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RF biasとは 意味・読み方・使い方
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「RF bias」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 115件
DYNAMIC BIAS FOR RF POWER AMPLIFIERS例文帳に追加
RF電力増幅器用の動的バイアス - 特許庁
METAL MOLD RELEASING TREATMENT METHOD BY RF BIAS ECR SPUTTERING例文帳に追加
RFバイアス式ECRスパッタリング金型離型処理方法 - 特許庁
Here, the RF signal data are measured in signal ports 1, 2 of the device 32, the bias signal data are measured 21, 23, and the RF signal data and the bias signal data are processed 17-20, 25 to acquire the RF signal network measured data of the device 3.例文帳に追加
この場合、装置(3)の信号ポート(1,2)においてRF信号データを測定し、バイアス信号データを測定し(21,23)、RF信号データとバイアス信号データを処理して(17-20,25)、装置(3)のRF信号ネットワーク測定データを得る。 - 特許庁
In this case, an RF bias voltage is impressed on the hearth 7 from an RF power source 16 to cause a discharge.例文帳に追加
その際、RF電源16によりハース7にRFバイアス電圧を加えて放電させる。 - 特許庁
The barrier film 116 may be formed by continuously changing the RF bias with its interlayer insulating film 113 side formed by impressing the RF bias, and with its wiring layer 117 side formed by impressing the RF bias.例文帳に追加
バリア膜116はRFバイアスを連続的に変化させて、層間絶縁膜113側をRFバイアスを印加して、配線層117側をRFバイアスを印加せずに形成することもできる。 - 特許庁
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「RF bias」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 115件
At this time, the RF transistor 1 carries out constant voltage operation by a set bias output from the bias circuit 3.例文帳に追加
この時、RFトランジスタ1はバイアス回路部3から出力される設定バイアスにより定電圧動作をする。 - 特許庁
To provide a bias tee capable of appropriately measuring RF, DC and pulsation.例文帳に追加
RF、DC及びパルス化測定を好適に行うことができるバイアスティーを提供すること。 - 特許庁
The bias switching circuit 15 switches a bias of an RF amplifier 4 to a desired value in response to the switching control signal SWC1.例文帳に追加
バイアス切替回路15は、切替制御信号SWC1に応じて、RF増幅器4のバイアスを所望の値に切替える。 - 特許庁
A post-stage quadrupole 6 is operated under an ion guide mode by applying thereto an RF voltage smaller than the RF voltage applied to the pre-stage quadrupole 3, and such a DC bias voltage as accelerating ions is applied.例文帳に追加
後段四重極6には前段四重極3に印加されるRF電圧よりも小さなRF電圧を印加してイオンガイドモードで動作させるとともに、イオンを加速するような直流バイアス電圧を印加する。 - 特許庁
An RF bias is applied and a plasma 32 is generated inside the plasma chamber and a wafer is exposed to the plasma 32.例文帳に追加
RFバイアスを印加し、プラズマチャンバ内にプラズマ32を発生させてウェハをプラズマ32に曝す。 - 特許庁
Then, a difference between the time of starting the film formation and the time of applying the RF bias is detected (S111).例文帳に追加
そして、成膜開始時刻とRFバイアスを印加した時刻のずれを検出する(S111)。 - 特許庁
In addition, the RF bias value when performing a plasma etching may be 1.2 W/cm^2 or larger.例文帳に追加
また、プラズマエッチングを行う場合のRFバイアス値は、1.2W/cm^2以上とするとよい。 - 特許庁
Then, silane gas is supplied into the chamber, and in addition RF bias is applied to the wafer (S108).例文帳に追加
次に、チャンバ内にシランガスを供給するとともに、ウェハにRFバイアスを印加する(S108)。 - 特許庁
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