「radiation error」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an optical scanner in which the shift of a light beam radiation position is corrected on a face to be scanned corresponding to the accuracy and error of the manufacturing and assembling of a housing, a lens and a mirror or the like.例文帳に追加

ハウジングやレンズ、ミラーなどの製作上、組み立て上の精度やその誤差に対応して、被走査面上における光ビーム照射位置のずれを補正できる光走査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fixing spring tool of an electronic component and a heat radiation structure which are easily attached even though thicknesses of electronic components are different and a difference occurs in the thicknesses of the electronic components due to a manufacturing error.例文帳に追加

電子部品の厚みが異なる場合や、製造誤差による電子部品の厚みの相違があっても、取付けが容易な電子部品の固定用ばね具及び放熱構造体を提供する。 - 特許庁

Next, an image operation circuit 18 detects the position of the diaphragm block using the radiation image data, and detects the error of the detected position relative to the previously set reference position.例文帳に追加

次いで、画像演算回路１８は、この放射線画像データを用いて前記絞りブロックの位置検出を行ない、更に、予め設定された基準位置に対する前記検出位置の誤差を検出する。 - 特許庁

To provide a radiation thermometer for enhancing measurement accuracy and measurement reliability by removing error factors depending on element performance of electronic circuit components or circuitry, and the effect of environmental temperature.例文帳に追加

電子回路部品の素子性能、回路構成に依存する誤差要因や環境温度の影響を排除し、測定精度及び測定信頼性を向上させることが可能な放射体温計を提供すること。 - 特許庁

To provide a radiation measuring apparatus capable of performing highly accurate measurement up to an upper limit of a measurement range by performing count omission correction caused by pile-up of analog pulse signals and correction for subtracting error counts.例文帳に追加

アナログパルス信号のパイルアップによる数え落とし補正と誤計数を減算する補正を行い、測定レンジの上限まで高精度な測定が可能な放射線測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning optical apparatus in which the shift of a light beam radiation position is corrected on a face to be scanned corresponding to the accuracy or the error in manufacturing of a housing, a lens and a mirror or the like.例文帳に追加

ハウジングやレンズ、ミラーなどの製作上の精度やその誤差に対応して、被走査面上における光ビーム照射位置のずれを補正することが可能な走査光学装置を提供する。 - 特許庁

To provide an RFID tag, a tag reader/writer, a data management system and a data management method which can prevent the occurrence of an data error and can be functioned normally in a special environment where the tag is exposed to radiation.例文帳に追加

放射線に晒されるような特殊環境でデータエラーの発生を防止し且つ正常に機能させることが可能なＲＦＩＤタグ、タグリーダ／ライタ、データ管理システム及びデータ管理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a line interface circuit with a simple configuration for preventing a fault such as reduction in a communication rate of a communication apparatus and a data error or the like due to induced noise and radiation noise with a high frequency suddenly caused.例文帳に追加

突発的に発生する高周波の誘導ノイズや放射ノイズによる通信機器の通信速度の低下およびデータエラー等の障害を簡単な構成で防止する回線インターフェース回路を提供する。 - 特許庁

To prevent irradiation stopping caused by an MLC following error during treatment by controlling a limitation on the amount of the MLC transferred, using such as a conformation therapy method that transfers the MLC while irradiation is being conducted in a radiation therapy.例文帳に追加

放射線治療の照射中にＭＬＣを移動する原体照射法等にて、ＭＬＣの移動量の限界制御を行う事により、治療中のＭＬＣ追従エラーによる照射中断を防ぐ。 - 特許庁

When image information representing the radiographic image has been generated by a radiation detector, a bit error rate in communication is detected via a communication cable (150), and it is determined that the communication cable is unplugged from a connection terminal (152).例文帳に追加

放射線検出器によって放射線画像を示す画像情報が生成されたとき、通信ケーブルを介した通信のビットエラーレートを検出し（１５０）、接続端子から通信ケーブルが外れているか否かを判定する（１５２）。 - 特許庁

To provide a radiation-sensitive resin composition that has high resolution performance and has a good balance between DOF (Depth Of Focus) and MEEF (Mask Error Enhancement Factor) in forming a fine pattern of 90 nm or less, and is suitably used also for a liquid immersion exposure process.例文帳に追加

９０ｎｍ以下の微細パターン形成において、解像性能に優れるだけでなく、ＤＯＦとＭＥＥＦのバランスに優れ、液浸露光プロセスにも好適に利用されうる感放射線性樹脂組成物を提供すること。 - 特許庁

The multi-layer has a shielding member shielded from radiation, and an RFID circuit is arranged in the multi-layer so as to be covered with the shielding member so that the occurrence of the data error in the special environment can be suppressed.例文帳に追加

