「defect classification」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

In the scanning charged particle microscope designed for semiconductor tests and measurements, the use of an image after image restoration to perform a pattern size measurement, defect detection, and defect classification or the like enables the improvement of the precision of measurement and the rise in the precision of detection and classification of a defect.例文帳に追加

さらに、半導体検査および半導体計測用の走査型荷電粒子顕微鏡において、画像復元後の画像を用いてパターン寸法計測、欠陥検出、欠陥分類等に用いることにより、計測精度向上や欠陥検出、欠陥分類の高精度化を可能とした。 - 特許庁

A defect classification processing section 222 classifies the defects, by what a position of the defect is included in which region of the defined regions with regard to defect data 133 (233) sampled from the defects obtained at a defect-reviewing device 10.例文帳に追加

欠陥分類処理部２２２は、欠陥レビュー装置１０で取得された欠陥からサンプリングしたサンプリング欠陥データ１３３（２３３）について、その欠陥の位置が前記定義された領域のどの領域に含まれるかによって、欠陥を分類する。 - 特許庁

Moreover, inspection data by a plurality of inspection devices about one defect are allowed to be registered, and classification information of a defect which is an object for analysis is allowed to be arbitrarily selected.例文帳に追加

また、ひとつの欠陥について複数の検査装置による検査データを登録可能とし、解析対象である欠陥の分類情報を任意に選択可能とした。 - 特許庁

Then, a parameter suitable for defect identification and defect classification to each of a plurality of these areas is selected from among a plurality of parameters prepared in advance.例文帳に追加

そして、これらの複数の各領域に対する欠陥識別及び欠陥分類に適したパラメータを、予め用意しておいた複数のパラメータのなかから選択する。 - 特許庁

To provide a fault diagnosis system and a fault diagnosing method capable of quantitatively determining defect classification with high accuracy on the basis of a uniformly acquired defect characteristic value.例文帳に追加

画一的に取得した欠陥特徴値に基づいて欠陥種別を定量的かつ高精度で判定できる故障診断システム及び故障診断方法を提供する。 - 特許庁

To provide a technique that allows a sample surface with an insulation region and a conduction region formed thereon to be observed under high contrast, and that facilitates detection of a deletion defect and an open defect and classification of the defect types.例文帳に追加

絶縁領域と導電領域が形成されている試料面の観察を高コントラストで行い、且つ、欠落欠陥や開放欠陥の検出と欠陥種類の分類を容易なものとする技術を提供すること。 - 特許庁

And the calculated classification pattern number for every positional relationship is used to calculate the pattern dependency of defect groups (step S9).例文帳に追加

そして、算出した位置関係毎の分類パターン数を用いて欠陥群のパターン依存度を算出する（ステップＳ９）。 - 特許庁

Accordingly, the defect correction method of the defective part is generated based on the position information, characteristic information, defect classification, and substrate design information of the defective part so as to make the defect correction by operating a defective correction mechanism 4 based on the generated defect correction method.例文帳に追加

そして、欠陥部位の位置情報、特徴情報、欠陥種別及び基板設計情報に基づいて欠陥部位の欠陥修正方法を生成し、生成された欠陥修正方法に基づき欠陥修正機構４を動作させて欠陥修正を行う。 - 特許庁

TEMPLATE ADJUSTMENT METHOD AND DEVICE, DEFECT DISTRIBUTION CLASSIFICATION METHOD AND DEVICE, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE TEMPLATE ADJUSTMENT METHOD OR DEFECT DISTRIBUTION CLASSIFICATION METHOD AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH THE SAME PROGRAM RECORDED例文帳に追加

テンプレート調整方法および装置、欠陥分布分類方法および装置、上記テンプレート調整方法または欠陥分布分類方法をコンピュータに実行させるためのプログラム、並びに上記プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

A manufacturing condition determination system for a metal band material includes a manufacturing process classification database 500 that associates and stores a manufacturing process of a metal band material and a manufacturing process classification to which the manufacturing process belongs; a material defect database 600 that stores material defect information relating to the manufacturing process classification; and a quality information retrieval part 100 that adds the material defect information to a manufacturing history of a manufacturing history database 400.例文帳に追加

