「protection test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

RELIABILITY TEST METHOD OF PROTECTION CIRCUIT OF ELECTRONIC BALLAST FOR FLUORESCENT LAMP, AND PROTECTIVE OPERATION CONFIRMATION METHOD IN OUTGOING INSPECTION OF ELECTRONIC BALLAST FOR FLUORESCENT LAMP例文帳に追加

蛍光灯用電子安定器の保護回路の信頼性試験方法及び蛍光灯用電子安定器の出荷検査時の保護動作確認方法 - 特許庁

To reduce labor and time used in a test for soundness confirmation or the like of a highly integrated logic integrated circuit used in a safety protection system of a plant.例文帳に追加

プラントの安全保護系システムに用いられる高集積な論理集積回路の健全性確認などの試験に費やす手間と時間を短縮させる。 - 特許庁

Noguchi led the spacewalk as he and astronaut Stephen Robinson worked together in Discovery's cargo bay to test techniques for repairing the shuttle's thermal protection tiles. 例文帳に追加

野口さんは船外活動を先導し，スティーブン・ロビンソン飛行士と協力して，ディスカバリーの貨物室でシャトルの耐熱タイルの補修技術を試した。 - 浜島書店 Catch a Wave

Then, the main protection device 2 and the terminal device 3 simultaneously output and supply a signal of a trigger OUT to the test devices 1_M and 1_S as a state change signal.例文帳に追加

すると、主保護装置２と端末装置３は、試験装置１_M，１_Sに対してトリガＯＵＴの信号を同時出力し、状変信号として供給する。 - 特許庁

To provide a performance test for an overvoltage protection circuit in a power supply unit using a synchronous rectification element by applying an external voltage to an output terminal.例文帳に追加

同期整流素子を用いた電源装置の過電圧保護回路の動作試験を、出力端子に外部電圧を印加する方法で実現する。 - 特許庁

To provide a tester of a battery pack capable of testing even with reduction of the number of test terminals for testing the functions of a battery protection circuit of the battery pack.例文帳に追加

電池パックの電池保護回路の動作を検査するための検査端子の数を削減しても検査可能とした電池パックの検査装置を提供する。 - 特許庁

By sharing a guard ring of an ESD protective element, and a cathode of a latch-up protection diode for protecting from the overcurrent noise in a latch-up test, an internal circuit is protected from both the overcurrent noise of an ESD and the overcurrent noise in a latch-up test, and the size of the electrostatic protection circuit device can be reduced.例文帳に追加

ＥＳＤ保護素子のガードリングとラッチアップ試験の過電流ノイズから保護するラッチアップ保護ダイオードのカソードを共有することにより、ＥＳＤの過電流ノイズとラッチアップ試験の過電流ノイズの両方のノイズから、内部回路を保護しつつ、静電保護回路装置のサイズ縮小を図ることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of preventing erroneous inputting of a test mode for use on a user side and improving a security protection of a program without restricting use and without the need for a special purpose test terminal, and to provide its method.例文帳に追加

ユーザ側で使用時に誤ってテストモードに入ってしまうことを防止でき、専用のテスト端子を必要とせず使用上の制約がなくなり、プログラムの機密保持性の向上が図れる半導体装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

This monitoring panel 1 for protection against disasters is provided with a sound pressure measuring test processing part 32 for letting the sound alarm speaker for which the sound pressure measuring test is conducted output alarm patterns of alarm sound for measuring sound pressure (a second signal) from a sound synthetic part 46 repeatedly.例文帳に追加

防災監視盤１に、音圧測定試験を行う音声警報用スピーカに音声合成部４６からの音圧測定用警報音（第２シグナル）の警報パターンを繰返し出力させる音圧測定試験処理部３２を設ける。 - 特許庁

To provide a system power supply IC having a plurality of outputs and a function of monitoring abnormality and protection for dealing with any kind of abnormality of all the kinds of power supply and carry out system-off protection, while investigation of the cause of the abnormality and a reproducing test can be carried out easily after the protection.例文帳に追加

複数の電源出力を有し、異常状態を監視し保護する機能をもつシステム電源ＩＣであって、いずれの電源でのどの様な異常現象にも対応してシステムオフして保護するとともに、保護後に異常状態の原因究明や再現実験を容易に行うことを可能にする。 - 特許庁