積層体は、放射線を遮蔽する遮蔽部材を有し、ＲＦＩＤ回路を遮蔽部材で覆うように積層体内に配置してなり、前記特殊環境の下でデータエラーの発生を抑制するように構成されている。 - 特許庁

To provide an active ray sensitive or radiation sensitive resin composition which allows formation of a pattern having good properties of PEBS (post exposure bake sensitivity), MEEF (mask error enhancement factor), coverage dependence and bridge defects, and to provide a method for forming a pattern by using the composition.例文帳に追加

ＰＥＢＳ、ＭＥＥＦ、被覆率依存性、ブリッジ欠陥のいずれもが良好なパターンを形成することが可能な感活性光線又は感放射線樹脂組成物、及びそれを用いたパターン形成方法を提供すること。 - 特許庁

To realize the detection of tracking error signals by the PDD method for various optical disks each having a different track pitch, with a single optical pickup and to permit the radiation of the optimum laser beam to each optical disk.例文帳に追加

トラックピッチの異なる種々の光ディスクに対してＰＤＤ法によるトラッキングエラー信号の検出を１つの光ピックアップにて実現することを可能にし、かつ、各光ディスクに最適なレーザビームの照射を行なうことを可能にする。 - 特許庁

The state of the rear is brought to the state that the substrate is left as it is, or the state that the thin oxide film of a gate insulating film is only formed, and an error on the measurement of a radiation thermometer in a lamp annealing device is reduced.例文帳に追加

裏面の状態が半導体基板そのままの状態かあるいはゲート絶縁膜の薄い酸化膜が形成されているだけの状態になり、ランプアニール装置における放射温度計の計測誤差が減少する。 - 特許庁

When making a setting change of the lighting intensity on reticle, the present radiation current value and the lighting intensity on the reticle are measured before setting change operation, and it is judged whether a lighting intensity measurement value is in a permissible error range 1 with respect to a desired value of lighting intensity calculated from the radiation current value and the above approximate expression.例文帳に追加

レチクル上の照明強度を設定変更する際に、設定変更動作の前に現在の放射電流値とレチクル上の照明強度を計測し、照明強度計測値が、放射電流値と上記の近似式から計算された照明強度の目標値に対し、許容誤差範囲１内にあるかどうかを判断する。 - 特許庁

To adequately prevent misdiagnoses by diagnostic images while achieving quick diagnoses and the prevention of unnecessary exposure to radiation when a communication error occurs between a rotating part where an X-ray imaging device is loaded and a fixing part for holding the rotating part.例文帳に追加

Ｘ線撮影機器を搭載した回転部と、この回転部を保持する固定部との間で通信エラーが発生した場合において、迅速な診断及び不要被曝の防止を実現しつつも、診断画像による誤診を適確に防止すること。 - 特許庁

To reduce communication error by suppressing the influence of radiation noise being mixed through contact with a human body in a data communication apparatus especially comprising a communication terminal being fixed to a human body and a communication terminal being touched by a human body fixed with that communication terminal.例文帳に追加

特に人体に装着された通信端末と該通信端末を装着した人体が接触する通信端末とからなるデータ通信機器において、人体と接触することにより混入する輻射ノイズの影響を抑制し、通信エラーの減少を図る。 - 特許庁

To provide a sample stage device and a charged particle radiation device which can determine conditions of a sample stage, in particular, determine conditions of the device from an operation screen and achieve analyses of maintenance timing and error causes.例文帳に追加

本発明は、試料ステージの状態を判断することの可能な試料ステージ装置、及び荷電粒子線装置の提供を目的とし、より具体的には操作画面から装置の状態を判断可能とし、メンテナンスのタイミングやエラー要因の分析の実現を目的とする。 - 特許庁

To provide a beam treatment device for preventing the malfunction of a control part of a beam emitter, if installed near the beam emitter, resulting from the radiation of a beam and preventing beam emission to unnecessary portions in error.例文帳に追加

ビームの照射装置の近くにビーム照射装置の制御部を設置しても、この制御部がビームの放射線に起因する誤作動を起こさないようにし、また誤って、不必要な部分にビームの照射が行われないようにしたビーム治療装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which has three or more flip-flop circuits holding the same data and a majority logic circuit, and in which a soft error hardly occurs even when a plurality of adjacent flip-flop circuits are simultaneously influenced by irradiation with radiation etc.例文帳に追加

同一のデータを保持する３個以上のフリップフロップ回路と多数決論理回路を備えた半導体集積回路において、放射線の照射等により隣接する複数のフリップフロップ回路が同時に影響を受けてもソフトエラーの発生しにくい半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a beam radiation device and electron beam aligner wherein a beam is radiated to an object at high precision by measuring, at high precision, a relative positional relationship between the position of condense beam for work or detection and the position of laser beam emitted from a laser length-measuring device for eliminated Abbe error.例文帳に追加

