「function tests」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To prevent reset from occurring during burn-in tests on flip-flop circuits with a reset function/scan function constituting a scan chain.例文帳に追加

スキャンチェーンを構成するリセット機能付き・スキャン機能付きフリップフロップ回路のバーンインテスト中において、リセットを生じせしめないようにする。 - 特許庁

In addition, xieperf provides a set of tests which can be used to validate the detection and transmission of XIE protocol request errors, such as FloMatch, FloValue, and so forth.Finally, xieperf provides a customizable demonstration program for XIE.A test is made up of three components executed in sequence - an initialization function, a test function, and an end function.例文帳に追加

最後に、xieperfは、カスタマイズ可能 なXIE のデモプログラムにもなる。 テストは順に実行される3つのコンポーネント、すなわち初期化関数、テスト関数、終了関数からなる。 - XFree86

To provide a test circuit and test method for semiconductor devices capable of function tests and d-c tests and enable an LSI tester with a few of pins to test.例文帳に追加

機能試験と直流試験を行うことができるとともに、少ないピン数のＬＳＩテスタで試験することができる半導体装置のテスト回路及びテスト方法の提供を目的とする。 - 特許庁

Tests 'T1, T3, T4' are comprised of the contents of the registers and grant the function to access the grouped resources.例文帳に追加

テスト［Ｔ１、Ｔ３、Ｔ４］がレジスタの内容で構成され、集合的リソースにアクセスすることを認証［ＧＲＴ］する。 - 特許庁

function tests whether the multi-byte representation of the wide character c, starting in the initial state, consists of a single byte. 例文帳に追加

関数は、ワイド文字 c のマルチバイト表現(初期状態で開始)がシングルバイト文字だけでできているかどうかを調べる。 - JM

The test machine 4 determines the quality of the function of the electronic control device 2 for the vehicle based on the execution result of the function tests transmitted from the electronic control device 2 for the vehicle.例文帳に追加

試験機４が、車両用電子制御装置２から送信された機能検査の実行結果に基づいて、車両用電子制御装置２の機能の良否を判定する。 - 特許庁

E-LEARNING SYSTEM AND METHOD WITH QUESTION EXTRACTION FUNCTION, TAKING INTO ACCOUNT FREQUENCY OF APPEARANCE IN TESTS AND LEARNER'S WEAK POINTS例文帳に追加

出題頻度と学習者の弱点を考慮した問題抽出機能を備えるｅ−ｌｅａｒｎｉｎｇシステム及び方法 - 特許庁

The work flow automation programming includes request processing programming for processing a user request for the tests which are available to be performed by the specimen processing modules, and includes function control programming which provides function control of a plurality of specimen processing modules for performing the tests, and includes result data management programming that provides processing of test result data of the tests.例文帳に追加

ワークフロー自動化プログラミングは、被検物処理モジュールによって実行される利用可能な試験に対するユーザーリクエストを処理するリクエスト処理プログラミングを含み、試験を実行する複数の被検物処理モジュールの機能制御を提供する機能制御プログラミングを含み、試験の試験結果データの処理を提供する結果データ管理プログラミングを含む。 - 特許庁

To provide a microcomputer capable of carrying out various self-tests including a function of a security circuit without providing a pad for testing on a chip.例文帳に追加

チップ上に試験用のパッドを設けずに、セキュリティ回路の機能を含む各種の自己試験ができるマイクロコンピュータを提供する。 - 特許庁

The setUp function can access the test globals as the globs attribute of the test passed.Optional argument globs is a dictionary containing the initial global variables for the tests.例文帳に追加

tearDown ははglobs 属性を介してテストのグローバル変数にアクセスできます。 オプション引数 globs は辞書で、テストのグローバル変数の初期値が入ります。 - Python

The function tests of the testing-objective chip are repeated till generation of NG (Fail), using the delay characteristic held in the memory.例文帳に追加