The system may automatically test the overspeed protection system while at least one of the power plant machines is in the process of shutting down (300).例文帳に追加

本発明の実施形態は、発電プラント機械の少なくとも１つが運転停止プロセス（３００）にある間に過速度保護システムを自動的に試験することができる。 - 特許庁

Multiple integrated circuit chip structure comprises an inter-chip interface circuit 360 configured to selectively connect an internal circuit of an integrated circuit so as to test an interface circuit 385, having an ESD protection circuit 387 and an input/output circuit 389, for communicating with an external test system during a test and a burn-in procedure.例文帳に追加

多重集積回路チップ構造は、テストおよびバーン・イン手順中に外部テスト・システムと通信するためのＥＳＤ保護回路３８７および入出力回路３８９を有するインターフェース回路３８５をテストするため集積回路の内部回路を選択的に接続するチップ間インターフェース回路３６０を有する。 - 特許庁

The multiple integrated circuit chip structure includes an ESD protection circuit 387 for communicating with an external test system during a test and a burn-in procedure, and an inter-chip interface circuit 360 configured to selectively connect an internal circuit of an integrated circuit so as to test an interface circuit 385 having an input/output circuit 389.例文帳に追加

多重集積回路チップ構造は、テストおよびバーン・イン手順中に外部テスト・システムと通信するためのＥＳＤ保護回路３８７および入出力回路３８９を有するインターフェース回路３８５をテストするため集積回路の内部回路を選択的に接続するチップ間インターフェース回路３６０を有する。 - 特許庁

The write-protection device stores test data in a first register, causes the processor to write the test data read from the first register into a second register, and permits the processor to write data into a third register after a data determination means compares the test data in the first register and the data in the second register to find their matching.例文帳に追加

本発明では、試験データを第１のレジスタに記憶し、プロセッサが第１のレジスタから読み出した試験データを第２のレジスタに書き込み、データ判定手段が第１のレジスタの試験データと第２のレジスタのデータとを比較して一致した時に、プロセッサのデータが第３のレジスタへ書き込み許可される書き込み保護装置を用いる。 - 特許庁

The memory chip of a semiconductor device, especially a DRAM, etc., has a region 15 where a protection film 8 (a first insulation layer) is removed for tests (electrical characteristics test such as a function test), the fine control of characteristics (such as salvation of a fuse), and corrections, etc.例文帳に追加

メモリチップ、特にＤＲＡＭなどの半導体装置であって、検査（機能テスト等の電気的特性検査）や特性微調整（ヒューズ救済等）・修正等の目的のために保護膜８（第１の絶縁層）を除去した領域１５を有する。 - 特許庁

For example, when a leakage protection plug for 100 v appliance is connected to a 200 v plug outlet, the pseudo earth leakage circuit 8 conducts applied with high voltage and the pseudo earth leakage current runs to the test circuit 16 in the same manner as a test switch 7a is pressed.例文帳に追加

例えば１００ｖ機器用の漏電保護プラグが２００ｖコンセントに差し込まれると、擬似漏電回路８が過電圧を印加されて導通し、テストスイッチ７ａが押されたときと同様にテスト回路１６に擬似漏電電流が流れる。 - 特許庁

To inexpensively execute a withstand voltage test between a transmission line connected to a public network and a frame of an apparatus with a simple structure while keeping surge protection performance by a surge protection element connected between both of them at a high level.例文帳に追加

公衆回線網に接続される伝送ラインと機器のフレームとの間の絶縁耐圧試験を、これら両者間に接続されるサージ保護素子によるサージ保護性能を高いレベルに維持しつつ、より簡易的な構成で且つ低コストで実施できるようにする。 - 特許庁

(Note) US: Detailed provisions for certain areas (extension of the patent protection period from 50 years to 70 years, clarification of requirements for internet service provider immunity (procedures for deletion of illegal content on the Internet), protection of test data submitted to seek approval for drug sale, enforcement enhancement, etc.)例文帳に追加