金属帯材料の製造過程における工程と、該工程が属する工程分類とを互いに対応づけて保存した工程分類データベース５００と、工程分類に関連する品質不良情報を保存した品質不良データベース６００と、品質不良情報を製造履歴データベース４００の製造履歴に追記する品質情報検索部１００とを備える。 - 特許庁

Thereby, defect classification can be performed by such very simple retest as reading out contents of the memory cell region 6.例文帳に追加

これにより、メモリーセル領域６の内容を読み出すという非常に簡易な再検査で不良分類を行うことができる。 - 特許庁

The system 1 for inspecting a semiconductor wafer comprises a defect classifier for automatically classifying semiconductor wafer defects, based on defect inspection parameters and a knowledge base, and a classification support unit for supporting the defect classifier.例文帳に追加

半導体ウェハの検査システム１は、欠陥検出パラメータと知識ベースとに基づき、半導体ウェハの欠陥分類を自動的に行う欠陥分類装置と、この欠陥分類装置を支援する分類支援装置とを備えている。 - 特許庁

To provide a system for defect classification capable of shortening the work time of the visual examination of a product determined to be defective by an automatic inspection machine in a manufacturing process of a color filter or the like and capable of efficiently performing the input work of defect classification data.例文帳に追加

カラーフィルタ等の製造工程において、自動検査機で不良と判定された製品についての目視検査の作業時間を短縮するとともに、不良区分情報の入力作業を効率良く行うことができる不良分類システムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect classification system capable of performing classification similar to human judgement on defects such as resist coating irregularities, exposure failures, flaws, the adhesion of dust without having to register defect data in micro-inspections principally on semiconductor wafers and liquid crystal panels.例文帳に追加

主に半導体ウェハ及び液晶パネルのマクロ検査におけるレジストの塗付ムラや露光不良、キズ、塵埃の付着などの欠陥に関して、欠陥データの登録を必要とせず、より人間の判断に近い分類を可能にする欠陥分類装置を提供する。 - 特許庁

The above inspection logic is made by an application development system 40 separately for each classification of the tape carrier, and is given to a defect detector 10.例文帳に追加

上記検査論理は、テープキャリアの種別ごとに、適用開発システム４０により作成され、欠陥検出装置１０に与えられる。 - 特許庁

Alternatively, the OB signals may be classified for every output terminal of the image pickup apparatus to perform defect correction of the OB signals for every classification.例文帳に追加

その他、撮像部の出力端子別などにＯＢ信号を区分して、その区分別にＯＢ信号の欠陥補正を行ってもよい。 - 特許庁

To provide a flaw type classification boundary setting method in surface defect detection allowing even an operator without having a special technique to simply realize complicated defect classification, and enabling evaluation capable of remarkably reducing work and of rapidly responding to change of an operation state.例文帳に追加

特殊な技術をもたないオペレータでも簡便に複雑な欠陥分類が実現され、労力が大幅に削減されるとともに操業状態の変化に迅速に対応した評価が可能となるような表面欠陥検出における疵種分類境界設定方法を提供する。 - 特許庁

The tentatively-classified defect image is reclassified by using an ensemble classifier (step S205-S209) to keep on setting the classification sequentially.例文帳に追加

そして、仮分類された各欠陥画像をアンサンブル分類器を用いて再分類し（ステップＳ２０５〜Ｓ２０９）、順次分類を確定させてゆく。 - 特許庁

A readout control means determines the classification of the defective block registered on the defect list, and performs readout control according to the determined result.例文帳に追加

ここで読み出し制御手段は、欠陥リストに登録されている欠陥ブロックの種別を判定し、該判定結果に応じた読み出し制御をする。 - 特許庁

To reduce working time for defect classification necessary to discriminate a pixel in which the characteristic of a TFT (thin film transistor) is shifted and a defective pixel which shows the abnormality of external appearance in the defect inspecting method of a liquid crystal display element.例文帳に追加

