PROCESS MEASUREMENTとは 意味・読み方・使い方

MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD FOR LITHOGRAPHY PROCESS例文帳に追加

リソグラフィプロセスのための計測システムおよび計測方法 - 特許庁

To automatically process the measurement of funnel viscosity, especially the measurement of funnel viscosity due to a process corresponding to an API standard.例文帳に追加

ファンネル粘度の計測、特にＡＰＩ規格に準じた手順によるファンネル粘度の計測を自動処理する。 - 特許庁

Line width measurement is repeatedly performed during the development process.例文帳に追加

この線幅の測定は，現像中繰り返し行われる。 - 特許庁

A graph showing the relation between the measurement results obtained in the measurement process and the calculated results obtained in the calculation process is formed.例文帳に追加

そして、測定プロセスで得られた測定結果と演算プロセスで得られた演算結果との関係グラフを作成する。 - 特許庁

The method of manufacturing the piezoelectric resonator includes a base side wafer measurement process S3, a load capacity value calculation process S4, a cover side wafer measurement process S5 and an etching process S7 in the previous process of a layout junction process S8.例文帳に追加

圧電共振子の製造方法は、配置接合プロセスＳ８の前工程に、基体側ウェハ測定プロセスＳ３と負荷容量値演算プロセスＳ４と蓋体側ウェハ測定プロセスＳ５とエッチングプロセスＳ７とを含む。 - 特許庁

To provide a method to simulate a stress (strain) measurement process using a microscopic spectroscopic measurement, particularly a microscopic Raman measurement.例文帳に追加

顕微分光計測、特に、顕微ラマン計測を用いた応力（歪み）計測過程をシミュレートする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a process error measurement method and a process error measuring apparatus that minimize process errors, and an overlay measurement method and an overlay measuring apparatus that utilize them.例文帳に追加

工程エラーを最少化するための工程エラー測定方法及び装置と、これを利用したオーバーレー測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a measurement device and a combined measurement device equipped with the measurement device, which accelerate a process from a measurement to an ejection by performing a process of the measurement, a stock and an ejection without stopping a container transfer, and also to provide a measurement method.例文帳に追加

容器の移動を停止させることなく計量、ストック、排出等の工程を行うことで、計量から排出までの工程を高速化することが可能な計量装置およびこれを備えた組合せ計量装置、計量方法を提供する。 - 特許庁