S AXISとは 意味・読み方・使い方

In a step 104, 105, components in an X axis, Y axis, and Z axis direction of S, P, and F axes are calculated by directional cosine data and the base pulse sequence and an X, Y, and Z axis components of the S, P, and F axes are merged.例文帳に追加

方向余弦データと基礎パルスシーケンスとによりＳ、Ｐ、Ｆ軸のＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向成分を算出しＳ、Ｐ、Ｆ軸のＸ、Ｙ、Ｚ軸成分どうしを併合する（ステップ１０４、１０５）。 - 特許庁

A lateral axis S indicates a distance from a starting point (S=S_1) on a specified carrying path, and a point of S=S_2 is an arriving point.例文帳に追加

横軸Ｓは所定の運搬経路上での出発点（Ｓ＝Ｓ_1 ）からの距離を表しており、Ｓ＝Ｓ_2 成る点が到着点である。 - 特許庁

Greater parts of the X axis antenna 21x, the first Y axis antenna 21ya, and the second Y axis antenna, are arranged in the free space S.例文帳に追加

そして、Ｘ軸アンテナ２１ｘ、第１のＹ軸アンテナ２１ｙａ、第２のＹ軸アンテナの大半が、空きスペースＳに配置されている。 - 特許庁

Here, the incident radiation is entered into the optical fiber corresponding to orthogonal polarized optical axes 16b (a p'-polarized optical axis and an s'-polarized optical axis) obtained by rotating the p-polarized optical axis and the s-polarized optical axis by a certain angle θ.例文帳に追加

ここで、入射光をｐ偏光軸およびｓ偏光軸をある角度θ回転した直交偏光軸１６ｂ（ｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸）にあわせて光ファイバ１８に入射する。 - 特許庁

The center axis of the inner surface is substantially perpendicular to the electron impact surface S.例文帳に追加

上記内面の中心軸は、電子衝突面Ｓにほぼ垂直である。 - 特許庁

In a step 103, respective forward differential data of a slice (S) axis, a phase (P) axis, and a frequency (F) axis are calculated and stored as a base pulse sequence in a memory.例文帳に追加

スライス（Ｓ）軸、位相（Ｐ）軸、周波数（Ｆ）軸の各前方差分データを算出し基礎パルスシーケンスとしてメモリに格納する（ステップ１０３）。 - 特許庁

Then, a correction data θij indicating the inclination of the scanning direction axis (X axis) of the photodetector 10 against the scanning direction axis (x) of the reference focus points S.例文帳に追加

そして、基準結像点Ｓの走査方向ｘに対する受光素子１０の走査方向軸（Ｘ軸）の傾きを示す補正データθijを算出する。 - 特許庁

The optical axis of a sensor 20 is tilted to a normal direction Z of the substrate S to make a higher detection point PS0 on the optical axis pass one point on an end surface of the substrate S.例文帳に追加

センサ２０の光軸を、基板Ｓの法線方向Ｚに対して傾斜させて、基板Ｓの端面の一点を光軸上の上位検出点ＰＳ０に通過させる。 - 特許庁