれぞれ比較して、最終欠陥分布（例えば２６ａ）に対して類似するレイヤ欠陥分布（例えば３１ｂ）が得られたインライン検査工程１０ｅを特定する。 - 特許庁

The substrate, similar to the layer defect distributions in the in-line inspection process 10e to the final defect distribution 26a, is extracted from the substrates through the in-line inspection process 10e.例文帳に追加

そのインライン検査工程１０ｅを経た基板の中から、その最終欠陥分布２６ａに対してそのインライン検査工程１０ｅでのレイヤ欠陥分布が類似しているような基板を抽出する。 - 特許庁

Furthermore, the inspection device determines the state of continuity based on the output 4_n from the open/short detection circuit in the final stage.例文帳に追加

更に、本発明にかかる導通検査装置は、最終段のオープン／ショート検出回路の出力４_ｎに基づき導通状態を判定している。 - 特許庁

After the voltage is applied and an inspection is finished, the patterned conductive layer is removed from a semiconductor element before final assembly or packaging.例文帳に追加

電圧を印加し検査が完了した後、最終的組み立てまたはパッケージ化の前に、パターニングした導電層を半導体素子から除去する。 - 特許庁

To easily confirm a repair result in illumination inspection of a final stage by finding a defect to be repaired by using coordinate data representing a defect position calculated from image defect inspection and electric operation confirming inspection carried out before a repair stage.例文帳に追加

リペア工程前に行われる画像欠陥検査及び電気的動作確認検査から算出される欠陥位置を示す座標データを用いてリペアすべき欠陥を求め、最終工程の点灯検査においてリペア結果の確認が容易にできるようにする。 - 特許庁

Therefore, the deflection of the pressure-sensitive sensor 50 for the vehicle in the sensor holder 60 is eliminated and final energization inspection or the like becomes unnecessary to enhance a yield.例文帳に追加

よって、車両用感圧センサ５０のセンサホルダ６０内での撓みを解消して、最終的な通電検査等が不要となり歩留まりの向上が図れる。 - 特許庁

When there is result of not inspected yet or rejected, error or warning message is output to a display unit 22 or an external interface unit 24 with respect to respective inspection items at a final confirmation spot to judge pass/rejection of inspection.例文帳に追加

最終確認の所で各検査項目に対し未実施または不合格の結果がある場合にエラーまたはワーニングメッセージを表示部２２または外部インターフェース部２４に出力し、検査合格／不合格を判別する。 - 特許庁

In the final stage of a preparation of the APTT measuring reagent, i.e. an inspection process after the reagent is prepared, an inspection method for reflecting differences of measured values between the lots and/or between the vials is introduced.例文帳に追加

ＡＰＴＴ測定試薬調製の最終段階、つまり試薬製造後の検査工程において、ロット間及び／又はバイアル間における測定値の違いを反映しうる検査方法を導入することによる。 - 特許庁

To provide an inspecting device which can perform the defect inspection of CF as a constitution material of a liquid crystal display device and a polarizing plate in a single body state nearly as precisely as the inspection at the final stage of a liquid crystal module.例文帳に追加

液晶表示装置の構成材料であるＣＦおよび偏光板の欠陥検査を、単体の状態で、液晶モジュールの最終工程での検査と同程度の精度で行うことができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vulcanized rubber inspection system capable of accurately specifying the range of defects in the case that defects in chemical addition have occurred in the final kneading of rubber.例文帳に追加

ファイナルゴム混練において薬品添加の不良が生じた場合に不良の範囲をより正確に特定することができる加硫性ゴム検査システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspecting characteristic of a magnetic field generating element, which can inspect recording characteristic of a thin-film magnetic head element prior to final inspection of a HGA.例文帳に追加

ＨＧＡの最終検査よりも前に薄膜磁気ヘッド素子の記録特性を検査することの可能な、磁界発生素子の特性検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

Then XDS packet data which have no parity error are decoded and the check sum of the data obtained by the decoding is inspected and data having no inspection error of the check sum are regarded as final data.例文帳に追加

