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Inspection Padとは 意味・読み方・使い方
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「Inspection Pad」の部分一致の例文検索結果
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INSPECTION PAD例文帳に追加
検査用パッド - 特許庁
Next, a scribing lane is used to connect the PAD (L2) and PAD (U3) capable of stable probing inspection for adjacent chips and the PAD (R1) and PAD (R1) and PAD (D1) of small size.例文帳に追加
次に隣接チップの安定したプロービング検査が可能なサイズのPAD(L2),PAD(U3)と小サイズのPAD(R1),PAD(D1)間とをスクライブレーンを介して接続する。 - 特許庁
One chip is formed by using two kinds of pad sizes, PAD (L1) and PAD (U1) capable of stable probing inspection and PAD (R1) and PAD (D1) of small size.例文帳に追加
一つのチップ内において、安定したプロービング検査が可能なサイズのPAD(L1),PAD(U1)と、小サイズのPAD(R1),PAD(D1)の2種類のパッドサイズを用いて構成する。 - 特許庁
To the heater wiring pattern H1, an inspection pad C is formed in the middle position of a heater connection pad A and a power supply pad B.例文帳に追加
ヒータ配線パターンH1には、ヒータ接続パッドAと電源パッドBとの中間位置に検査パッドCが形成されている。 - 特許庁
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SYSTEM AND METHOD FOR FACILITATING INSPECTION OF PAD RECEIVER OF INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路のパッドレシーバの試験を容易にする為のシステム及び方法 - 特許庁
The inspection pad TP is connected to an inspection bump TB formed on a surface protective film 13.例文帳に追加
検査用パッドTPは、表面保護膜13上に形成される検査用バンプTBに接続されている。 - 特許庁
Each signal input pad of a signal line pad group 23 ((23-1), 23-2-(23-6)) and a scanning pad group 47 has widths Ws, Wg, and lengths Ls, Lg enough to be abutted on an inspection probe, and plays a roll for an inspection pad.例文帳に追加
信号線パッド群23及び走査線パッド群47の各信号入力パッドが、検査プローブの当接に充分な幅Ws,Wg及び長さLs,Lgを有し、検査パッドの役割を果たす。 - 特許庁
When an adsorption pad is moved downwards up to a target height position towards an inspection socket, the adsorption pad is moved downwards jetting air from the pad.例文帳に追加
吸着パッドを検査用ソケットに向かって目標高さ位置まで下動させるとき、吸着パッドからエアーを噴射させながら下動させる。 - 特許庁
In this case, the input/output circuit for inspection outputs the inspection data supplied to the probing pad from the testing apparatus to an internal circuit through an internal bus for inspection, and also outputs the response data for inspection based on the inspection data to the testing apparatus via the probing pad.例文帳に追加
このとき、検査用入出力回路は、テスト装置からプロービングパッドに供給された検査用データを、検査用内部バスを介して内部回路に出力し、これに基づく検査用応答データを、プロービングパッドを介してテスト装置に出力する。 - 特許庁
At the time, since inspection wiring 316 is cut off, the pad 314 for the inspection and the inspection circuit 313 connected by the inspection wiring 316 are disconnected.例文帳に追加
このとき、検査配線316が切断されるので、該検査配線316により接続されていた検査用パッド314と検査回路313とは切り離される。 - 特許庁
To provide an inspection probe substrate having no projections formed on a pad or no exfoliation of the pad even when the pad or a wiring pattern is fine, and its manufacturing method.例文帳に追加
パッドや配線パターンが微細であってもパッド上に形成される突起やパッドの剥離が無い検査用プローブ基板及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
Wiring 11-3a for inspection passing under the circuit element electrode pad 17, insulated from the circuit element and the circuit element electrode pad 17 and connected to the inspection electrode pad 17a, is provided.例文帳に追加
回路素子用電極パッド17下を通り、回路素子及び回路素子用電極パッド17とは絶縁され、検査用電極パッド17aと接続されている検査用配線11−3aを備えている。 - 特許庁
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