加工用または検出用の集光ビームの位置とレーザ測長器から出射されるレーザ光の位置との相対的な位置関係を高精度に計測できるようにしてアッベ誤差を無くしてビームを被対象物に対して高精度に照射できるようにしたビーム照射装置および電子線露光装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a phototherapy apparatus for facilitating pain relief and wound healing by irradiating a living body with light from a semiconductor light-emitting element, detecting that safety goggles for preventing a risk has been properly worn when the apparatus is used, and securing safety of an operator with respect to an accident, such as radiation error, in the phototherapy apparatus.例文帳に追加

半導体発光素子からの光を生体に照射することにより疼痛緩解や創傷治癒促進を図る光治療装置において、装置を使用する際に危険を防止するための保護めがねが正しく着用されていることを検出し、誤照射等の事故に対する操作者の安全を確保する光治療装置を提供する。 - 特許庁

Thus, a temperature error in a GaAs base board 11 when the emitted light from the GaAs base board 11 passes through the transmission window 14 can be determined on the basis of an actual temperature of the standard black body furnace 17 and the temperature of the standard black body furnace 17 measured by the radiation thermometer 15 so that a surface temperature of the GaAs base board 11 can be accurately determined.例文帳に追加

従って、標準黒体炉１７の実際の温度と放射温度計１５で測定した標準黒体炉１７の温度とに基づいて、GaAs基板１１からの放射光が透過窓１４を透過する際のGaAs基板１１の温度誤差を求めることができて、上記GaAs基板１１の表面温度を正確に求めることができる。 - 特許庁

This electron beam lithography apparatus has: a radiation section 10 that radiates electron beam 54; a detector 32 that detects reflective signals obtained by scanning the electron beam 54 on marks 101 and 102; and a resolution acquisition section 35 that obtains the resolution of the electron beam 54 by fitting waveforms based on the reflective signals, by using an approximate expression defined by two shape functions that correspond to the marks 101 and 102 and an error function.例文帳に追加

電子ビーム描画装置は、電子ビーム５４を照射する照射部１０と、電子ビーム５４をマーク１０１、１０２の上で走査して得られる反射信号を検出する検出器３２と、マーク１０１、１０２に対応する２つの形状関数と１つの誤差関数によって定義された近似式を用い、反射信号に基づく波形をフィッティングして電子ビーム５４の分解能を取得する分解能取得部３５とを有する。 - 特許庁

Weigh an empty measurement vessel. Pack the sample into the vessel and weigh. Record the difference as the sample weight. Place the measurement vessel on the detector, and perform the measurement for the time set in 2.2.3. Analyze the obtained spectrum according to the method described in “Gamma-ray Spectrometry using Germanium Semiconductor Detectors” of MEXT's Radiation Measurement Method Series 7 or an internationally accepted method to obtain the radioactive cesium concentration X in the sample and the standard deviation of measurement result originating in the counting error σX .例文帳に追加

予め重量を測定した測定容器に試料を充填した後に重量を測定し、重量の差をとして記録する。測定容器を検出装置に載せ、２．２．３で設定した測定時間で測定し、スペクトルを得る。スペクトルを「文部科学省編放射能測定シリーズNo.7 ゲルマニウム半導体検出器によるガンマ線スペクトロメトリー」に記載の方法、あるいは国際的に認められた方法で解析し、試料中の放射性セシウム濃度X と測定結果に伴う計数誤差による標準偏差σX を得る。 - 厚生労働省

Perform a measurement of volume radioactivity standard , etc., to estimate the measurement result X, and the standard deviation of measurement result originating in the counting error σXt. Sample vessels and measurement time shall be set so that the value X/σX at the standard limit becomes 10 or larger. Perform another measurement of an empty vessel under the conditions set above to confirm that the detection limit is equal to or below 1/5 of the standard limit. Calculate the measurement result X, σX, and the detection limit according to the method described in “Gamma-ray Spectrometry using Germanium Semiconductor Detectors” of MEXT's Radiation Measurement Method Series 7 or an internationally accepted method.例文帳に追加

標準線源等を測定し、測定結果X 及び測定結果に伴う計数誤差による標準偏差σX の推定値を得る。基準値濃度における X/σX が10 以上となるように、試料容器及び測定時間を設定する。また、測定容器のみのブランクを設定した条件で測定し、検出限界値が基準値の1/5 の濃度以下であることを確認する。測定結果X、σX、及び検出限界値の算出方法は「文部科学省編放射能測定シリーズNo.7 ゲルマニウム半導体検出器によるガンマ線スペクトロメトリー」に記載の方法、あるいは国際的に認められた方法に従う。 - 厚生労働省