液晶表示素子の欠陥検査方法において、ＴＦＴの特性がシフトした画素を外観異常を伴なう欠陥画素と分離できないことによる欠陥分類作業時間の低減を図る。 - 特許庁

A burn-in control device 10 performs convergence determination (finish of a test) of an initial stage defect in the burn-in test relative to each lot (each classification) in the furnace 12.例文帳に追加

バーンイン制御装置１０は、バーンイン試験における初期不良の収束の判定（試験の終了）を炉１２内のロット毎（区分毎）に行う。 - 特許庁

A quality state calculation part 50 determines a manufacturing process classification using the material defect database 600 based on the manufacturing history of the manufacturing history database 400 and material defect information of a quality information database 310, further determines a manufacturing process relating to the manufacturing process classification using the manufacturing process classification database 500, and then calculates the relationship between the manufacturing condition and quality of the metal band material.例文帳に追加

その上で、品質状況算出部５０は、製造履歴データベース４００の製造履歴と品質情報データベース３１０の品質不良情報とを基に、品質不良データベース６００を用いて工程分類を判別すると共に、工程分類データベース５００を用いて該工程分類に関連する工程を判別し、金属帯材料の製造条件と品質との関連性を算出する。 - 特許庁

It is thus possible to automate visual inspection of the wafer 2 to final defect classification, eliminate the need for inspection by visual observation (review), and substantially shortening the time required for inspection.例文帳に追加

このため、ウェハ２の外観検査を最終的な欠陥分類に至るまで自動化でき、目視検査（レビュー）が不要となり、検査時間を大幅に短縮できる。 - 特許庁

When performing detection/automatic classification of a defect of the inspection object 1 having a repeated pattern such as a liquid crystal display device or a semiconductor wafer, the repeated pattern is divided beforehand into a plurality domains, and databases 71, 72, 73 for automatic classification differentiated by a domain on the repeated pattern to which a defect portion detected from an inspection image belongs are created.例文帳に追加

液晶表示装置や半導体ウェハ等の繰り返しパターンを持つ検査対象物１の欠陥を検出・自動分類する際、繰り返しパターンを予め複数の領域に分割し、被検査画像から検出された欠陥部位が上記繰り返しパターンのどの領域に属するによって異なった自動分類用データベース７１，７２，７３を作成しておく。 - 特許庁

To provide a template adjustment method for adjusting a template described with the features of a defect distribution pattern as the reference of classification for classifying defect distribution on the surface of a substrate, and for automatically adjusting a template set by a person so that it can be more accurately fitted for the actual defect distribution.例文帳に追加

基板の表面上の欠陥分布を分類するために、分類の基準となる欠陥分布パターンの特徴が記述されたテンプレートを調整するテンプレート調整方法であって、人が設定したテンプレートを、実際の欠陥分布により正確に適合するように自動的に調整できるものを提供すること。 - 特許庁

To provide a review apparatus positively, highly accurately and efficiently conducting automatic defect review (ADR) and automatic defect classification (ADC) by aligning defects detected in an upstream inspection apparatus in a short time, for the review apparatus.例文帳に追加

上流の検査装置で検出された欠陥を、レビュー装置に対して確実に、高精度に、しかも短時間にアライメントをして効率よく、詳細再検査（ＡＤＲ）や欠陥分類（ＡＤＣ）を行うことができるようにしたレビュー装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron beam device that can prevent damages to the device and can make compatible low aberration, high resolution or high S/N ratio, with easiness of defect classification by obtaining a three-dimensional SEM image.例文帳に追加

デバイス損傷を防止することが可能であり、低収差、高分解能若しくは高Ｓ／Ｎ比と、立体的なＳＥＭ像を得ることによる欠陥分類の容易さと、を両立させる。 - 特許庁

To provide an inspection method and apparatus having higher performances than conventional ones whereby the unintended kinds of defects including false informations can be removed from their inspection results and automatic-defect-classification (ADC) results.例文帳に追加

検査結果や自動欠陥分類（ＡＤＣ）の結果から、虚報を含む目的としていない種類の欠陥を除去可能な、より高性能な検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

