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TEM observationとは 意味・読み方・使い方
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「TEM observation」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 50件
To provide an excellent TEM sample, an observation method of TEM and a TEM sample structure.例文帳に追加
優れたＴＥＭ試料の作製方法、ＴＥＭ観察方法及びＴＥＭ試料構造を提供することを課題とする。 - 特許庁
SAMPLE FOR OBSERVATION IN TEM AND SEM AND ITS MANUFACTURE例文帳に追加
ＴＥＭおよびＳＥＭ用観察試料とその作製方法 - 特許庁
The particle-state structure is not able to be identified by transmission electron microscope(TEM) observation.例文帳に追加
この組織性状は透過型電子顕微鏡(TEM) の観察によっても粒状組織が識別できない組織状態である。 - 特許庁
To simplify steps through collecting a sample piece for a TEM or SEM observation from an original sample up to molding it and setting an observation holder, and carry out the steps consistently in a sample treatment chamber.例文帳に追加
元試料から、TEMまたはSEM観察のための試料片の採取、成形および観察ホルダ設置までの工程を簡素化し、試料処理室において一貫して行なう。 - 特許庁
To provide a technology capable of reducing an observation time of a TEM sample.例文帳に追加
ＴＥＭ試料の観察時間を短縮することのできる技術を提供する。 - 特許庁
This method is generally used for obtaining a sample for TEM observation from a wafer in a semiconductor industrial field.例文帳に追加
そのような方法は、半導体産業分野においてウェハからTEM観察用のサンプルを入手するために、一般的に使用されている。 - 特許庁
To accelerate and facilitate a series of processing from sample processing to TEM/STEM observation in TEM/STEM analysis.例文帳に追加
ＴＥＭ／ＳＴＥＭによる解析において、試料加工からＴＥＭ／ＳＴＥＭ観察までの一連の処理を、短時間で容易に行う。 - 特許庁
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「TEM observation」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 50件
This remote-control software was installed in our new TEM to enable observation of microscope images at many different places.発音を聞く 例文帳に追加
この遠隔制御ソフトウェアは、多くの異なる場所での顕微鏡像の観察を可能にするために、われわれの新しいTEMにインストールされた。 - 科学技術論文動詞集
To provide a method for creating a sample for electron microscope observation for making precise observation by TEM.例文帳に追加
ＴＥＭによる観察を正確に行うことが可能な電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁
To provide a preparing method of a TEM sample capable of acquiring a clear TEM image showing the intrinsic structure of the sample even if the thickness of a membrane part used for TEM observation is extremely thin.例文帳に追加
ＴＥＭ観察に用いる薄膜部の厚さが極めて薄くても試料本来の構造を示す明確なＴＥＭ像が得られるＴＥＭ試料の作製方法を提供する。 - 特許庁
To simplify the processes including the collection and molding of a sample piece for a transmission electron microscope(TEM) or scanning electron microscope(SEM) observation from an original sample and the installation of an observation holder and to consistently conduct the processes in a sample processing chamber.例文帳に追加
元試料から、TEMまたはSEM観察のための試料片の採取、成形および観察ホルダ設置までの工程を簡素化し、試料処理室において一貫して行なう。 - 特許庁
To prepare a sample for TEM observation directly from a semiconductor wafer or a semiconductor chip.例文帳に追加
半導体ウェハまたは半導体チップから直接、ＴＥＭ観察用試料を得ることができる。 - 特許庁
Observation of high resolution and analysis for the sample material are allowed thereby using a TEM.例文帳に追加
これによって、ＴＥＭを用いた高解像度の観察および試料材料の分析が可能となる。 - 特許庁
To provide a preparation method of a sample for observation, an observation method of the sample, the sample for observation, an observation device or the like capable of observation by TEM or FIB, even when an observation object is a molding prior to sintering, a porous body or the like having a weak shape-retaining force.例文帳に追加
観察対象が保形力の弱い、焼結前の成形体や多孔質体等であっても、ＴＥＭやＦＩＢによる観察が行える観察用試料の作成方法、試料の観察方法、観察用試料、観察装置等を提供することを目的とする。 - 特許庁
A sample for TEM observation employing fringes of equal thickness is obtained even in hexagonal system or orthorhombic system by setting the incident direction of an electron beam normal to face M or A.例文帳に追加
電子線の入射方向をM面あるいはA面に垂直方向とする事により、六方晶や斜方晶においても等厚干渉縞を用いたTEM観察用試料を得る。 - 特許庁
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