「irradiation defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

A method is provided wherein a multi-anode detector is used for the purpose of detecting scattered light from a wafer, data obtained from the detector (multi-anode) for detecting defects is used, the shape of a beam radiated to the wafer, a rotational shift between the radius direction and the beam long side, and the like are calculated, and the optical axis of the irradiation beam is adjusted.例文帳に追加

本発明は、ウエハからの散乱光の検出方法としてマルチアノードの検出器を使用し、欠陥検出用の検出器（マルチアノード）のデータを使用して、ウエハに照射されているビームの形状や半径方向とビーム長辺との回転ズレなどを算出して照射ビームの光軸調整を行う方法を提供する。 - 特許庁

To provide a silver salt photothermographic dry imaging material, even in the case rapid processing is performed, which has a high image concentration, has excellent optical irradiation image preservability, has excellent unevenness in density upon heat developing and transportability, has no generation of image defects and has reduced fogging even upon high temperature preservation, and also to provide an image forming method using the same.例文帳に追加

本発明の目的は、迅速処理を行った場合でも、画像濃度が高く、光照射画像保存性に優れ、熱現像時の濃度むらや搬送性に優れ、画像欠陥の発生がなく、高温保存時にもかぶりが小さい銀塩光熱写真ドライイメージング材料及びそれを用いた画像形成方法を提供することである。 - 特許庁

The method for correcting the defects on the color filter includes steps of: setting a diameter of a laser beam on a circular correcting region when the defective portion of the color filter is removed by irradiation of the laser beam; and depositing a metal film having thickness of 1,000 Å or more by a laser CVD method to the circular correcting region after the circular correcting region has been removed.例文帳に追加

カラーフィルタの欠陥修正方法において、レーザ光の照射によりカラーフィルタの欠陥部を除去する際に、レーザ光の径を欠陥部を含む円形修正領域に設定し、円形修正領域の除去後、円形修正領域にレーザＣＶＤ法によって厚み１０００オングストローム以上の金属膜を蒸着させることを特徴とする。 - 特許庁

A liquid crystal display in a cell form held by a chuck base 4 is moved in a horizontal direction by an X-Y table 2 and the electrode overlap parts of patterns are irradiated with the laser beam from a laser beam source of a high-frequency oscillation type laser beam source built in a laser irradiation mechanism 1 mounted at an Z-axis table 3, by which luminescent point defects are corrected.例文帳に追加

チャック台４によって保持されたセル状態の液晶ディスプレイをＸＹテーブル２で水平方向に移動させ、Ｚ軸テーブル３に取付けられているレーザ照射機構１に内蔵されている高周波発振タイプのレーザ光源からのレーザ光をパターンの電極重なり部に照射して輝点欠陥を修正する。 - 特許庁

In detecting defects in a TFT array on a TFT substrate by applying a voltage to the TFT array and detecting secondary electrons obtained by irradiation with an electron beam, the voltage pattern of applying the voltage to the source and/or the gate of the TFT is set to such characteristics parameters as increase a leak current due to an internal leak in the TFT depending on the voltage level and/or the timing of application.例文帳に追加

ＴＦＴ基板のＴＦＴアレイに対して電圧を印加し、電子線照射により得られる二次電子を検出してＴＦＴアレイの欠陥を検出するＴＦＴアレイの欠陥検出において、ＴＦＴのソースおよび／又はゲートへの電圧を印加する電圧パターンにおいて、電圧値および／又は印加時期によってＴＦＴの内部リークによるリーク電流を増加させる特性パラメータに設定する。 - 特許庁