そして、メモリに保持した遅延特性を用いて、試験対象チップのファンクション試験をＮＧ（Ｆａｉｌ）が発生するまで繰り返し行なう。 - 特許庁

A text function part 8 tests whether or not the generated interactive screen operates normally by using the data saved in the display data storage part 7.例文帳に追加

テスト機能部８は表示データ記憶部７に保存されているデータを使用し、作成した対話画面が正常に動作するかを試験する。 - 特許庁

To make a plurality of visual function tests with the same apparatus with both eyes open and in the condition approximating an ordinary viewing way not limiting a visual field.例文帳に追加

両眼を開放した状態で、且つ視野を制限しない日常の見え方に近い状態で複数の視機能検査を同じ装置で行う。 - 特許庁

METHOD, CIRCUIT HAVING FUNCTION AND PROGRAM OF RESISTANCE VALUE COMPENSATIONS, AND METHOD AND PROGRAM OF CIRCUIT RESISTANCE VALUE TESTS例文帳に追加

抵抗値補償方法、抵抗値補償機能を有する回路、回路の抵抗値試験方法，抵抗値補償プログラム及び回路の抵抗値試験プログラム - 特許庁

If not specified, the module calling this function is used.Optional argument globs is a dictionary containing the initial global variables for the tests.例文帳に追加

module を指定しない場合、この関数を呼び出しているモジュールになります。 オプション引数 globs は辞書で、テストのグローバル変数の初期値が入ります。 - Python

To provide a testing device for an arbitration circuit capable of more easily conducting function tests on the arbitration circuit that arbitrates access by a plurality of CPUs.例文帳に追加

複数のＣＰＵによるアクセスを調停する調停回路の機能テストをより簡単に行なうことができる調停回路のテスト装置を提供する。 - 特許庁

The shear soil tank composed of laminated square shear frames for ground vibration tests has a function for balancing the soil pressure inside the shear frame with that outside the frame.例文帳に追加

方形せん断フレームを積層した地盤振動試験のためのせん断土槽において、該せん断フレームの内外の土圧をバランスさせる機能を持たせている。 - 特許庁

To obtain an exchange system which easily and also surely performs function tests of various devices which constitute the exchange system.例文帳に追加

本発明は、交換機システムを構成する各種装置の機能試験を容易且つ確実に行なえる交換機システムを提供とすることを課題とする。 - 特許庁

To provide a visual function testing apparatus which can perform a plurality of visual function tests necessary for daily life by one apparatus by applying an image providing procedure designed according to the way of viewing (visual characteristics) of a human being.例文帳に追加

人間の眼の見え方（視覚特性）に応じて設計された映像提示手法を活用し、日常生活に重要な複数の視機能検査を一台で実行できる視機能検査装置を提供する。 - 特許庁

A memory test system is disclosed in which easy function tests are carried out once or twice first to obtain fail bit data, and an OR calculation result of the obtained fail bit data is stored in a buffer memory B108.例文帳に追加

メモリテストシステムは、最初に１〜２回のイージーファンクションテストを行って、得られたフェイルビットデータのＯＲ演算結果をバッファメモリＢ１０８に記憶しておく。 - 特許庁

To execute an application testing device for efficiently make the various tests of an application in a controller without performing the function changing operation of a shadow block in the controller.例文帳に追加

コントローラ内のシャドウブロックの機能変更操作をしないでコントローラ内部のアプリケーションの多様な試験を効率よく実施するできるアプリケーション試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a laminate which shows a reflection preventive function due to a nano uneven structure and also, high mar resistance, especially, not less than 3H by pencil hardness tests in compliance with JIS K5600-5-4.例文帳に追加

ナノ凹凸構造による反射防止機能を示すと共に、高い耐擦傷性、特にＪＩＳ Ｋ５６００−５−４に準じた鉛筆硬度試験で３Ｈ以上を示す積層体を提供する。 - 特許庁

White-box testing strategies include designing tests such that every line of source code is executed at least once, or requiring every function to be individually tested. 例文帳に追加