（参考）米国：特定分野の詳細な規定（著作権保護期間の延長（50年→70年）、インターネットサービスプロバイダ免責要件の明確化（ネット上の違法コンテンツの削除手続き）、医薬品販売承認申請で提出したテストデータの保護、エンフォースメント強化等）。 - 経済産業省

To provide a reliability test method of a protection circuit of an electronic ballast for a fluorescent lamp capable of executing a large number of tests in a short period while simulating an end-of-life transient phenomenon of the fluorescent lamp.例文帳に追加

蛍光ランプの寿命末期過渡現象をシミュレーションしながらも、数多くの試験を短時間に行う蛍光灯用電子安定器の保護回路の信頼性試験方法を得ること。 - 特許庁

Thus, the wrong set of the test mode during user's normal use can be prevented, and stability of the operation of the device and improvement in the security protection of the user program can be realized.例文帳に追加

これによって、ユーザが通常の使用中に誤ってテストモードに入ることを防止でき、半導体装置の動作の安定性及びユーザプログラムの機密保持性の向上を実現できる。 - 特許庁

To provide a protection device repeatedly absorbing striking energy of shock waves from an explosion source a plurality of times and also reducing the facility cost, and a combustion test facility.例文帳に追加

爆発源からの衝撃波の衝撃エネルギーを複数回繰り返して吸収することができ、さらに設備コストを低減することが可能な防護装置及び燃焼試験設備を提供する。 - 特許庁

When a connection test is executed, the forward ON voltage of the protection diodes D1, D2 of the first semiconductor chip 14 or the second semiconductor chip 24 is detected and then normal/open is determined.例文帳に追加

接続試験を行う際は、第１半導体チップ１４又は第２半導体チップ２４の保護ダイオードＤ１，Ｄ２の順方向オン電圧が検出されて正常／オープンが判定される。 - 特許庁

To provide a device with an overvoltage protection function and a test method of a high voltage system to which a surge arrester is connected capable of preventing damage of the surge arrester when testing the high voltage system.例文帳に追加

サージ・アレスタが接続された高電圧システムの試験時に、サージ・アレスタの損傷を防止できる課電圧保護機能を備えたデバイス及び高電圧システムの試験方法を提供する。 - 特許庁

To solve the problem that the layout area of the peripheral circuit of a pixel array part is increased when protection diodes as many as wires and test switches as many as rows or columns are mounted on a panel.例文帳に追加

配線数に対応した数の保護ダイオードや、行数分あるいは列数分のテストスイッチをパネル上に搭載すると、画素アレイ部の周辺回路のレイアウト面積が増大する。 - 特許庁

It is required a respiratory protective equipment wearer to do a fitting test periodically and confirm the leak rate less than 2% (assigned protection factor 50 or higher) by a mask fitting tester例文帳に追加

装着者がこれらの呼吸用保護具を装着し、定期的にマスクフィッティングテスターにより漏れ率測定で２％未満（防護係数50以上）であることを確認することが必要 - 厚生労働省

In this test paper 10 of the present invention, a surface of a carrier 15 containing a detection agent is coated with a protection film 17, the carrier 15 is blocked from air by the protection film 15 and a support body 11, and the carrier 15 is thereby precluded from being discolored or color-faded, even when the detection agent is an easily oxidizable substance.例文帳に追加

本発明の試験紙１０は、検知剤が含有された担体１５の表面が保護膜１７で覆われており、担体１５は保護膜１７及び支持体１１によって空気から遮断されているため、検知剤が酸化されやすい物質であっても、担体１５が変色又は退色しない。 - 特許庁

To obtain a ground-fault circuit interrupter of a simple structure and easy to assemble and adjust, which can surely make an operation check without making the size larger, and will not have a protection coil damaged even if a test button is kept pushing at the operation check test.例文帳に追加

簡単な構造で組立調整が容易であると共に、漏電遮断器本体の大きさを大きくすることなく確実に動作確認を行うことができ、動作確認テストのときにテストボタンを押し続けても引外しコイルが焼損することのない漏電遮断器を得る。 - 特許庁

To make uniform the results of spreading rate test of solder by reducing manual works, especially those requiring a skill, and to contribute to protection of environment by disusing reduction substance.例文帳に追加

