| 例文 (999件) |
evaluation ofの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 15944件
VULCANIZATION CONDITION EVALUATION METHOD OF PNEUMATIC TIRE例文帳に追加
空気入りタイヤの加硫条件評価方法 - 特許庁
When receiving the event, each of the plurality of evaluation elements (30) evaluates the data inputted to the evaluation element.例文帳に追加
各伝搬素子（２０）は、イベントを受けたとき、入力されたデータの評価を行う。 - 特許庁
EVALUATION METHOD FOR SEGREGATION OF BILLET AND WIRE ROD例文帳に追加
ビレットおよび線材の偏析評価方法 - 特許庁
To improve adequacy of an evaluation index.例文帳に追加
評価指標の妥当性を向上させる。 - 特許庁
LIFETIME EVALUATION DEVICE OF HIGH TEMPERATURE APPARATUS, LIFETIME EVALUATION METHOD AND PROGRAM OF HIGH TEMPERATURE APPARATUS例文帳に追加
高温機器の寿命評価装置、高温機器の寿命評価方法およびプログラム - 特許庁
EVALUATION METHOD FOR IMAGE-FORMATION POSITION DEVIATION OF LENS ARRAY例文帳に追加
レンズアレイの結像位置ずれ評価方法 - 特許庁
LIFE CYCLE COST EVALUATION SYSTEM OF STEEL STRUCTURE例文帳に追加
鋼構造物のライフサイクルコスト評価システム - 特許庁
PERFORMANCE EVALUATION METHOD OF METAL POWDER PASTE例文帳に追加
金属粉末ペーストの性能評価方法 - 特許庁
To calculate an evaluation value of a material serving as a food material from an evaluation value of a processed product.例文帳に追加
加工品の評価値からその食材となる材料の評価値を算出する。 - 特許庁
EVALUATION SYSTEM OF ELECTRONIC UNIT FOR IN-VEHICLE CAMERA例文帳に追加
車載カメラ用電子ユニットの評価システム - 特許庁
[3]. Evaluation of deficiencies in company-level controls 例文帳に追加
③ 全社的な内部統制の不備の検討 - 金融庁
RISK EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加
半導体製造装置のリスク評価方法 - 特許庁
EVALUATION DEVICE OF SOFTWARE DEVELOPMENT MANHOUR COST例文帳に追加
ソフトウェア開発工数費用の評価装置 - 特許庁
EVALUATION METHOD OF ELECTROLYTE FILM FOR FUEL CELL AND EVALUATION METHOD OF FUEL CELL例文帳に追加
燃料電池用の電解質膜の評価方法及び燃料電池の評価方法 - 特許庁
To perform evaluation of antenna characteristics with high accuracy.例文帳に追加
高精度のアンテナ特性評価を行う。 - 特許庁
EVALUATION PATTERN OF OCCURRENCE STATUS OF HILLOCK, SUBSTRATE PROVIDED WITH THE SAME, AND EVALUATION METHOD例文帳に追加
ヒロックの発生状況の評価パターン及びそれを備えた基板、並びに評価方法 - 特許庁
EVALUATION INDICATOR OF STEAM TREATMENT CONDITION AND EVALUATION METHOD OF STEAM TREATMENT CONDITION例文帳に追加
蒸気処理条件の評価用指標体および蒸気処理条件の評価方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF MAGNETIC RECORDING DEVICE, AND EVALUATION METHOD AND EVALUATION DEVICE OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加
磁気記録装置の製造方法、磁気記録媒体の評価方法および評価装置 - 特許庁
MOVING IMAGE RESOLUTION EVALUATION DEVICE OF DISPLAY DEVICE例文帳に追加
表示装置の動画解像度評価装置 - 特許庁
EVALUATION DEVICE FOR FATIGUE FRACTURE OF COMPONENT, EVALUATION METHOD FOR FATIGUE FRACTURE OF COMPONENT AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
部品の疲労破壊評価装置、部品の疲労破壊評価方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁
To provide a device evaluation method capable of maintaining a fixed quality of evaluation result.例文帳に追加
評価結果の質を一定に保つことができるデバイス評価方法を提供する。 - 特許庁
EVALUATION METHOD OF NURSING CARE INSURANCE SERVICE ENTERPRISER例文帳に追加
介護保険サービス事業者評価方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD FOR FLAKE DEFECT OF STEEL MATERIAL例文帳に追加
鋼材の白点性欠陥の評価方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR EVALUATION OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体評価装置及び評価方法 - 特許庁
EVALUATION DEVICE FOR DURABILITY CHARACTERISTICS OF PHOTORECEPTOR AND EVALUATION METHOD FOR DURABILITY CHARACTERISTICS OF PHOTORECEPTOR例文帳に追加
感光体耐久特性評価装置および感光体耐久特性評価方法 - 特許庁
The optimization evaluation indicator is used as an evaluation of the current state of the optimization.例文帳に追加
最適化評価のインディケータは、最適化の現在の状態の評価として用いられる。 - 特許庁
UNIFORMITY EVALUATION METHOD OF MESH-SHAPED PATTERN例文帳に追加
メッシュ状パターンの均一性評価方法 - 特許庁
CHARACTERISTIC EVALUATION METHOD OF OXYGEN ABSORBING/DESORBING MATERIAL例文帳に追加
酸素吸放出材の特性評価方法 - 特許庁
(v) Matters related to the conduct of Ex-ante Evaluation 例文帳に追加
五 事前評価の実施に関する事項 - 日本法令外国語訳データベースシステム
1. Evaluation of Comprehensive Risk Management System 例文帳に追加
１.統合的なリスク管理態勢の評価 - 金融庁
B. Separate evaluation by the board of directors 例文帳に追加
ロ． 取締役会による独立的評価 - 金融庁
[3]. Evaluation of deficiencies in company-level controls 例文帳に追加
③ 全社的な内部統制の不備の検討 - 金融庁
EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER, EVALUATION DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウエーハの評価方法及び評価装置並びに半導体ウエーハの製造方法 - 特許庁
EVALUATION OF TRANSGLUTAMINASE ACTIVITY IN SKIN例文帳に追加
皮膚におけるトランスグルタミナーゼ活性の評価 - 特許庁
SHEET RESISTANCE EVALUATION METHOD OF EPITAXIAL SUBSTRATE例文帳に追加
エピタキシャル基板のシート抵抗評価方法 - 特許庁
RELIABILITY EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND RELIABILITY EVALUATION DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイスの信頼性評価方法、および半導体デバイスの信頼性評価装置 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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