Diffraction standardとは 意味・読み方・使い方

To perform accurate qualitative analysis by accurately performing the comparison of the measured data of the intensity of diffracted X-rays and standard data even in such a case that a measuring condition of the measured data and the standard data is different, especially, a diffusion slit is different in the X-ray diffraction device.例文帳に追加

Ｘ線回折装置において、回折Ｘ線強度の測定データと標準データの測定条件、特に、発散スリットが異なる場合でも、測定データと標準データの比較を正確に行い正確な定性分布を行う。 - 特許庁

In carrying out aberration correction of a STEM device, a standard substrate with Au particles 102 deposited on a single-crystal substrate 101 made of Si is used, and based on electron diffraction images and a Kikuchi pattern, inclination of the standard substrate is adjusted.例文帳に追加

ＳＴＥＭ装置の収差補正に際して、Ｓｉからなる単結晶基板１０１上にＡｕパーティクル１０２が堆積されてなる標準基板を用い、電子線回折像及び菊池パターンに基づいて、標準基板の傾斜を調節する。 - 特許庁

When performing counting for "to" as time interval in a spectral diffraction position, the standard deviation Eo for the dispersion in the count N of X-ray total values which does not include statistical fluctuation is Sqrt (N).例文帳に追加

ある分光位置においてｔｏ時間計数したときの統計変動を含まないＸ線計数値Ｎカウントが持つばらつきの標準偏差ＥｏはＳｑｒｔ（Ｎ）である。 - 特許庁

To attain highly accurate thermal analysis measurement by making ambient environment of a sample for measurement and a standard sample the same on the premise of configuration for performing X-ray diffraction measurement by a transmission method.例文帳に追加

透過法によるＸ線回折測定ができる構造を前提として、被測定試料と標準試料の周囲環境を同じにして高精度な熱分析測定を実現する。 - 特許庁

The hologram areas 106a and 106b each orient the plus first order diffraction lights 122a and 122c in one direction and the minus first order diffraction lights 122b and 122d in the other direction, respectively, to a standard line which goes through the luminescence area of the laser diode 104 and is parallel to the Y-axis.例文帳に追加

ホログラム領域１０６ａ、１０６ｂは、それぞれ、レーザーダイオード１０４の発光点を通りＹ軸に平行な線を基準にして、＋１次回折光１２２ａ、１２２ｃを共に一方の側に方向付け、−１次回折光１２２ｂ、１２２ｄを共に他方の側に方向付ける。 - 特許庁

On a measurement optical axis C_10, there are arranged a reference standard plate 20 with a diffraction grating, a lens to be checked 70 which is supported by a specimen supporting means 30 and a null optical element 40 in this order.例文帳に追加

測定光軸Ｃ_１０上に、回折格子付参照基準板２０、被検体保持手段３０により保持された被検レンズ７０およびヌル光学素子４０を、この順に配置する。 - 特許庁

The off-axis measurement light incident on the lens to be checked 70 is retroreflected by the null optical element 40 and turns out light to be checked via the lens to be checked 70 and the reference standard plate 20 with the diffraction grating.例文帳に追加

被検レンズ７０に入射した軸外測定光は、ヌル光学素子４０によって再帰反射され、被検レンズおよび回折格子付参照基準板２０を経由して被検光とされる。 - 特許庁

The hydraulic alumina has a broad peak top at 2θ=25±5° in a powder X-ray diffraction spectrum at 1.5405Å wave length, and 10-20° half-value width measured by using the base line of the broad peak as a standard.例文帳に追加

この水硬性アルミナは、波長１．５４０５Åにおける粉末Ｘ線回折スペクトルが、２θ＝２５±５°にブロードなピークの頂点を有し、ブロードなピークのベースラインを基準とした半値幅が１０°〜２０°である。 - 特許庁