はんだの広がり率試験において、人手による作業、特に熟練度の必要な手作業を削減し、試験結果の均一化を図るとともに、削減物質の使用を廃絶し、環境保護に貢献する。 - 特許庁

To certainly verify soundness of a logic integrated circuit for confirmation in short time by comprehensively performing verification and a soundness confirmation test to all functions of a safety protection measuring device of a plant.例文帳に追加

プラントの安全保護計測装置の全機能に対し総合的に検証および健全性確認試験を行うことにより、試験対象の論理集積回路の健全性を短時間で確実に検証する。 - 特許庁

To provide a probe card preventing a probe from burning by protecting it from overcurrent generated for a short time until a protection circuit disposed in a test head or a tester of a testing apparatus is activated.例文帳に追加

検査装置のテストヘッドあるいはテスタに設けられた保護回路が作動するまでの短時間に生じる過電流からプローブを保護し、針焼けを防止することが可能なプローブカードを提供する。 - 特許庁

The test terminal mounted on the control voltage application side of a power facility such as the protection relay device is equipped with a display means for lighting by a current flowing between itself and the earth when applying a control voltage.例文帳に追加

保護継電装置などの電力設備の制御電圧加圧側に装着される試験端子であって、制御電圧加圧時にアースとの間で流れる電流によって点灯する表示手段を備える。 - 特許庁

This eliminates loading/unloading of testing weights and other major preparatory work, and offers an excessively efficient and reliable balance test including checks on overload protection operation.例文帳に追加

これにより、試験用おもりの搬入・搬出や大掛かりな準備工事が不要となり、乗り過ぎ防止時の動作確認を含めた秤試験を、極めて効率よくかつ確実に実施することができる。 - 特許庁

The foam chemical for the fire extinguishing equipment test is characterized in that a hydrocarbon-based anionic surfactant is contained in an aqueous solution in such an amount that a foaming magnification becomes double or more in a foaming test based on the regulation of the second term of 2 of the 21st article of a fire protection law (Showa 23 law No.186).例文帳に追加

本発明に係る消火設備試験用泡薬剤は、水溶液中に、炭化水素系アニオン界面活性剤を、消防法（昭和２３年法律第１８６号）第２１条の２第２項の規定に基づく発泡試験において、発泡倍率が２倍以上となる量を含むことにより構成されている。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit 2 includes an internal circuit 3, a power source terminal 4, a ground terminal 5, the input/output terminal 6 and a protection diode 8, and also includes a test terminal 10 to which a current or a voltage is applied at an inspection time, and an inspection diode 9 connected between the test terminal 10 and the input/output terminal 6.例文帳に追加

半導体集積回路２は、内部回路３、電源端子４、グランド端子５、入出力端子６、および保護ダイオード８の他、検査時に電流または電圧が印加されるテスト端子１０と、テスト端子１０と入出力端子６との間に接続された検査用ダイオード９とを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein a test voltage of a gate withstand voltage is not restricted by a clamping voltage of a protection element, without having to enlarge chip size to the utmost, and to provide its testing method.例文帳に追加

本発明の課題は、極力、チップサイズを大きくすることなく、ゲート耐圧のテスト電圧が保護素子のクランプ電圧の制約を受けることのない半導体装置およびそのテスト方法を提供することである。 - 特許庁

As the input terminal 18 and the wiring of the test voltage are arranged at one location, the size of the circuit substrate constituting the battery protection circuit can be reduced and the effects of electromagnetic radiation can be suppressed because of the reduction of the wiring.例文帳に追加

検査電圧の入力端子１８及び配線は１ヶ所であるため、電池保護回路を構成する回路基板を小型化でき、配線の削減による電磁輻射の影響を抑えることができる。 - 特許庁

Accordingly, a correlation is generated between a before-trimming output voltage and the maximum output current of overcurrent protection, and therefore a before-trimming maximum output current can be estimated without performing estimation of a test circuit.例文帳に追加

それによりトリミング前出力電圧と過電流保護の最大出力電流に相関が生じるため、テスト回路の評価を行なうことなくトリミング前の最大出力電流を推定することが出来る。 - 特許庁

