「evaluation device」に関連した英語例文の一覧と使い方(37ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR LASER, ITS FABRICATION PROCESS AND EVALUATION DEVICE例文帳に追加

半導体レーザ、半導体レーザの製造方法および評価装置 - 特許庁

CORROSION DETERIORATION EVALUATION DEVICE AND METHOD, COMPUTER PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

腐食劣化評価装置及び方法、コンピュータプログラム、記録媒体 - 特許庁

GAS PERMEABILITY EVALUATION DEVICE OF GAS DIFFUSION SUBSTRATE FOR FUEL CELL例文帳に追加

燃料電池用ガス拡散基材のガス透気度評価装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE FOR EVALUATING TUNNEL INSULATION FILM AND METHOD FOR EVALUATION例文帳に追加

トンネル絶縁膜評価用の半導体装置及び評価方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEST CIRCUIT AND EVALUATION METHOD USING SAME例文帳に追加

半導体装置、テスト回路およびそれを用いた評価方法 - 特許庁

To provide a patent evaluation device for evaluating a patent value.例文帳に追加

特許の価値を評価する特許評価装置を提供する。 - 特許庁

DETECTION SENSOR EVALUATION DEVICE, ELECTRONIC MUSICAL INSTRUMENT, AND ELECTRONIC KEYBOARD INSTRUMENT例文帳に追加

検出センサ評価装置、電子楽器及び電子鍵盤楽器 - 特許庁

PATTERN EVALUATION METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE USING SAME例文帳に追加

パターン評価方法および該方法を用いたデバイス製造方法 - 特許庁

FREQUENCY CHARACTERISTIC EVALUATION DEVICE, S-PARAMETER MEASURING INSTRUMENT, TDR-WAVE FORM MEASURING INSTRUMENT, AND PROGRAM FOR FREQUENCY CHARACTERISTIC EVALUATION DEVICE例文帳に追加

周波数特性評価装置、Ｓパラメータ測定器、ＴＤＲ波形測定器、および周波数特性評価装置用のプログラム - 特許庁

COURSE DISPLAY TERMINAL, COURSE EVALUATION DEVICE, AND COURSE DETERMINING METHOD例文帳に追加

針路表示端末、針路評価装置、及び、針路決定方法 - 特許庁

EVALUATION MANAGEMENT SYSTEM, DEVICE, AND METHOD例文帳に追加

評価管理システム及び評価管理装置及び評価管理方法 - 特許庁

SIGNAL EVALUATOR, SIGNAL EVALUATION METHOD AND SIGNAL REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

信号評価装置、信号評価方法および信号再生装置 - 特許庁

EVACUATION GUIDANCE CONTROL DEVICE, EVALUATION GUIDANCE CONTROL METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

避難誘導制御装置、避難誘導制御方法、およびプログラム - 特許庁

SHAPE EVALUATION METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE FOR USE IN SAME例文帳に追加

形状評価方法及びその評価に用いる半導体装置 - 特許庁

PATTERN EVALUATION METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD USING IT例文帳に追加

パターン評価方法及び該方法を用いたデバイス製造方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SUPPORTING EVALUATION OF COPY QUALITY OF COPYING MACHINE例文帳に追加

複写機の複写品質評価支援装置及びその方法 - 特許庁

WATER-QUALITY EVALUATION METHOD AND SUBSTRATE CONTACT DEVICE FOR THE SAME例文帳に追加

水質評価方法及びそれに用いられる基板接触器具 - 特許庁

RESIN FILM EVALUATION METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

樹脂膜の評価方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

EVALUATION METHOD OF ELECTRON SOURCE IN SELF-LUMINOUS FLAT DISPLAY DEVICE例文帳に追加

自発光平面表示装置における電子源の評価方法 - 特許庁

GLOSSINESS EVALUATION DEVICE, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

光沢評価装置、光沢評価方法及び光沢評価プログラム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING NUTRITION AND NUTRITION EVALUATION SYSTEM例文帳に追加

栄養評価方法及びその装置並びに栄養評価システム - 特許庁

POWDER EVALUATION DEVICE, ELECTROSTATIC CHARGE IMAGE DEVELOPING TONER, AND DEVELOPING METHOD例文帳に追加

粉体評価装置、静電荷現像用トナー及び現像方法 - 特許庁

CATALYST ACTIVITY EVALUATING DEVICE AND CATALYST ACTIVITY EVALUATION METHOD例文帳に追加

触媒活性評価装置および触媒活性評価方法 - 特許庁

EVALUATION METHOD FOR SILICON SUBSTRATE AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

シリコン基板の評価方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND EYE OPEN MARGIN EVALUATION METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置及びアイ開口マージン評価方法 - 特許庁