A defect automatic classification system recognizes an image 22 as an image of the side face of the most upper layer of the pattern by detecting an image having the width which is consistent with the calculated value.例文帳に追加

欠陥自動分類システムは、その算出された値と一致する大きさの幅の像を検出することで、像２２がパターン最上層側面の像であることを認識する。 - 特許庁

In the method, the operator teaches only a teacher image as a typical example of at least one category in a plurality of classification categories among collected defect image data (step S202).例文帳に追加

収集した欠陥画像データの中から、複数の分類カテゴリに対して少なくとも１つ、当該カテゴリの典型例としての教師画像の教示のみオペレータが行う（ステップＳ２０２）。 - 特許庁

Thereby, the visual inspection of a multiple layers phase defect becomes possible by an easy and practical through-put in a hole pattern which cannot be inspected easily by a mask inspection, and the yield is improved by supplying a defect free mask which is performed with a defective relief according to classification of the cause of failure.例文帳に追加

これにより、マスク検査では容易に検査できないホールパターンにおける、多層膜位相欠陥を容易かつ実用的なスループットで外観検査が可能となり、欠陥の原因の分類に応じた欠陥救済を行った無欠陥マスクを供給することで歩留まりが向上する。 - 特許庁

To reduce a processing cost by holding a result (PASS/FAIL) for each check item inside and shortening a processing time when defect check is performed and classification processing of defective category is performed in a test of an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路のテストに際して、不良チェックを行って不良カテゴリの分類処理を行う場合、チェック項目毎に結果（PASS／FAIL）を内部に保持させ、処理時間を短縮し、処理コストを低減する。 - 特許庁

To make compatible both of a high-performance classification function and a high-throughput image collection function in a defect observation device for automatically collecting and classifying defective images existing on a sample such as a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハ等の試料上に存在する欠陥の画像を自動収集かつ自動分類する欠陥観察装置において、その高性能分類機能と高スループットな画像収集機能の両立を実現する。 - 特許庁

Inspection conditions decided by at least the eyelectronic optical conditions in a charged particle source and an irradiating optical means are a plurality of different inspection conditions, and a defect classification means that classifies the defects of a sample using a plurality of defect information obtained by irradiating the sample under a plurality of inspection conditions is provided.例文帳に追加

少なくとも荷電粒子源と照射光学手段における電子光学条件によって決定される検査条件が複数の異なる検査条件であって、該複数の検査条件で試料を照射し得られた複数の欠陥情報を用いて、試料の欠陥を分類する欠陥分類手段を備える。 - 特許庁

Since the luminance profile is a property acquired by actually photographing the wafer 2 to be inspected and clearly shows the forms of defects, the reliability of defect classification is substantially improved, when compared with the case of comparison with a non-defective pattern.例文帳に追加

輝度プロファイルは、検査対象であるウェハ２外観を実際に撮像して得られる特性であり、欠陥の形態を明確に示すため、良品パターン等との比較による場合と比べて、欠陥分類の確実性が格段に増す。 - 特許庁

A defect classification defining section 221 defines a region that classifies defects on a surface of the inspected device, by using layout design data corresponding to a layer formed on the inspected device and a layer formed in an upper layer or lower layer thereof.例文帳に追加

欠陥分類定義部２２１は、被検査デバイスにそのとき形成されているレイヤおよびその上層または下層に形成されたレイヤに対応するレイアウト設計データを用いて、被検査デバイスの表面に欠陥を分類する領域を定義する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for monitoring a piecing part in a spinning machine which method can perform simple adequate assignment considering the piecing part and a measuring time or a measured value, and which method can perform accurate classification of the lengths of thickness defect.例文帳に追加

糸継ぎ部及び測定時間もしくは測定値の間での簡単でかつ正確な割り当て及び正確な太さ欠陥長さの分類が可能である紡績装置で糸継ぎ部を監視するための方法及び装置を提供すること - 特許庁