To provide an individual identification device wherein a protection plate provided before an imaging means in an advance direction of light transmitted through a test subject such that dirt or dust does not come into the imaging means from the outside is not used as it is dirty.例文帳に追加

撮像手段に外部からゴミやホコリが入らないように被検体を透過した光の進む方向に向かって撮像手段の手前に設けられた保護板が汚れたままでは使用されない個人識別装置を提供する。 - 特許庁

It is desirable that an elastic modulus ((elastic deformation amount)/(total deformation amount)) when an indentor is pushed by test force of 2mN by a universal hardness measuring method of the protection layer 13 is not less than 0.6 and a plastic deformation amount is not more than 0.5μm.例文帳に追加

保護層１３は、ユニバーサル硬度測定法により２ｍＮの試験力で圧子を押し込んだ際の弾性率（（弾性変形量）／（総変形量））が０．６以上であり、また、その塑性変形量が０．５μｍ以下であることが好ましい。 - 特許庁

Thereto, other barriers are constituted so as to give crack stop protection, to be electrically connected to a monitoring device and so as to test the capacitance/resistance of the barrier structure to show the complete states of the barriers to a user.例文帳に追加

さらに他のバリアは、クラックストップ保護を与えるよう構成され、モニタ・デバイスへの電気的接続を可能にして、バリアの完全性の状態をユーザへ示すバリア構造のキャパシタンスおよび／または抵抗をテストするよう構成される。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer where a test needle used for inspecting the semiconductor wafer is prevented from being deteriorated and the precision of inspection is prevented from being deteriorated because of the adhesion of a protection film to the test needle without the need of a new facility, and to provide a manufacturing method of the semiconductor wafer and a semiconductor chip obtained by dividing the semiconductor wafer.例文帳に追加

新たな設備を必要とすることなく、半導体ウエハの検査を行なうときに用いるテスト針が劣化したり、テスト針に保護膜が付着したりしたりして、検査の精度が低下することを防ぐことができる半導体ウエハ、および半導体ウエハの製造方法、ならびにこの半導体ウエハを分割して得られる半導体チップを提供する。 - 特許庁

To provide a differential protection device comprising a differential current measuring means, processing means connected to the measuring means and including an operation ratio selecting means and time delay selecting means for selecting a trip curve, operation means, and test means connected to the measuring means, wherein the electric power consumption of the test means is made optimum.例文帳に追加

差動電流測定手段と、上記測定手段へと接続され、トリップ曲線を選択するために動作比率選択手段および時間遅延選択手段を備える処理手段、作動手段、および上記測定手段へと接続されたテスト手段を備える差動保護装置において、上記テスト手段の電力消費を最適にする。 - 特許庁

A thermoplastic resin film having a ratio (B)/(A)≥0.6 when assuming that tensile strength based on JIS K 7127 before and after a constant load tensile test defined as follows is (A) and (B), respectively, and having a haze value ≤5% is used as the polarizer protection film.例文帳に追加

下記の定義による定荷重引張試験の前後におけるＪＩＳ Ｋ ７１２７に基づく引張強さをそれぞれ（Ａ），（Ｂ）としたとき、比（Ｂ）／（Ａ）が０．６以上であり、かつ、ヘイズ値が５％以下の熱可塑性樹脂フィルムを偏光子保護フィルムとして用いる。 - 特許庁

The system may automatically test the overspeed protection system by adjusting the speed of a shaft (137) while at least one of the power plant machines (105, 160) operates under full-speed-no-load (FSNL).例文帳に追加

本発明の別の実施形態は、発電プラント機械（１０５、１６０）の少なくとも１つが全速無負荷（ＦＳＮＬ）で運転している間にシャフト（１３７）の速度を調整することによって過速度保護システムを自動的に試験することができる。 - 特許庁

The conductive protection film 12 is formed so as to contact with the metal film 11 in the insulation film 10b and be located in a region on a film surface of the metal film 11, which includes a region that a probe contacts during a prober test conducted in the manufacturing processes.例文帳に追加

そして、導電性保護膜１２は、絶縁膜１０ｂ内において金属膜１１に接して形成され、かつ、金属膜１１の膜面において製造途中で行うプローバーテスト時のプローブの接触領域を含む領域に形成される。 - 特許庁