そして、パリティエラーの無いＸＤＳパケットデータをデコードし、デコードして得られたデータに対しチェックサムの検査を行い、チェックサムの検査エラーの無いデータを確定データとする。 - 特許庁

To provide a defect extraction method and a printed wiring board final appearance inspection device, supressing generation of false information due to fluctuation in manufacturing process for an object board to be inspected.例文帳に追加

被検査対象基板の製造工程のバラツキによる虚報の発生をおさえた欠陥抽出手法及びプリント配線板最終外観検査装置を提供すること。 - 特許庁

Consequently, the wafers for which burn-in inspection is performed in the final test process can be collected, and burn-in simplification can be performed efficiently.例文帳に追加

したがって、ファイナルテスト工程においてバーンイン検査を行なうべきウェハを１つのロットに集めることができ、バーンイン簡略を効率的に行なうことが可能となる。 - 特許庁

(2) If a petition set forth in the preceding paragraph is filed, a third party may not make a request for inspection, etc. of the secret part until a judicial decision on the petition becomes final and binding. 例文帳に追加

２　前項の申立てがあったときは、その申立てについての裁判が確定するまで、第三者は、秘密記載部分の閲覧等の請求をすることができない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a semiconductor device quality evaluating method of preventing deterioration in yield of semiconductor devices in electrical characteristics inspection for final products.例文帳に追加

最終製品での電気特性検査において半導体装置の歩留まりが低下するのを抑制することが可能な半導体装置の品質評価方法を提供する。 - 特許庁

The inspection device 15 of the rolling roll flaw is installed on a run-out table behind a cooling zone 12 between the final stand of the finish rolling machine 11 of a hot rolling line and the pinch roll 13 before a down coil 14 and its floodlight projection part emits light to the surface to be inspected by an inspection target obliquely in the width direction of the inspection target.例文帳に追加

熱延ラインの仕上げ圧延機１１の最終スタンドとダウンコイラ１４前のピンチロール１３との間の、冷却帯１２の後のランナウトテーブル上に、圧延性ロール疵検出装置１５を設置し、その投光部は、被検査体の幅方向斜めより被検査体の検査対象面上に光を照射する - 特許庁

With respect to the substrates whose decision results of the inspection machine of a final soldering process are "good" and "faulty", the histograms of the positional discrepant quantities of the respective components are created which are measured in their positional-discrepant-quantity inspections.例文帳に追加

最終のはんだ付け工程の検査機の判定結果が「良」の基板、「不良」の基板について、それぞれ部品の位置ずれ検査で計測された位置ずれ量のヒストグラムを作成する。 - 特許庁

To provide an image sensor, which can solve the problem that a column fixed pattern noise is generated due to FICD (Final Inspection Critical Dimension) variance of the gate electrode of a transistor constituting a unit pixel.例文帳に追加

単位画素を構成するトランジスタのゲート電極のＦＩＣＤ変動に起因するカラム固定パターンノイズの発生という問題を解決することができるイメージセンサを提供すること。 - 特許庁

In a matching step 34, the fingerprint of the inspection object and the known template are matched against one other, parameters are calculated from matching detailed parts and a final identification judgment is made by the parameter.例文帳に追加

整合ステップ３４は、検査対象の指紋と既知のテンプレートとを互いに整合し、整合する細部からパラメーターを計算して、そのパラメーターにより最終的な識別判定を行う。 - 特許庁

An acquisition apparatus 27 acquires a final adjustment value of a series of adjustments of the adjustment values s, z and adjustment values in a changing process up to the final adjustment value from the adjustment values s, z outputted at the inspection terminal 17, and transmits them to a storage device 29.例文帳に追加

取得装置２７は、検査用端子１７に出力されている調整値ｓ，ｚから、これらの調整値ｓ，ｚの一連の調整における最終調整値及びこの最終調整値に至るまでの変化の過程にある調整値を取得し、蓄積装置２９に送る。 - 特許庁