A TFT array inspection apparatus 1 detects TFT defects on the basis of detected waveforms acquired by two-dimensionally scanning electron rays over TFT arrays and is provided with a defect-type classification part 6 for classifying the types of TFT defects.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査装置１は、電子線をＴＦＴアレイ上で二次元的に走査して得られる検出波形に基づいてＴＦＴ欠陥を検出するＴＦＴアレイ検査装置であり、ＴＦＴの欠陥の種類を分類する欠陥種類分類部６を備える。 - 特許庁

To provide a teacher data superior in the repeatability and the objectivity, and alleviate a load of an operator for creating the teacher data, concerning a method for creating the teacher data for automatically classifying defects in a substrate, a defect classification method using it, and an apparatus.例文帳に追加

基板の欠陥を自動的に分類するための教師データを作成する方法およびこれを用いた欠陥分類方法ならびに装置において、再現性、客観性に優れた教師データを提供するとともに、該教師データの作成におけるオペレータの負荷を軽減する。 - 特許庁

The device for reproducing a disk acquires a defect list on which correspondence information on a defective block and an alternative block is registered with the classification of the defective block from a recording medium, and reads the alternative block and transfers it to the origin of a reproduction request when it is necessary to read the defective block from the recording medium.例文帳に追加

欠陥ブロックと代替ブロックとの対応情報が欠陥ブロックの種別とともに登録された欠陥リストを記録媒体から取得しておき、該記録媒体から欠陥ブロックを読み出す必要がある場合は、その代替ブロックを読み出して再生要求元に転送するディスク再生装置を前提としている。 - 特許庁

The defect-type classification part 6 classifies the types of defects, by comparing a previously prepared reference waveform with the detected waveforms and comparing inspection waveforms, acquired by TFT array inspection for classifying the types of TFT defects, with a known reference waveform and determines the types of defects that cannot be distinguished by image display.例文帳に追加

欠陥種類分類部６は、予め用意しておいた基準波形を検出波形と比較することによって、ＴＦＴの欠陥の種類を分類するＴＦＴアレイ検査で取得した検査波形を、既知の基準波形と比較することによって、欠陥種類の分類を可能とし、画像表示では区別できない欠陥種類を判別する。 - 特許庁

In the system, image data obtained by photographing the bad place of a substrate determined to be defective by visual examination is stored in a memory medium as a work unit and the image stored in the memory medium is successively displayed on a monitor screen in a process separate from a visual examination process to perform only the input work of the defect classification data.例文帳に追加

目視検査で不良と判断された基板の不良箇所を撮影した画像データを、記憶媒体に作業単位に保存しておき、目視検査工程とは別工程で、記憶媒体に保存された画像を順にモニター画面に表示することにより不良区分の入力作業だけを行うことを特徴とする不良分類システム。 - 特許庁

Also, in a classification implementing part 80, the defects of the object to be inspected are hierarchically classified based on the digitized feature information extracted by the feature extracting part 60 from the picture of the defective site of the object to be inspected extracted by the defect extracting part 50 by referring to the data base applied from the data base preparing part 70.例文帳に追加

また、分類実行部８０では、上記データベース作成部７０により与えられるデータベースを参照して、上記欠陥抽出部５０により抽出される検査対象物の欠陥部位の画像から、上記特徴抽出部６０により抽出される数値化された特徴情報に基づいて、上記検査対象物の欠陥を階層的に分類する。 - 特許庁

This defect classification equipment is provided with an illuminating unit 101 for illuminating a light transmitting coating surface with illuminating lights whose wavelength is restricted, a CCD camera 104 for imaging the interfering image of the coating surface through a lens 103, and a PC 110 for calculating the radiant direction component quantity of the peripheral luminance gradient to each pixel in the pickup image and for classifying the defects based on the radiant direction component quantity.例文帳に追加

波長を制限した照明光により光透過性のあるコーティング表面を照明する照明器１０１と、レンズ１０３を通してコーティング表面の干渉像を撮像するＣＣＤカメラ１０４と、撮像した画像内の各画素に対する周囲の輝度勾配の放射方向成分量を算出し、この放射方向成分量を基に欠陥を分類するＰＣ１１０とを具備する。 - 特許庁