ATPGとは 意味・読み方・使い方

To provide a method and device for creating test patterns for a logic circuit capable of shortening the lengths of the test patterns created by an ATPG system for a sequential circuit and an ATPG system for a sequential circuit.例文帳に追加

本発明は、順序回路用ＡＴＰＧシステム及び組み合わせ回路用ＡＴＰＧシステムが生成するテストパタン長を短縮できる論理回路のテストパタン生成方法及び装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an ATE apparatus capable of coping with a data volume required for expressing a test pattern of an ATPG.例文帳に追加

ＡＴＰＧの試験パターンを表すのに必要なデータ量の増加に対応したＡＴＥ装置を提供する。 - 特許庁

The technique can be fully integrated into flows of design for testability (DFT) and automatic test pattern generation (ATPG).例文帳に追加

記載された技術は、テスト容易化設計（ＤＦＴ）及び自動テストパターン生成（ＡＴＰＧ）のフローに完全に組込むことができる。 - 特許庁

To provide a test pattern generation device for automatically generating a test pattern without using a test pattern generation method and device related to an ATPG.例文帳に追加

ＡＴＰＧに係るテストパターン生成方法・装置を用いずに、自動的にテストパターンを生成するテストパターン生成・装置を提供する。 - 特許庁

In an activation test sequence:11XX0 of a test sequence ID:8 is input into the ATPG 2100 to generate an activation test sequence:11000.例文帳に追加

テストシーケンスＩＤ：８の活性化テストシーケンス：１１ＸＸ０をＡＴＰＧ２１００に入力して、活性化テストシーケンス：１１０００を生成する。 - 特許庁

An original test pattern created by an automatic test pattern generating means (ATPG) is separated into a pattern for a scan chain and patterns except for the scan chain.例文帳に追加

自動テストパターン生成手段（ＡＴＰＧ）で生成されたオリジナルのテストパターンを、スキャンチェーン用のパターンとスキャンチェーン用以外のパターンとに分離する。 - 特許庁

To shorten the time until an timing verified ATPG pattern is obtained by use of STA in a timing verification method of LSI test data.例文帳に追加

ＬＳＩテスト・データのタイミング検証方法において、ＳＴＡの利用によってタイミング検証済みのＡＴＰＧパターンを得るまでの時間を短縮すること。 - 特許庁

In a propagation test sequence:11XX0 of the test sequence ID:8 is input into the ATPG 2100, to generate a propagation test sequence:11010 of the test sequence ID:9.例文帳に追加

テストシーケンスＩＤ：８の伝播テストシーケンス：１１ＸＸ０をＡＴＰＧ２１００に入力して、テストシーケンスＩＤ：９の伝播テストシーケンス：１１０１０を生成する。 - 特許庁