ホワイトボックス法の戦略には、ソースコードのすべての行が最低一回実行されるようにテストを設計する、またはすべての関数が独立にテストされることを要する、ということが含まれる。 - コンピューター用語辞典

Some tests, such as -modify1,-await, -abort, and -redefine, perform additional steps within the test function inner loop, as required by the element being tested, or in an attempt to make the test more visually appealing.例文帳に追加

テストによっては(-modify1,-await, -abort, -redefine 等)、テスト関数の内部ループ内で追加のステップを実行する。 これはテストされる要素の要求に応じるためや、テストの見栄えを良くするために行われる。 - XFree86

Some commentators suggested that we limit an issuer’s consideration of whether its conflict minerals are “necessary to the functionality” of a product to the “basic function” or “economic utility” tests.例文帳に追加

一部の意見提出者は、紛争鉱物がある製品の「機能に必要」であるか否かについての発行人の検討を「基本的機能」または「経済的有用性」のテストに限定することを提案した。 - 経済産業省

The PPARγ agonists such as rivoglitazone, DRF-2593, GW-544, BMS-298585, etc., are useful as a preventing or treating agent of ophthalmic infectious diseases, indefinite complaints on eyes or the like caused by the reduction of corneal epithelium barrier function, since they exhibit an excellent corneal epithelium barrier function-enhancing effect in the tests of barrier function-enhancing effect of the corneal epithelium.例文帳に追加

リボグリタゾン、ＤＲＦ—２５９３、ＧＷ−５４４、ＢＭＳ—２９８５８５などのＰＰＡＲγアゴニストは、角膜上皮のバリア機能亢進試験において、優れた角膜上皮のバリア機能亢進効果を発揮するので、角膜上皮バリア機能低下に起因する眼部感染症や眼不定愁訴などの予防剤または治療剤として有用である。 - 特許庁

The verification program 111 transmits the control code to the learning remote controller 120 on the basis of the scenario data 112, the iteration condition data 113, and the control code information 114 in order to apply function tests to a built-in program 131.例文帳に追加

検証プログラム１１１は、組込みプログラム１３１の機能テストをおこなうため、シナリオデータ１１２、反復条件データ１１３および制御コード情報１１４に基づいて、学習リモコン１２０に対して制御コードを送信する。 - 特許庁

The communication testing means 18 tests whether it is possible to execute the communication function by utilizing the other pattern of the communication setting data stored in the storing means 14 while maintaining a state where it is possible for the communication means 16 to execute the communication function by utilizing the one pattern of the communication setting data.例文帳に追加

通信テスト手段１８は、上記の一方のパターンの通信設定データを利用して通信手段１６が通信機能を実行することができる状態を維持しながら、記憶手段１４に記憶されている他方のパターンの通信設定データを利用して通信機能を実行することができるのか否かをテストする。 - 特許庁

The communication test means 18 tests whether it is possible to execute the communication function by utilizing the other pattern of the communication setting data stored in the storage means 14, while maintaining a state where it is possible for the communication means 16 to execute the communication function by utilizing the one pattern of the communication setting data.例文帳に追加

通信テスト手段１８は、上記の一方のパターンの通信設定データを利用して通信手段１６が通信機能を実行することができる状態を維持しながら、記憶手段１４に記憶されている他方のパターンの通信設定データを利用して通信機能を実行することができるのか否かをテストする。 - 特許庁

To provide a method of making a reconstructed artificial tissue having the versatility to permit the simple, rapid and efficient making of the desired artificial tissue, and the reconstructed artificial tissue, such as a tissue model and an organ model, which has a cell layer having the barrier function intrinsic to organisms and a basement membrane structure and can be advantageously applied to pharmacological tests, toxicity tests, etc., of chemical substances, etc.例文帳に追加

所望の人工組織を簡便かつ短期間に効率よく製造することができる汎用性を有する再構築人工組織の製造方法や、生体本来のバリアー機能を備えた細胞層と基底膜構造を有しており、化学物質等の薬理試験、毒性試験等へ有利に応用することができる組織モデルや臓器モデル等の再構築人工組織を提供すること。 - 特許庁

