「inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

PATTERN INSPECTION METHOD AND PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン検査方法及びその装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD OF DEFECT例文帳に追加

キズ検査装置および検査方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD AND INSPECTION SUPPORT SYSTEM例文帳に追加

検査方法及び検査支援システム - 特許庁

PATTERN INSPECTION METHOD AND INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

パターン検査方法及び検査装置 - 特許庁

INSPECTION SYSTEM AND ITS INSPECTION METHOD例文帳に追加

検査システムおよびその検査方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE, SAMPLE, AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

検査装置、サンプル、及び検査方法 - 特許庁

In the periodic operator's inspection mentioned later, electric facility inspectors of the NISA, and inspectors of JNES applying the quality assurance standards, witness the inspection of the facilities particularly important to safety, or check relevant records, and verifies the process of the periodic operator's inspection (appropriateness of inspection procedures, inspection staff, justification of the inspection results, etc.).例文帳に追加

また、2009年1月からは、新たに保全計画の確認を実施している。 - 経済産業省

OPTICAL PANEL, INSPECTION PROBE, INSPECTION DEVICE, AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

光学パネル、検査プローブ、検査装置、および検査方法 - 特許庁

ELECTRICAL INSPECTION METHOD, INSPECTION STAGE, AND INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

電気的検査方法及び検査ステージ並びに検査装置 - 特許庁

DEVICE INSPECTION SYSTEM, DEVICE INSPECTION METHOD, DEVICE INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

装置検査システム、装置検査方法、装置検査プログラム - 特許庁

MASK INSPECTION METHOD, MASK INSPECTION DEVICE AND MASK INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

マスク検査方法、マスク検査装置及びマスク検査プログラム - 特許庁

INSPECTION CONDITION JUDGEMENT PROGRAM, INSPECTION APPARATUS AND INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

検査条件判定プログラムと検査装置と検査システム - 特許庁

ROBOT DEVICE, INSPECTION DEVICE, INSPECTION PROGRAM AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

ロボット装置、検査装置、検査プログラム、および検査方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD, INSPECTION DEVICE, AND INSPECTION PROGRAM FOR LAYERED BODY例文帳に追加

積層体の検査方法、検査装置及び検査プログラム - 特許庁

INSPECTION CONTROL SYSTEM, INSPECTION METHOD, AND INSPECTION CONTROL PROGRAM例文帳に追加

検査制御システム、検査方法、および検査制御プログラム - 特許庁

INSPECTION DEVICE, INSPECTION SYSTEM AND INSPECTION METHOD FOR CIRCUIT PATTERN例文帳に追加

回路パターンの検査装置、検査システム、および検査方法 - 特許庁

LABEL INSPECTION SYSTEM, LABEL INSPECTION APPARATUS AND LABEL INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

ラベル検査システム、ラベル検査装置及びラベル検査プログラム - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR CONTAINER, UTILIZATION OF INSPECTION METHOD AND INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

容器の検査法、検査法の利用ならびに検査装置 - 特許庁

DISCHARGE INSPECTION DEVICE, DISCHARGE INSPECTION METHOD, AND INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

吐出検査装置、吐出検査方法および検査プログラム - 特許庁

INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND SENSOR FOR INSPECTION DEVICE例文帳に追加

検査装置及び検査方法並びに検査装置用センサ - 特許庁

MACRO INSPECTION DEVICE, MACRO INSPECTION SYSTEM, AND MACRO INSPECTION METHOD例文帳に追加

マクロ検査装置、マクロ検査システム、及び、マクロ検査方法 - 特許庁

INSPECTION GAUGE AND INSPECTION SYSTEM USING THIS INSPECTION GAUGE例文帳に追加

検査ゲージおよびこの検査ゲージを用いる検査方法 - 特許庁

INSPECTION APPARATUS, INSPECTION METHOD AND SENSOR FOR INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

検査装置及び検査方法並びに検査装置用センサ - 特許庁

DELIVERY INSPECTION APPARATUS, DELIVERY INSPECTION METHOD, AND INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

吐出検査装置、吐出検査方法、および検査プログラム - 特許庁

INSPECTION DEVICE, MAINTENANCE METHOD OF INSPECTION DEVICE AND THE INSPECTION METHOD例文帳に追加

検査装置、検査装置のメンテナンス方法、検査方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD, INSPECTION DEVICE AND MASKED DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

検査方法、検査装置およびマスク欠陥検査方法 - 特許庁

FLAW INSPECTION METHOD, LIGHT SOURCE FOR FLAW INSPECTION AND FLAW INSPECTION INSTRUMENT例文帳に追加

傷検査方法、傷検査用光源、傷検査装置 - 特許庁

DATA INSPECTION DEVICE, DATA INSPECTION METHOD, AND DATA INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

データ検査装置、データ検査方法及びデータ検査プログラム - 特許庁

INSPECTION PROBE AND INSPECTION DEVICE WITH INSPECTION PROBE例文帳に追加

検査用プローブ、及び該検査用プローブを備えた検査装置 - 特許庁

CONTAINER INSPECTION SYSTEM, CONTAINER INSPECTION METHOD, AND CONTAINER INSPECTION DEVICE例文帳に追加

コンテナ検査システム、コンテナ検査方法、コンテナ検査装置 - 特許庁

INSPECTION TOOL FOR INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

検査装置用点検治具およびその点検方法 - 特許庁

DRAWING INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

描画検査装置 - 特許庁

SCANNER INSPECTION METHOD例文帳に追加

スキャナ検査方法 - 特許庁

INSULATION INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

絶縁検査装置 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

基板検査装置および検査方法 - 特許庁

CONVEYANCE INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

搬送検査システム - 特許庁

MODULE INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

モジュール検査システム - 特許庁

IMAGING INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

撮像検査システム - 特許庁

SAMPLE INSPECTION METHOD AND INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

試料検査方法及び検査装置 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE AND SUBSTRATE INSPECTION METHOD例文帳に追加

基板検査装置およびその方法 - 特許庁

LOADING INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

積載検査システム - 特許庁

INVERTER INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

インバータ検査装置 - 特許庁

FACILITY INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

設備点検システム - 特許庁

DISTORTION INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

歪み検査方法および検査装置 - 特許庁

LEAKAGE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

漏洩検査装置及び検査方法 - 特許庁