EVALUATION DEVICE OF ELECTRON BEAM FOCUS PERFORMANCE AND ELECTRON BEAM ALIGNER例文帳に追加

電子線結像性能の評価装置及び電子線露光装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, FUNCTIONAL SETTING METHOD THEREFOR, AND ITS EVALUATION METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体デバイス，その機能設定方法及びその評価方法 - 特許庁

PATTERN FOR EVALUATING METAL WIRING, SEMICONDUCTOR DEVICE AND EVALUATION METHOD例文帳に追加

金属配線評価用パターン、半導体装置及び評価方法 - 特許庁

MULTILAYER FILM MIRROR, EVALUATION METHOD, EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

多層膜ミラー、評価方法、露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁

ION RADIATION EFFECT EVALUATION METHOD, PROCESS SIMULATOR, AND DEVICE SIMULATOR例文帳に追加

イオン照射効果評価方法、プロセスシミュレータ及びデバイスシミュレータ - 特許庁

The system comprises an evaluation unit 11 and a roll off device 12.例文帳に追加

システムは、評価ユニット１１およびロールオフ装置１２とから成る。 - 特許庁

EVALUATION METHOD FOR PHOTOMASK AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

フォトマスクの評価方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

HEAT SOURCE EVALUATION METHOD AND CHARACTERISTICS DISPLAY DEVICE例文帳に追加

熱源評価方法、及び、その方法に用いる特性表示具 - 特許庁

DEVICE, SYSTEM AND PROGRAM FOR ENTERPRISE EVALUATION例文帳に追加

企業評価装置、企業評価システムおよび企業評価プログラム - 特許庁

PATENT ASSET VALUE EVALUATION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

特許資産価値評価装置および特許資産価値評価方法 - 特許庁

MODULE EVALUATION DEVICE AND METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

モジュール評価装置、モジュール評価方法、プログラム、および記録媒体 - 特許庁

MUSICAL COMPOSITION EVALUATION DEVICE AND PROGRAM FOR EVALUATING MUSICAL COMPOSITION例文帳に追加

楽曲評価装置および楽曲を評価するためのプログラム - 特許庁

To provide an evaluation progress managing device, an evaluation progress management program and an evaluation progress management method for preventing evaluation delay and omission in designing.例文帳に追加

設計における評価の遅れや漏れを防止することが可能な評価進捗管理装置、評価進捗管理プログラム及び評価進捗管理方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Further, the analysis/evaluation device performs statistical analysis and time serial analysis of the evaluation result for the evaluation object, and stores/outputs the evaluation result and the analysis result.例文帳に追加

さらに、分析・評価装置は、評価対象に対する評価結果に対して統計分析および時系列的な分析を行い、評価結果および分析結果を記憶・出力する。 - 特許庁

To provide a preprocessing method of an evaluation test body for a filler dispersion degree for appropriately performing filler dispersion degree evaluation by imaging, and to provide a dispersion degree evaluation method of filler and a dispersion degree evaluation device of filler.例文帳に追加

撮像によるフィラーの分散度評価を適切に行えるフィラー分散度の評価試験体の前処理方法、分散度評価方法、分散度評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation device, an evaluation method and an evaluation program capable of executing the desired evaluation of prepared shape data and appropriately deciding the propriety of the shape data.例文帳に追加

作成された形状データに対する所望の評価を実行し、その形状データの適否を適切に判断することが可能な評価装置、評価方法及び評価プログラムを提供する。 - 特許庁

To introduce a technique effective for an evaluation method and design of an evaluation substrate used for a reliability evaluation therein in order to enhance detection power for a trouble in the reliability evaluation of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの信頼性評価で故障の検出力を向上させる為に、評価方法及びその評価に用いる評価基板の設計に効果的な手法を取り入れる。 - 特許庁

A data read section 12 inputs information, such as the number N of evaluation items of an evaluation target, the length M of an evaluation axis, evaluation items and scoring points from a radar chart drawing device 3.例文帳に追加

データ読み出し部１２は，描画対象の評価項目数Ｎ，評価軸長Ｍ，評価項目と得点などの情報をレーダチャート描画処理装置３から入力する。 - 特許庁

VOLTAGE STABILITY EVALUATION DEVICE, VOLTAGE STABILITY EVALUATION METHOD, VOLTAGE STABILITY EVALUATION PROGRAM AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM RECORDING VOLTAGE STABILITY EVALUATION PROGRAM IN POWER SYSTEM例文帳に追加

電力系統における電圧安定度評価装置、電圧安定度評価方法、電圧安定度評価プログラム、電圧安定度評価プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

DELAY TIME MEASURING DEVICE, JITTER TOLERANCE MEASURING DEVICE, AND SPEECH QUALITY EVALUATION DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

遅延時間測定装置、ジッター耐性測定装置及びそれらを用いた通話品質評価装置 - 特許庁