The memory chip of a semiconductor device, especially a DRAM, etc., has a region 15 where a protection film 8 (a first insulation layer) is removed for tests (electrical characteristics test such as a function test), the fine control of characteristics (such as salvation of a fuse), and corrections, etc.例文帳に追加

メモリチップ、特にＤＲＡＭなどの半導体装置であって、検査（機能テスト等の電気的特性検査）や特性微調整（ヒューズ救済等）・修正等の目的のために保護膜８（第１の絶縁層）を除去した領域１５を有する。 - 特許庁

The testing apparatus carries out function tests for network relays installed in respective circuits of the network, in which a plurality of circuits led out via respective transformers are connected to a common network bus separately via a protective breaker.例文帳に追加

本発明は、それぞれ変圧器を介して導出された複数の回線がそれぞれ保護遮断器を介して共通のネットワーク母線に接続されるネットワークの各回線ごとに設けられたネットワークリレーの機能試験を行う試験装置に関する。 - 特許庁

The tests can be configured so that the test init function will constrain the input photomap to a specified number of levels, on a per-band basis, so that word-sizedand quad-sized pixels are passed through the flos.例文帳に追加

テストは、テストの初期化関数は、基本的にはバンドごとに、入力のフォトマップを指定された数のレベルに制限するように構成することができる。 また、ワード長のピクセルや、4倍長のピクセルが flo を通じて渡されるように構成することができる。 - XFree86

An external memory BIST 21, which tests a nonvolatile semiconductor memory which is an external memory, is provided with a bad block address management table having a function which monitors block addresses, stores bad block addresses and perform test control in a test of nonvolatile semiconductor memory 4.例文帳に追加

外部メモリである不揮発性半導体メモリをテストする外部メモリＢＩＳＴ２１には、不揮発性半導体メモリ４のテストにおいて、ブロックアドレスの監視、バッドブロックアドレスの格納、ならびにテスト制御などの機能を有するバッドブロックアドレス管理テーブルが設けられている。 - 特許庁

By posing negative pressure at frequency corresponding to rainfall the enclosure experiences, from the air leak testing arrangement 20, and, after that, by implementing air leak tests of the enclosure 10 with the air leak testing arrangement 20, thus pass or fail of waterproof function is checked from the result.例文帳に追加

そして、エアリーク試験装置２０から密閉筐体１０が遭遇する降雨回数に対応する回数の負圧を加え、その後に密閉筐体１０のエアリーク試験をエアリーク試験装置２０により実行して、その結果により防水機能の合否を確認する。 - 特許庁

To provide a controller with a memory test function and a computer mounted with the controller for normally maintaining picture display on the display monitor of the computer, and for easily and precisely performing memory tests in all the regions of a main memory mounted on the computer.例文帳に追加

本発明は、メモリ試験機能付きコントローラおよび該コントローラが搭載されたコンピュータに関し、コンピュータの表示モニタへの画面表示を正常に維持して、コンピュータに実装された状態のメインメモリの全領域を容易且つ詳細にメモリ試験することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device in which the device is constituted of a BIST circuit without changing its constitution, a decision on the result of target address access time performance and a decision on conventional function tests are simultaneously performed without providing needless external terminals.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路の構成を変更せずにそのままの構成にし、かつ余分な外部端子を設けずに目標アドレスアクセスタイム性能の合否判定を、従来の機能テスト判定と同時に判定させるようにした半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

This method is inputted with the time for carrying out a tests, the time for final learning, test ranges and acceptance conditions as initial information and provides the learners with the necessary number of learning times for the test ranges by using such initial information and the oblivion function held therein.例文帳に追加

本発明は、テストの実施時期、最終学習時期、テスト範囲、及び合格条件を初期情報として入力し、これらの初期情報と内部に保持する忘却関数を用いて当該テスト範囲に対する必要学習回数を学習者に提示する。 - 特許庁

