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lssDを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8件
MICROCOMPUTER, AND LSSD SCANNING TEST METHOD THEREOF例文帳に追加
マイクロコンピュータ及びそのＬＳＳＤスキャンテスト方法 - 特許庁
LSSD is a kind of scan design which uses separate system and scan clocks to distinguish between normal and test mode. 例文帳に追加
LSSDはスキャン設計の一種であり、正常モードとテストモードとを区別するのにシステムクロックとスキャンクロックを別々に使う。 - コンピューター用語辞典
To realize test methods in actual operation conditions (actual operation test, At speed test) for the LSSD (Lever-Sensitive Scan Design) scanning test.例文帳に追加
ＬＳＳＤスキャンテストにおいて、実動作状態でのテスト（実動作テスト、At speed test）を実現する。 - 特許庁
The gating signal thus causes the power gating circuit to enable electrical current to reach the LSSD latch circuits.例文帳に追加
従って、ゲート信号は、電力ゲート回路に、電流がＬＳＳＤラッチ回路に到達することを可能にさせる。 - 特許庁
The gating signal thus causes the power gating circuit to prevent the electrical current from reaching particular logic circuits (e.g., scan logic) within the LSSD latch circuits, thereby conserving power within the ASIC by preventing current leakage and heat generation in the LSSD latch circuit.例文帳に追加
従って、ゲート信号は、電力ゲート回路に、電流がＬＳＳＤラッチ回路内の特定の論理回路（例えば、スキャン論理）に到達するのを防止させ、それにより、ＬＳＳＤラッチ回路内の漏電電流及び発熱を防ぐことによってＡＳＩＣ内の電力を節約する。 - 特許庁
A method of preventing current leakage in logic circuits within level sensitive scan design (LSSD) latch circuits in an application specific integrated circuit (ASIC) 100 is provided.例文帳に追加
特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）におけるレベル・センシティブ・スキャン設計（ＬＳＳＤ）ラッチ回路内部の論理回路内の漏電電流を防ぐ方法を提供する。 - 特許庁
A micro computer (ASIC) comprises a scan chain for the LSSD scanning test, and a clock generating circuit 10 which generates a shift clock which has each latch circuit of the scan chain latch a test pattern and a clock for performing the test which imports the output of an circuit to be tested corresponding to the test pattern, and supplies them to the scan chain.例文帳に追加
マイクロコンピュータ（ＡＳＩＣ）に、ＬＳＳＤスキャンテストのためのスキャンチェーンと、テストパターンをスキャンチェーンの各ラッチ回路にラッチさせるためのシフト用クロックおよびテストパターンに対する被テスト回路の出力を取り込むためのテスト実行用クロックを生成し、スキャンチェーンに供給するクロック生成回路１０とを備える。 - 特許庁
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