DLTsとは 意味・読み方・使い方

DLTS SAMPLE STRUCTURE, DLTS MEASURING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ＤＬＴＳサンプル構造、ＤＬＴＳ測定方法および半導体デバイス - 特許庁

SCHOTTKY JUNCTION FOR DLTS MEASUREMENT AND ITS PREPARATION METHOD例文帳に追加

ＤＬＴＳ測定用ショットキ接合とその調製方法 - 特許庁

To provide a DLTS sample structure, a DLTS measuring method, and a semiconductor device for detecting an impurity coming into a semiconductor layer during a process.例文帳に追加

プロセス中に半導体層中に混入された不純物を検出することができるＤＬＴＳサンプル構造、ＤＬＴＳ測定方法および半導体デバイスを提供する。 - 特許庁

To provide a DLTS measuring electrode in which false peak does not appear when performing measurement.例文帳に追加

測定時において疑似ピークが現れないＤＬＴＳ測定用電極を提供する。 - 特許庁

This applies to most modern drives, including DATs, 8mm helical scan drives, DLTs, etc.発音を聞く 例文帳に追加

DAT、8mm ヘリカルスキャンドライブ、 DLT などの最近のドライブのほとんどは可変長ブロックモードに対応しているから。 - JM

In the evaluating method for evaluating the N-type silicon epitaxial wafer, at least a density of deep level due to metal impurities in the N-type silicon epitaxial wafer is measured by a DLTS method.例文帳に追加

また、Ｎ型シリコンエピタキシャルウエーハを評価する方法、製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Then, platinum is diffused to a wafer that has been subjected to the RTA heat treatment, and platinum concentration is measured by the DLTS method, thus obtaining atomic void concentration V.例文帳に追加

次にこのＲＴＡ熱処理を行ったウェーハに白金を拡散しＤＬＴＳ法にて白金濃度を測定することにより原子空孔濃度Ｖを求める。 - 特許庁