A. A. Michelsonとは 意味・読み方・使い方

To provide a Michelson type interferometer capable of measuring at high resolution an absolute value of a wavelength of light having 0.5nm or less of wavelength, and a spectral diffraction element used therefor.例文帳に追加

０．５ｎｍ以下の波長を有する光の波長の絶対値を高い分解能で測定することができるマイケルソン型干渉計及びそれに用いられる結晶分光素子を提供する。 - 特許庁

The two-beam interference effect is optionally provided by a free-time Mach Zehnder interferometer, an incorporated Mach-Zehnder interferometer, a Michelson interferometer, or combinations of them.例文帳に追加

２ビーム干渉効果は、オプションで、自由時間マッハツェンダ干渉計、組み込みマッハツェンダ干渉計、マイケルソン干渉計、またはそれらの組み合わせによって提供される。 - 特許庁

Objects equivalent to the two mirrors of a Michelson interferometer are separately allowed to fall freely, and a temporal change in the displacement therebetween is measured by the output of the interferometer.例文帳に追加

マイケルソン干渉計の２つの鏡に相当する物体を別々に自由落下させ、それらの間の変位の時間変化を干渉計の出力で計測する。 - 特許庁

A 1st port 121 and a 2nd port 122, a half-mirror 123, and a 1st mirror 124 and a 2nd mirror 125 which constitute an optical system of a Michelson interferometer are fixed at respective positions on a substrate 126, and a 1st member 126a and a 2nd member 126b are combined whose signs of a coefficient of linear expansion are different to each other.例文帳に追加

基板１２６は、マイケルソン干渉計の光学系を構成する第１ポート１２１、第２ポート１２２、ハーフミラー１２３、第１ミラー１２４および第２ミラー１２５それぞれの位置を固定するものであって、線膨張係数の符号が互いに異なる第１部材１２６ａと第２部材１２６ｂとが組み合わされたものである。 - 特許庁

The multiplexed light Lc is divided into light fluxes of wavelengths λ1 and λ2, and a measuring signal of a sine wave of one period is obtained for (1/2)λ1 movement and (1/2)λ2 movement by the principle of a Michelson interferometer.例文帳に追加

この合波光Ｌｃを波長λ１、λ２の光束に分離し、マイケルソン干渉計の原理により、（１／２）λ１移動及び（１／２）λ２移動に対して１周期の正弦波の測定信号を得る。 - 特許庁

Then, based on the position calculated by the Michelson interferometer and the distance which is calculated based on time of flight, a distance to a long-distance measuring object is calculated.例文帳に追加

そして、マイケルソン干渉計により算出された位置と、飛行時間により算出された距離とに基づいて遠距離にある測定対象物Ｗまでの距離を算出する。 - 特許庁

A phase shift is imparted to each phase component generated from a wide-band laser light source 11 by a phase modulator 12, and a sample 18 is irradiated with light passing an interference autocorrelation measuring device 13 formed by combining a Michelson interferometer 14 with a piezo stage 15.例文帳に追加

広帯域レーザー光源１１から発生された個々の波長成分に位相変調器１２によって位相シフトを与え、マイケルソン干渉計１４とピエゾステージ１５を組み合わせた干渉自己相関計１３を通した光を試料１８に照射する。 - 特許庁

An interference detector 7 detects interference light of reflected light from the surface of a single crystal Si film grown on a substrate 20 and reflected light from a reference lens 73 with a Michelson interferometer by using a laser beam of wavelength λ.例文帳に追加

干渉検出装置７は、波長λのレーザ光を用いて、基板２０上に成長された単結晶Ｓｉ膜の表面から反射光と、リファレンスレンズ７３からの反射光との干渉光をマイケルソン干渉計によって検出する。 - 特許庁