例文 (2件) |
excursion testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2件
The circuit has plural flip-flop, each of them is clock-operated by each over-voltage excursion, and the last one in the series generates an internal test enable-signal.例文帳に追加
複数個のフリップフロップを有し、その各々は各過電圧エクスカーションでクロック動作され、そのシリーズにおける最後のものが内部テストイネーブル信号を発生する。 - 特許庁
In order to permit a special operation mode such as a test mode or the like, it can be incorporated in a memory device provided with a circuit requiring over-voltage excursion (deviation) of plural pieces of special terminals.例文帳に追加
テストモード等のような特別動作モードをイネーブルさせるために特定の端子の複数個の過電圧エクスカーション(振れ)を必要とする回路を具備するメモリ装置内に組込むことが可能である。 - 特許庁
例文 (2件) |
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|