A program test device 20a tests the content of the program provided to a mobil phone 50 via the network in advance and generates test result data 202 which records information indicating a function included in the program and resources to be accessed when the program is executed.例文帳に追加

プログラム検査装置２０ａは、ネットワークを介して携帯電話機５０に提供されるプログラムの内容を事前に検査し、プログラムに含まれている関数や、プログラムを実行した場合にアクセスされるリソースを示す情報を記録した検査結果データ２０２を生成する。 - 特許庁

A space which is added to the row driver by the test circuit is very slight, and since the test circuit will not make the function of the row driver complicated, probability of failures induced in the test circuit is suppressed to be low, and the technique can be applied to high-sensitivity tests at a low cost.例文帳に追加

試験回路により行ドライバに追加されるスペースはごくわずかであり且つ試験回路が行ドライバの機能を大幅に複雑にすることもないため、試験回路で誘起される故障の確率を低く抑えた上、低コストで高度な試験に適用することができる。 - 特許庁

After a single test process system 130 tests an object process to be tested 100 and its result is stored in a trace log file 125, the program to be tested 100 calls an initializing function 111 for testing and common memory information is read in from a common memory information file 120.例文帳に追加

被テスト対象プロセス１００のテストを単体テスト処理システム１３０によりテストし、その結果をトレースログファイル１２５に格納後、被テストプログラム１００よりテスト用初期化関数１１１がコールされ、共有メモリ情報を共有メモリ情報ファイル１２０より読み込む。 - 特許庁

When the dose is administered to an individual having mild-to-moderate Alzheimer's disease (or desiring protection against Alzheimer's disease) twice daily for at least 4 months according to guidelines, an improvement or lessening in decline of cognitive function as characterized by cognition tests is observed in the patient.例文帳に追加

記載されたガイドラインに従って１日２回、少なくとも４ヶ月、軽度から中程度のアルツハイマー病を有する（またはアルツハイマー病に対する予防を希望する）個体にその用量を投与すると、認知試験で特徴付けられる認知機能の減退の改善または減少が患者で観察される。 - 特許庁

The load characteristics data on a model test piece at each timing of rock compressing tests is stored in a storage means 2, is read by an address generator 3 which generates an address according to a clock from the function generator 1, and is inputted to an amplifier 13 for load as a signal corresponding to a load of a virtual test piece.例文帳に追加

記憶手段２には岩石圧縮試験の各タイミングにおけるモデル試験片の荷重特性データが格納されており、これを前記関数発生器１からのクロックに対応してアドレスを発生するアドレス発生器３により読み出して、仮想試験片の荷重に対応する信号として、荷重用増幅器１３に入力する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 100 measures a matching time for each block and for each of a plurality of DUTs 90 that output test signals and calculates an optimal maximum match time for matching is obtained in a predetermined amount of blocks for each of the DUTs 90 in a predetermined number-th function test out of a plurality of number of times of tests.例文帳に追加

半導体試験装置１００では、複数回実行されるうちの所定回目のファンクションテストにおいて、試験信号を出力した複数の各ＤＵＴ９０毎、各ブロック毎のマッチ時間を計測し、所定量のブロックでマッチがとれるまでの最適マッチタイムアウト時間を各ＤＵＴ９０毎に算出する処理を行う。 - 特許庁

After the NG is generated, the function tests are repeated until the number of NGs in the testing-objective chip comes to the first prescribed number, processes hereinbefore are repeated starting from executions of the edge search when the number of NGs exceeds the first prescribed number, and the testing- objective chip is regarded as a defective to finish the test when the number of NGs reaches to the second prescribed number.例文帳に追加

ＮＧが発生すると試験対象チップにおけるＮＧの回数が第１の所定回数になるまではファンクション試験を繰り返し行ない、ＮＧの回数が第１の所定回数を超えると、上述の工程をエッジサーチ実行から繰り返し、ＮＧの数が第２の所定回数に達すると、試験対象チップを不良品とみなし試験を終了する。 - 特許庁