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Test designとは 意味・読み方・使い方
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「Test design」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 321件
TEST CIRCUIT DESIGN PROGRAM, TEST CIRCUIT DESIGN DEVICE, AND TEST CIRCUIT DESIGN METHOD例文帳に追加
テスト回路設計プログラム、テスト回路設計装置およびテスト回路設計方法 - 特許庁
TEST FACILITATING DESIGN AND SYSTEM例文帳に追加
テスト容易化設計支援システム - 特許庁
TEST SPECIFICATION DESIGN METHOD FOR RANDOM VIBRATION TEST例文帳に追加
ランダム振動試験の試験仕様設計方法 - 特許庁
To realize test methods in actual operation conditions (actual operation test, At speed test) for the LSSD (Lever-Sensitive Scan Design) scanning test.例文帳に追加
ＬＳＳＤスキャンテストにおいて、実動作状態でのテスト（実動作テスト、At speed test）を実現する。 - 特許庁
TEST FACILITATION DESIGN METHOD OF LSI例文帳に追加
ＬＳＩのテスト容易化設計方法 - 特許庁
TEST FACILITATION DESIGN SYSTEM, TEST FACILITATION DESIGN METHOD, PROGRAM AND RECORDING MEDIA例文帳に追加
テスト容易化設計システム、テスト容易化設計方法、プログラムおよび記録媒体 - 特許庁
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ウィキペディア英語版での「Test design」の意味 |
Test design
出典:『Wikipedia』 (2010/12/09 07:10 UTC 版)
「Test design」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 321件
DESIGN ENVIRONMENT TRANSPARENT TYPE FUNCTION TEST SYSTEM例文帳に追加
設計環境透過型機能テストシステム - 特許庁
TEST CIRCUIT, AND DESIGN SUPPORT DEVICE, DESIGN SUPPORT METHOD, AND DESIGN SUPPORT PROGRAM例文帳に追加
テスト回路、設計支援装置、設計支援方法、および設計支援プログラム - 特許庁
TEST PATTERN PRODUCING APPARATUS, CIRCUIT DESIGN APPARATUS, TEST PATTERN PRODUCING METHOD, CIRCUIT DESIGN METHOD, TEST PATTERN PRODUCING PROGRAM, AND CIRCUIT DESIGN PROGRAM例文帳に追加
テストパターン生成装置、回路設計装置、テストパターン生成方法、回路設計方法、テストパターン生成プログラム、回路設計プログラム - 特許庁
Examination of Design Document, Ground test, Flight test and Other Methods発音を聞く 例文帳に追加
設計書類の審査、地上試験、飛行試験その他の方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, SCAN TEST CIRCUIT DESIGN METHOD, SCAN TEST CIRCUIT DESIGN DEVICE例文帳に追加
半導体集積回路装置、スキャンテスト回路設計方法、スキャンテスト回路設計装置 - 特許庁
TEST DESIGN SUPPORT DEVICE AND TEST DESIGN SUPPORT METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND PROGRAM例文帳に追加
半導体集積回路のテスト設計支援装置、テスト設計支援方法及びプログラム - 特許庁
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